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        溶膠-凝膠法制備SrNb0.05Ti0.95O3薄膜及性能分析

        2014-11-19 06:48:58常亮亮
        商洛學(xué)院學(xué)報 2014年2期
        關(guān)鍵詞:空位鈣鈦礦溶膠

        常亮亮

        (商洛學(xué)院 化學(xué)工程與現(xiàn)代材料學(xué)院/陜西省尾礦資源綜合利用重點實驗室,陜西商洛 726000)

        鈣鈦礦氧化物薄膜的制備及性能表征之所以能引起研究者強烈興趣,是因為在它們結(jié)構(gòu)中的電荷、自旋和晶格結(jié)構(gòu)相互作用下會表現(xiàn)出各種電、磁和光學(xué)特性,如超導(dǎo)性、巨磁性和鐵電性。目前,許多研究集中在協(xié)調(diào)各種特性和使其成為新穎的功能材料應(yīng)用于電子器件。其中單晶SrTiO3經(jīng)常被用作功能薄膜的標(biāo)準(zhǔn)襯底,而顯得更為重要。為開拓其應(yīng)用,有必要探索制備n-型和p-型SrTiO3[1]。本文研究了Nb摻雜SrTiO3。

        硅襯底外延生長 SrNbxTi1-xO3(SNTO)緩沖薄膜不但形成具有鈣鈦礦結(jié)構(gòu)的氧化物電極,對于克服鐵電器件由于與襯底在結(jié)構(gòu)和化學(xué)性能上的失配而引起的器件疲勞特性具有重要意義[2]。目前,關(guān)于Nb摻雜SrTiO3的文獻(xiàn)報道比較多,但是以金屬醇鹽和無機(jī)鹽,用溶膠-凝膠法制備納米晶粒SNTO薄膜并對其導(dǎo)電機(jī)理研究的比較少[3-7]。與其他方法相比,溶膠-凝膠法具有反應(yīng)溫度低,反應(yīng)過程易于控制;制品的均勻度、純度高;化學(xué)計量準(zhǔn)確,易于改性,摻雜的范圍寬;工藝簡單,不需要昂貴的設(shè)備;易于摻雜、生產(chǎn)效率高;所制備的材料顆粒細(xì)小、均勻性好等優(yōu)點[8]。因此,本文以Sr(OOCCH3)2·H20,Ti(OC4H9)4,Nb(C2H5O)5為原料,用溶膠-凝膠工藝進(jìn)行了SrNb0.05Ti0.95O3薄膜的制備,并對其的結(jié)構(gòu)、形貌、介電性等進(jìn)行表征。

        1 實驗部分

        選用醋酸鍶、鈦酸丁酯、乙醇鈮作前驅(qū)體,以醋酸和丙三醇作為溶劑及催化劑。以圖1所示工藝制備清澈前驅(qū)體溶液,并將其放入密封容器中一定時間以使其成為具有適當(dāng)黏度的溶膠,用勻膠機(jī)在清洗好的硅襯底(110)上制膜,再經(jīng)干燥后,在不同溫度下熱處理后得到摻Nb的SrTiO3膜。

        實驗所用儀器及樣品表征的目的見表1。

        圖1 溶膠-凝膠法制備摻鈮SrTiO3

        表1 儀器及表征目的

        2 結(jié)果與討論

        2.1 丙三醇對SNTO溶膠的作用

        根據(jù)1.1薄膜的制備過程,在其他工藝條件不變的情況下,改變丙三醇(Gly)的添加量,觀測溶膠現(xiàn)象及凝膠時間。實驗結(jié)果見表2。

        由表2可以看出,不加Gly時,溶液沉淀;隨著Gly的逐漸加入,透明的前驅(qū)體溶液最終轉(zhuǎn)化為凝膠所需時間與Gly用量有關(guān)。這是因為Gly能與鍶離子絡(luò)合,Gly解決了前驅(qū)體溶液易析出醋酸鍶這一問題。同時Gly對水解縮聚反應(yīng)還有促進(jìn)和抑制兩方面的作用,表現(xiàn)在隨著Gly用量的增大,凝膠時間變短,但當(dāng)Gly用量達(dá)到一定量時,凝膠時間又延長,此時Gly抑制了水解縮聚反應(yīng),是因為Gly與醇鹽發(fā)生醇解反應(yīng)生成難以水解金屬醇鹽。所以本文選取Gly的加入量是6 g。

