胡宇陽(yáng), 鄭大懷, 宋柏君, 魏鴻儒, 步獻(xiàn)東, 王曉杰,b
(南開大學(xué)a.物理科學(xué)學(xué)院;b.基礎(chǔ)物理國(guó)家級(jí)實(shí)驗(yàn)教學(xué)示范中心,天津 300071)
透明液體濃度測(cè)量在化工、制藥等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)中,測(cè)量液體濃度的常見方法有折射率法[1-2]、干涉法[3-4]、光柵法[5-6]、熒光光譜法[7]、介電常數(shù)法[8]、光譜法[9-10]、聲速法[11]、旋光法[12-13]等。其中,應(yīng)用較廣的阿貝折射法只能測(cè)量折射率比玻璃低(測(cè)量范圍:1.3 ~1.7)的溶液。熒光光譜法利用不同濃度溶液的特征峰強(qiáng)度不同,具有較高的分辨率。
本文設(shè)計(jì)了一種測(cè)量分辨率高、應(yīng)用范圍廣的透明液體濃度測(cè)量裝置。引入可調(diào)節(jié)偏振片以解決簡(jiǎn)單正交偏振場(chǎng)標(biāo)定時(shí)旋光角測(cè)量誤差較大的問(wèn)題;并通過(guò)消光法減小偏振片確定正交位置時(shí)所產(chǎn)生的誤差,提高測(cè)量分辨率。同時(shí),利用磁致旋光效應(yīng)的非互易性,實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證引入反射腔可實(shí)現(xiàn)在低磁場(chǎng)強(qiáng)度下精確測(cè)定液體濃度。
自然狀態(tài)下,許多材料都具有旋光性,比如,石英、蔗糖溶液等。對(duì)于不具有旋光性的物質(zhì),可通過(guò)人工方法(應(yīng)力、電場(chǎng)、磁場(chǎng)等)使其產(chǎn)生旋光效應(yīng)。在磁致旋光效應(yīng)中,當(dāng)平面偏振光穿過(guò)置于磁場(chǎng)中的介質(zhì)時(shí),振動(dòng)面的轉(zhuǎn)角滿足[14-15]:
式中:α為旋光角;V為介質(zhì)的Verdet 常數(shù),與介質(zhì)屬性(如濃度)和入射光波長(zhǎng)等相關(guān);B為磁場(chǎng)強(qiáng)度;l為線偏光在介質(zhì)中走過(guò)的路程。
利用Malus定律測(cè)量線偏光經(jīng)過(guò)透明液體產(chǎn)生的旋光角,一般將檢偏器和起偏器調(diào)至正交,可得到光線偏振面旋轉(zhuǎn)α,并計(jì)算出射光強(qiáng)
式中,Iin則為入射光強(qiáng)。
由式(2)可知,通過(guò)測(cè)量檢偏器前后光強(qiáng),可計(jì)算出旋光角。確定旋光角后,就可得到材料的Verdet 常數(shù)。此外,也可以將檢偏器換成帶有螺旋測(cè)微手輪轉(zhuǎn)動(dòng)的檢偏器,在施加磁場(chǎng)前后,通過(guò)旋轉(zhuǎn)檢偏器手輪找到消光位置,通過(guò)計(jì)算2 次位置之差Δx即可得到α。對(duì)檢偏器手輪位置x和檢偏器角度η進(jìn)行定標(biāo),可得:
式中,b為未知量,可以通過(guò)數(shù)據(jù)擬合得到。η =π/2時(shí)對(duì)應(yīng)的手輪位置為消光位置。
利用MaLus定律可得:
將溶放置在磁場(chǎng)中間,實(shí)驗(yàn)過(guò)程中分別測(cè)量有無(wú)磁場(chǎng)時(shí)手輪處于不同位置的檢偏器后透射光光強(qiáng)。利用式(4),在無(wú)磁場(chǎng)時(shí),α =0,可得到b;有磁場(chǎng)時(shí),可得到α,進(jìn)而求得Verdet常數(shù)。
