張丕沛,李 杰,汪 鵬
(國(guó)網(wǎng)山東省電力公司電力科學(xué)研究院,山東 濟(jì)南 250003)
相對(duì)于敞開(kāi)式隔離開(kāi)關(guān),用于GIS 設(shè)備的隔離開(kāi)關(guān)具有的絕緣性能強(qiáng)、維護(hù)工作少、檢修周期長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)[1-3]。然而GIS 隔離開(kāi)關(guān)的拐臂、連桿等傳動(dòng)機(jī)構(gòu)長(zhǎng)期暴露在空氣中,可能由于銹蝕、卡澀等原因?qū)е赂綦x開(kāi)關(guān)分合閘不到位,且隔離開(kāi)關(guān)動(dòng)、靜觸頭密封在GIS 殼體內(nèi)部,難以直接判斷觸頭的真實(shí)接觸情況,若繼續(xù)帶電運(yùn)行則極有可能發(fā)展為跳閘事故[4-6]。
文獻(xiàn)[7-9]介紹了幾起GIS 故障案例,通過(guò)解體檢查判斷故障原因?yàn)閭鲃?dòng)機(jī)構(gòu)卡澀引起的隔離開(kāi)關(guān)分合閘不到位,帶電后動(dòng)、靜觸頭間接觸不良、發(fā)熱燒熔,進(jìn)而導(dǎo)致放電擊穿,但都缺少對(duì)故障過(guò)程的還原及驗(yàn)證過(guò)程;文獻(xiàn)[10-12]建立了梅花觸頭的仿真模型,通過(guò)增大觸頭觸指間接觸電阻的方式來(lái)模擬發(fā)熱過(guò)程,但整個(gè)仿真分析過(guò)程偏向于定性研究,接觸電阻的取值缺少理論及試驗(yàn)支撐。
本文介紹了一起隔離開(kāi)關(guān)合閘不到位引起的GIS 放電故障,通過(guò)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試與解體檢查,對(duì)故障過(guò)程及原因進(jìn)行了分析,并進(jìn)一步結(jié)合理論分析及仿真計(jì)算,對(duì)故障過(guò)程進(jìn)行還原,驗(yàn)證分析結(jié)果的正確性。
2019 年11 月8 日,220 kV 某變電站220 kV 211間隔在送電合環(huán)6 s后,線路差動(dòng)保護(hù)動(dòng)作,C相接地短路。經(jīng)現(xiàn)場(chǎng)檢查,211-3 隔離開(kāi)關(guān)C 相氣室內(nèi)部存在放電分解物,判斷為故障氣室。211 間隔外觀如圖1所示。
圖1 211間隔外觀
該站220 kV組合電器為2007年2月投運(yùn)。211-3隔離開(kāi)關(guān)為電動(dòng)彈簧機(jī)構(gòu),傳動(dòng)方式為單機(jī)構(gòu)三相聯(lián)動(dòng)拐臂連接,機(jī)構(gòu)在C 相側(cè),分合閘指示在A、B 相間。211-3隔離開(kāi)關(guān)結(jié)構(gòu)如圖2所示。
圖2 211-3隔離開(kāi)關(guān)結(jié)構(gòu)
現(xiàn)場(chǎng)檢查211-3 隔離開(kāi)關(guān)外觀,發(fā)現(xiàn)隔離開(kāi)關(guān)三相連桿傳動(dòng)部分有明顯銹蝕,如圖3所示。
圖3 隔離開(kāi)關(guān)三相連桿銹蝕
檢查隔離開(kāi)關(guān)齒輪軸中心距及連桿長(zhǎng)度,檢查結(jié)果如圖4 所示?,F(xiàn)場(chǎng)A、B 相之間連桿長(zhǎng)度為699 mm、軸中心距為698 mm,B、C 相之間連桿長(zhǎng)度為706 mm、軸中心距為707 mm,滿足“軸的中心距離與連桿長(zhǎng)度的誤差應(yīng)控制在±2 mm 范圍內(nèi)”的出廠要求。
圖4 隔離開(kāi)關(guān)齒輪軸中心距及連桿長(zhǎng)度
利用隔離開(kāi)關(guān)機(jī)械特性測(cè)試儀,對(duì)211-3 隔離開(kāi)關(guān)合閘角度、合閘超程測(cè)量10次。結(jié)果見(jiàn)表1。
表1 211-3隔離開(kāi)關(guān)機(jī)械特性測(cè)試數(shù)據(jù)
根據(jù)合閘機(jī)械特性試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以看出,211-3隔離開(kāi)關(guān)的合閘角度及三相合閘超程均未達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值(合閘角度(80±2)°,合閘超程25.5 mm)要求,且數(shù)據(jù)波動(dòng)性較大,第2 次試驗(yàn)數(shù)據(jù)值最小;同時(shí)C 相超程明顯小于另外兩相,最小僅為8.66 mm。
對(duì)故障相C 相進(jìn)行解體檢查,發(fā)現(xiàn)殼體內(nèi)部存在大量粉塵,靜觸頭屏蔽罩及罐體底部對(duì)應(yīng)位置存在明顯放電燒蝕痕跡,觸頭及觸指燒蝕嚴(yán)重,如圖5所示,初步判斷靜觸頭屏蔽罩對(duì)殼體放電。
