張海艷侯鳳媛王曉飛,沈陽(yáng)飛機(jī)工業(yè)(集團(tuán))有限公司 空軍駐沈陽(yáng)地區(qū)軍事代表局(沈陽(yáng) 004)
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某型模擬集成電路測(cè)試系統(tǒng)電阻校準(zhǔn)方法的研究
張海艷1侯鳳媛2王曉飛3
1,2沈陽(yáng)飛機(jī)工業(yè)(集團(tuán))有限公司 3空軍駐沈陽(yáng)地區(qū)軍事代表局(沈陽(yáng) 110034)
摘 要為可靠校準(zhǔn)某型模擬集成電路測(cè)試系統(tǒng)自檢板電阻,本文簡(jiǎn)要介紹了某型模擬集成電路測(cè)試系統(tǒng)的自檢板電阻校準(zhǔn)方法,并對(duì)電阻校準(zhǔn)結(jié)果的不確定度進(jìn)行了評(píng)估。
關(guān)鍵詞集成電路;測(cè)試系統(tǒng);電阻;校準(zhǔn)方法
某型模擬集成電路測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試處理、測(cè)試數(shù)據(jù)顯示、數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、測(cè)試程序管理、測(cè)試框架自動(dòng)生成、多種功能集成在一起的測(cè)試設(shè)備,用于集成運(yùn)算放大器、比較器、模擬開(kāi)關(guān)、音響電路、電話機(jī)電路、三端電源、A/D、D/A等模擬集成電路的直流參數(shù)、動(dòng)態(tài)功能及交流參數(shù)的測(cè)試。模擬集成電路測(cè)試系統(tǒng)的檢測(cè)主要通過(guò)自檢測(cè)試板完成,自檢測(cè)試板上的電阻測(cè)量在測(cè)試中占有重要的作用。這就要嚴(yán)格控制電阻的范圍。本文主要介紹某型集成電路測(cè)試系統(tǒng)電阻的校準(zhǔn)方法。
1.1 環(huán)境條件
環(huán)境條件為:
(1)環(huán)境溫度:22℃~26℃;
(2)相對(duì)濕度:30%RH~60%RH;
(3)供電電源:交流電壓220 V,允許誤差極限:±10%。
1.2 校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備及其他設(shè)備
校準(zhǔn)用的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備應(yīng)經(jīng)過(guò)計(jì)量技術(shù)機(jī)構(gòu)檢定(或校準(zhǔn)),滿足校準(zhǔn)使用要求,并在有效期內(nèi)。校準(zhǔn)用的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備也可采用其他等效校準(zhǔn)設(shè)備,其允許誤差極限絕對(duì)值與被校準(zhǔn)設(shè)備允許誤差極限絕對(duì)值之比應(yīng)不大于四分之一,測(cè)量范圍應(yīng)能覆蓋被測(cè)參數(shù)變化范圍。校準(zhǔn)用的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備為數(shù)字多用表:
(1)電阻測(cè)量范圍:0.1 Ω~1 MΩ,允許誤差極限:±1.2×10-5;
(2)參考型號(hào):34401A型數(shù)字多用表。
2.1 校準(zhǔn)項(xiàng)目
校準(zhǔn)項(xiàng)目為:
(1)外觀及工作正常性檢查;
(2)自檢校準(zhǔn)板電阻的校準(zhǔn);
3)系統(tǒng)自檢測(cè)試。
2.2 校準(zhǔn)方法
2.2.1 外觀及工作正常性檢查
被校準(zhǔn)儀器應(yīng)結(jié)構(gòu)完整,無(wú)影響正常工作的機(jī)械損傷,開(kāi)關(guān)靈活可靠,并應(yīng)有明晰的型號(hào)、出廠編號(hào)等,能夠進(jìn)行正常的電氣操作。
2.2.2 自檢校準(zhǔn)板電阻的校準(zhǔn)
2.2.2.1 自檢板電阻的技術(shù)要求
電阻輸入范圍:0.5 Ω,允許誤差極限:±5E-2;10 Ω~5 kΩ,允許誤差極限:±1E-3;50 kΩ~500 kΩ,允許誤差極限:±1E-4。
2.2.2.2 自檢板電阻的校準(zhǔn)過(guò)程
按圖1連接線路,分別將被校設(shè)備自檢校準(zhǔn)板的精密電阻R1、R2、R3、R4、R5、R6一端與數(shù)字多用表的“HI”端相連接,另一端與數(shù)字多用表的“LO”端相連接。利用數(shù)字多用表的電阻測(cè)量功能分別記下測(cè)量值,其結(jié)果應(yīng)符合2.2.2.1的規(guī)定。
圖1 自檢校準(zhǔn)板電阻校準(zhǔn)連接圖
2.2.3 系統(tǒng)自檢測(cè)試
按圖2連接電路。將被校系統(tǒng)的主機(jī)與某型運(yùn)算放大器適配器連接,校準(zhǔn)合格的自檢校準(zhǔn)板插到某型運(yùn)算放大器適配器插口上。
