王亞棟, 周四春, 劉曉輝, 胡波, 王廣西, 徐云甫, 曹紅亮, 樊新勝, 韓若浦
(1. 青海省地質(zhì)調(diào)查院 青藏高原北部地質(zhì)過(guò)程與礦產(chǎn)資源重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,青海 西寧 810012;2. 成都理工大學(xué) 地學(xué)核技術(shù)四川省重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,四川 成都 610059)
2018年青海省地質(zhì)調(diào)查院通過(guò)“青海省烏蘭縣察汗諾—茶卡北山地區(qū)1∶2.5萬(wàn)地球化學(xué)測(cè)量”項(xiàng)目,在茶卡北山片區(qū)圈定了多處以鋰鈹為主的地球化學(xué)異常。隨后,在該勘查區(qū)通過(guò)工程驗(yàn)證發(fā)現(xiàn)了花崗偉晶巖型鋰鈹工業(yè)礦體[1]。目前,茶卡北山地區(qū)是青海省最具有鋰鈹找礦前景的地區(qū)之一[2]。
由于偉晶巖礦脈與圍巖的物性差異小[3],伴生的硫化金屬礦物含量低,常規(guī)地球物理方法找礦效果不佳[4]。加之勘查區(qū)地處高海拔高寒地區(qū),野外可工作時(shí)間短,完全靠勘查周期較長(zhǎng)且成本較高的傳統(tǒng)化探方法開(kāi)展進(jìn)一步找礦也有困難。為了提供快速、有效的偉晶巖鋰鈹?shù)V新找礦方法,青海省地質(zhì)調(diào)查院與成都理工大學(xué)共同承擔(dān)了青海省科技廳基礎(chǔ)研究計(jì)劃項(xiàng)目“綜合地氣測(cè)量在青海省茶卡北山地區(qū)偉晶巖型鋰鈹?shù)V區(qū)找礦方法研究及示范”,在勘查區(qū)開(kāi)展了基于手提式X射線熒光儀快速測(cè)量勘查花崗偉晶巖鋰鈹?shù)V的方法技術(shù)研究與找礦應(yīng)用示范,以期為同類景觀區(qū)的找礦研究提供更多方法。
茶卡北山勘查區(qū)行政區(qū)劃隸屬青海省天峻縣,南距茶卡鎮(zhèn)30 km,茶德高速位于勘查區(qū)南側(cè),交通較為便利。大地構(gòu)造位置位于宗務(wù)隆山構(gòu)造帶、全吉地塊、秦嶺弧盆系結(jié)合部,區(qū)域整體構(gòu)造呈NW向,鄰近斷裂主要為宗務(wù)隆山南緣斷裂、溫泉—哇洪山斷裂(圖1)。
圖1 勘查區(qū)大地構(gòu)造及交通位置(據(jù)王秉璋等[1]修改)
區(qū)內(nèi)地層以青白口—奧陶系茶卡北山片巖組(Qb-O3c)為主(圖2),該套地層占勘查區(qū)面積的80%以上,同時(shí)勘查區(qū)南部石炭—二疊系果可山組(C-P2g)和第四系地層少量分布。斷裂構(gòu)造(F4~F8)主體方向?yàn)镹W—SE向,與地層的走向基本一致。侵入巖在勘查區(qū)中部沿區(qū)域斷裂產(chǎn)出,巖性為灰白色中細(xì)粒石英閃長(zhǎng)巖,部分受變質(zhì)作用已經(jīng)糜棱巖化[5]。
1—實(shí)測(cè)地質(zhì)界線;2—實(shí)測(cè)斷層;3—偉晶巖脈;4—X射線熒光測(cè)線及編號(hào);5—偉晶巖礦脈帶;Qb-O3c—茶卡北山片巖組;C-P2g—石炭-二疊系果可山組;δoO3—奧陶系石英閃長(zhǎng)巖;C-P2t—石炭—二疊系土爾根大坂組;Qhpal—全新統(tǒng)沖積物
通過(guò)近年來(lái)的工作,在勘查區(qū)劃分出3條偉晶巖礦脈帶,在Ⅰ號(hào)偉晶巖礦脈帶圈定了35條花崗偉晶巖脈,其中17條含礦,礦化類型主要為鋰鈹?shù)V化,礦石礦物主要為鋰輝石和綠柱石,Li2O平均品位0.58%~1.94%,伴生BeO品位0.041%~0.076%。脈體產(chǎn)狀分NW傾和NE傾兩組,偉晶巖向深部有一定延伸,但多數(shù)變薄并趨于尖滅[6]。
