統(tǒng)計(jì)學(xué)處理應(yīng)寫明所用的統(tǒng)計(jì)學(xué)軟件及版本，對文中數(shù)據(jù)資料采取的數(shù)據(jù)表達(dá)形式，如正態(tài)分布且方差齊的計(jì)量資料采用 表示，非正態(tài)或方差不齊時(shí)采用 M（P₂₅，P₇₅） 表示;不可采用 等表示。計(jì)數(shù)資料可以采用例 （%） 形式表示。

如文中采用了統(tǒng)計(jì)學(xué)檢驗(yàn)時(shí)，應(yīng)交代文中相應(yīng)內(nèi)容所采用的統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)方法的具體名稱。在使用時(shí)，應(yīng)根據(jù)研究的設(shè)計(jì)類型、資料性質(zhì)及作者關(guān)注的可變化特征選擇恰當(dāng)?shù)姆椒?，如配對資料的t檢驗(yàn)、兩獨(dú)立樣本資料的 t 檢驗(yàn)、單因素方差分析（包括進(jìn)一步采用的兩兩比較的方法，如LSD- ?t 法、SNK- ?q 法、Bonferroni法及Dunnet-t法等）、重復(fù)測量資料的方差分析、卡方檢驗(yàn)、秩和檢驗(yàn)、Ridit分析、Pearson相關(guān)、Spearman相關(guān)、多重線性回歸、Logistic回歸 Ω.Cox 回歸等。統(tǒng)計(jì)量 Φ_t 為英文小寫， F 檢驗(yàn)為英文大寫，卡方為希文小寫 χ² ，積差相關(guān)系數(shù)為英文小寫 r ，等級相關(guān)系數(shù)為英文小寫 r_s ，樣本例數(shù)用英文小寫 n ，概率用英文大寫 P 。以上統(tǒng)計(jì)量均使用斜體表示。統(tǒng)計(jì)量（t值 ?F 值 ?χ² 等）和 P 值一般保留3位小數(shù)。若 P 值很小時(shí)，一般不寫 P=0.000 ，而應(yīng)為 Plt;0.001 。

《天津醫(yī)藥》編輯部