劉 繄,李志強(qiáng),譚躍剛,楊彩霞,管 昕,郭煜恩

(武漢理工大學(xué) 機(jī)電工程學(xué)院,湖北 武漢 430070 )

0 引言

在航空航天、核電及天然氣工業(yè)等領(lǐng)域,健康監(jiān)測長期工作于高溫、高壓等極端環(huán)境下設(shè)備的應(yīng)變和溫度等物理參數(shù)較難。由于光纖傳感器具有體積小,質(zhì)量輕,成本低及抗電磁干擾等優(yōu)點(diǎn)[1],近年來已得到了廣泛的應(yīng)用。目前用于高溫下的光纖傳感技術(shù)主要有光纖光柵技術(shù)和光纖法布里-珀羅干涉儀技術(shù)。光纖法布里-珀羅干涉儀雖然耐高溫性能優(yōu)異,但制作工藝復(fù)雜,一致性較差,且難以復(fù)用,應(yīng)用場合受限[2]。而光纖光柵傳感器因其制作簡單,精度高和解調(diào)技術(shù)相對成熟等特點(diǎn),因而應(yīng)用較廣[3-4]。經(jīng)調(diào)查發(fā)現(xiàn),目前高溫下光纖光柵傳感器主要用于溫度測量,對應(yīng)變測量應(yīng)用較少。

光纖光柵傳感器極少用于高溫應(yīng)變測量的原因主要有:

1) 粘接劑受溫度限制,在高溫下失效發(fā)生脫落。目前在高溫環(huán)境下一般使用高溫?zé)o機(jī)膠,因而此問題得到了有效解決。

2) 光纖光柵自身材料限制。利用光纖光柵進(jìn)行應(yīng)變測量時,通常利用兩點(diǎn)式表粘法將光纖光柵固定在待測件上,但兩者熱膨脹系數(shù)相差較大,在高溫下待測件的膨脹量遠(yuǎn)大于光纖光柵的應(yīng)變極限,這極大地限制了光纖光柵在高溫下的應(yīng)用。

為了利用光纖光柵傳感器測量高溫下應(yīng)變。Yun Tu等[5]開發(fā)了一種金屬封裝再生光纖布喇格光柵傳感器,可測量400 ℃下應(yīng)變,但光纖光柵高溫再生后其機(jī)械性能降低,且傳感器易受溫度擾動的影響。Dirk Havermann等[6]通過熔化粉末方式將鍍鎳光纖嵌入不銹鋼361組件中,可測量400 ℃下溫度和應(yīng)變,但是由于熱膨脹系數(shù)不同在高溫下易導(dǎo)致光纖和金屬分層,很難實(shí)現(xiàn)更高溫的突破。Suchandan Pal等[7]將一段稀土摻雜的光纖中寫入單個光纖布喇格光柵(FBG),可測量500 ℃下的應(yīng)變,但并未突破光纖材料的限制,無法進(jìn)行較大應(yīng)變測量。 迄今為止,利用光纖光柵傳感器進(jìn)行高溫應(yīng)變測量無很大突破,亟待解決500 ℃以上的應(yīng)變測量。

為實(shí)現(xiàn)利用光纖光柵進(jìn)行500 ℃以上環(huán)境下應(yīng)變測量,本文提出了一種精準(zhǔn)冗余光纖的控制方法。此方法能夠通過預(yù)置墊片提供定量冗余光纖,在溫度上升的過程中,光纖光柵逐漸由松弛狀態(tài)變?yōu)榫o張狀態(tài),當(dāng)?shù)竭_(dá)特定溫度時,光纖的冗余量恰好補(bǔ)償待測件的熱膨脹量,光纖光柵可測量待測件產(chǎn)生的應(yīng)變。冗余光纖通過改變墊片的數(shù)量和寬度進(jìn)行精準(zhǔn)調(diào)控,因而能夠精準(zhǔn)調(diào)控光纖光柵傳感器的工作溫區(qū)。本文搭建了高溫應(yīng)變平臺,并對冗余光纖控制方法進(jìn)行了實(shí)驗驗證。