根據(jù)研究與找礦工作的需要,以茶卡北山勘查區(qū)內(nèi)已知的Ⅰ、Ⅱ號(hào)偉晶巖礦脈帶為控制目標(biāo),以基本垂直于Ⅰ、Ⅱ號(hào)偉晶巖礦脈帶為原則,按NE30°方位角,從西北到東南平行部署了9條X射線熒光(以下簡(jiǎn)稱“XRF”,代表X-ray fluorescence)測(cè)線(依次命名為XP1~XP9)(見(jiàn)圖2)。其中,XP2~XP7為Ⅰ號(hào)與Ⅱ號(hào)偉晶巖礦脈帶已知區(qū),用于建立勘查區(qū)XRF找礦模式并對(duì)其有效性進(jìn)行檢驗(yàn);XP1為探尋已知礦脈是否向西北方向延伸而部署;XP8與XP9則是為探尋已知礦脈是否向東南方向延伸而部署。
區(qū)內(nèi)的土壤XRF測(cè)量?jī)x器采用牛津公司生產(chǎn)的商用X-MET7500手提式X射線熒光儀器。該儀器采用SDD(silicon drift detector)探測(cè)器,對(duì)55Fe 5.9 keV射線能量分辨率為120 eV左右,理想情況下可以同時(shí)測(cè)量30種左右的元素[7]。
根據(jù)前期研究結(jié)果[8-9],為了減少影響因素,提高測(cè)量可靠性與準(zhǔn)確性,測(cè)區(qū)內(nèi)土壤XRF測(cè)量采取了取樣后在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)測(cè)量的技術(shù)方案。
研究區(qū)屬于半干旱高寒深切割山區(qū)[10],植被發(fā)育,土壤類型主要為高山草原—草甸土,局部為黑鈣土[11]。按照土壤發(fā)生層劃分原則[12],現(xiàn)場(chǎng)踏勘后確認(rèn)在0~15 cm為A層,以富含有機(jī)質(zhì)—腐殖質(zhì)為主要特征,風(fēng)成砂多浮在表面;15~35 cm為淋積層(B層),以富含硅酸鹽黏粒、鐵、鋁、碳酸鹽、石膏或硅的淀積為主要特征,有機(jī)質(zhì)已很少見(jiàn);35~65 cm為C層,以殘積物—坡積物為主;65 cm以下為基巖。
為保證樣品全部采集至B層物質(zhì),每個(gè)測(cè)點(diǎn)上均按30 cm深度取坑底的土壤部分,主要為富含細(xì)粒硅酸鹽黏粒、鐵、鋁、碳酸鹽、石膏等,未觀測(cè)到帶入明顯的風(fēng)成砂。經(jīng)不同原始粒級(jí)土壤樣品的XRF對(duì)比測(cè)量實(shí)驗(yàn)[13],選擇目標(biāo)元素最富集的80~100目原始粒級(jí)土壤作為測(cè)量對(duì)象。每件樣品分選出80~100目原始粒級(jí)的土壤6 g(干樣),平鋪于外徑43.10 mm、內(nèi)徑34.12 mm的聚乙烯塑料環(huán)內(nèi),置于樣片機(jī)內(nèi),在30 MPa壓力下施壓40 s,壓制成3 mm厚樣片進(jìn)行測(cè)量。
將壓制好的土壤樣片平整放置于X-MET7500手提式X射線熒光儀探測(cè)窗上,選擇“土壤模式”、80 s測(cè)量時(shí)間,逐一測(cè)量各測(cè)點(diǎn)樣品。每個(gè)測(cè)點(diǎn)獲取了Nb、Ta、Rb、K、Ca、Ni、Mn、Fe、Zr、Sr、Ti、Zn、As、V 14種元素的測(cè)量結(jié)果。其中,由于所用儀器土壤測(cè)量模式中不能直接給出Nb、Ta、As元素含量,這3個(gè)元素的測(cè)量結(jié)果以其Kα特征峰凈峰面積(X射線熒光強(qiáng)度,單位為cp/80s)為測(cè)量結(jié)果,其余元素以儀器給出的百分含量為測(cè)量結(jié)果。