圖5 放電位置燒蝕情況
內(nèi)部絕緣拉桿、盆式絕緣子表面有粉塵,經(jīng)擦拭后,表面光滑,沒(méi)有表面爬電和擊穿情況。絕緣件檢查情況如圖6所示。
圖6 絕緣件檢查情況
綜合檢查情況,211-3 隔離開(kāi)關(guān)機(jī)構(gòu)輸出軸、拐臂、連桿等存在嚴(yán)重銹蝕,10次機(jī)械特性試驗(yàn)中合閘超程均不滿足要求,且C 相超程明顯低于另外兩相,最小僅為8.66 mm。結(jié)合觸頭與觸指具體尺寸,此時(shí)C相動(dòng)觸頭位于剛合點(diǎn)位置附近,如圖7 所示。此時(shí)動(dòng)靜觸頭處于虛接狀態(tài)。且211-3隔離開(kāi)關(guān)已運(yùn)行超過(guò)10 年,超過(guò)3 年沒(méi)有進(jìn)行分合閘操作,因此故障前合閘操作時(shí)的阻力更大,C相的超程甚至小于8.66 mm。
圖7 剛合點(diǎn)位置
因此,判斷故障原因?yàn)椋?11-3 隔離開(kāi)關(guān)傳動(dòng)部分銹蝕卡澀,輸出軸、連桿、拐臂之間摩擦阻力增大,機(jī)械特性已不滿足要求,且C 相合閘超程下降最嚴(yán)重。合閘操作后三相均未到位,其中C 相動(dòng)、靜觸頭處于虛接狀態(tài),合環(huán)后在負(fù)載電流的作用下,C 相動(dòng)、靜觸頭虛接燒蝕滴熔,滴落在屏蔽罩內(nèi)部并熔出缺口,熔融物由缺口處滴落至殼體上。由于滴落過(guò)程縮短了屏蔽罩與殼體間的絕緣距離,因此進(jìn)一步導(dǎo)致了屏蔽罩底部與殼體間發(fā)生擊穿。
為進(jìn)一步驗(yàn)證C 相合閘超程不足是否會(huì)導(dǎo)致燒熔、放電,繼續(xù)對(duì)合閘超程不足時(shí)的接觸電阻大小、以及由此引起的發(fā)熱情況進(jìn)行理論分析。
根據(jù)Holm 接觸電阻表述,單個(gè)梅花觸頭結(jié)構(gòu)的接觸電阻Rj計(jì)算式為
式中:ρ1、ρ2分別為觸頭和觸指的電阻率,Ω·m;ar為等效觸點(diǎn)的接觸半徑,m,其表達(dá)式為
式中:R*為梅花觸頭結(jié)構(gòu)的等效視在半徑,m;E*為梅花觸頭結(jié)構(gòu)的等效彈性模量,N/m2;Fj為觸頭與觸指接觸點(diǎn)的壓力,N。以上3 個(gè)參數(shù)可以通過(guò)式(3)—式(5)計(jì)算[13-16]。
式中:R1、R2分別為觸頭、觸指的幾何半徑,m;E1、E2分別為觸頭、觸指的彈性模量,N/m2;K為抱緊彈簧的剛度系數(shù),N/m;n為觸指數(shù)量;D0、D1分別為觸頭插入前和插入后的彈簧中心線直徑,m。
以表1 中合閘超程試驗(yàn)結(jié)果數(shù)值最小值8.66 mm 為例,結(jié)合式(1)—式(5)以及梅花觸頭結(jié)構(gòu)的實(shí)際尺寸,計(jì)算得到相應(yīng)的接觸電阻為585 Ω,已遠(yuǎn)大于出廠值14 Ω。
為進(jìn)一步研究接觸電阻增大后,觸頭發(fā)熱的嚴(yán)重程度,根據(jù)隔離開(kāi)關(guān)的實(shí)際結(jié)構(gòu)尺寸建立三維溫度場(chǎng)仿真模型,如圖8 所示。觸頭觸指接觸面附加一層寬度、厚度均為3 mm 的電阻膜,來(lái)模擬接觸電阻,如圖9 所示,通過(guò)調(diào)整電阻膜的電阻率使其電阻值與接觸電阻相等。仿真得到故障瞬間的梅花觸頭結(jié)構(gòu)的溫度分布如圖10 所示。觸頭觸指接觸位置的溫度已達(dá)到1 141 ℃,遠(yuǎn)超過(guò)銅材質(zhì)觸頭觸指的熔點(diǎn)(約1 000 ℃)[17-20]??梢?jiàn),在觸頭觸指接觸位置的溫度足以導(dǎo)致觸頭觸指的燒熔滴落,驗(yàn)證了對(duì)故障原因的分析。
圖8 隔離開(kāi)關(guān)仿真模型
圖9 模擬接觸電阻的電阻膜
圖10 梅花觸頭結(jié)構(gòu)的溫度分布結(jié)果
介紹了一起隔離開(kāi)關(guān)合閘不到位引起的GIS 放電故障,解體發(fā)現(xiàn)觸頭觸指燒蝕嚴(yán)重,放電通道為靜觸頭屏蔽罩對(duì)殼體放電,現(xiàn)場(chǎng)機(jī)械特性試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)隔離開(kāi)關(guān)合閘超程不滿足要求,且C 相明顯低于其他兩相,從而判斷故障原因?yàn)楦綦x開(kāi)關(guān)機(jī)構(gòu)嚴(yán)重銹蝕導(dǎo)致合閘后動(dòng)靜觸頭虛接、燒熔、滴落,最終發(fā)展為屏蔽罩對(duì)殼體放電。
進(jìn)一步以合閘超程試驗(yàn)結(jié)果最小值8.66 mm 為例,對(duì)合閘不到位時(shí)觸頭觸指接觸電阻大小及發(fā)熱程度進(jìn)行理論分析和仿真計(jì)算。結(jié)果顯示,觸頭觸指接觸位置的溫度已達(dá)到1 141℃,遠(yuǎn)超過(guò)銅材質(zhì)觸頭觸指的熔點(diǎn),從而還原了故障過(guò)程,驗(yàn)證了故障原因分析的正確性。