丁一 王文倩

摘 要：本文以SEPCOS保護(hù)裝置為例，研究DDL保護(hù)功能和動(dòng)作邏輯，創(chuàng)造出一種DDL保護(hù)的模擬測(cè)試方法，解決了傳統(tǒng)測(cè)試方式不能定量檢測(cè)的問題。希望本文能為相關(guān)學(xué)者的研究提供參考。

關(guān)鍵詞：DDL保護(hù);模擬測(cè)試;定量測(cè)量;試驗(yàn)檢測(cè)

中圖分類號(hào)：U231.8 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1003-5168（2019）05-0096-03

Abstract： Taking SEPCOS protection device as an example， this paper studied DDL protection function and action logic， and created a simulation test method for DDL protection， which solved the problem that traditional test methods could not be quantitatively detected. It is hoped that this paper can provide a reference for the relevant scholars.

Keywords： DDL protection;simulation test;quantitative measurement;test detection

隨著我國(guó)軌道交通事業(yè)的迅速發(fā)展，軌道交通牽引供電系統(tǒng)的安全運(yùn)行日益重要。近年來，一種反應(yīng)電流變化趨勢(shì)的保護(hù)，即DDL保護(hù)，又稱電流變化率和電流增量保護(hù)，逐漸成為直流牽引網(wǎng)末端短路的主保護(hù)[1-3]。但目前，對(duì)DDL保護(hù)的研究還很欠缺，檢測(cè)手段主要以檢測(cè)人員的經(jīng)驗(yàn)手段為主。目前，DDL保護(hù)的檢測(cè)工作，通常采用向保護(hù)裝置輸入直流小信號(hào)，通過觀察保護(hù)狀態(tài)和報(bào)文顯示數(shù)據(jù)來進(jìn)行判斷，并在此基礎(chǔ)上結(jié)合經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行定性分析，難以對(duì)電流變化率和變化時(shí)間進(jìn)行控制，且難以實(shí)現(xiàn)定量分析，對(duì)DDL保護(hù)復(fù)歸功能的檢測(cè)也難以實(shí)現(xiàn)。

針對(duì)上述問題，筆者提出了一種直流牽引供電系統(tǒng)中DDL保護(hù)的模擬測(cè)試方法，研制出一種直流牽引供電保護(hù)測(cè)試裝置，對(duì)鄭州地鐵二號(hào)線所用的SEPCOS控制保護(hù)裝置進(jìn)行研究，力求達(dá)到完善DDL保護(hù)測(cè)試工作的目的。

1 SEPCOS保護(hù)裝置DDL保護(hù)動(dòng)作邏輯

DDL保護(hù)一般用來監(jiān)測(cè)在線斷路器的遠(yuǎn)方故障（短路故障），其故障電流值低于斷路器的整定值，通過分析電流上升率[di/dt]與兩個(gè)可調(diào)整的參數(shù)[Slope E]和[Slope F]，結(jié)合電流上升率[di/dt]、電流增加時(shí)間[t]及電流增量[ΔI]進(jìn)行故障判斷。DDL保護(hù)分為DDL+Delta I與DDL+Delta T保護(hù)，保護(hù)功能可單獨(dú)投退。

如果測(cè)量[di/dt]>[Slope E]，則開始測(cè)量電流增量（[ΔI]）并計(jì)時(shí)（[t]），如果測(cè)量值[ΔI>ΔImax]，且時(shí)間[t>tΔImax]，則發(fā)出跳閘信號(hào)，觸發(fā)DDL+Delta I保護(hù)。DDL+Delta I跳閘特性曲線見圖1。

2 直流牽引供電保護(hù)測(cè)試裝置工作原理

3 試驗(yàn)測(cè)試方法

3.1 對(duì)SlopeE進(jìn)行校驗(yàn)

3.1.1 采用第一段進(jìn)行測(cè)試。設(shè)定輸出時(shí)間100ms，調(diào)整電流變化率di/dt，測(cè)試結(jié)果如表2所示。

3.1.2 采用三段進(jìn)行測(cè)試?？紤]到SEPCOS保護(hù)裝置故障發(fā)生時(shí)的電流不為零，為了更加真實(shí)地模擬故障發(fā)生瞬間電流變化，設(shè)置表3。

3.2 對(duì)SlopeF進(jìn)行校驗(yàn)

3.3 對(duì)[ΔImax]值進(jìn)行校驗(yàn)

3.4 對(duì)[Tmax]值、[ΔImin]值的校驗(yàn)

為減少干擾僅投DDL + Delta T保護(hù)功能。具體試驗(yàn)步驟與上述類似。

4 結(jié)論

通過對(duì)SEPCOS保護(hù)裝置DDL保護(hù)進(jìn)行模擬試驗(yàn)可以看出，使用多段式測(cè)試方法可以有效模擬故障發(fā)生的電流變化，對(duì)DDL保護(hù)各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行定量檢驗(yàn)。

雖然從目前看來，各品牌在結(jié)構(gòu)上存在的差異一定程度上影響了試驗(yàn)效果，但隨著技術(shù)人員對(duì)DDL保護(hù)的研究和標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)一，DDL保護(hù)測(cè)量困難的問題必將得到有效解決。

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