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        Mn摻雜對鐵酸鉍薄膜漏電流和鐵電性能的影響

        2014-03-30 08:45:10羅勁明
        嘉應(yīng)學(xué)院學(xué)報 2014年2期
        關(guān)鍵詞:鐵電性價態(tài)回線

        羅勁明

        (嘉應(yīng)學(xué)院物理與光信息科技學(xué)院,廣東梅州514015)

        0 引言

        在器件微型化、功能需求多樣化的當(dāng)今社會,多鐵性材料已經(jīng)成為智能材料與器件方向的研究熱點,在數(shù)據(jù)存儲、自旋電子學(xué)、傳感器、微波器件等領(lǐng)域存在著無窮的應(yīng)用潛力.所謂多鐵性材料,是指能夠耦合電、磁和結(jié)構(gòu)的序參量而引起自發(fā)鐵電、鐵磁、鐵彈等兩種或兩種以上基本性能的一類材料總稱.其中,鐵酸鉍(BiFeO3)[1.2]作為在室溫下同時具備鐵電性和弱鐵磁性的單相多鐵性材料之一,具有遠(yuǎn)高于室溫的鐵電居里溫度(TC~1 103 K)和反鐵磁奈爾溫度(TN~643 K),同時還具有相對穩(wěn)定的阻變存儲特性[3],這些特殊性質(zhì)使得BiFeO3材料在研究新型多態(tài)磁電存儲器件方面占具重要的地位.

        近十多年來,隨著薄膜技術(shù)的提高,BiFeO3薄膜的鐵電性能也得到不斷地改善.Palkar和Pinto[4]首次利用脈沖激光沉積法在室溫下觀察到Pt襯底上生長的BiFeO3薄膜的飽和電滯回線,但其飽和極化強度僅為2.2 μC/cm2;Wang等人[5]利用同樣方法在SrTiO3襯底上外延生長了剩余極化強度達(dá)到55 μC/cm2的BiFeO3薄膜,從而獲得了室溫下的強鐵電性;Yun等人[6]報道了Pt襯底上剩余極化強度為35.7 μC/cm2的多晶BiFeO3薄膜,采用的仍然是脈沖激光沉積制備方法;而Singh等人[7]則在Pt襯底上生長了剩余極化強度為50 μC/cm2的BiFeO3薄膜,采用的化學(xué)溶液沉積法制備薄膜容易,所需設(shè)備簡單,因此常用于實驗室的薄膜材料研究.隨著科技的深入發(fā)展,對薄膜性能的要求越來越高,BiFeO3薄膜本身存在的缺點也開始凸顯,其中之一就是由于氧空位或者非化學(xué)計量比等缺陷而導(dǎo)致薄膜的漏電流偏大,使薄膜性能降低.因此,利用元素的摻雜改性來提高BiFeO3薄膜的多鐵性能,成為人們廣泛研究的焦點.一種是A位摻雜,即用其他離子取代Bi3+離子,抑制Bi元素的揮發(fā),降低由此產(chǎn)生的氧空位濃度,從而減小漏電流,常見的摻雜元素有La、Ce等;另一種是B位摻雜,即用高價態(tài)離子取代Fe3+離子,有效減少氧空位濃度,使漏電流減小,常見的摻雜元素有Mn、Ti等.其中,Mn摻雜能夠很大提高BiFeO3薄膜的鐵電性能[8,9],因此備受人們的關(guān)注.

        本文采用溶膠凝膠法在Pt/Ti/SiO2/Si襯底上制備了不同濃度的Mn摻雜BiFeO3薄膜,并分析比較了摻雜對薄膜的晶體結(jié)構(gòu)、漏電特性和鐵電性能的影響.同時,基于缺陷化學(xué)理論,利用氧空位的電荷補償引起的Fe離子和Mn離子價態(tài)變化原理對實驗觀察到的結(jié)果進(jìn)行了詳盡闡述.

