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        玻璃體切割手術(shù)用眼內(nèi)照明器的光輻射安全測(cè)試

        2023-12-21 09:56:10彭建華王敬濤駱永潔胡一平黃濤
        醫(yī)療裝備 2023年22期
        關(guān)鍵詞:光導(dǎo)光輻射輻照度

        彭建華,王敬濤,駱永潔,胡一平,黃濤

        浙江省醫(yī)療器械檢驗(yàn)研究院 (浙江杭州 310018)

        眼內(nèi)照明器由光源和光纖合成的光導(dǎo)組成,被用于玻璃體切割手術(shù)中插入人眼進(jìn)行眼內(nèi)照明。其光導(dǎo)的作用是將光源發(fā)出的光傳輸至眼內(nèi)的器械[1]。近年來(lái)的光生物學(xué)研究表明,光輻射存在潛在危害:光輻射過(guò)大會(huì)損傷患者的角膜、晶狀體、玻璃體、視網(wǎng)膜等部位,導(dǎo)致光致角膜炎、光致結(jié)膜炎、白內(nèi)障、視網(wǎng)膜灼傷等疾病[2-6]。因此,應(yīng)對(duì)眼內(nèi)照明器術(shù)中產(chǎn)生的光輻射加以評(píng)價(jià),嚴(yán)格控制光輻射危害。

        ISO 15752:2010 《眼科儀器 眼內(nèi)照明器 光輻射安全的基本要求和試驗(yàn)方法》[1]提出了眼內(nèi)照明器的光輻射安全要求與試驗(yàn)方法。該標(biāo)準(zhǔn)要求試驗(yàn)需在純水或鹽溶液中進(jìn)行(通過(guò)這種方法模擬光導(dǎo)插入人眼組織),但并未明確具體的測(cè)試裝置。為了填補(bǔ)這一空白,本研究分別基于輻照度法與光譜輻照度法研制了兩種測(cè)試裝置,并依據(jù)眼科儀器通用光輻射安全標(biāo)準(zhǔn)ISO 15004-2:2007《眼科儀器基本要求和試驗(yàn)方法 第2 部分:光危害防護(hù)》[7],選取加權(quán)視網(wǎng)膜輻照度、加權(quán)視網(wǎng)膜可見光和紅外熱輻照度作為參數(shù),對(duì)眼內(nèi)照明器進(jìn)行光輻射安全評(píng)價(jià),現(xiàn)報(bào)道如下。

        1 原理

        光輻射對(duì)眼組織造成的傷害包括光熱傷害、光學(xué)機(jī)械傷害、光化學(xué)傷害[8]。光熱傷害是指光子與組織之間發(fā)生能量傳遞,光子能量轉(zhuǎn)化為組織分子的動(dòng)能所造成的傷害,作用時(shí)間為1 ms 至數(shù)秒。光學(xué)機(jī)械傷害是指眼組織在瞬間受到能量密度較高的光輻射,導(dǎo)致組織體在光壓作用下發(fā)生瞬間(ns ~ps 級(jí))變化而使組織體受到機(jī)械沖擊的損傷。光化學(xué)傷害是指由能量密度較低、輻射時(shí)間較長(zhǎng)(>10 s)的光照所引起的病理變化。由于眼內(nèi)照明器不存在瞬間高強(qiáng)度脈沖的輸出形式,所以對(duì)人眼組織的傷害類型主要為光熱傷害與光化學(xué)傷害。

        根據(jù)ISO15004-2:2007,加權(quán)視網(wǎng)膜輻照度表征眼內(nèi)照明器對(duì)視網(wǎng)膜的光化學(xué)傷害,主要作用波長(zhǎng)范圍為300~700 nm;加權(quán)視網(wǎng)膜可見光和紅外熱輻照度表征眼內(nèi)照明器對(duì)視網(wǎng)膜的光熱傷害,主要作用波長(zhǎng)范圍為380~1 400 nm。加權(quán)視網(wǎng)膜輻照度、加權(quán)視網(wǎng)膜可見光和紅外熱輻照度的計(jì)算公式分別為:

        式中,EA-R為加權(quán)視網(wǎng)膜輻照度;Eλ為視網(wǎng)膜處的光譜輻照度,單位為mW/(cm2·nm);A(λ)為無(wú)晶狀體眼光化學(xué)危害加權(quán)函數(shù);Δλ 為波長(zhǎng)間隔,單位為nm;EVIR-R為加權(quán)視網(wǎng)膜可見光和紅外熱輻照度;R(λ)為可見光和紅外輻射熱危害加權(quán)函數(shù)。

        從上述公式可知,加權(quán)視網(wǎng)膜輻照度、加權(quán)視網(wǎng)膜可見光和紅外熱輻照度是通過(guò)采集特定波長(zhǎng)間隔Δλ 中的光譜輻照度,再分別采用A(λ)、R(λ)加權(quán)求和計(jì)算得到的。因此,可通過(guò)以下兩種方法測(cè)量光輻照度:(1)測(cè)量ISO15004-2:2007要求的光譜范圍內(nèi)(250~2 500 nm)的輻照度,再采用光譜儀測(cè)量相對(duì)光譜分布(光譜儀可以不用絕對(duì)定標(biāo),只需經(jīng)過(guò)已知光譜分布的標(biāo)準(zhǔn)光源相對(duì)定標(biāo)),根據(jù)相對(duì)光譜分布同比例計(jì)算得到輻照度在光譜中的分布,即光譜輻照度Eλ的分布;(2)采用絕對(duì)定標(biāo)的光譜儀直接測(cè)得光譜輻照度Eλ的分布(光譜儀必須經(jīng)過(guò)已知照度和光譜分布的標(biāo)準(zhǔn)光源絕對(duì)定標(biāo))。本研究將這兩種測(cè)試方法分別稱作輻照度法、光譜輻照度法。兩種測(cè)試方法的流程圖見圖1。

        圖1 兩種光輻照度測(cè)試方法的流程圖

        2 裝置

        2.1 輻照度法測(cè)試裝置

        輻照度法測(cè)試裝置主要用于放置光功率計(jì),測(cè)量眼內(nèi)照明器在工作距處(即模擬視網(wǎng)膜處)的光功率。如圖2 所示,裝置包括固定底座、三向移動(dòng)組件、功率檢測(cè)組件、透明容器及支撐架。

        圖2 輻照度測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖

        固定底座用于確保整個(gè)裝置的機(jī)械穩(wěn)定性。三向移動(dòng)組件固定于底座上,包括X 向(左右方向)移動(dòng)組件、Y 向(前后方向)移動(dòng)組件、Z 向(上下方向)移動(dòng)組件。功率檢測(cè)組件固定于三向移動(dòng)組件的頂部,用于放置功率檢測(cè)探頭。透明容器固定于三向移動(dòng)組件的上方,大體呈圓柱狀,底部外表面有凹槽,凹槽嵌設(shè)具有孔闌的金屬片,孔闌的中心與功率檢測(cè)探頭相對(duì)。透明容器的折射率為1.54,凹槽處容器壁的厚度為0.92 mm,孔闌的厚度為0.58 mm、直徑為1 mm。孔闌的厚度和透明容器凹槽處的底壁厚度之和需滿足以下條件:透明容器凹槽處的底壁與孔闌的總光程等同于等厚度純水中的光程。從而可確保光導(dǎo)與功率計(jì)探頭之間的距離,即工作距,不受透明容器材料折射率與純水折射率差異的影響,無(wú)需再進(jìn)行光程換算。支撐架固定于底座上,位于透明容器上方,且包括用于固定光導(dǎo)和千分表的鎖定機(jī)構(gòu)。X 向移動(dòng)組件和Y 向移動(dòng)組件用于微調(diào)功率計(jì)探頭,以尋找功率最大的位置;Z 向移動(dòng)組件和千分表用于確定工作距,即模擬光譜儀入光口處于視網(wǎng)膜的位置。

