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摘?要:當(dāng)物理量非勻變化時,經(jīng)常會導(dǎo)致一些問題很難直接用公式解決,巧用圖像法可有效解決這類問題。
關(guān)鍵詞:解法;分析;非勻變;圖像法;解決
例1?(山西省太原市第五中學(xué)2017-2018學(xué)年高二4月階段性檢測物理試題)選擇題第12題:如圖1所示,兩個完全相同的閉合矩形導(dǎo)線框甲和乙,其中L1=2L2,在同一高度從圖示位置同時由靜止釋放,在其下方某一區(qū)域存在垂直紙面向里的勻強(qiáng)磁場(h>L1)。已知甲線框正好勻速進(jìn)入磁場。下列判斷正確的是
(??)
A. 乙線框剛進(jìn)入磁場時的加速度大小為3g
B.乙線框完全進(jìn)入磁場時的速度可能大于甲線框剛進(jìn)入磁場時的速度
C. 進(jìn)入磁場過程中,甲線框減少的機(jī)械能可能比乙線框少
D.進(jìn)入磁場過程中,甲線框減少的機(jī)械能一定比乙線框多
【答案】?AD
【解析】?設(shè)矩形線框長邊為2L,短邊為L,對于線框甲下邊進(jìn)入磁場時做勻速運(yùn)動,則有:mg=F安=B2L2vR,對于線框乙下邊進(jìn)入磁場時:B2(2L)2vR-mg=ma,解得a=3g,選項A正確。由以上分析可知,乙線框進(jìn)入磁場時做減速運(yùn)動,而甲線框做勻速運(yùn)動,則乙線框完全進(jìn)入磁場時的速度小于甲線框剛進(jìn)入磁場時的速度,選項B錯誤;進(jìn)入磁場過程中,克服安培力做功等于機(jī)械能減少量,則甲線框機(jī)械能減少量為2F安L;乙線框做減速運(yùn)動,開始進(jìn)入時安培力為甲的4倍,即4F安,因隨速度減小,安培力減小,則乙線框進(jìn)入磁場過程中的安培力的平均值大于2F安,則安培力的功大于2F安L,故選項C正確,D錯誤;故選AC。
很顯然,C、D選項的分析和答案是矛盾的。對乙線框進(jìn)入磁場過程中,安培力的平均值大于2F安的分析是值得商榷的。
乙線框進(jìn)入磁場過程中,開始時安培力大小為4F安,假設(shè)完全進(jìn)入前已經(jīng)或恰好做勻速運(yùn)動,則有B2(2L)2v2R=mg,即v2=14v,此時安培力大小為F安,如果這個過程乙線框做勻減速運(yùn)動,其安培力的平均值一定大于2F安,而乙線框?qū)嶋H做加速度減小的減速運(yùn)動,正是因為加速度的非勻變化,使速度、感應(yīng)電動勢、感應(yīng)電流、安培力等物理量都是非勻變化的,故安培力的平均值是否大于2F安就無法確定;如果乙線框完全進(jìn)入后還未達(dá)勻速運(yùn)動,則有v2>14v,則安培力的平均值是否大于2F安就更難確定。
那么,本題該如何分析呢?由于線框進(jìn)入磁場過程中,機(jī)械能減少量等于克服安培力做的功,也等于轉(zhuǎn)化的焦耳熱,因甲、乙線框進(jìn)入磁場過程中,其磁通量的變化量和電阻都是相同的,故利用平均電動勢公式E=ΔΦΔt、焦耳定律Q=Ι2Rt和歐姆定律I=UR,可得Q=ΔΦ2RΔt。這樣,該問題可轉(zhuǎn)化為通過判斷二者進(jìn)入時間快慢來確定焦耳熱大小問題。因L1=2L2,即二者進(jìn)入磁場的位移存在關(guān)系L甲=2L乙,據(jù)此作v
t圖像如圖2所示,由圖像可得出,進(jìn)入時間應(yīng)該有t乙>t甲,故甲轉(zhuǎn)化的焦耳熱多,甲線框減少的機(jī)械能一定比乙線框多,D選項是正確的。
例2?如圖3所示,豎直固定放置且內(nèi)壁光滑的圓管,A、B和圓心在同一水平面上,小球從A點(diǎn)出發(fā),可沿向上、向下不同路徑到達(dá)B點(diǎn),問哪條路徑用時短?
【解析】?小球運(yùn)動過程中機(jī)械能守恒,故vA=vB,向上運(yùn)動是先減速后加速,向下運(yùn)動是先加速后減速,二者運(yùn)動位移相等,據(jù)此作vt圖像,可得出先向下運(yùn)動所用時間短。
由以上兩例可以看出,在處理物理量非勻變問題時,常常很難用公式進(jìn)行判斷,即使可以利用公式得出結(jié)論,也常常比較麻煩。如果通過合理的轉(zhuǎn)化,將復(fù)雜的物理過程,關(guān)鍵物理量的變化關(guān)系,通過簡明、形象、直觀的圖像反映出來,就可以挖掘出隱藏其中的變化規(guī)律,以達(dá)到化繁為簡、巧妙解題的目的。
參考文獻(xiàn):
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作者簡介:
韓學(xué)鋒,中學(xué)高級教師,甘肅省隴南市,西和縣第二中學(xué)?!?/p>