        1 實驗方法

        采用溶膠凝膠法在Pt/Ti/SiO2/Si襯底上制備了不同摻雜濃度(x=0,0.05,0.1)的BiFe1-xMnxO3(BFMO)薄膜.首先,根據(jù)摻雜濃度進(jìn)行計算并準(zhǔn)確稱取五水硝酸鉍(Bi(NO3)3·5H2O)、九水硝酸鐵(Fe(NO3)3·9H2O)和二水乙酸錳(C6H9MnO6· 2H2O)的固體粉末加入到乙二醇甲醚和冰醋酸的有機混合溶液中,同時稱取Bi(NO3)3·5H2O過量5%以補償Bi元素在熱處理過程中的損失.然后將配制好的溶液置于磁力攪拌器在室溫下攪拌均勻得到BFMO前驅(qū)體溶液,濃度為0.2 mol/L.利用勻膠機將前驅(qū)體溶液均勻旋涂到清洗干凈的襯底上面,轉(zhuǎn)速設(shè)為3 000 rpm,時間設(shè)為30 s.旋涂完后,將薄膜置于350℃的熱板上面烘烤5 min,去掉一部分容易揮發(fā)的有機溶劑.重復(fù)上述過程若干次,得到一定厚度的薄膜.最后將薄膜置于高溫退火爐中并在空氣中退火,退火溫度為500℃,保溫時間為30 min.

        BFMO薄膜的物相結(jié)構(gòu)利用 X射線衍射儀(XRD,D-MAX 2200 VPC)進(jìn)行測定,輻射源為Cu靶Ka射線(波長為0.154 nm),工作條件為40 kV、30 mA.薄膜的截面形貌采用熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM,Quanta 400F)進(jìn)行觀察,薄膜厚度約為350 nm,如圖1的副圖所示;通過離子濺射真空鍍膜儀采用掩膜技術(shù)在薄膜表面鍍上直徑為0.3 mm的Pt上電極之后,利用半導(dǎo)體參數(shù)分析儀(Keithley 4200-SCS)測量薄膜的電學(xué)特性.

        2 實驗結(jié)果與討論

        2.1 摻雜對薄膜結(jié)構(gòu)的影響

        圖1是500℃退火條件下在Pt/Ti/SiO2/Si襯底上生長的BFMO薄膜的XRD圖譜.如圖所示,不同Mn摻雜濃度的BFMO薄膜的衍射峰與BiFeO3鈣鈦礦結(jié)構(gòu)的模式均符合得很好,而且沒有觀察到其他雜相的存在,表明這種方法制備的BFMO薄膜具有純相的晶體結(jié)構(gòu).通過Scherrer公式,可以估算薄膜的平均晶粒尺寸:

        其中D為平均晶粒尺寸,λ為X射線波長,β為XRD峰的半高寬,θ為布拉格衍射角.對于Mn摻雜濃度分別為0、5%、10%的BFMO薄膜,其平均晶粒尺寸可分別計算為27.90 nm、27.92 nm、27.95 nm,表明Mn離子的摻雜對BiFeO3薄膜晶粒尺寸的影響較小,其主要原因可能是Mn離子和Fe離子的半徑相差不大,具有較高的取代耐性[8].

        2.2 摻雜對薄膜漏電流的影響

        圖2顯示了不同摻雜濃度BFMO(x=0,0.05,0.1)薄膜的漏電流特性曲線.從圖中可以看到,與未摻雜的BiFeO3薄膜漏電流相比,5%Mn摻雜的BiFeO3薄膜漏電流減小了近一個數(shù)量級,而10% Mn摻雜的BiFeO3薄膜漏電流反而增大了近一個數(shù)量級.這種現(xiàn)象跟早期研究者觀察到的結(jié)果[8]相類似,表明利用Mn離子取代Fe離子,在一定的摻雜濃度下能夠改善BiFeO3薄膜的漏電性能,而摻雜濃度過高,薄膜的漏電性能反而變差.