為了研究并選取最佳XRF指示元素(后文稱“熒光指示元素”),以及判別熒光指示元素與礦體間的空間關(guān)聯(lián)關(guān)系,依據(jù)實(shí)測(cè)數(shù)據(jù),以已知區(qū)XP3測(cè)線為研究對(duì)象,編制了Nb、Ta、Rb、K、Ca、Ni、Mn、Fe、Zr、Sr、Ti、Zn、As、V 14種元素以襯度值為單位的X射線熒光測(cè)量綜合剖面(圖3)。
1—電氣石花崗偉晶巖;2—石英閃長(zhǎng)巖;3—二云母石英片巖;4—斷層; 5—鈹?shù)V體;6—鈹?shù)V化體;7—鉆孔及其編號(hào);8—X射線熒光實(shí)測(cè)曲線
根據(jù)對(duì)XP3測(cè)線實(shí)測(cè)剖面的研究,最后確認(rèn)Nb、Ta、Rb、K 4種元素是區(qū)內(nèi)最好的熒光指示找礦元素,為此編制了4種元素的平面剖面與平面等值線作為找礦成果圖。4種元素的平面等值線圖中,異常的分布形態(tài)基本一致。限于篇幅,本文僅展示了Nb元素的XRF測(cè)量等值線(見(jiàn)圖4),以便對(duì)XRF測(cè)量結(jié)果加以討論和分析。
圖4 茶卡北山土壤X射線熒光測(cè)量Nb異常分布Fig.4 Nb abnormal map of soil X-ray fluorescence measurement in Chakabeishan
需要說(shuō)明的是,由于研究區(qū)第四系覆蓋廣泛,且面對(duì)的主要為隱伏礦,實(shí)際獲得的各元素的測(cè)量值幅度均較低,根據(jù)勘查區(qū)實(shí)際地質(zhì)情況,采用了背景值(平均值)加3倍標(biāo)準(zhǔn)差(本文計(jì)算得出Nb背景值為1 800 cp/80s,標(biāo)準(zhǔn)差為216 cp/80s)為異常下限(根據(jù)概率論可知,超過(guò)該下限的測(cè)量值為異常值的置信概率超過(guò)99%)。
為了保證測(cè)量結(jié)果的可靠性,對(duì)XP3測(cè)線全線81個(gè)測(cè)點(diǎn)進(jìn)行了檢查測(cè)量,檢查測(cè)點(diǎn)占整個(gè)測(cè)區(qū)的11.1%。結(jié)果表明,Nb、Ta、Rb、K 4種元素檢查測(cè)量與基本測(cè)量測(cè)點(diǎn)間最大誤差不超過(guò)8%,平均誤差分別為2.9%、3.1%、2.4%、2.2%。
以茶卡北山礦區(qū)部署的XP3測(cè)線測(cè)量結(jié)果(圖3)為例,研究X射線熒光異常分布特征及其與礦體空間上的關(guān)聯(lián)關(guān)系。
從圖3可見(jiàn),礦(化)體聚集區(qū)域出現(xiàn)在260~490 m,在這個(gè)區(qū)域,與礦(化)體有關(guān)聯(lián)的X射線熒光異常元素有兩組:
1)正異常元素組,包括Rb、Nb、Ta、K、Ca 5種元素;
2)負(fù)異常元素組,包括Ni、Mn、Fe 3種元素。
先討論正異常元素組元素與礦(化)體間的關(guān)聯(lián)關(guān)系??傮w上Rb、Nb、Ta、K 4種元素的異常都出現(xiàn)在剖面250~500 m區(qū)域內(nèi),這些元素出現(xiàn)異常的位置與地質(zhì)工作確認(rèn)的礦(化)體聚集區(qū)域260~490 m幾乎完全一致。在這些元素的異常區(qū)域內(nèi),每個(gè)元素都捕獲有多個(gè)異常峰,各元素的異常峰值位置基本都出現(xiàn)在出露地表的礦(化)體或距離地表較近的礦(化)體頂部在地表投影位置處,偏差一般不超過(guò)30 m。