        2.2 溶膠DSC和TG分析

        DSC和TG分析知:形成的SNTO溶膠中含有水、金屬羥基和有機(jī)添加劑,如圖2,開始在40℃-140℃時,TG失重84%左右,SNTO溶膠中的水分蒸發(fā),對應(yīng)DSC曲線上123.6℃處的吸熱峰;其次大約在140℃-545.8℃,TG失重大約為5%-7%,剩余重量約為7%-8%,主要是聚合物和添加劑絡(luò)合物分解以及添加劑的燃燒,分別對應(yīng)的DSC曲線上289.72℃和488.32℃處的放熱峰。之后在545.8℃-800℃幾乎無質(zhì)量損失,表明這一區(qū)間是SNTO成核及其晶相的形成階段,因此,在硅片甩膜完畢后,不能立即對薄膜進(jìn)行高溫處理,防止水分蒸發(fā)過快使膜層起泡;在制備多層膜時,應(yīng)給每層膜進(jìn)行預(yù)燒處理,本文采用的是350℃;本著在最低溫度下所以選用SNTO薄膜的退火溫度在 575℃、625℃、675℃、725℃。

        表2 Gly對SNTO溶膠的影響

        圖2 SNTO溶膠的DSC和TG分析

        2.3 紅外光譜分析

        圖3為SNTO干凝膠及不同退火溫度的薄膜樣品的傅里葉紅外反射圖譜,圖3中a為干凝膠的紅外吸收光譜,1718 cm-1和1295 cm-1兩個吸收峰對應(yīng)的是HOAC;1420 cm-1的吸收峰是醋酸離子的振動光譜;金屬離子與氧的振動光譜是在 1044.3 cm-1和 668 cm-1處;1718.51 cm-1和1630 cm-1是羰基振動光譜。這說明凝膠中含有大量的醋酸及醋酸根,并且冰醋酸不但是溶劑,也是金屬離子的配體。

        在圖3中,575℃-725℃熱處理后 SNTO薄膜的紅外吸收譜圖,所有有機(jī)特征的紅外吸收峰消失,金屬離子與氧的振動峰增強。低能區(qū)的紅外吸收表示M-O-M結(jié)構(gòu)的形成。譜圖說明晶格結(jié)構(gòu)在溫度575℃時出現(xiàn),參考DTA分析,證明了575℃以上燒結(jié)溫度選擇的合理。

        圖3 SNTO干凝膠a及不同退火溫度的薄膜樣品的傅里葉紅外反射圖

        2.4 SNTO的XRD分析

        如圖4是 SNTO薄膜經(jīng)575℃熱處理60 min后,有(110)、(111)、(200)、和(211)射線衍峰出現(xiàn),該條件下SNTO薄膜形成立方鈣鈦礦晶系;直到725℃下熱處理60 min SNTO薄膜無晶型轉(zhuǎn)變,說明SNTO晶相在575℃-725℃下能穩(wěn)定存在,薄膜有(110)取向且無副-主相轉(zhuǎn)化。薄膜的XRD沒有第二相衍射峰表明薄膜為單晶薄膜。

        甲醇、正己烷、甲酸均為色譜純;醋酸、FeCl3·6H2O、石油醚、乙二醇、無水乙醇、乙酸鈉均為分析純;羧基化多壁碳納米管購買于南京先豐納米材料科技有限公司(長度約30 μm,直徑<8 nm,羧基含量:3.86%);異黃酮類標(biāo)準(zhǔn)品黃豆苷(Daidzin,純度≥98%)、染料木苷(Genistin,純度≥97%)、黃豆苷元(Daidzein,純度≥95%)、染料木素(Genistein,純度≥97%)均購買于sigma。

        圖4 SrNbxTi1-xO3薄膜的XRD分析

        2.5 SNTO的SEM分析

        隨著熱處理的溫度提高,SNTO薄膜晶粒增大,如圖5是SNTO薄膜的SEM分析。如圖6經(jīng)過725℃/60min退火后的薄膜的SEM分析及元素分析,元素分析結(jié)果見表3。從圖6看到Sr,Ti,O的峰,其相對強度接近1:1:3,Nb的強度相對較弱,在表3中也有反映,得知薄膜成分與預(yù)期一致。