由于材料的Verdet常數(shù)大多較小,簡(jiǎn)單的通過(guò)測(cè)量旋光角的方法很難精確測(cè)量。研究表明,光的傳播方向反轉(zhuǎn)時(shí),法拉第旋轉(zhuǎn)的左右方向互換。因此,反射鏡將經(jīng)過(guò)樣品的線偏光反射,再次經(jīng)過(guò)樣品后,旋光角將變成原來(lái)的2 倍,即磁致旋光效應(yīng)具有非互易性[12-13],如圖1 所示。據(jù)此,為了增大旋光角,通過(guò)引入反射腔讓光在腔內(nèi)多次反射。
圖1 磁致旋光效應(yīng)的非互易性原理
(1)DPR 型反射腔。雙部分反射鏡(Double Partial Reflector,DPR)型反射腔兩側(cè)為部分反射鏡,其結(jié)構(gòu)如圖2 所示。為清楚表示光線傳播軌跡,光線按一定角度傾斜入射。
圖2 DPR型反射腔結(jié)構(gòu)
光束在由2 片部分反射鏡構(gòu)成的腔內(nèi)多次反射,并從右側(cè)輸出。入射光強(qiáng)為I0,通過(guò)檢偏器后可得:
式中:RP1和TP1,RP2和TP2分別為部分反射鏡1、2 對(duì)應(yīng)的光強(qiáng)反射率和透過(guò)率;β 為光線通過(guò)介質(zhì)1 次時(shí)的光強(qiáng)透過(guò)率。在反復(fù)經(jīng)過(guò)n次反射腔后,DPR型反射腔的出射總光強(qiáng)
(2)PTR 型反射腔。梁忠誠(chéng)等[16]提出了一種部分反射鏡-全反射鏡(Partial Reflector-Total Reflector,PTR)型反射腔,其結(jié)構(gòu)如圖3 所示。反射腔由一部分反射鏡和全反射鏡組成,光線經(jīng)分束鏡后進(jìn)入被部分反射鏡分成2 束。第1 束光經(jīng)分束器直接進(jìn)入檢偏器,第2 束光繼續(xù)在腔內(nèi)反射。
圖3 PTR型反射腔結(jié)構(gòu)(忽略了返回入射光方向的光線)
通過(guò)檢偏器后的各級(jí)出射光強(qiáng)分別為:
式中:RB、TB分別為分束鏡的反射率和透射率;RP,TP分別為部分反射鏡的反射率和透射率。在反復(fù)經(jīng)過(guò)反射腔后,PTR型反射腔的出射總光強(qiáng)
(3)DTR 型反射腔。本文提出的雙全反射鏡(Double Total Reflector,DTR)型反射腔,利用2 個(gè)反射鏡和1 個(gè)分束鏡設(shè)計(jì)了一種反射腔結(jié)構(gòu),結(jié)構(gòu)如圖4所示。入射光經(jīng)過(guò)分束鏡后分為2 束光,第1 束光直接射入檢偏器(圖中未畫出),第2 束光繼續(xù)在腔內(nèi)反射。第1 次反射出射激光(黑色實(shí)線)光強(qiáng)為I1,第2次反射出射激光(橙色實(shí)線)光強(qiáng)為I2,以此類推。
圖4 DTR型反射腔結(jié)構(gòu)(忽略返回入射光方向的光線)
通過(guò)檢偏器后的各級(jí)出射光強(qiáng)分別為:
式中,RB、TB分別為分束鏡的反射率和透射率。
在反復(fù)經(jīng)過(guò)反射腔后,DTR 型反射腔的出射總光強(qiáng):
為對(duì)比不同反射腔在本實(shí)驗(yàn)中的增強(qiáng)效果,在相同入射光強(qiáng)(P=20.00 mW)條件下,計(jì)算了上述3 類反射腔出射光強(qiáng)與NaCl溶液質(zhì)量分?jǐn)?shù)c的變化關(guān)系,結(jié)果如圖5 所示。其中,分束鏡和部分反射鏡的透過(guò)率和反射率均為0.50,β =0.90,IM為不加反射腔的出射光強(qiáng)。
