云紋干涉法運(yùn)用于高溫材料斷裂韌度測(cè)試的研究
2012-04-29 05:18:56周鵬張少欽李禾
科技資訊 2012年23期
周鵬 張少欽 李禾
摘要：將云紋干涉法與常規(guī)方法進(jìn)行比較。運(yùn)用云紋干涉法非接觸性特點(diǎn)分別測(cè)試了材料常溫與高溫下斷裂韌度值，說明云紋干涉法運(yùn)用于材料斷裂韌度測(cè)試中是可行的。
關(guān)鍵詞：云紋干涉法斷裂韌度非接觸性云紋圖像
中圖分類號(hào)：TQ16 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1672-3791（2012）08（b）-0250-02
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