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        CASTEP在電子結(jié)構(gòu)教學(xué)中的應(yīng)用

        2023-02-21 13:27:00宋宏權(quán)陳培佳
        科技風 2023年4期
        關(guān)鍵詞:導(dǎo)帶對稱點橫坐標

        宋宏權(quán) 陳培佳 劉 婧 張 薇

        周口師范學(xué)院物理與電信工程學(xué)院 河南周口 466001

        固體物理這門課程的主要研究對象是晶體,研究了固體的結(jié)構(gòu)及其組成粒子間的相互作用與運動規(guī)律,該研究的主要目的是為以后新型材料的研究提供幫助[1]。不同固體材料的物理化學(xué)性質(zhì)都存在著不同,這是因為它們的電子結(jié)構(gòu)及電子的運動存在著區(qū)別,由于電子結(jié)構(gòu)在固體物理學(xué)中所涉及的內(nèi)容廣泛且較為抽象,這不僅要求學(xué)生有一定的物理思想,還要有扎實的數(shù)學(xué)功底[2]。這都使得學(xué)生感覺學(xué)習起來比較困難,也就給電子結(jié)構(gòu)內(nèi)容在固體物理教學(xué)中帶來較多的困難,但當學(xué)生能夠通過某種手段構(gòu)建出清晰的三維物理圖像時,對固體物理材料的結(jié)構(gòu)就會有一個全新的認識,學(xué)習電子結(jié)構(gòu)將變得簡單輕松了,這樣做能取得事半功倍的效果[3]。隨著互聯(lián)網(wǎng)和計算機技術(shù)的發(fā)展,完全依靠課本也越來越不適合現(xiàn)代教育的發(fā)展,教學(xué)也要緊跟時代的步伐,適當進行改革,讓學(xué)生在輕松愉快的氛圍中學(xué)習知識[4]。

        Materials Studio軟件包括了多個計算模塊,其中CASTEP模塊主要用于計算能帶結(jié)構(gòu)、DOS、光學(xué)性質(zhì)等,這個軟件由國外的一個實驗室小組研究發(fā)明[5]。Materials Studio[6]是常用的分子模擬軟件,它已經(jīng)被廣泛應(yīng)用到科研工作中,并且得出了很多重要的研究成果,同樣,我們也可以將這種軟件靈活地運用到教學(xué)工作中。通過Materials Studio軟件可以顯示出一些材料的三維空間結(jié)構(gòu),使得圖形立體化和結(jié)構(gòu)動態(tài)化,直觀形象地讓學(xué)生看到晶體的內(nèi)部結(jié)構(gòu),通過電子行為的變化來研究物體的宏觀特性[7],深刻體會其物理內(nèi)涵,這樣降低了學(xué)習電子結(jié)構(gòu)內(nèi)容的難度。

        目前,已經(jīng)有很多學(xué)者對于一些金屬的電子結(jié)構(gòu)與光學(xué)性質(zhì)進行了研究。2011年王天興等人[8]研究了摻雜前后ZnO晶體的光學(xué)性質(zhì),解釋了摻雜對于體系電導(dǎo)率和介電函數(shù)的影響;2018年李丹丹等人[9]對不同濃度的Pr摻雜纖梓礦ZnO體系進行了研究;薛曉峰[10]研究了本征ZnO體系,Mg、Cd單摻雜與共摻雜ZnO體系,分析了各體系的電子結(jié)構(gòu)和光學(xué)性質(zhì),研究發(fā)現(xiàn)Cd單摻雜ZnO會使晶胞體積變大。本文將結(jié)合實例介紹如何利用CASTEP模塊進行固體物理學(xué)課程中電子結(jié)構(gòu)相關(guān)內(nèi)容的計算,對一些元素的晶體結(jié)構(gòu)進行優(yōu)化,分析其光學(xué)性質(zhì),希望得出的結(jié)論能為后續(xù)類似研究提供幫助。

        1 計算方法和模型

        1.1 計算方法

        為了便于計算,我們可以把第一性原理中的密度泛函理論與Materials Studio軟件有效結(jié)合。HSE06是目前計算電子結(jié)構(gòu)最為準確地交換關(guān)聯(lián)函數(shù),因此本文在計算的時候選用HSE06雜化泛函。用CASTEP模塊對優(yōu)化后晶體的電子結(jié)構(gòu)和光學(xué)性質(zhì)進行計算與分析。

        電子結(jié)構(gòu)計算的基本步驟:先在“CASTEP”模塊的“Calculation”中選擇“Setup”頁面,在“Task”欄中選擇“Properties”,選用HSE06密度泛函,然后選擇需要計算的具體內(nèi)容,最后在“Analysis”中進行分析。操作步驟如圖1。

        圖1 能帶和態(tài)密度的計算

        如果要對晶體的光學(xué)性質(zhì)進行計算,只需在電子結(jié)構(gòu)計算中的“Properties”頁面下選擇“Optical properties”,最后在“Analysis”下選擇計算的內(nèi)容即可得到結(jié)果。操作步驟如圖2。

        圖2 光學(xué)性質(zhì)的計算方法

        1.2 建立模型

        目前建立晶體結(jié)構(gòu)的方式有很多種,文中利用Materials Studio軟件中的建模模塊,在MS的主界面創(chuàng)建一個新的project,點擊file,在structures中找到需要的晶體結(jié)構(gòu)并導(dǎo)入,打開后即可得到晶體結(jié)構(gòu)。下面列出的分別是fcc、bcc、金剛石、SiC、AlNi晶體結(jié)構(gòu)圖。

