朱小楊

(浙江大學醫(yī)學院附屬第二醫(yī)院 放療科，浙江杭州310009)

1 電子線百分深度劑量曲線的物理本質(zhì)

只有X線或γ線才有“照射量”這個物理量。定義為dQ除以dm所得的商，即

X線的百分深度劑量，即射線進入介質(zhì)(包括人體及各種體模)后任意深度d點的劑量D(d)與峰值劑量D0之比。

而電子線只有“吸收劑量”這個物理量。

D=f·X

(3)

其中f是照射量-吸收劑量轉(zhuǎn)換系數(shù)。

既然存在吸收劑量，當電子線進入介質(zhì)后會有一個劑量分布的問題，必然會有“百分深度劑量”及其曲線。最根本的辦法是直接測量電子線的吸收劑量，即采用“量熱法”，這是一種直接根據(jù)“吸收劑量”定義設(shè)計出來的直接測量“吸收劑量”的儀器。但是量熱計十分精密而且體積大，不可能直接用在臨床物理測試中，更不可能在水模中測電子線PDD曲線。

電離室劑量儀是用來測x、γ線照射量的，其基本原理是x或γ線使空氣電離，然后收集一種符號的離子得出電離量用(1)式得出照射量，而電子線也是電離射線，同樣能使空氣電離并由電離室收集到其電離量，當電子線產(chǎn)生的電離量與X線一樣時，我們就認為該電子線具有等效于X線的“照射量”，同樣可以用(3)式表示該電子線在這一點位置上的吸收劑量。不同深度點的劑量用峰值劑量歸一化后就獲得了該電子線的百分深度劑量及百分深度劑量曲線。從以上論述可以看到，電子線百分深度劑量的物理本質(zhì)是等效于X線的百分深度劑量。

2 電子線百分深度劑量的測量方法

1)在電子線PDD測量中，用電離室測得的數(shù)據(jù)是電離曲線，而臨床使用的是劑量曲線。應(yīng)將百分深度電離(PDI)曲線轉(zhuǎn)化為百分深度劑量(PDD)曲線。

式中：CE(d)-在水中深度d處相應(yīng)的電子線照射量-劑量轉(zhuǎn)換系數(shù)；

CE(d0)-在水中參考點d0處相應(yīng)的電子線照射量-劑量轉(zhuǎn)換系數(shù)。

從(4)式中可看出，對電子線而言其照射量-劑量轉(zhuǎn)換系數(shù)是隨水中深度變化而變化的，故一定要用(4)式轉(zhuǎn)換一下才能將電子線的PDI轉(zhuǎn)換成PDD；并且因為電子線在水中不同深度處的平均能量是不一樣的，而且是隨著深度而逐漸減小的，所以電子線的照射量-劑量轉(zhuǎn)換系數(shù)會隨深度而變化。而對X線來說就不存在這個問題，其照射量-劑量轉(zhuǎn)換系數(shù)不隨深度變化，故測得的百分深度電離值在數(shù)量上就等于其百分深度劑量值。

2)CE的取值

早期書上僅提出CE概念及CE表，而且有不同的版本；而現(xiàn)在提出了Swair概念及Swair表。用前者有不同的版本，用后者公式復(fù)雜而且有些參量查不到具體數(shù)值。實際上是統(tǒng)一的，而后者更科學，更進一步揭示了CE值的物理本質(zhì)。我們可用下式將兩者統(tǒng)一起來：

式中：CE-照射量-吸收劑量轉(zhuǎn)換系數(shù)；

Katt-校準時室壁的吸收和散射減弱修正；

Km-室壁和平衡帽非空氣等效引入的修正；

Swair-水對空氣的平均阻止本領(lǐng)比。是按Spencel-Atelx理論計算的，截止能量△=10KeV；

g-次級電子的能量以韌致輻射損失的百分數(shù)；

Pu-擾動因子；

Pcel-中央電極修正。

(4)式之所以存在照射量-吸收劑量轉(zhuǎn)換系數(shù)而且隨能量及水中深度變化而變化，其實質(zhì)是其水對空氣的平均阻止本領(lǐng)比隨深度變化而變化。平均阻止本領(lǐng)比的變化對電子線而言，實際上是反映了電子線平均能量隨深度變化而變化的。而且深度越深電子線平均能量越小，這就是CE值及CE值隨深度而變化的物理本質(zhì)。(5)式中的Katt，Km與所用電離室室壁，平衡帽等的材料，幾何尺寸有關(guān)；Pu，Pcel與電離室收集極材料及空腔半徑尺寸有關(guān)；g的大小當然和入射射線的性質(zhì)有關(guān)?？傊褂貌煌碾婋x室應(yīng)該用不同的CE值，使測量得到的劑量更靠近“真值”。

[參考文獻]

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