相較上述4種元素的異常,Ca異常比較特殊,它雖然在250~500 m也出現(xiàn)異常,但其呈現(xiàn)的是連續(xù)異常,沒(méi)有明顯的對(duì)應(yīng)礦脈的異常峰值出現(xiàn),據(jù)此推測(cè),Ca異常揭示的應(yīng)該是賦存礦的偉晶巖脈貢獻(xiàn),而非礦(化)體所致。換言之,Ca應(yīng)該是含礦層位的指示元素,Ca異常應(yīng)該是含礦層位偉晶巖脈的識(shí)別標(biāo)志。
分析茶卡北山勘查區(qū)其他已知區(qū)剖面的X射線熒光測(cè)量成果圖,除XP5測(cè)線沒(méi)有捕獲到異常外,其他剖面的X射線熒光正異常元素組合特征與XP3基本一致。
據(jù)此可以做出結(jié)論:
1)Ca是含礦層位偉晶巖脈的有效指示元素,Ca的X射線熒光異常是偉晶巖脈的指示標(biāo)志;
2)Rb、Nb、Ta、K是礦異常的有效指示元素,Rb、Nb、Ta、K 4種元素的X射線熒光異常是礦異常的重要標(biāo)志。
再研究負(fù)異常元素組與礦(化)體間的關(guān)系。圖3顯示,Ni、Mn、Fe 3種元素在剖面250~500 m區(qū)域中均出現(xiàn)一定虧損(低于測(cè)區(qū)背景值或顯示低值),形成負(fù)異常(或低值)區(qū)。這種負(fù)異常(或低值)區(qū)沒(méi)有明顯的負(fù)異常峰值出現(xiàn),呈現(xiàn)連續(xù)分布的狀態(tài)。3種元素的X熒光異常低值分布形態(tài),與Ca在這一區(qū)域內(nèi)出現(xiàn)的連續(xù)正異常分布形態(tài)幾乎為鏡像分布。這表明,Ni、Mn、Fe 3種元素在250~500 m區(qū)域出現(xiàn)的連續(xù)負(fù)異常(或低值)區(qū),實(shí)際是對(duì)含礦層位偉晶巖脈賦存位置的指示。
通過(guò)上述討論,可以得到重要的基本認(rèn)識(shí):
1)茶卡北山勘查區(qū)開(kāi)展X射線熒光測(cè)量找礦時(shí),有兩組對(duì)找礦有指示作用的X熒光元素,一組為正異常元素,包括Rb、Nb、Ta、K、Ca;一組為負(fù)異常元素,包括Ni、Mn、Fe。這是與礦有關(guān)的X射線熒光異常的基本元素組合。
2)Ca、Ni、Mn、Fe是含礦層位偉晶巖脈的有效指示元素,Ca的正X熒光異常區(qū)與Ni、Mn、Fe的負(fù)異常(或低值)區(qū),是對(duì)含礦層位偉晶巖脈的識(shí)別標(biāo)志。
3)Rb、Nb、Ta、K是含礦偉晶巖脈的有效指示元素,4種元素的異常是礦異常的識(shí)別標(biāo)志。當(dāng)Rb、Nb、Ta、K的正異常出現(xiàn)在Ca、Ni、Mn、Fe指示的含礦層偉晶巖脈內(nèi)時(shí),Rb、Nb、Ta、K的正異??梢耘卸榈V異常。
從第3節(jié)關(guān)于XP3測(cè)線X射線熒光測(cè)量綜合剖面(圖3)的討論可知,雖然不能通過(guò)X射線熒光測(cè)量直接獲取礦體元素Li與Be的含量或X射線熒光強(qiáng)度結(jié)果,但通過(guò)Ca、Ni、Mn、Fe以及Rb、Nb、Ta、K兩組元素的X射線熒光測(cè)量結(jié)果,依然可以可靠評(píng)價(jià)出露地表或淺埋深的隱伏偉晶巖脈頂部是否含礦。
從圖4中我們知道,通過(guò)X射線熒光測(cè)量獲得的Nb元素的X射線熒光平面等值線圖圈出了5個(gè)異常帶。
先討論分布于測(cè)區(qū)北側(cè)的①、②、③號(hào)異常帶。對(duì)照測(cè)區(qū)地質(zhì)圖(圖2)可知,①號(hào)異常帶與Ⅱ號(hào)偉晶巖礦脈帶北側(cè)的多條偉晶巖脈空間位置形成對(duì)應(yīng),②、③號(hào)異常帶則與Ⅰ號(hào)偉晶巖礦脈帶空間位置相契合。
