馬 靜，張 俊，陳 琦，趙 恬，雍 敏

骨性Ⅱ類錯牙合畸形在正畸臨床中較為常見，患者前牙可表現(xiàn)為深覆牙合、深覆蓋等[1]。臨床中因成年患者無法通過矯形力進行治療，故對于輕中度成人骨性Ⅱ類錯牙合患者可通過矯治牙齒來掩飾骨性不調(diào)達到治療目標[2]。正畸掩飾性治療可通過拔牙矯治或非拔牙矯治來實現(xiàn)，對此類患者來說，非拔牙矯治方法中推上頜磨牙向遠中是最為常見的一種[3]。臨床中可采用不同的方法來實現(xiàn)推磨牙向遠中，比如擺式矯治器、微螺釘種植體支抗、無托槽隱形矯治器等。牙列遠中移動需要考慮到磨牙后區(qū)間隙的長度、寬度及高度等因素。本研究旨在對成人骨性Ⅱ類不同垂直骨面型上頜第二磨牙后間隙的長度、寬度及高度進行分析，以期在臨床中提供參考。

1 資料與方法

1.1 一般資料：選取2017年10月至2019年10月就診于口腔正畸科并拍攝錐形束CT(CBCT)影像的患者60例為研究對象，其中男28例，女32例，平均年齡(25.48±3.43)歲。隨機分為高角組、均角組、低角組，每組各20例。3組患者性別、年齡等基本資料比較差異無統(tǒng)計學意義(P>0.05)。

1.2 納入標準：①年齡≥20歲，恒牙列、牙列完整，除第三磨牙外無缺失牙；②上牙槽座點、鼻根點與下牙槽座點構(gòu)成的角(ANB)>4.7°[4]；③牙弓中后段排列較為整齊，無嚴重扭轉(zhuǎn)及過大或過小牙；④無牙周炎，牙槽骨水平高于上頜磨牙根分叉；⑤無上頜第三磨牙拔除史，無系統(tǒng)性及全身性疾病史；⑥無嚴重的先天顱頜面畸形，無正畸或正頜手術(shù)治療史，CBCT數(shù)字圖像清晰，無重影，圖像完整[5-6]。

1.3 分類：按中國人正常牙合Steiner分析法,通過下頜平面角(GoGn-SN)值及后面高與前面高之比(S-Go/N-Me)值對垂直骨型進行分類。①高角組，GoGn-SN>37.7°，S-Go/N-Me<62%；②均角組，27.3°≤GoGn-SN≤37.7°，62%≤S-Go/N-Me≤68%；③低角組，GoGn-SN<27.3°，S-Go/N-Me>68%[7]。

1.4 研究方法：患者均拍攝CBCT(KaVo 3D eXam5 mA 120 kVP)，將影像資料以DICOM 格式導入三維測量軟件Invivo Dental 5進行三維重建后分別測量。①上頜磨牙后間隙長度(RL)(mm)，上頜結(jié)節(jié)遠中最凸點與上頜第二磨牙遠中最凸點投影到牙合平面兩點之間的距離[5]。②上頜磨牙后間隙寬度(RW)(mm)，矢狀切面切至平分上頜結(jié)節(jié)處，冠狀切面切至第二磨牙牙冠遠中最凸點，橫斷切面切至上頜結(jié)節(jié)遠中最凸點，測量此時上頜結(jié)節(jié)的寬度[5]。③上頜磨牙后間隙高度(RH)(mm)，矢狀切面切至平分上頜結(jié)節(jié)處，冠狀切面切至第二磨牙牙冠遠中最凸點，測量此時上頜第二磨牙遠中最凸點到上頜牙槽骨的投影點到牙合平面的距離[5]。④牙合平面[8]，于重建后的三維影像上定出上下第一恒磨牙咬合中點及上中切牙切緣點，三點構(gòu)成的平面。

1.5 觀察測量指標：測量在2個月內(nèi)完成，每一個測量項目連續(xù)測量3次取其平均值。觀察患者上頜磨牙后間隙RL、上頜磨牙后間隙RW、上頜磨牙后間隙RH。

2 結(jié)果

2.1 2組患者左右側(cè)數(shù)據(jù)分析比較:對同一測量項目所有左右側(cè)的測量數(shù)值進行配對t檢驗，其差異無統(tǒng)計學意義 (P>0.05)，故可將所有的左右側(cè)測量值合并分析，見表1。

