王梅

【摘 要】目的：探討分析熱性驚厥兒童的腦電圖特征，為臨床診斷提供依據(jù)。方法：以本院2018年7月-2019年7月收治的熱性驚厥患兒120例為研究對象，回顧性分析相關臨床資料以及腦電圖診斷的影像學資料，分析腦電圖異常與患兒的臨床特征之間的關系。結果：在120例患兒中腦電圖檢測結果正常80例，占比為66.67%;檢測結果異常40例，占比為33.33%?；純旱哪X電圖異常情況同患兒的年齡、發(fā)作次數(shù)、體溫及家族史都具有一定的相關性。結論：對于熱性驚厥兒童的腦電圖檢查分析能夠為診斷、干預及預后效果判斷提供一定的依據(jù)，對于提高治療效果具有非常重要的臨床意義。

【關鍵詞】熱性驚厥;兒童;腦電圖

【中圖分類號】R969.4【文獻標識碼】B【文章編號】1672-3783（2020）01-03--01

熱性驚厥是兒科急診常見病癥之一，是一種因非中樞神經(jīng)性感染引起的發(fā)熱所誘發(fā)的驚厥癥狀，發(fā)病人群多為6歲以下兒童。該病反復發(fā)作可造成腦組織不可逆損傷，容易引起智力低下、行為異常及癲癇等后遺癥，嚴重影響到患兒的成長發(fā)育。由于熱性驚厥可導致腦細胞出現(xiàn)大量的異常放電現(xiàn)象，因而腦電圖為目前臨床上較為常用的檢查手段，通過對于腦電圖異常征象的分析，為臨床診斷和治療提供一定的參考依據(jù)[1]。本文以本院收治的熱性驚厥患兒120例作為研究對象，分析其腦電圖檢查的特征以及臨床應用價值，具體報告如下。

1 資料和方法

1.1 基本資料

選取本院2018年7月-2019年7月收治的熱性驚厥患兒120例作為本次研究的對象，大部分患兒因消化道或呼吸道感染性疾病而發(fā)病，均符合熱性驚厥的臨床診斷標準，一次驚厥的發(fā)生持續(xù)時間≥30min，驚厥反復多次發(fā)作且發(fā)作期間患兒的意識無法恢復。排除患兒中合并有腦部發(fā)育不良、合并有中樞神經(jīng)感染的情況?；純褐心?1例，女29例;年齡0.5—6歲，平均年齡（3.5±1.1）歲;年齡<3歲31例，≥3歲89例;有22例體溫<38.5℃，有98例體溫≥38.5℃;首次發(fā)作的72例，發(fā)作次數(shù)在2次及以上的患48例;有家族病史43例，無家族病史77例。

1.2 方法

所有患兒入院后均接受詳細的體格檢查及神經(jīng)系統(tǒng)檢查，在發(fā)生熱性驚厥后的20d內進行腦電圖監(jiān)測，為避免因發(fā)熱、驚厥等方面因素的影響，本次研究中的腦電圖監(jiān)測均在患兒退熱后12d左右進行。本次研究所用儀器設備采用德國西門子公司生產(chǎn)的SAD2006動態(tài)腦電圖儀，根據(jù)國際10/20系統(tǒng)電極安置法，使用單極導聯(lián)及雙極導聯(lián)對腦電波進行描記。動態(tài)腦電圖儀的參數(shù)設置為：標準電壓5—50μV，時間常數(shù)為0.3s，高頻濾波為60Hz，走紙速度為3cm/s，掃描時間為20min。對于年齡<3歲的患兒在其安靜狀態(tài)下進行閉目狀態(tài)記錄，同時做睜閉眼和過度換氣的實驗。對于年齡≤3歲無法配合檢查的患兒，可以在其清醒閉目、自然睡眠或者強制剝奪睡眠的狀態(tài)下進行監(jiān)測。采用福山幸夫標準對腦電圖監(jiān)測結果進行評價，分為正常和異常，腦電圖異常又分為發(fā)作性異常和非特異性異常兩種情況。

1.3 觀察指標

采用發(fā)熱登記表詳細記錄：首發(fā)年齡、再發(fā)次數(shù)、最高體溫、持續(xù)時間、發(fā)作形式、家族驚厥史等方面內容[2-3]。

1.4 數(shù)據(jù)處理

采用SPSS19.0軟件包進行數(shù)據(jù)處理，計量資料和計數(shù)資料分別采用t和x2檢驗，P<0.05，組間比較差異具有統(tǒng)計學意義。

2 結果

在120例患兒中腦電圖檢測結果正常80例，占比為66.67%;檢測結果異常40例，占比為33.33%。經(jīng)過對腦電圖結果進行綜合分析后發(fā)現(xiàn)熱性驚厥患兒的腦電圖異常情況同患兒的年齡、發(fā)作次數(shù)、體溫及家族史都具有一定的關系

3 討論

小兒熱性驚厥的發(fā)病機制目前尚未完全明確，相關研究結果表明，可能是由于非中樞性感染發(fā)熱導致腦組織細胞氧化機制加重，氧需求量急劇增加引起神經(jīng)元興奮閾值發(fā)生改變而導致出現(xiàn)異常同步放電情況。如果病癥不能得到及時有效的控制，患兒可能會因驚厥的反復發(fā)作而引起腦損傷，致使腦部發(fā)育受到嚴重影響，或因長時間的驚厥造成腦組織細胞缺氧，損害腦部功能遺留后遺癥，甚至造成死亡。相關統(tǒng)計結果表明，熱性驚厥的患兒在無法得到有效治療控制的情況下死亡率高達50%，存活的患兒中也多半存在智力低下、繼發(fā)性癲癇、神經(jīng)系統(tǒng)發(fā)育障礙等后遺癥，嚴重影響到患兒的正常生長發(fā)育。小兒發(fā)熱驚厥發(fā)作時腦組織細胞會發(fā)生大量異常放電，腦電圖異常率顯著增高，背景活動中可以見到非特異性慢波活動增多，表現(xiàn)出明顯的普遍性慢波節(jié)律或棘慢復合波。因此，采用腦電圖對患兒腦細胞異常放電情況進行監(jiān)測分析，能夠為小兒熱性驚厥的診斷、治療及預后狀況提供一定的依據(jù)[4]。本次研究結果顯示，在120例患兒中腦電圖檢測結果正常80例，占比為66.67%;檢測結果異常40例，占比為33.33%。經(jīng)過對腦電圖結果進行綜合分析后發(fā)現(xiàn)，熱性驚厥患兒的腦電圖異常情況同患兒的年齡、發(fā)作次數(shù)、體溫及家族史都具有一定的關系，這一結果與郭向陽等人[5]的研究結論相吻合。

綜上所述，采用腦電圖對熱性驚厥患兒進行監(jiān)測分析，能夠為臨床診斷、治療以及預后狀況提供可靠依據(jù)，具有非常顯著的臨床應用效果和重要的臨床應用價值。

參考文獻

譚竹梅.熱性驚厥患兒的腦電圖檢測分析[J].醫(yī)學理論與實踐，2015，28（6）：809-810.

呂曉敏.124例小兒熱性驚厥的腦電圖分析[J].北方藥學，2014，11（4）：136.

王莉.34例熱性驚厥兒童的腦電圖分析[J].現(xiàn)代診斷與治療，2012，23（7）：944-945.

王元青.158例熱性驚厥兒童的腦電圖分析[J].中外醫(yī)療，2012，31（2）：15-16.

郭向陽.熱性驚厥患兒485例的臨床特征和腦電圖分析[J].山西醫(yī)科大學學報，2011，42（11）：922-925.