1 冗余光纖控制原理

1.1 原理

本文提出的冗余光纖控制方法如圖1所示。預(yù)置墊片使光纖產(chǎn)生軸向冗余量,通過光纖的粘接點(diǎn)距離、墊片的寬度和數(shù)量計算出光纖的冗余量。墊片材料選用雙向拉伸聚丙烯薄膜(BOPP)材料,熔點(diǎn)為170 ℃,升溫后會快速軟化,當(dāng)溫度超過300 ℃時會快速降解消失,不會對高溫下應(yīng)變測量精度產(chǎn)生影響。在升溫過程中,待測件的熱膨脹量會逐漸抵消光纖冗余量,到達(dá)計算溫度時光纖到達(dá)拉直狀態(tài),此后待測件產(chǎn)生應(yīng)變將通過粘接點(diǎn)傳遞給光纖光柵,從而實(shí)現(xiàn)高溫應(yīng)變測量。

圖1 冗余光纖控制結(jié)構(gòu)示意圖

1.2 建模分析與設(shè)計

冗余光纖控制結(jié)構(gòu)如圖2所示。粘接點(diǎn)間光纖的長度L2為

圖2 冗余光纖控制結(jié)構(gòu)尺寸圖

(1)

式中:L1為光纖光柵兩個粘接點(diǎn)的間距;k為墊片寬度;h為墊片厚度;n為墊片數(shù)量。

光纖光柵由常溫Tr升到溫度Ts的過程中,兩粘接點(diǎn)之間光纖的膨脹量ΔL為

ΔL=α1L2(Ts-Tr)

(2)

式中α1為光纖的熱膨脹系數(shù)。

兩粘接點(diǎn)間金屬基片的軸向膨脹量為

Δd=α2L1(Ts-Tr)

(3)

式中α2為待測件的熱膨脹系數(shù)。

若L2+ΔL=L1+Δd,則表示溫度Ts時,待測件的熱膨脹抵消光纖的冗余量,光纖光柵開始測量待測件產(chǎn)生的應(yīng)變。

根據(jù)光纖光柵的耦合模理論,光纖光柵的中心波長為

λB=2neffΛ

(4)

式中:neff為光纖光柵的有效折射率;Λ為光柵周期。

λB的偏移由neff和Λ變化決定,而neff和Λ的變化主要受軸向應(yīng)變Δε和溫度變化量ΔT的影響。溫度和應(yīng)變引起的光纖光柵反射中心波長變化量為

(5)

式中:ΔT為光纖光柵所處溫度變化量;ξ為熱光系數(shù);Δε為光纖光柵軸向應(yīng)變;Pe為有效彈光系數(shù)。

由式(5)可看出,當(dāng)光纖光柵受溫度影響時,中心波長的變化量由溫度變化量ΔT、光纖熱膨脹系數(shù)和熱光系數(shù)決定;當(dāng)光纖光柵受應(yīng)變影響時,中心波長的變化量由應(yīng)變量和有效彈光系數(shù)決定。通過測量光纖光柵中心波長的漂移量實(shí)現(xiàn)對溫度和應(yīng)變的測量。

1.3 設(shè)計方法

由式(1)～(3)可得,光纖光柵的冗余量可通過粘接點(diǎn)的距離、墊片的寬度和數(shù)量進(jìn)行調(diào)整,從而實(shí)現(xiàn)在不同溫度下應(yīng)變測量。在進(jìn)行冗余光纖設(shè)計時,首先要明確待測件的熱膨脹系數(shù)及工作溫度,根據(jù)待測件的尺寸確定光纖粘接點(diǎn)的距離,然后根據(jù)待測件的熱膨脹量,確定墊片的寬度和厚度,最后通過微調(diào)某個變量對光纖的熱膨脹進(jìn)行補(bǔ)償,從而實(shí)現(xiàn)冗余光纖的精準(zhǔn)控制。

2 實(shí)驗

2.1 實(shí)驗樣品

為了驗證設(shè)計冗余光纖實(shí)現(xiàn)光纖光柵高溫應(yīng)變測量的可行性,本文選用DZ4125鎳基合金材料的拉伸試件,通過Ncc4b-h耐高溫?zé)o機(jī)膠對光纖進(jìn)行粘貼,制作了2種不同粘貼方式粘貼光纖光柵的拉伸試件(試件1、2)。由于拉伸平臺自身材料的限制,本次實(shí)驗設(shè)定的最高溫度為750 ℃。