表1 60例患者左右側(cè)RL、RW、RH數(shù)據(jù)比較

2.2 有第三磨牙組與第三磨牙缺失組各測量值比較:對有第三磨牙組與第三磨牙缺失組RL、RW、RH數(shù)據(jù)進行分析，有第三磨牙組上頜磨牙后間隙的RL、RW、RH均大于第三磨牙缺失組，差異具有統(tǒng)計學意義(P<0.05)，見表2。

表2 2組患者RL、RW、RH測量值比較

2.3 不同垂直骨面型各測量值比較:對實驗組三種垂直骨面型的測量值兩兩對比分析結(jié)果顯示，低角組RW值大于高角組，差異具有統(tǒng)計學意義(P<0.05)，見表3。

表3 不同垂直骨面型各測量值比較

3 討論

3.1 影響磨牙后間隙的相關(guān)因素

3.1.1 第三磨牙測量值： 本研究結(jié)果顯示，有第三磨牙組上頜磨牙后間隙的長度、寬度、高度均大于第三磨牙缺失組。郭鑫[8]等學者對上頜第三磨牙拔除與第三磨牙缺失患者上頜磨牙后間隙進行了對比研究，結(jié)果顯示第三磨牙拔除組的磨牙后間隙的長度較缺失組長，得出第三磨牙對上頜結(jié)節(jié)的生長具有一定的促進作用，與本研究結(jié)果一致。

3.1.2 不同垂直及矢狀骨面型：不同的垂直骨面型及矢狀骨面型有不同的頜骨結(jié)構(gòu)特點。NADINE等[9]學者對骨性Ⅱ類錯牙合患者不同垂直骨面型上下頜骨特點進行了研究，得出相對于均角及低角組，高角組的后部牙槽骨垂直生長更為明顯，下頜骨處于更后縮的位置且下頜體的長度較短。劉莉萍[10]等對平均生長型的骨性Ⅱ類與骨性Ⅰ類患者上頜磨牙后間隙進行了對比研究結(jié)果顯示，骨性Ⅱ類患者上頜磨牙后間隙有更大的間隙供磨牙遠中移動。但對于骨性Ⅱ類患者不同垂直骨面型上頜磨牙后間隙形態(tài)特點的研究并未發(fā)現(xiàn)相關(guān)報道。本研究結(jié)果顯示，上頜磨牙后間隙寬度低角組大于高角組，其原因可能與高角及低角患者的頜骨結(jié)構(gòu)特點有關(guān)，高角患者臨床中表現(xiàn)為垂直向發(fā)育過度，面下1/3較長，咀嚼肌力較弱等特點；而低角患者則表現(xiàn)為垂直向發(fā)育不足，面下1/3較短，下面高與全面高比值較小，咀嚼肌力較強，較強的咀嚼肌力及垂直向發(fā)育不足使得上頜磨牙后間隙寬度增加。

3.2 正畸臨床中對磨牙后間隙的利用:隨著正畸技術(shù)及支抗的研究發(fā)展，推磨牙向遠中的方法也越來越多樣化。目前臨床中常用的推磨牙向遠中的方法主要有擺式矯治器、種植體支抗及無托槽隱形矯治器等[11]。與傳統(tǒng)支抗相比較，種植體支抗具有可提供較強支抗、舒適等優(yōu)點，使其在正畸臨床中應(yīng)用越來越廣泛[12]。RAGHIS[13]等學者為了評估種植體支抗在推上頜牙列向遠中的效果及穩(wěn)定性，得出采用種植體支抗的治療效果及穩(wěn)定性良好。無托槽隱形矯治技術(shù)因其具有舒適、美觀等優(yōu)點，受到越來越多患者及醫(yī)生的青睞。SAIF[14]等的研究表明，無托槽隱形矯治技術(shù)平均可獲得2.6 mm的磨牙遠中移動量。

綜上所述，骨性Ⅱ類低角組患者其上頜磨牙后間隙寬度大于高角組，提示低角患者磨牙后間隙更有利于推磨牙向遠中。但本研究的樣本數(shù)量有限，且推磨牙向遠中與牙根長短、骨質(zhì)密度、牙齒的轉(zhuǎn)矩等因素均密切相關(guān)，故還需要進一步的研究。同時，第三磨牙對磨牙后間隙的生長具有一定的促進作用，在可采取上頜推磨牙向遠中的方案設(shè)計的患者，不可忽視對第三磨牙此間隙的影響。