        表3 SNTO的元素分析

        2.6 SNTO的TEM分析

        圖7、圖8為薄膜SrNb0.05Ti0.95O3在725℃析晶處理后的TEM照片,可以發(fā)現(xiàn)以無機(jī)鹽為原料,溶膠-凝膠制備的SrNb0.05Ti0.95O3薄膜晶粒約為30 nm。其面的晶面間距約為0.1562 nm,衍射電子束[11]方向,這與鈣鈦礦晶體結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)卡相符,所以晶體衍射分析證明其是鈣鈦礦結(jié)構(gòu)。

        圖5 SNTO薄膜的SEM分析

        圖6 SNTO薄膜的SEM分析及元素分析

        圖7 725℃退火SrNb0.05Ti0.95O3薄膜的TEM形貌

        2.7 SNTO的導(dǎo)電機(jī)理

        有報道認(rèn)為,雖然在630℃-760℃退火處理后,SrTiO3的晶格中形成離子化的氧空位[V·o]

        但是,僅依靠這些氧空位并不能實現(xiàn)良好的SrTiO3半導(dǎo)化,表觀電阻還是很大。當(dāng)SrTiO3摻雜少量Nb5+以替代B位Ti發(fā)生下列反應(yīng):

        Nb5+替代Ti4+產(chǎn)生正電荷,為維持晶格電中性,正電荷通過兩種不同途徑進(jìn)行補償,一是形成導(dǎo)電電子(電子補償),二是形成空位(空位補償)。

        圖8 725℃退火SrNb0.05Ti0.95O3薄膜的電子衍射和高分辨圖

        當(dāng)Nb5+施主摻雜高溫還原氣氛下退火實現(xiàn)STO n-型半導(dǎo)體化時,形成如下缺陷如VTi、VSr、VO、NbTi和 TiTiO Seong-Ho Kim[2]發(fā)現(xiàn),Ti空位趨向于通過Sr-空位進(jìn)行補償,而VSr進(jìn)一步離解,產(chǎn)生空穴h

        氧空位會產(chǎn)生弱的束縛電子,

        總反應(yīng)為,Oo→Vo+e·+1/2O2

        一方面高溫晶格失氧產(chǎn)生氧空位,反應(yīng)向右進(jìn)行,生成自由電子;另一方面由于Ti4+被Nb5+替代以后也有自由電子,NbTi→+

        晶格電荷平衡為,

        在摻雜少量Nb5+,產(chǎn)生的自由電子較少,當(dāng)Nb5+添加量較大時,產(chǎn)生大量的和自由電子,這些電子與空穴與在強烈?guī)靵隽ψ饔孟?,二者締合成?fù)合缺陷,

        上述反應(yīng)最終造成自由電子濃度下降。因此過量Nb5+的加入會造成半導(dǎo)化程度降低,表觀電阻率增大。

        將熱處理后的SNTO薄膜在450℃和還原氣氛(25%N2+75%H2)下滲氧1 h后,用四探針法測定其的電阻率與溫度的關(guān)系。如圖9為SNTO薄膜的電阻率隨溫度的變化曲線[9-11]。得知,SNTO薄膜的金屬導(dǎo)電性表現(xiàn)在100-300 K,室溫的條件下的SNTO薄膜的電阻為64 μΩ·cm。而在低溫下,薄膜的電阻率與溫度的關(guān)系見插圖,0-10 K,隨溫度的增大,電阻率降低。

        圖9 SNTO薄膜電阻率隨溫度的變化

        3 結(jié)論

        本文用溶膠-凝膠法制備了SNTO薄膜,用FT-IR,XRD,SEM,TEM 等測試方法對 SNTO薄膜結(jié)構(gòu)進(jìn)行了表征,研究了SNTO薄膜的導(dǎo)電機(jī)理。結(jié)果表明:以醋酸鍶、鈦酸四丁酯、乙醇鈮為原料,用溶膠-凝膠工藝可成功制備SNTO納米晶體薄膜;350℃熱處理及575℃以上燒結(jié)溫度選擇合理,經(jīng)過575℃/60 min熱處理,SNTO是典型的立方鈣鈦礦結(jié)構(gòu),晶粒尺寸隨煅燒溫度的增大而增大,薄膜成分與預(yù)期一致;SNTO薄膜的金屬導(dǎo)電性表現(xiàn)在100-300 K,室溫的條件下的SNTO薄膜的電阻為64 μΩ·cm。

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