朱梅

【摘 要】專利文獻是商業(yè)經(jīng)營、科學(xué)研究和技術(shù)發(fā)展最重要的信息來源之一，專利信息數(shù)量龐大，價值突顯，來源廣泛。據(jù)世界知識產(chǎn)權(quán)組織（WIPO）統(tǒng)計，目前全世界累積可查的專利文獻已超過8000萬件。且自2006年以來，全球各專利機構(gòu)每年共公布約300萬件專利文獻，全球有90多個國家、地區(qū)及組織以30多種文字出版專利文獻，每年以300萬件左右的數(shù)量遞增，約占世界圖書期刊年出版總量的1/4。如此豐富的專利信息資源是一個巨大的寶庫，蘊含著重要的科技、經(jīng)濟和法律信息，因此，如何有效開發(fā)利用專利信息，引起了業(yè)界和學(xué)術(shù)界的高度關(guān)注，專利信息計量研究應(yīng)運而生。

【關(guān)鍵詞】專利信息；計量；探討

一、專利計量

（一）專利計量的概念

“專利計量”最早由納林于1994年在《Scientometircs》上提出，英文可用PatentBibliomatrics或Patentometrics表示。其定義具體如下：將數(shù)學(xué)和統(tǒng)計學(xué)的方法運用于專利研究，以探索和挖掘其分布結(jié)構(gòu)、數(shù)量關(guān)系、變化規(guī)律等內(nèi)在價值。

雖然這個學(xué)術(shù)名詞在1994年才被提出，但是在國外相關(guān)研究卻始于20世紀(jì)40年代，20時間80年代開始以美國CHI Research公司為代表，其與美國國家科學(xué)基金委員會（U.S.National Science Foundation）合作研究了專利計量的指標(biāo)，并將其應(yīng)用到公司價值的評估方面。

（二）專利計量的指標(biāo)

專利計量的指標(biāo)有很多，對于不同的評價目的，應(yīng)當(dāng)選擇不同的指標(biāo)或是指標(biāo)組合。結(jié)合知名的CHI Research公司和一些學(xué)者對于專利計量的分析的指標(biāo)，可以將專利計量指標(biāo)分為宏觀、中觀和微觀三類。其中宏觀專利計量指標(biāo)用于某領(lǐng)域的專利計量，其主要包括技術(shù)循環(huán)周期，科學(xué)強度.科學(xué)關(guān)聯(lián)性；中觀專利計量指標(biāo)用于某公司的專利計量，包括及時影響指標(biāo)技術(shù)強度；微觀專利計量用于對某個具體專利進行專利計量，主要包括同族專利、科學(xué)力量、首次被引用時間。除此以外，還有些指標(biāo)是通用的，可以適用于不同的分析，如專利的地域分布、申請時間及到期時間分布、專利申請機構(gòu)分布、專利引證分析等等。

（三）專利計量分析

專利計量分析的本質(zhì)，是通過對專利文獻信息的內(nèi)容、專利數(shù)量以及數(shù)量的變化等方面的研究，其主要包括以下幾種分析：

（1）專利技術(shù)發(fā)展及衍變趨勢分析

①技術(shù)發(fā)展總體分析：了解目標(biāo)技術(shù)領(lǐng)域的衍變過程和變化周期，并對指定時期該技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)衍變過程進行全過程描述。②各階段關(guān)鍵性技術(shù)構(gòu)成分析：了解技術(shù)衍變過程中不同時期影響周期性變化的關(guān)鍵性技術(shù)因素。③技術(shù)的地域分布分析：了解不同時期各國、地區(qū)關(guān)鍵技術(shù)構(gòu)成的差異及其變化周期。④技術(shù)的競爭對手分析：了解關(guān)鍵性技術(shù)的掌控者，并進行技術(shù)細(xì)節(jié)方面的差異性比較。⑤技術(shù)的發(fā)明人分析：了解關(guān)鍵技術(shù)的發(fā)明人，并進行特長分析。⑥技術(shù)的發(fā)展趨勢預(yù)測：分析今后一段時期的產(chǎn)品、技術(shù)競爭的熱點。