圖2 系統(tǒng)自檢測(cè)試連接圖
打開(kāi)被校系統(tǒng)主機(jī)電源,進(jìn)入測(cè)試系統(tǒng)自檢程序界面,如圖3所示。鼠標(biāo)點(diǎn)擊桌面上的“選擇測(cè)試項(xiàng)目”按鈕,再點(diǎn)擊“執(zhí)行自檢”按鈕。
在圖3“選擇測(cè)試項(xiàng)目”欄中,選擇需要自檢的項(xiàng)目,例如選擇對(duì)“VIS1”項(xiàng)目進(jìn)行自檢,首先在自檢項(xiàng)目選擇框中選中“VIS1”,然后單擊 “執(zhí)行自檢”按鈕,開(kāi)始自檢,自檢過(guò)程在下方“結(jié)果”欄顯示,在該選擇項(xiàng)的右端顯示 “Test”,自檢完成后,顯示該項(xiàng)“PASS”或“FAIL”,并將結(jié)果存儲(chǔ)到SelfTest.TXT文件中。
圖3 系統(tǒng)自檢程序界面
其他參數(shù)自檢方法同VIS1,如果要對(duì)所有項(xiàng)目進(jìn)行自檢,應(yīng)在自檢項(xiàng)目中選擇“所有項(xiàng)目(ALL)”選項(xiàng),然后單擊“執(zhí)行自檢”按鈕,開(kāi)始自檢,完成所有需要測(cè)試的參數(shù)。自檢程序提供“系統(tǒng)復(fù)位”,如需要復(fù)位系統(tǒng),按此按鈕。自檢完成后,單擊“退出”按鈕,退出自檢程序。
3.1 建立數(shù)學(xué)模型
設(shè)數(shù)字多用表讀數(shù)為RN,被檢設(shè)備讀數(shù)為RX,則有:
3.2 電阻校準(zhǔn)的不確定度來(lái)源
某型模擬集成電路測(cè)試系統(tǒng)電阻校準(zhǔn)的測(cè)量不確定度分量主要來(lái)源如表1所示。
表1 自檢板電阻校準(zhǔn)的測(cè)量不確定度分量
3.3 觀測(cè)值的重復(fù)性引入的不確定度分量uA
按本校準(zhǔn)規(guī)范2.2.2.2項(xiàng)步驟進(jìn)行操作,由于環(huán)境條件不理想、儀器測(cè)試不穩(wěn)定、接頭連接的不牢固等各種隨機(jī)因素,造成測(cè)量不重復(fù)性。用34401型數(shù)字多用表對(duì)被校自檢板電阻進(jìn)行校準(zhǔn),測(cè)量次數(shù)為六次。實(shí)測(cè)值分別為500.6 Ω、500.5 Ω、500.8 Ω、500.7 Ω、500.6 Ω、500.6 Ω。按公式(1)計(jì)算不確定度分量uA:
式中:
xi— 自檢板電阻的單次測(cè)量結(jié)果,單位為Ω;
n— 測(cè)量次數(shù);
uA— 觀測(cè)值的重復(fù)性引入的不確定度。
3.4 數(shù)字多用表的不準(zhǔn)確引入的不確定度分量uB
根據(jù)34401型數(shù)字多用表的準(zhǔn)確度確定半寬度a 為0.05%,并按均勻分布考慮,包含因子為k=3,按公式(2)計(jì)算不確定度分量uB:
式中:
a— 標(biāo)準(zhǔn)儀器允許誤差極限;
k— 包含因子;
uB—數(shù)字多用表準(zhǔn)確度引入的不確定度。
3.5 合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度uc
合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度uc按公式(3)計(jì)算:
式中:
uc— 合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度;uA— 觀測(cè)值的重復(fù)性引入的不確定度;uB—數(shù)字多用表準(zhǔn)確度引入的不確定度。
3.6 擴(kuò)展不確定度U
取擴(kuò)展因子為k=2,擴(kuò)展不確定度U按公式(A.4)計(jì)算:
式中:
U—擴(kuò)展不確定度;
k—擴(kuò)展因子;
uc— 合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度。
自檢板電阻校準(zhǔn)的擴(kuò)展不確定度為:
在日常檢定或校準(zhǔn)中,根據(jù)直流數(shù)字式歐姆表檢定規(guī)程及某型模擬集成電路測(cè)試系統(tǒng)的工作原理,對(duì)其自檢板電阻進(jìn)行了校準(zhǔn),并對(duì)測(cè)量結(jié)果的不確定度進(jìn)行了評(píng)定。實(shí)踐結(jié)果表明,該校準(zhǔn)方法切實(shí)可行,能較好的反映自檢板電阻的準(zhǔn)確與否。
參考文獻(xiàn)
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(責(zé)任編輯:文婷)
中圖分類號(hào):TP27
文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:A
文章編號(hào):1003-3319(2016)02-00001-02