        2.2 光譜輻照度法測(cè)試裝置

        光譜輻照度法測(cè)試裝置是用于經(jīng)過(guò)絕對(duì)定標(biāo)的光譜儀直接測(cè)量眼內(nèi)照明器在工作距處(即模擬視網(wǎng)膜處)的光譜輻照度。由于裝置直接與光譜儀配合使用,而所用光譜儀的入光口是固定的,且只在水平方向接收被測(cè)光線,所以光導(dǎo)需要水平放置于容器中。如圖3 所示,裝置包括固定底座、三向移動(dòng)組件、透明容器、支撐架及光導(dǎo)鎖定機(jī)構(gòu)。

        圖3 光譜輻照度測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖

        透明容器固定于三向移動(dòng)組件的上方,大體呈長(zhǎng)方體,且右側(cè)有凸出的圓柱狀(該部分與長(zhǎng)方體主體部分內(nèi)部連通)。圓柱狀的右側(cè)外表面有凹槽,凹槽嵌設(shè)具有孔闌的金屬片,孔闌中心與光譜儀入光口相對(duì)且孔闌需要緊貼光譜儀入光口。透明容器的材料、凹槽處容器壁的厚度、孔闌的參數(shù)均與輻照度法測(cè)試裝置相同,從而可確保光導(dǎo)與光譜儀入光口之間的距離,即工作距,不受透明容器材料折射率與純水折射率差異的影響,無(wú)需再進(jìn)行光程換算。支撐架固定于底座上,位于透明容器上方,包括用于固定光導(dǎo)的鎖定機(jī)構(gòu)。鎖定機(jī)構(gòu)確保光導(dǎo)橫置于透明容器中。X 向移動(dòng)組件帶有螺旋測(cè)距機(jī)構(gòu),用于確定工作距,即模擬光譜儀入光口處于視網(wǎng)膜的位置處;Y 向移動(dòng)組件和Z 向移動(dòng)組件用于光導(dǎo)與金屬孔闌的相對(duì)位置,以尋找在某波長(zhǎng)處光譜輻照度最大的位置。

        3 測(cè)試

        采用1 臺(tái)已上市的眼內(nèi)照明器光源和配套用的標(biāo)準(zhǔn)光導(dǎo)作為測(cè)試樣品。

        3.1 輻照度法測(cè)試裝置

        按照?qǐng)D1(a)所示流程進(jìn)行測(cè)試。

        第一步,測(cè)量工作距處的輻照度。將功率計(jì)探頭放置于功率檢測(cè)組件中。透明容器中放置深度不少于20 mm 的純水。將被測(cè)光導(dǎo)一端連接眼內(nèi)照明器光源,另一端固定于支撐架中部的鎖定機(jī)構(gòu)中。將千分表固定放置于支撐架右側(cè)的鎖定機(jī)構(gòu)中,測(cè)量頭接觸下方透明容器的側(cè)壁。調(diào)整Z 向移動(dòng)組件,配合千分表讀數(shù),確保光導(dǎo)與功率計(jì)探頭間的距離為15.00 mm,即ISO 15752:2010 要求的標(biāo)準(zhǔn)光導(dǎo)測(cè)試距離。打開眼內(nèi)照明器光源,并將光強(qiáng)調(diào)至最大。打開功率計(jì),分別適當(dāng)調(diào)整X 向移動(dòng)組件與Z 向移動(dòng)組件,記錄功率計(jì)最大讀數(shù)Pmax(單位為mW),則光導(dǎo)在最大光強(qiáng)下的輻照度為:

        式中,輻照度E的單位為mW/cm2;7.9×10-3cm2為直徑1 mm 孔闌的面積,即功率計(jì)探頭接受到的有效光功率面積。

        第二步,測(cè)量相對(duì)光譜分布。由于只需測(cè)量相對(duì)光譜分布,可將光導(dǎo)置于光譜儀入光口前適當(dāng)距離處,在空氣中測(cè)試相對(duì)光譜即可。