④、⑤異常帶均分布于Ⅱ號(hào)偉晶巖礦脈帶對(duì)應(yīng)位置,④異常帶與測(cè)區(qū)西北段Ⅱ號(hào)偉晶巖礦脈帶空間位置完全契合,⑤號(hào)異常帶與測(cè)區(qū)東南段Ⅱ號(hào)偉晶巖礦脈帶空間位置高度一致。
前述分析表明,利用快速X射線熒光測(cè)量成果資料,可以確定含礦偉晶巖脈的位置、走向與延伸長(zhǎng)度。
圖5展示了X射線熒光測(cè)區(qū)東南端捕獲的Nb的X射線熒光異常(圖5a),以及異常分布區(qū)的地質(zhì)背景情況(圖5b)。
1—地質(zhì)界線; 2—斷層; 3—實(shí)測(cè)土壤X射線熒光剖面; 4—X熒光異常帶編號(hào); 5—偉晶巖礦脈帶; 6—推斷偉晶巖脈;(a)中圖例同圖4;(b)中圖例同圖2
從圖5b中可見(jiàn),Ⅱ號(hào)偉晶巖礦脈帶賦存于測(cè)區(qū)南部,沿北西(東南)方向延伸,前人的工作已經(jīng)控制該偉晶巖帶延伸到XP7號(hào)測(cè)線位置截止,在測(cè)區(qū)開(kāi)展X射線熒光測(cè)量工作前,XP8~XP9測(cè)線希望加以控制的區(qū)域是未知區(qū),該偉晶巖帶是否會(huì)穿越XP8與XP9測(cè)線向東南方向繼續(xù)延伸是沒(méi)有依據(jù)的。
從圖5a中可見(jiàn),在X射線熒光測(cè)區(qū)的東南端,捕獲了兩條Nb元素的X射線熒光異常帶。北側(cè)的③號(hào)異常帶,其西北段在XP6、XP7測(cè)線區(qū)域與Ⅰ號(hào)偉晶巖礦脈帶空間位置高度契合,無(wú)疑反應(yīng)了該偉晶巖礦脈帶的空間位置。該異常帶長(zhǎng)軸方向與地層走向一致,沿東南方向穿越XP8后,延伸到XP9之前圈閉。③號(hào)異常帶的空間分布給出了Ⅰ號(hào)偉晶巖礦脈帶除已控制區(qū)域外,至少向東南方向延伸了600 m的證據(jù)。南側(cè)的⑤異常帶從XP5前開(kāi)始,與地層走向方向一致,沿東南方向先后穿越已知區(qū)的XP6、XP7兩條測(cè)線后,繼續(xù)穿越XP8、XP9測(cè)線(見(jiàn)圖5a)。穿越XP9測(cè)線后,異常幅度沒(méi)有衰減,顯示出異常穿越XP9測(cè)線后繼續(xù)向東南方向延伸的趨勢(shì)相當(dāng)明顯。⑤異常帶西北段(XP6、XP7測(cè)線區(qū)域),其異??臻g位置與Ⅱ號(hào)偉晶巖帶的空間位置完全吻合,因此可以判斷⑤異常帶應(yīng)該是Ⅱ號(hào)偉晶巖帶引起的異常。據(jù)此,根據(jù)⑤異常帶穿越XP9測(cè)線后有繼續(xù)向東南方向延伸趨勢(shì)情況,可以推測(cè),Ⅱ號(hào)偉晶巖帶沿東南方向有較大延伸,整個(gè)礦脈帶將比原控制截止位置延伸1 000 m左右。
圖6展示了X射線熒光測(cè)區(qū)西北端捕獲的Nb的X射線熒光異常(圖6a),以及偉晶巖脈延伸的推斷解釋(圖6b)。
圖6 茶卡北山X射線熒光測(cè)區(qū)西北端Nb異常(a)及推斷解釋(b)(圖例同圖5)Fig.6 Nb anomaly at the northwest end of the X-ray fluorescence survey area of Chakabeishan(a) and its inferred interpretation(b)(the legend is the same as Fig.5)
