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        外延PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度對鐵電儲能性能的影響

        2020-07-18 03:10:52宋建民
        人工晶體學(xué)報 2020年6期
        關(guān)鍵詞:鐵電性鐵電晶格

        董 磊,趙 磊,宋建民,

        (1.河北農(nóng)業(yè)大學(xué)理學(xué)院,保定 071001;2.河北大學(xué)物理科學(xué)與技術(shù)學(xué)院,保定 071002)

        0 引 言

        鐵電薄膜材料因同時兼具高能量密度和高功率密度,可被廣泛應(yīng)用于脈沖電力系統(tǒng)、電動汽車、高頻逆變器等領(lǐng)域,引起了眾多科研工作者的廣泛關(guān)注[1-4]。PbZr1-xTixO3(PZT)基薄膜因具有大的極化強度,高的擊穿強度,制備工藝簡單,易于成熟的半導(dǎo)體工藝集成等特點,現(xiàn)已成為鐵電薄膜儲能首選材料之一[5-7]。眾多實驗研究表明,具有高質(zhì)量外延取向結(jié)構(gòu)的薄膜具備更優(yōu)的鐵電性能[8-10]。PZT與SrTiO3、LaAlO3、MgO等材料具有相近的晶格匹配常數(shù),因此,高質(zhì)量外延取向PZT薄膜可以在這些基底上沉積獲得[11-14]。Chu等[15]實驗研究發(fā)現(xiàn),在外延異質(zhì)結(jié)PZT/SrTiO3中,PZT的鐵電性能與基底的失配位錯、應(yīng)力場以及薄膜的厚度密切相關(guān)。Wang課題組[16]利用熱力學(xué)朗道理論研究了對(001)取向的PbZr0.4Ti0.6O3薄膜鐵電性能的影響,結(jié)果表明鐵電性能對厚度的依賴性是該厚度下位錯和彈性應(yīng)變共同作用的結(jié)果。然而至今,利用熱力學(xué)朗道理論系統(tǒng)研究薄膜厚度對PbZr0.4Ti0.6O3儲能性能的影響報道較少。基于此,本文通過修正的Landau-Devonshine理論,考慮位錯應(yīng)力場和極化場之間的耦合,建立外延PbZr0.4Ti0.6O3/SrTiO3異質(zhì)結(jié)的熱力學(xué)模型,研究在SrTiO3襯底上外延生長的PbZr0.4Ti0.6O3薄膜的鐵電性能和鐵電儲能性能對其厚度的依賴關(guān)系,為高性能鐵電儲能器件制備與設(shè)計提供實驗參考和理論依據(jù)。

        1 理論基礎(chǔ)

        1.1 Landau-Devonshire相變自由能公式

        建立空間直角坐標系:x//[100],y//[010],z//[001],薄膜平面為xy平面,極化方向平行于z軸。當僅存在內(nèi)應(yīng)力時,順電相的立方結(jié)構(gòu)PZT經(jīng)冷卻變到鐵電相的四方結(jié)構(gòu),其Landau-Devonshire相變自由能G(T,P,σij)為

        G(T,P,σij)=G0+a1P2+a11P4+a111P6-EP+u11σ11+u22σ22+u33σ33+u12σ12+u13σ13+u23σ23

        (1)

        式(1)中,G0表示順電相自由量;a1,a11和a111為PZT的剛性系數(shù);σij為內(nèi)應(yīng)力;uij為內(nèi)應(yīng)變;E為外加z方向電場強度;P為極化強度;T為熱力學(xué)溫度。a1與T之間滿足如下式關(guān)系

        (2)

        式(2)中,TC和C分別是塊體材料的Curie-Weiss溫度和Curie-Weiss常數(shù);ε0是真空介電常數(shù)。

        1.2 薄膜厚度與鐵電儲能密度的關(guān)系

        考慮到PZT/STO結(jié)構(gòu),則晶格失配度為

        (3)

        式(3)中,a0與as分別表示PZT與STO的晶格常數(shù)。晶格失配會引起PZT薄膜在界面形成位錯。根據(jù)Matthews-Blakeslee理論可以得到形成位錯的臨界厚度hρ滿足的等式[5]

        (4)

        式(4)中,ν為Poisson比,且滿足ν=|S12/S11|,Sij表示PZT的彈性順度系數(shù);b0為xz平面上刃位錯的Burgers矢量b=a0[100]的強度|b|。

        PZT/SrTiO3的電滯回線隨厚度的變化關(guān)系,可以通過Alpay等[17]的方法得出。當PZT薄膜厚度小于臨界厚度hρ時,由(1)式可以推得自由能G(P,E)所滿足的方程為

        (5)

        xm=-f

        (6)

        (7)

        (8)

        式(5)、(7)和(8)中,Sij和Q12分別為PZT的彈性順度系數(shù)和電致伸縮常數(shù)。

        當存在外電場E作用時,系統(tǒng)達到平衡需滿足?G/?P=0條件,從而由式(5)可以得出P和E所滿足的方程為

        (9)

        (10)

        (11)

        式(11)中,ρ表示位錯密度,且滿足

        (12)

        鐵電薄膜儲能中,總儲能密度(W)、有效儲能密度(Wrec)和儲能效率(η)的計算公式[4]如下:

        (13)

        (14)

        (15)