試件1是將2個光纖光柵分別使用有、無冗余光纖的兩點(diǎn)式粘貼方法粘貼在拉伸試件上,如圖3(a)所示。粘貼時兩個光纖光柵粘接點(diǎn)的距離保持一致,且在試件的同一豎直位置,用于驗證兩點(diǎn)式粘貼光纖光柵的斷裂溫度和冗余光纖的可行性。

圖3 光纖光柵不同粘貼方法實(shí)物圖

試件2是將2個光纖光柵分別用單點(diǎn)粘貼方法和有冗余光纖的兩點(diǎn)式粘貼方法粘貼在拉伸試件上,如圖3(b)所示。用于驗證冗余光纖的準(zhǔn)確性和提供冗余光纖后光纖光柵的高溫應(yīng)變性能。

2.2 實(shí)驗裝置

搭建實(shí)驗裝置如圖4所示。其中高溫爐對試件進(jìn)行升溫,當(dāng)?shù)竭_(dá)設(shè)定溫度時通過拉伸平臺對試件進(jìn)行拉伸,產(chǎn)生應(yīng)變;解調(diào)儀產(chǎn)生的寬帶光經(jīng)過光纖傳導(dǎo)至光柵,光柵感受待測件的應(yīng)變,反射光經(jīng)過光纖返回解調(diào)儀,對中心波長進(jìn)行監(jiān)測,計算機(jī)對光譜數(shù)據(jù)和中心波長進(jìn)行同步采集和保存。解調(diào)儀為自制儀器,內(nèi)部自帶寬帶光源,其解調(diào)范圍為1 528～1 570 nm,分辨率為1 pm;高溫管式爐型號為OTF-1200X-S,最高工作溫度為1 200 ℃,控溫精度為±1 ℃。拉伸平臺為自制裝置,主要由拉伸機(jī)構(gòu)和控制柜組成,通過控制柜對試件進(jìn)行拉伸。

圖4 光纖光柵傳感器高溫應(yīng)變特性實(shí)驗裝置

2.3 實(shí)驗步驟

1) 將試件1放入高溫爐內(nèi)以10 ℃/min的速率升溫至750 ℃,實(shí)時觀察2個光柵的中心波長和光譜變化。

2) 將試件2放入高溫爐內(nèi)以10 ℃/min的速率升溫至750 ℃,實(shí)時觀察2個光纖光柵中心波長的斜率變化。

3) 將試件2通過銷釘固定在高溫拉伸平臺內(nèi),高溫爐按10 ℃/min的速率勻速升溫至750 ℃后保溫,通過控制柜控制對試件進(jìn)行拉伸,設(shè)定每次拉伸距離為5 μm,拉伸18次,通過解調(diào)儀和計算機(jī)實(shí)時采集,并保存光柵中心波長變化。

3 實(shí)驗結(jié)果分析

3.1 無應(yīng)力實(shí)驗結(jié)果分析

根據(jù)實(shí)驗數(shù)據(jù),獲得試件1上2個光纖光柵的中心波長隨溫度變化曲線。多次實(shí)驗表明,無冗余光纖粘貼的光纖光柵隨溫度的上升會出現(xiàn)兩種情況:

1) 到達(dá)某一溫度時光譜消失,無法檢測到正確中心波長。

2) 光譜正常,達(dá)到某一溫度時中心波長瞬間變小后隨溫度增大。

如圖5所示,通光后發(fā)現(xiàn)產(chǎn)生這兩種現(xiàn)象的原因是光纖的斷點(diǎn)位置不同,斷點(diǎn)分別在光柵的前、后側(cè)。