從圖6b中可見(jiàn),Ⅱ號(hào)偉晶巖帶賦存于測(cè)區(qū)南部,沿北西方向延伸,前人的工作已經(jīng)控制該偉晶巖帶延伸到XP2號(hào)測(cè)線位置截止,在測(cè)區(qū)內(nèi)開(kāi)展X射線熒光測(cè)量工作前,XP2西北側(cè)的XP1測(cè)線是希望加以控制的未知區(qū)域,該偉晶巖帶是否會(huì)穿越XP1向西北方向繼續(xù)延伸尚沒(méi)有依據(jù)。
從圖6b中可見(jiàn),在X射線熒光測(cè)區(qū)的西北端,捕獲了兩條Nb元素的X射線熒光異常帶。北側(cè)的①號(hào)異常帶在4.1節(jié)中已經(jīng)做了分析。南側(cè)的④異常帶從XP5測(cè)線前開(kāi)始,與地層走向方向一致,沿西北方向先后穿越已知區(qū)的XP4、XP3、XP2三條測(cè)線后,繼續(xù)穿越XP1(見(jiàn)圖6a)。穿越XP1測(cè)線后,異常寬度有所縮小,幅度沒(méi)有明顯衰減,表明異常穿越XP1測(cè)線后有繼續(xù)向西南方向延伸的趨勢(shì)。④號(hào)異常帶東南段(XP2、XP3、XP4測(cè)線區(qū)域),其異??臻g位置與Ⅱ號(hào)偉晶巖帶的空間位置高度契合,因此可以判斷④異常帶應(yīng)該是Ⅱ號(hào)偉晶巖帶引起的異常。據(jù)此,根據(jù)④異常帶穿越XP1測(cè)線后有繼續(xù)向西北方向延伸趨勢(shì)的情況,可以推測(cè),Ⅱ號(hào)偉晶巖帶沿西北方向還有一定延伸,整個(gè)礦脈帶將比原控制截止位置延伸400 m左右。
依據(jù)前述推斷結(jié)論,針對(duì)Ⅱ號(hào)偉晶巖礦脈帶向東南延伸情況,在XP8線上實(shí)施了ZK25801孔進(jìn)行深部驗(yàn)證。結(jié)果在孔深95~195 m處發(fā)現(xiàn)3層鈹?shù)V(化)體,其聚集區(qū)域出現(xiàn)在測(cè)線200~280 m位置,與地表土壤X射線熒光Rb、Nb、Ta、K異常出的180~340 m區(qū)域吻合,可以認(rèn)定異常就是深部鈹?shù)V(化)偉晶巖脈的反映,也進(jìn)一步證明Ⅱ號(hào)偉晶巖礦脈帶沿東南延伸的推論是可信的;至于偉晶巖礦脈帶沿西北方向延伸的推論,有待今后進(jìn)一步工程驗(yàn)證。
研究與找礦應(yīng)用表明,在茶卡北山勘查區(qū)可以利用X射線熒光正異常指示元素與負(fù)異常指示元素相互補(bǔ)充,協(xié)同判定所捕獲的X熒光異常是否為礦異常。其中,Ca的X射線熒光正異常與Ni、Mn、Fe的負(fù)異常(或低值)區(qū)共同指示偉晶巖脈區(qū)的位置,出現(xiàn)在偉晶巖脈區(qū)內(nèi)的Rb、Nb、Ta、K正異常位置,則用來(lái)判定礦化偉晶巖脈的位置。研究證實(shí),礦(化)偉晶巖脈的露頭或礦體頂部的投影位置與Rb、Nb、Ta、K正異常位置具有良好的一致性,換言之,當(dāng)判定4種元素的X射線熒光異常分布在偉晶巖脈中時(shí),利用4種元素的X射線熒光異常不僅可以基本確定含礦偉晶巖脈頂部在地表的投影位置,還能夠利用其異常帶長(zhǎng)軸方向與長(zhǎng)度判定礦脈的走向與延伸長(zhǎng)度。
在X射線熒光測(cè)區(qū)的未知區(qū)域開(kāi)展的找礦應(yīng)用示范成果表明,測(cè)區(qū)西北方向,Ⅱ號(hào)偉晶巖帶形成的X射線熒光異常帶沿地層走向穿越未知區(qū)域的XP1測(cè)線,表明勘查區(qū)內(nèi)Ⅱ號(hào)偉晶巖帶在現(xiàn)有控制截止處的基礎(chǔ)上,向西北方向至少有400 m的延伸。而在測(cè)區(qū)的東南端,Ⅱ號(hào)偉晶巖帶形成的X射線熒光異常帶沿地層走向穿越未知區(qū)域的XP8、XP9測(cè)線,表明勘查區(qū)內(nèi)Ⅱ號(hào)偉晶巖帶在現(xiàn)有控制截止處的基礎(chǔ)上,向東南方向至少有100 m的延伸。