        式(13)、(14)和(15)中,P、Pmax、Pr與E分別為極化強度、極大極化強度、剩余極化強度與施加的電場強度。Wrec的值可通過計算圖1中D區(qū)域(深色陰影部分)面積得到;W的值可通過計算圖1中D區(qū)域面積與L區(qū)域(淺色陰影部分)面積的和得到。

        2 結(jié)果與討論

        表1給出了PbZr0.4Ti0.6O3的典型參數(shù)[18-20]。

        表1 PbZr0.4Ti0.6O3典型參數(shù)Table 1 Typical parameters for PbZr0.4Ti0.6O3

        注意到SrTiO3的晶格常數(shù)為0.390 5 nm,考慮沉積在SrTiO3襯底上的鐵電薄膜PbZr0.4Ti0.6O3,將表1參數(shù)代入式(4),可得PbZr0.4Ti0.6O3薄膜產(chǎn)生刃型位錯的臨界厚度為hρ=1.27 nm。這樣,當薄膜厚度h大于臨界厚度1.27 nm時,式(9)中的系數(shù)改寫為

        (16)

        (17)

        將式(17)中的參數(shù)帶入式(9)可得

        aP5+bP3+cP-E=0

        (18)

        式(18)中c是關(guān)于薄膜厚度h的函數(shù),由此可以得出電場強度E和極化強度P與h的關(guān)聯(lián)函數(shù)。根據(jù)式(18)并結(jié)合式(13)、(14)和(15)可以得到Pr、Pmax、Ec、W、Wrec和η與PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度h的函數(shù)關(guān)系式

        (19)

        (20)

        (21)

        W=PmaxEc

        (22)

        (23)

        式(19)~(23)中,參數(shù)P0和x1~x6均為h的函數(shù),分別表示為

        將表1中對應(yīng)的參數(shù)代入以上各式,可以得到剩余極化強度Pr、極大極化強度Pmax、矯頑電場強度Ec、總儲能密度W、有效儲能密度Wrec與儲能效率η隨PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度h的函數(shù)。本文的主要目的是解析上述函數(shù)隨薄膜厚度h的變化情況。

        2.1 Pr、Pmax與Ec隨薄膜厚度h的變化情況

        通過方程(19)、(20)與(21),得到剩余極化強度Pr、最大極化強度Pmax與矯頑電場強度Ec隨PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度h的變化曲線,如圖2(a)、(b)與(c)所示。由曲線可以看出,Pr、Pmax與Ec均隨PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度h的增加而呈非線性增大。薄膜厚度在1.27 nm到25.0 nm范圍內(nèi),Pr、Pmax與Ec的值變化較快,當薄膜厚度達到約為60.0 nm左右時,Pr、Pmax與Ec趨于飽和。通過圖2(a)、(b)與(c)曲線可以讀出,幅度達到99%,即Pr、Pmax與Ec的值分別為75.3 μC·cm-2、84.1 μC·cm-2與2 240.7 kV·cm-1時,對應(yīng)的厚度分別為57.0 nm、57.0 nm與64.2 nm,這表明PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度達到65.0 nm時,鐵電性能基本達到飽和。

        2.2 W、Wrec與η隨薄膜厚度h的變化情況

        根據(jù)圖2中的Pr和Pmax結(jié)果,并結(jié)合方程(22)、(23)與(15),可以得到總儲能密度W、有效儲能密度Wrec與儲能效率η隨薄膜厚度h的變化曲線,如圖3(a)、(b)與(c)所示。由圖3(a)和(b)中曲線可以看出,總儲能密度W和有效儲能密度Wrec隨PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度h的增加而呈非線性增大,趨勢與Pr、Pmax和Ec變化相似。薄膜厚度在1.27~25.0 nm范圍內(nèi)變化較快,當PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度h分別增大到66.0 nm和65.8 nm時,幅度達到了99%,對應(yīng)的總儲能密度和有效儲能密度分別為188.5 J·cm-3和9.0 J·cm-3。然而,儲能轉(zhuǎn)換效率η與總儲能密度W和有效儲能密度Wrec恰好相反,其值隨h的增加而呈現(xiàn)了非線性減小,如圖3(c)所示。當薄膜厚度接近52.6 nm時,η趨于一穩(wěn)定值4.79%。由于SrTiO3襯底與PbZr0.4Ti0.6O3存在晶格失配導(dǎo)致PbZr0.4Ti0.6O3在界面處產(chǎn)生應(yīng)力,破壞了晶格的周期性分布,刃形位錯密度形成,從而降低了鐵電性能。隨著厚度的增加,應(yīng)力對PbZr0.4Ti0.6O3薄膜的作用減弱,刃形位錯密度減小,結(jié)晶質(zhì)量提高,鐵電性能對應(yīng)提升。以上理論計算結(jié)果所顯示的Pr、Ec和Wrec在厚度約為66.0 nm時基本達到飽和,說明PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度大于66.0 nm時,應(yīng)力對其鐵電性能的影響可以忽略,這與Alpay等[21]報道的結(jié)果相似。

        2.3 W、Wrec與η隨h的瞬時相對變化率

        為了定量描述W、Wrec與η隨h的變化快慢,引入瞬時相對變化率:設(shè)函數(shù)f(h)在[h1,h2]上單調(diào)可導(dǎo),且其導(dǎo)函數(shù)f′(h)單調(diào),對任意h∈[h1,h2],稱

        (24)

        3 結(jié) 論

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