圖5 無冗余光纖粘貼光柵中心波長隨溫度變化

圖6為提供冗余光纖粘貼方法的光纖光柵中心波長隨溫度的變化。由圖可知,在溫度升到750 ℃的過程中,光纖光柵中心波長隨溫度升高表現(xiàn)出良好的線性。圖7為試件2上2個光柵中心波長隨溫度的變化。在升溫過程中,兩者的中心波長隨溫度變化曲線斜率相同,但在750 ℃后,有冗余光纖粘貼的光纖光柵中心波長隨溫度的變化曲線斜率明顯變大,單點(diǎn)固定光纖光柵的中心波長隨溫度變化曲線斜率不變。表明在750 ℃后單點(diǎn)固定光纖光柵仍只受溫度影響,有冗余光纖粘貼的光纖光柵開始同時受溫度和應(yīng)變的影響,應(yīng)變的影響導(dǎo)致曲線斜率明顯變大,說明在750 ℃時光纖冗余量恰好補(bǔ)償光纖自身和待測件的熱膨脹量。若此時保持溫度恒定,光纖光柵中心波長的變化即是對應(yīng)待測件應(yīng)變的變化,從而可以測量在此溫度下待測件的應(yīng)變。

圖6 有冗余光纖粘貼光柵中心波長隨溫度變化

圖7 單點(diǎn)粘貼與有冗余光纖粘貼光柵中心波長隨溫度變化

由實(shí)驗結(jié)果可知,利用無冗余光纖的兩點(diǎn)式粘貼方法測量本文所述金屬材料待測件時,溫度最高達(dá)300 ℃。超過300 ℃后,光纖光柵只能測量微小應(yīng)變或斷裂。利用本文提出的冗余光纖粘貼方法粘貼的光纖光柵在升溫過程中中心波長表現(xiàn)出良好的線性關(guān)系,在750 ℃下仍正常工作,通過墊片可準(zhǔn)確控制光纖冗余量,可保證光纖光柵在一定溫度內(nèi)只受溫度影響,從而提高光纖光柵的應(yīng)用范圍。

3.2 拉伸實(shí)驗結(jié)果分析

在750 ℃保溫過程中拉伸實(shí)驗數(shù)據(jù)如表1所示。光纖光柵中心波長λB隨應(yīng)變變化的曲線如圖8所示。由圖可看出,光柵中心波長與應(yīng)變呈良好的線性關(guān)系,相關(guān)系數(shù)超過0.999,應(yīng)變靈敏度為1.44 pm/με,觀察保溫過程中光譜的變化,光譜未出現(xiàn)退化和啁啾現(xiàn)象。

表1 拉伸實(shí)驗數(shù)據(jù)

圖8 中心波長隨拉伸次數(shù)變化的曲線

由上述實(shí)驗結(jié)果可知,本文提出的冗余光纖粘貼方法粘貼光纖光柵可在750 ℃下正常工作,光纖光柵中心波長的變化量可以準(zhǔn)確反映每次拉伸的應(yīng)變量。由此可以證實(shí)此方法的可行性。由于選用的墊片材料在超過300 ℃時會降解消失,在500 ℃以上高溫時不會對光纖光柵產(chǎn)生影響。因此,在光柵不超過溫度極限的條件下,通過理論計算可以實(shí)現(xiàn)采用墊片改變光纖的余量,從而調(diào)整光纖光柵應(yīng)變傳感器的工作溫度范圍,使其能夠在500～1 000 ℃范圍內(nèi)工作。

4 結(jié)束語

本文提出了通過預(yù)置墊片為光纖提供精準(zhǔn)冗余量的控制方法,并搭建高溫應(yīng)變實(shí)驗臺對該方法粘貼的光纖光柵進(jìn)行實(shí)驗,驗證了此方法粘貼的光纖光柵在750 ℃下的應(yīng)變特性,其線性相關(guān)系數(shù)超過0.999,應(yīng)變靈敏度為1.44 pm/με,在實(shí)際高溫應(yīng)變測量工作中,可以通過工作溫度及材料熱膨脹關(guān)系設(shè)計計算光纖冗余量,利用墊片精確控制這個冗余長度,從而提高光纖光柵應(yīng)變傳感器的使用溫度范圍。該方法操作簡單,具有可重復(fù)性,實(shí)現(xiàn)了利用光纖光柵進(jìn)行高溫應(yīng)變的測量,具有良好的應(yīng)用前景。