        3.2 光譜輻照度法測(cè)試裝置

        按照?qǐng)D1(b)所示流程進(jìn)行測(cè)試,與輻照度法測(cè)試裝置相同的細(xì)節(jié)與步驟不再贅述。

        放置光譜輻照度法測(cè)試裝置,使透明容器的右側(cè)圓柱形外壁緊貼光譜儀入光口。調(diào)整X 向移動(dòng)組件,配合螺旋測(cè)距機(jī)構(gòu)讀數(shù),可以確保光導(dǎo)與功率計(jì)探頭之間的距離為15.00 mm,即ISO 15752:2010要求的標(biāo)準(zhǔn)光導(dǎo)測(cè)試距離。打開眼內(nèi)照明器光源,并將光強(qiáng)調(diào)至最大。打開光譜儀,分別適當(dāng)調(diào)整Y 向移動(dòng)組件與Z 向移動(dòng)組件,結(jié)合光譜儀測(cè)量以尋找在某波長(zhǎng)處光譜輻照度最大的位置。位置確認(rèn)后,采用光譜儀測(cè)量250~2 500 nm 的光譜輻照度分布,記為Eλ。光譜儀絕對(duì)定標(biāo)基于全部的入光口,而實(shí)際測(cè)試時(shí)僅限定采用直徑為1 mm 的孔闌。假設(shè)光譜儀入光口的面積為A(cm2),則光導(dǎo)在最大光強(qiáng)下的光譜輻照度分布為:

        4 結(jié)果

        輻照度法測(cè)試裝置測(cè)得功率計(jì)最大讀數(shù)Pmax=0.46(mW),根據(jù)式(3)計(jì)算得到輻照度E=58.6(mW/cm2),被測(cè)光的相對(duì)光譜分布見圖4。

        圖4 輻照度法測(cè)試裝置測(cè)得光的相對(duì)光譜分布

        光譜輻照度法測(cè)試裝置可直接得到光譜輻照度分布,根據(jù)式(4)計(jì)算得到最大光強(qiáng)下的光譜輻照度分布,經(jīng)過(guò)式(1)計(jì)算得到的加權(quán)視網(wǎng)膜輻照度分布、經(jīng)過(guò)式(2)計(jì)算得到的加權(quán)視網(wǎng)膜可見光和紅外熱輻照度分布見圖5。

        圖5 光譜輻照度法測(cè)試裝置測(cè)得的輻照度分布

        兩種裝置測(cè)得的加權(quán)視網(wǎng)膜輻照度EA-R、加權(quán)視網(wǎng)膜可見光和紅外熱輻照度EVIR-R較為一致,見表2。

        表2 兩種裝置測(cè)試結(jié)果比較

        5 小結(jié)

        ISO 15752:2010 提出了眼內(nèi)照明器的光輻射安全要求與試驗(yàn)方法,但并未提出明確的測(cè)試裝置。本研究研制了基于輻照度法、光譜輻照度法的測(cè)試裝置以彌補(bǔ)這一空白。此外,本研究基于ISO 15004-2:2007 采用加權(quán)視網(wǎng)膜輻照度、加權(quán)視網(wǎng)膜可見光和紅外熱輻照度對(duì)眼內(nèi)照明器進(jìn)行光輻射安全評(píng)價(jià)。結(jié)果顯示,基于輻照度法、光譜輻照度法的兩種裝置測(cè)試結(jié)果較為一致,均滿足 ISO 15752:2010 的要求,說(shuō)明兩種裝置均可用于眼內(nèi)照明器的光輻射安全測(cè)試。兩者的不同在于:輻照度法測(cè)試裝置需先測(cè)試眼內(nèi)照明器輸出光的輻照度,再測(cè)試相對(duì)光譜分布;光譜輻照度法測(cè)試裝置則可直接測(cè)試眼內(nèi)照明器輸出光的光譜輻照度。因此,輻照度法測(cè)試裝置對(duì)光譜儀的定標(biāo)要求略低,而光譜輻照度法測(cè)試裝置的測(cè)試步驟更簡(jiǎn)單。

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