圖5 不同反射腔出射光強(qiáng)隨c變化關(guān)系
由圖4 中可知,3 類反射腔出射光強(qiáng)關(guān)系為:IPTR>IDTR>IDPR>IM。PTR 型反射腔相較于其他兩類腔和不引入反射腔,其出射光強(qiáng)變化最大。相較于不加反射腔,PTR型反射腔出射光強(qiáng)增大約1.5 倍。因此,在后續(xù)通過(guò)引入反射腔增大旋光角的實(shí)驗(yàn)中選用PTR型反射腔。
本實(shí)驗(yàn)使用的主要儀器:MGL-III-532 半導(dǎo)體激光器,λ =532 nm,輸出功率為20.00 mW;WDS-50 電磁鐵;CH-1500 特斯拉計(jì),分辨率為10 μT;PM100D光功率計(jì),分辨率為0.01 μW;千分尺型偏振片,手輪分辨率為0.033°;分光棱鏡,分光比1∶1;半透半反鏡,反射率為0. 500,透射率為0. 500;全反射鏡,反射率為0.996;石英比色皿,內(nèi)徑為10. 00 mm,壁厚為1. 00 mm;游標(biāo)卡尺,分辨率為0.02 mm。本文以NaCl溶液為例開展實(shí)驗(yàn)研究,配置c(NaCl)的范圍為0% ~20%。
圖6 所示為基于磁致旋光效應(yīng)測(cè)量液體濃度測(cè)量裝置示意圖。激光經(jīng)過(guò)起偏器后透射過(guò)樣品并經(jīng)過(guò)檢偏器輸出,起偏器起偏方向和檢偏器的透振方向至正交,樣品置于恒定磁場(chǎng)中。
圖6 基于磁致旋光效應(yīng)測(cè)量液體濃度測(cè)量裝置示意圖
2.2.1 MaLus定律法
在開啟磁場(chǎng)條件下,分別測(cè)量檢偏器前后光強(qiáng)Iin和Iout,由式(2)可得到某c下的Verdet常數(shù);再改變c重復(fù)上述操作,獲得其Verdet常數(shù)。
2.2.2 消光法
將圖6 檢偏器換成帶有螺旋測(cè)微手輪轉(zhuǎn)動(dòng)的檢偏器。將某一c的NaCl溶液放置在磁場(chǎng)中間,實(shí)驗(yàn)過(guò)程中分別測(cè)量有無(wú)磁場(chǎng)時(shí)手輪處于不同位置的檢偏器后透射光光強(qiáng)。利用式(4),分別對(duì)在有無(wú)磁場(chǎng)時(shí)的實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行擬合,可以得到旋光角α,進(jìn)而得到Verdet常數(shù)。
改變c重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)可以得到不同c(NaCl)的Verdet常數(shù)。利用線性擬合得到Verdet常數(shù)與其c的關(guān)系。
圖7 所示為PTR 型反射腔的實(shí)驗(yàn)裝置。樣品置于恒定磁場(chǎng)中,檢偏器和起偏器已調(diào)至正交,光學(xué)腔由部分反射鏡和全反射鏡構(gòu)成。激光經(jīng)過(guò)起偏器、分束鏡、部分反射鏡后透射過(guò)樣品,被全反射鏡反射后再次透射過(guò)樣品。這束激光被部分反射鏡分成2 束,第1束輸出到探測(cè)器上,第2 束在腔內(nèi)繼續(xù)反射。將c(NaCl)=5%的溶液置于磁場(chǎng)中間,測(cè)量旋光角α,進(jìn)而得到Verdet 常數(shù)。換用不同磁場(chǎng)強(qiáng)度重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)可以得到不同磁場(chǎng)強(qiáng)度下NaCl溶液的Verdet常數(shù)。
圖7 反射腔下磁致旋光增項(xiàng)效應(yīng)的實(shí)驗(yàn)裝置示意圖