（2）專利地域性分析

①相關(guān)地域的技術(shù)發(fā)展趨勢分析：了解一個特定時期目標(biāo)地域的技術(shù)衍變過程和變化周期。②相關(guān)地域的技術(shù)構(gòu)成分析：目標(biāo)地域技術(shù)的周期性變化細(xì)分，了解形成這種變化的主要技術(shù)因素，以便從中找出階段性關(guān)鍵技術(shù)。③相關(guān)地域的競爭者構(gòu)成分析：了解這些關(guān)鍵技術(shù)掌控在哪些申請人手中，并比較目標(biāo)地域內(nèi)申請人之間的技術(shù)差異，以及不同地域的技術(shù)類別保護差異。④相關(guān)地域的發(fā)明人構(gòu)成分析：了解活躍在目標(biāo)地域的發(fā)明人構(gòu)成和活躍程度。⑤行業(yè)競爭的地域性分析：在上述分析的基礎(chǔ)上，進行地域競爭狀況的總體描述。

（3）專利主體分析

①競爭結(jié)構(gòu)分析：通過其申報技術(shù)類型的區(qū)別，甄別行業(yè)的供方、買方、競爭者、新進入者。②競爭者技術(shù)特長分析：比較行業(yè)的競爭者之間各自的技術(shù)構(gòu)成差異。③競爭者申報地域分布分析：了解行業(yè)競爭者各自關(guān)注的競爭地域。④競爭者技術(shù)來源分析：了解為行業(yè)競爭者提供技術(shù)的發(fā)明人。⑤競爭總體分析：綜合上述行業(yè)競爭分析，對競爭結(jié)構(gòu)進行總體描述。

二、專利信息計量研究的指標(biāo)與方法

專利信息計量分析分為定量分析和定性分析兩種。專利定量分析主要是利用一些專利指標(biāo)和方法對專利的質(zhì)和量進行分析與評價，專利定性分析主要是利用一些指標(biāo)和方法對專利的價值進行評價。

（一）專利定量分析的指標(biāo)和方法

專利信息計量是專利定量分析的基礎(chǔ)，主要是利用數(shù)學(xué)和統(tǒng)計學(xué)方法對專利文獻或?qū)＠畔⒌臄?shù)量特征、分布規(guī)律和結(jié)構(gòu)關(guān)系進行分析。定量分析即專利計量或?qū)＠y(tǒng)計，也就是通過專利文獻上所固有的項目如申請日期、申請人、專利類型、專利分類、申請國家、專利法律狀態(tài)、專利引文等信息來識別有關(guān)專利文獻，然后將這些專利文獻按有關(guān)指標(biāo)如專利申請數(shù)量、專利授權(quán)數(shù)量、同族專利數(shù)量、專利引文數(shù)量等來進行統(tǒng)計分析，并從技術(shù)、經(jīng)濟和法律的角度對有關(guān)統(tǒng)計數(shù)據(jù)的變化進行分析和解釋。

專利計量和統(tǒng)計分析的指標(biāo)較多，不同的專利計量和統(tǒng)計分析指標(biāo)在專利信息的揭示中具有不同的作用。許多國家和知識產(chǎn)權(quán)機構(gòu)都建立了自己的專利計量和統(tǒng)計分析指標(biāo)體系，比如美國摩根研究與分析協(xié)會、美國知識產(chǎn)權(quán)咨詢公司等。產(chǎn)生最早且影響最大的專利計量和統(tǒng)計分析指標(biāo)體系是1970年代早期CHI Research與美國國家科學(xué)基金會一起研發(fā)的專利指標(biāo)體系，并被隨后的《美國科學(xué)與工程指標(biāo)》所采用，同時受到OECD科技指標(biāo)系列手冊（即弗拉斯卡蒂系列手冊）《專利手冊》的重視，認(rèn)為其不僅適用于公司，也適用于國家或地區(qū)專利計量分析。

這些專利信息計量指標(biāo)通常被分解為宏觀專利信息計量指標(biāo)、中觀專利信息計量指標(biāo)和微觀專利信息計量指標(biāo)三個層次：其中宏觀專利信息計量指標(biāo)有歷年專利受權(quán)量、技術(shù)集中度、技術(shù)生長率、技術(shù)成熟系數(shù)、技術(shù)衰老技術(shù)、技術(shù)強度、美國授權(quán)專利量、三方專利量、PCT（即專利合作協(xié)定，Patent Cooperation Treaty，簡稱PCT）申請量等；中觀信息專利計量指標(biāo)有專利授權(quán)率、專利增長率、當(dāng)前影響指數(shù)、技術(shù)力量、相對研發(fā)能力、企業(yè)研發(fā)重點、企業(yè)活性因子、技術(shù)獨立性、專利效率、專利實施率、技術(shù)影響力指標(biāo)、專利平均被引用次數(shù)、相對專利被引證率、引用頻率、科學(xué)關(guān)聯(lián)度、科學(xué)強度、發(fā)明專利率、專利第n年的存活量和存活率、專利平均壽命、H指數(shù)等；微觀專利信息計量指標(biāo)有科學(xué)關(guān)聯(lián)性、技術(shù)覆蓋范圍、權(quán)利要求數(shù)、前向引文量、后向引文量、專利名稱和摘要、同族專利數(shù)量、專利申請和授權(quán)時間間隔、發(fā)明人數(shù)、第一次被其他企業(yè)所引用的時間等。這些專利信息計量指標(biāo)可用于不層面的專利信息計量分析與研究。

