劉軍

【摘要】在不斷發(fā)展的電子技術(shù)中，集成電路得以廣泛應(yīng)用。作為微型電子器件中的重要組成部分，由于集成電路是將各種電子元件連接之后封裝在管殼當(dāng)中的，加之各種干擾因素的存在，給集成電路的檢測(cè)及維護(hù)帶來(lái)了一定的困難。本論文針對(duì)集成電路的檢測(cè)及維護(hù)方法進(jìn)行研究。

【鍵詞】集成電路 檢測(cè)技術(shù) 維護(hù)方法

引言：

集成電路（IC）作為微型的電子部件，在運(yùn)行中不僅具有較高的可靠性，而且能夠使電氣設(shè)備的性能更好地發(fā)揮出來(lái)。由于集成電路所消耗的成本低，而且便于安裝和調(diào)試，因此在電氣設(shè)備中廣泛使用。目前的集成電路在設(shè)計(jì)上，對(duì)電路連接的各種元器件的集成度更高，使得引出腳的數(shù)量也越來(lái)越多。如果集成電路在運(yùn)行中發(fā)生故障，就會(huì)面臨著檢修問(wèn)題，其中集成電路的檢測(cè)技術(shù)是需要重視的。

一、集成電路的測(cè)試技術(shù)

集成電路是電子電路，從其組成來(lái)看，是由包括電阻、電感、晶體管以及電容等等的微型元器件所構(gòu)成。這些元器件在加工和制作都具有一定的工藝水準(zhǔn)，使用電路連接的同時(shí)，將這些元器件的組合制作為半導(dǎo)體晶片封裝在專門(mén)的管殼中。當(dāng)集成電路處于運(yùn)行狀態(tài)的時(shí)候，要注重分析集成電路的參數(shù)，即電參數(shù)和極限參數(shù)。電參數(shù)是在集成電路運(yùn)行中，處于電壓定值的情況下，集成電路的電流運(yùn)行狀況以及所輸出的最大功率值；極限參數(shù)是指各項(xiàng)參數(shù)的極限值，包括電壓的極限值、功能消耗的極限值、環(huán)境溫度的極限值等等。同時(shí)，還要對(duì)集成電路的引腳進(jìn)行分析。集成電路的引腳根據(jù)電流所發(fā)揮的功能不同而發(fā)揮著不同的作用，也因此而對(duì)引腳外的電路設(shè)計(jì)就會(huì)有所不同。

二、集成電路的故障測(cè)試技術(shù)以及維護(hù)技術(shù)

集成電路的微型結(jié)構(gòu)能夠促使其所要發(fā)揮的各種功能得到滿足。集成電路將各種元件組合為一個(gè)整體后，就構(gòu)成了一個(gè)具有綜合性能的電路，元器件的兼容性使得集成電路的各種性能得以充分發(fā)揮。特別是集成電路的微型化設(shè)計(jì)、智能化發(fā)展，使其運(yùn)行中獲得了一定的保障。但是，當(dāng)集成電路在應(yīng)用領(lǐng)域中發(fā)揮作用的同時(shí)，也會(huì)由于各種原因而導(dǎo)致故障發(fā)生，嚴(yán)重影響了集成電路的功能性有效發(fā)揮。這就需要對(duì)

1、確認(rèn)信號(hào)輸入和輸出的引腳。集成電路運(yùn)行中，要能夠明確信號(hào)輸入的引腳，之后才可以對(duì)集成電路的輸入信號(hào)進(jìn)行處理。輸出信號(hào)是通過(guò)引腳而進(jìn)入到外電路當(dāng)中，在進(jìn)行維護(hù)的時(shí)候，要對(duì)信號(hào)的輸出質(zhì)量進(jìn)行檢查。

2、對(duì)電源引腳狀況進(jìn)行檢查。當(dāng)電源的引腳都沒(méi)有出現(xiàn)直流電壓的時(shí)候，就要對(duì)電源的引腳進(jìn)行檢查，同時(shí)對(duì)電路中所存在的引腳直流電壓使用內(nèi)阻測(cè)量工具及西寧見(jiàn)擦，以避免由于引腳電壓?jiǎn)栴}而引發(fā)測(cè)量不準(zhǔn)確。

3、集成電路的損壞元件可以用外圍元件替代。如果集成電路出現(xiàn)了故障，且是由電路元件所造成的，如果沒(méi)有元件的情況下，可以采用加接外圍的方法進(jìn)行處理。在元器件的選擇上，以功率小的元件為主，其要注意電路連接的時(shí)候可以出現(xiàn)寄生耦合的現(xiàn)象。

4、對(duì)集成電路運(yùn)行中的散熱問(wèn)題要高度注意。在對(duì)功率比較大的電路進(jìn)行檢查的時(shí)候，如果改各個(gè)電源電路是等同的，就要檢查集成電路運(yùn)行中的散熱問(wèn)題。當(dāng)集成電路處于大功率運(yùn)行狀態(tài)的時(shí)候，要注意必須要安裝散熱器，也可以是風(fēng)扇。如果集成電路的功率很大，還可以采用熱輻射的方式進(jìn)行散熱，也可以通過(guò)液冷的方式進(jìn)行散熱處理。

5、集成電路檢測(cè)中要注意靜電沖擊的影響。在對(duì)集成電路進(jìn)行檢測(cè)的時(shí)候，如果存在電路損壞的現(xiàn)象，就要注意采取技術(shù)措施以避免靜電沖擊而對(duì)電路造成不良印象。通常而言，集成電路所使用的電路為CMOS電路或者是TTL電路，電路所連接的是功率消耗非常少的元器件。但是，當(dāng)集成電路處于運(yùn)行狀態(tài)的時(shí)候，在人體靜電的沖擊下甚至?xí)^(guò)1000伏。這個(gè)數(shù)字已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)地超出了電路所承受的極限范圍，因此而導(dǎo)致電路損壞。

6、集成電路檢測(cè)中要避免出現(xiàn)引腳之間的短路現(xiàn)象。集成電路檢測(cè)中，如果檢測(cè)的方法為電壓測(cè)量，或者使用示波器探頭器對(duì)波形進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候，要避免測(cè)量?jī)x器的滑動(dòng)而造成集成電路的引腳之間出現(xiàn)短路現(xiàn)象。在對(duì)引腳進(jìn)行測(cè)量的時(shí)候，要采用端子短接的外接板測(cè)量。否則，當(dāng)測(cè)量的過(guò)程中如果引腳之間存在短路現(xiàn)象，就會(huì)在瞬時(shí)間電流和電壓值升高而對(duì)各種元器件造成一定的沖擊力，引起元器件損壞。

結(jié)束語(yǔ)：綜上所述，隨著集成當(dāng)集成電路處于運(yùn)行狀態(tài)的時(shí)候，就要著重于分析集成電路的電流輸入引腳和電流輸出引腳，還要對(duì)集成電路的設(shè)計(jì)以深入理解，以更好地為電路進(jìn)行檢測(cè)。集成電路測(cè)試技術(shù)中，檢測(cè)總還要注重電路的維護(hù)，以避免電路瞬時(shí)間出現(xiàn)超高壓現(xiàn)象而導(dǎo)致元器件損壞。