3.1.1 MaLus定律法
圖8 所示為532 nm 波長(zhǎng)激光下,NaCl 溶液的Verdet常數(shù)隨c的變化關(guān)系。用線性擬合得到Verdet常數(shù)與c的關(guān)系。
圖8 在波長(zhǎng)激光532 nm下標(biāo)定NaCl溶液Verdet常數(shù)與c關(guān)系
3.1.2 消光法
將c(NaCl)=4.50%的溶液置于磁場(chǎng)中間,實(shí)驗(yàn)過(guò)程中分別測(cè)量有無(wú)磁場(chǎng)時(shí)手輪處于不同位置的檢偏器后透射光光強(qiáng),得到實(shí)驗(yàn)結(jié)果,如圖9 所示。利用式(4),在無(wú)磁場(chǎng)時(shí),α =0,可以得到未知量b=19.73;有磁場(chǎng)時(shí),可得到旋光角α =0.043 rad,進(jìn)而得到Verdet常數(shù)為5.58 rad/(m·T)。
圖9 有無(wú)磁場(chǎng)時(shí),光強(qiáng)-手輪位置曲線
換用不同c(NaCl)溶液重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)可以得到不同c對(duì)應(yīng)的Verdet常數(shù),結(jié)果如圖10 所示。利用線性擬合得到Verdet常數(shù)與c的關(guān)系。
圖10 消光法下標(biāo)定NaCl溶液Verdet常數(shù)與c關(guān)系
為了驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)裝置的可行性及準(zhǔn)確性,本實(shí)驗(yàn)中配置了4 種c(NaCl)=4%、7%、14%和18%溶液,作為待驗(yàn)證液體(分別記為液體1、液體2、液體3、液體4)。使用消光法測(cè)量待驗(yàn)證液體的Verdet 常數(shù),并結(jié)合圖中標(biāo)定成性擬合關(guān)系式得到待測(cè)液體的c0,結(jié)果如表1 所示。由表可知,對(duì)于NaCl 溶液,利用消光法得到的誤差較小,均在6.0%以內(nèi)。
表1 不同待測(cè)液體的c與c0 對(duì)比
利用該裝置測(cè)量c(NaCl)=5%溶液在不同磁場(chǎng)強(qiáng)度下Verdet 常數(shù),在同一磁場(chǎng)強(qiáng)度下測(cè)量了6 次,并利用誤差棒表示測(cè)量值與均值的偏差,結(jié)果如圖11所示。結(jié)果表明:在不同磁場(chǎng)強(qiáng)度下反射腔實(shí)驗(yàn)測(cè)得指定c(NaCl)溶液的Verdet 常數(shù)相近;在低磁場(chǎng)強(qiáng)度(0. 30 ~0. 50 T)下測(cè)量準(zhǔn)確度與較高磁場(chǎng)強(qiáng)度(0.70 ~0.80 T)時(shí)相當(dāng);當(dāng)磁場(chǎng)強(qiáng)度小于0.20 T 時(shí),即使引入反射腔,由于旋光效應(yīng)較弱仍不能準(zhǔn)確獲得旋光角。
圖11 當(dāng)c(NaCl)=5%時(shí)不同磁場(chǎng)強(qiáng)度下Verdet常數(shù)測(cè)量偏差
通過(guò)調(diào)研發(fā)現(xiàn),磁場(chǎng)強(qiáng)度到達(dá)0.20 T以上相對(duì)容易實(shí)現(xiàn),運(yùn)用反射腔增強(qiáng)磁致旋光效應(yīng)后,運(yùn)用磁致旋光效應(yīng)測(cè)量透明液體濃度的裝置更容易推廣、成本更低、測(cè)量分辨率更高。