（二）專利價值評估的指標(biāo)和方法

專利價值評估一直是專利信息計量的重要研究領(lǐng)域，國內(nèi)外學(xué)者和機構(gòu)給予了高度關(guān)注，在專利價值評估的指標(biāo)和方法方面取得了一定的研究成果。

專利價值評估是專利運營的核心環(huán)節(jié)，專利價值評估的基礎(chǔ)是建立科學(xué)的評價指標(biāo)體系和確定科學(xué)的計算方法。專利價值的影響因素主要有專利類型、專利屬性、專利功能、法律因素、技術(shù)因素、經(jīng)濟因素、風(fēng)險因素等。在專利信息計量研究中一般用市場占有率、同族專利數(shù)和專利被引次數(shù)等指標(biāo)來大致衡量專利的價值。2012年，我國國家知識產(chǎn)權(quán)局為了在全國推廣專利價值評估，提高專利市場轉(zhuǎn)化和利用效率，制定了一套專利價值評估指標(biāo)體系和計算方法，具有可操作性。這個指標(biāo)體系分為兩個層面：第一層指標(biāo)從專利自身屬性的角度，分為法律、技術(shù)和經(jīng)濟三個指標(biāo)，第二層從專利功能的角度，將第一層的三個指標(biāo)分解成18個支撐指標(biāo)。

三、專利信息計量研究的應(yīng)用

專利信息計量研究的目的是將專利分析、文獻計量學(xué)和信息計量學(xué)的原理與方法用于專利文獻和專利信息的定量分析，并為從事專利活動、科技創(chuàng)新、市場競爭、管理與決策等提供服務(wù)。

從研究領(lǐng)域來看，專利信息計量研究主要體現(xiàn)在專利量的統(tǒng)計分析與應(yīng)用、專利引用的統(tǒng)計分析與應(yīng)用、專利關(guān)聯(lián)的統(tǒng)計分析與應(yīng)用三個方面。每個研究領(lǐng)域的應(yīng)用都有一系列專利統(tǒng)計分析指標(biāo)和方法，可用于觀察、判斷和分析不同專利主體在不同領(lǐng)域、不同項目上的專利活動及其動向。

從研究主體來看，專利信息計量在政府、企業(yè)、研究機構(gòu)和個人等主體上具有廣泛的應(yīng)用。專利計量在國際技術(shù)貿(mào)易、國家技術(shù)引進、政府專利管理和戰(zhàn)略制定等具有重要作用，在企業(yè)技術(shù)研發(fā)、技術(shù)引進、競爭對手識別和合作伙伴選擇等具有決定性影響，在科研機構(gòu)的科學(xué)研究、技術(shù)開發(fā)、專利申請等方面具有極為重要的意義，在個人從事科學(xué)研究、技術(shù)開發(fā)、產(chǎn)品設(shè)計等方面具有重要的指導(dǎo)作用。此外，專利信息計量是從事技術(shù)創(chuàng)新、專利分析、專利競爭、專利制度、專利地圖、專利戰(zhàn)略、專利預(yù)警、專利人才選拔等研究活動的基礎(chǔ)。從研究層次來看，專利信息計量在專利信息開發(fā)與利用、專利信息分析與服務(wù)、專利管理與專利戰(zhàn)略制定三個層次中具有廣泛的應(yīng)用。而這些都與各主體層面的科技創(chuàng)新和利益競爭密切相關(guān)。

結(jié)語：

目前專利信息計量研究已經(jīng)在專利定量分析指標(biāo)、方法和專利價值評估指標(biāo)與方法取得了一定的進展。專利信息計量工具是專利信息計量研究的基礎(chǔ)，國內(nèi)外已經(jīng)開發(fā)出了一批實用的專利信息計量軟件和工具。專利信息計量研究對發(fā)明人、企業(yè)、實驗室、大學(xué)、科研機構(gòu)、政府部門具有極大的應(yīng)用價值，具有廣泛的應(yīng)用前景和發(fā)展空間。

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