        2.3 摻雜對薄膜鐵電性能的影響

        圖3表示的是不同摻雜濃度BFMO(x=0,0.05,0.1)薄膜的電滯回線.如圖所示,不同Mn摻雜濃度的BFMO薄膜表現(xiàn)出了不同的鐵電回線,其主要原因在于漏電流的影響.由前面的漏電流分析可知,未摻雜和10%Mn摻雜的BiFeO3薄膜漏電流都比較大,因而外加電場較高時很容易擊穿,在室溫下難以得到清晰飽和的電滯回線,其剩余極化強度也很難精確獲得,分別如圖3(a)和(c)所示;而5%Mn摻雜的BiFeO3薄膜由于漏電流比較小,因而能夠獲得矩形度比較高的飽和電滯回線,如圖3 (b)所示,在外加570 kV/cm電場下,其剩余極化強度達(dá)60 μC/cm2.這一結(jié)果同樣表明Mn摻雜只有在一定的摻雜濃度下才能夠改善BiFeO3薄膜的鐵電性能.

        2.4 機理討論

        一般來說,BiFeO3薄膜的Fe離子價態(tài)都是不穩(wěn)定的,往往是Fe2+和Fe3+兩種價態(tài)并存[3].根據(jù)缺陷化學(xué)理論,F(xiàn)e離子的這種變價行為是由氧空位的電荷補償引起的.由于薄膜在制備過程中會不可避免地產(chǎn)生大量的氧空位,這些氧空位作為電子陷阱中心,能夠捕獲自由電子以保持電中性,從而使氧空位附近的Fe3+轉(zhuǎn)變?yōu)镕e2+[9].而Fe2+的存在會引起薄膜較大的局域結(jié)構(gòu)畸變,降低其絕緣性能,從而導(dǎo)致漏電流的增大[10].而利用Mn離子替代Fe離子,一般會在薄膜內(nèi)同時產(chǎn)生Mn2+、Mn3+和Mn4+.根據(jù)電荷補償原理,當(dāng)主要以Mn2+形式存在時,相當(dāng)于增加Fe2+的濃度,從而增大漏電流,使薄膜的鐵電性能降低;而當(dāng)主要以Mn4+形式存在時,能夠吸收自由電子,抑制Fe2+的產(chǎn)生,從而減少漏電流,使薄膜的鐵電性能提高[11].Mn的價態(tài)和制備工藝、摻雜濃度等均有很大關(guān)系.從實驗結(jié)果來看,在5%Mn摻雜的BiFeO3薄膜中,Mn離子主要是以Mn4+存在,而隨著摻雜濃度從5%提高到10%時,Mn變價產(chǎn)生大量的Mn2+,薄膜的氧空位增多,F(xiàn)e2+濃度上升,從而使漏電流增大,鐵電性能降低.因此,Mn摻雜可以改變薄膜中氧空位的濃度和Fe元素的價態(tài),對薄膜的電學(xué)性能產(chǎn)生一定的影響,其中少量的摻雜能夠有效地提高薄膜的電學(xué)性能.

        3 結(jié)論

        采用溶膠凝膠法在Pt/Ti/SiO2/Si襯底上制備了不同濃度的Mn摻雜BiFeO3薄膜,均能獲得典型的鈣鈦礦晶體結(jié)構(gòu),且發(fā)現(xiàn)Mn摻雜對薄膜的晶體結(jié)構(gòu)影響并不大.通過對薄膜的漏電流和電滯回線進(jìn)行分析比較,結(jié)果表明相比未摻雜和Mn摻雜過量的BiFeO3薄膜,少量的Mn摻雜能夠有效地提高薄膜的漏電性能和鐵電性能.基于缺陷化學(xué)理論,我們認(rèn)為由于氧空位的電荷補償,Mn離子在BiFeO3薄膜中的價態(tài)存在形式?jīng)Q定了摻雜濃度對薄膜電學(xué)性能的不同影響.這一結(jié)果對于BiFeO3薄膜中元素?fù)诫s改性的參數(shù)優(yōu)化具有一定的作用.

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