利用Malus定律測(cè)量透明液體濃度,由式(2)可得Verdet常數(shù)的分辨率為0.18 rad/(m·T),由線性擬合關(guān)系,可以計(jì)算出c的測(cè)量分辨率為2.80%。
通過(guò)消光法測(cè)量透明液體濃度,由式(4)可得Verdet常數(shù)的分辨率為0.13 rad/(m·T),由Verdet常數(shù)與c的關(guān)系,可計(jì)算出c的最高測(cè)量分辨率為1.08%。結(jié)果表明:使用檢偏器螺旋測(cè)微手輪轉(zhuǎn)動(dòng)檢偏器,在檢偏器消光位置附近取多點(diǎn)測(cè)量出射光強(qiáng),并通過(guò)數(shù)據(jù)擬合得到消光角,可顯著提高旋光角的測(cè)量分辨率。
引入反射腔后,利用消光法測(cè)量旋光角時(shí),式(7)修正為
式中,δ為旋轉(zhuǎn)偏振片引起的附加角度。化簡(jiǎn)可得:
式(13)左右兩邊同時(shí)對(duì)α求導(dǎo)可得:
為計(jì)算最高測(cè)量分辨率,令δ =0。對(duì)于純水,旋光角最小,其實(shí)驗(yàn)測(cè)量值α≈0. 030 rad。代入?yún)?shù)RB=0.436,TB=0.509,TP=RP=0.500,得c的測(cè)量分辨率最高為0.28%。
從上述分析中可知,實(shí)際測(cè)量分辨率與最高分辨率存在一定差異,這主要是在本文實(shí)驗(yàn)過(guò)程中存在一定的干擾因素。例如由于電磁鐵發(fā)熱可能會(huì)導(dǎo)致磁場(chǎng)強(qiáng)度不穩(wěn)定,所用光學(xué)元件存在一定的吸收和反射,c較高時(shí)NaCl溶液分布不均勻等。
本文運(yùn)用磁致旋光效應(yīng)設(shè)計(jì)了測(cè)量透明液體濃度的裝置。通過(guò)標(biāo)定透明液體濃度與其Verdet 常數(shù)的關(guān)系,并實(shí)驗(yàn)測(cè)量透明液體濃度。結(jié)果表明:①使用帶有螺旋測(cè)微手輪轉(zhuǎn)動(dòng)的檢偏器,在檢偏器消光位置附近取多點(diǎn)測(cè)量出射光強(qiáng),并通過(guò)數(shù)據(jù)擬合得到消光角,可以顯著提高旋光角的測(cè)量分辨率;②對(duì)于NaCl 溶液,c的測(cè)量分辨率為1.08%,不確定度為0.40%,測(cè)量范圍為0% ~20%;③PTR 型反射腔能實(shí)現(xiàn)磁致旋光效應(yīng)增強(qiáng),在(0. 30 ~0. 50 T)低磁場(chǎng)強(qiáng)度與(0.70 ~0.80 T)高磁場(chǎng)強(qiáng)度有相當(dāng)?shù)臏y(cè)量準(zhǔn)確度,并且在高磁場(chǎng)強(qiáng)度下c的最高測(cè)量分辨率可達(dá)0.28%。
未來(lái)實(shí)驗(yàn)中將考慮措施進(jìn)一步優(yōu)化儀器分辨率:①采取溫控措施對(duì)電磁鐵進(jìn)行溫度控制;②考慮光學(xué)元件的吸收率和反射率對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響;③對(duì)于高c的NaCl 溶液在實(shí)際測(cè)量前進(jìn)行了充分?jǐn)嚢杌旌暇鶆颉?/p>
本文綜合運(yùn)用光學(xué)、電磁學(xué)等知識(shí)研究了基于磁致旋光效應(yīng)測(cè)量透明液體濃度的問(wèn)題,既能夠加深學(xué)生對(duì)相關(guān)理論知識(shí)的理解和應(yīng)用,該裝置可用于大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)中。