        圖3 為fcc晶體,bcc晶體,金剛石晶體,SiC,AlNi結(jié)構(gòu)圖

        2 能帶結(jié)構(gòu)

        利用CASTEP模塊計算得出一些固體材料的能帶圖,通過分析能帶圖可以得到很多有效信息:通常為了計算結(jié)果的準確性,我們會選用HSE06雜化泛函。能帶圖的橫坐標是選取的布里淵區(qū)高對稱點,可以根據(jù)導(dǎo)帶底與價帶頂?shù)奈恢脕砼袛啾菊靼雽?dǎo)體的躍遷方向,如果不是在同一高對稱點上就是間接躍遷,例如Si就是間接躍遷。最后,可以對能帶圖的整體進行分析,不同的能帶圖的寬窄是不同的,能帶越寬表明處于這個帶中的電子有效質(zhì)量越小[11]。

        從圖4的能帶圖中對比分析可以觀察到,Cu、Al、Mg的能帶分散在整個布里淵區(qū)域,而且導(dǎo)帶有一部分穿過費米能級,驗證了Cu、Al、Mg的金屬性,而Al與Cu具有相同的晶體結(jié)構(gòu),因此在能帶結(jié)構(gòu)圖中選取的高對稱點是相同的。AlNi、Ti的能帶結(jié)構(gòu)圖形類似,在費米面處能帶分布密集,兩者都是金屬體系,相對導(dǎo)帶而言,價帶分布略微稀疏,在遠離費米面處為平滑的直線,Mg和Ti的晶系對稱性一樣,所以選擇了相同的布里淵區(qū)高對稱點,圖上所涉及的所有金屬都沒有禁帶,導(dǎo)帶與價帶是重疊的,其中的電子都是載流子,有良好的導(dǎo)電性。

        圖4 為采用HSE06方法計算的Al、Cu、Mg、Ti、AlNi的能帶圖

        通過圖5分析Si、SiC、Ge的能帶圖,可以得出三者均為半導(dǎo)體。能帶圖的橫坐標是布里淵區(qū)高對稱點,這是根據(jù)本征半導(dǎo)體的結(jié)構(gòu)所選取的,根據(jù)能帶圖的橫坐標我們可以判斷出本征半導(dǎo)體的躍遷方向,判斷方法就是觀察導(dǎo)帶底與價帶頂對應(yīng)的橫坐標,其中SiC的躍遷方向為X—G,躍遷類型為間接躍遷;Si的躍遷方向為與SiC的完全相同;Ge的導(dǎo)帶最低點與價帶的最高點對應(yīng)的橫坐標相同,都在點G處,躍遷類型與SiC、Si的不同,屬于直接躍遷,所以Ge是直接帶隙半導(dǎo)體;Si、SiC屬于間接帶隙半導(dǎo)體,與Si、SiC、Ge的能帶圖對比,從C的能帶圖中可以發(fā)現(xiàn),C的帶隙值為5.377eV比較大,是絕緣體。

        圖5 為采用HSE06方法計算的Ge、Si、SiC、C的能帶圖

        3 復(fù)介電函數(shù)

        介電函數(shù)是媒質(zhì)在外加電場中對外加電場的響應(yīng),固體材料的能帶結(jié)構(gòu)及光學(xué)性質(zhì)可以通過介電函數(shù)反映出來。介電函數(shù)的公式為:ε(ω)=ε1(ω)+iε2(ω),實虛部所決定的物理量是不同的,虛部主要影響晶體的光譜吸收能力,決定其吸收光的這一特性,實部則反映了可以儲存磁場的能力,根據(jù)所反映的信息,下面來分析一些晶體的介電函數(shù),分別如圖6所示:

        圖6 為Al、AlNi、C、Si、SiC的復(fù)介電函數(shù)圖

        圖6的橫坐標代表的是入射光能量,Re曲線與Im曲線代表的是復(fù)介電函數(shù)實虛部。當入射光線的能量變?yōu)?時,其Re曲線對應(yīng)的縱坐標的值就是靜態(tài)介電常數(shù)。可以看出,Al、AlNi的靜態(tài)介電常數(shù)分別為58.9、7.95。同時通過觀察發(fā)現(xiàn),隨著入射光能量的增大,Re曲線的變化趨勢大致是先減小后增加至某一值,然后趨于平衡。通過對比分析圖6中的非金屬C、Si、SiC的實虛部發(fā)現(xiàn),Re曲線隨著入射光的能量先增大至某一值后急速減小,最終略微增加至某一值后趨于平衡,而Im曲線先處于平衡狀態(tài),當能量增至某一值后,Im曲線急速上升然后減小趨于平衡。

        4 結(jié)論

        本文采用了第一性原理及HSE06交換泛函,對金屬Al、Cu、Mg、AlNi、Ti及非金屬C、Si、Ge、SiC的結(jié)構(gòu)進行了幾何優(yōu)化,并分析了相應(yīng)的電子性質(zhì)及光學(xué)性質(zhì),得到如下結(jié)論:(1)能帶結(jié)構(gòu)和電子態(tài)密度的分析驗證了Cu、Ti、Al、Mg、AlNi的金屬性以及C、Si、Ge、SiC的非金屬性;同時得出SiC、Ge、Si是半導(dǎo)體,C是絕緣體。(2)晶體結(jié)構(gòu)相同的元素因為電子組態(tài)的不同而表現(xiàn)出不同的光學(xué)特性。(3)C與Si雖然是同種元素組成的晶體,但由于結(jié)構(gòu)的不同,光學(xué)性質(zhì)也有較大的差異。

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