武 瓊,劉 巍,周志龍,王鈺鑫,樂 毅
(1.大連理工大學(xué) 機械工程學(xué)院,遼寧 大連 116033;2.北京衛(wèi)星制造廠有限公司,北京 100080)
在航空航天裝備制造中,廣泛存在大量具有復(fù)雜幾何形貌的支架構(gòu)件。這些支架上通常有多個較小的特征形面,特征形面之間的位置尺寸需滿足一定的精度要求,以保證整體部件的最終制造精度[1]。掃描測量方法具有速度快、非接觸、操作靈活等優(yōu)點[2-3],可實現(xiàn)復(fù)雜結(jié)構(gòu)零部件的形面測量,為加工過程中被測物體的幾何尺寸獲取與形狀精度的評估提供了數(shù)據(jù)支撐。
局部高精點云掃描方法,從設(shè)備上可分為線激光掃描[4-5]、單目結(jié)構(gòu)光[6]和雙目結(jié)構(gòu)光等方法[7-8];從原理上可分為激光三角法、相位輪廓術(shù)等方法。由于測量精度與范圍的矛盾性,掃描精度優(yōu)于50 μm的視覺掃描傳感器,其單次測量視場約為50 mm,難以直接實現(xiàn)超過100 mm的零件面形高精度測量。目前主要采用全局基準拼接、公共區(qū)域順序拼接及機械式拼接等拼接方法[9-12]實現(xiàn)較大尺寸的零件面形測量。其中全局基準拼接法依賴全局大尺寸測量傳感器測量端掃描機構(gòu)的全局位姿,一般需要如i-GPS[13]或者激光跟蹤儀等設(shè)備,典型代表為Leica公司的T-Scan掃描儀,其組成復(fù)雜,價格昂貴;公共區(qū)域順序拼接法需要公共區(qū)域的突出特征或靶點作為拼接依據(jù),存在“測量蛙跳”現(xiàn)象,導(dǎo)致拼接過程中會產(chǎn)生誤差累積,測量精度難以保障;而采用高精度運動執(zhí)行機構(gòu),將局部高精點云數(shù)據(jù)進行拼接,這種方法轉(zhuǎn)換鏈簡單,拼接精度高。盡管較大行程的高精度運動執(zhí)行機構(gòu)價格昂貴,但設(shè)備綜合成本仍遠低于全局基準拼接方法所需要的大尺寸測量傳感器;與公共區(qū)域順序拼接法相比,該方法無需使用復(fù)雜的坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換算法,所以這種方法適用于支架結(jié)構(gòu)上多栓接結(jié)合面的形位公差測量。天津大學(xué)的尹世斌[14]和大連理工大學(xué)的張仁偉[15]均采用了單軸平移臺和線激光掃描進行組合式測量的方法。但由于機械運動機構(gòu)與掃描儀器缺少實物基準,兩者的坐標(biāo)系難以精準統(tǒng)一,嚴重影響測量拼接精度,難以實現(xiàn)較大范圍內(nèi)的復(fù)雜面形高精度測量。
本文提出了一種基于機械式拼接的結(jié)構(gòu)光掃描測量方法,通過高定位精度的十字平移臺,將不同位置下結(jié)構(gòu)光掃描儀的拍攝數(shù)據(jù)拼接,最終實現(xiàn)了對復(fù)雜形貌零部件的測量。根據(jù)系統(tǒng)的組成和測量原理,基于距離約束、幾何約束和非線性優(yōu)化方法,建立測量系統(tǒng)標(biāo)定模型;最后通過實驗對系統(tǒng)進行標(biāo)定,并通過球心距驗證系統(tǒng)拼接精度,最后對適用性進行了驗證。
采用十字平移臺與結(jié)構(gòu)光掃描儀搭建拼接式測量系統(tǒng),如圖1 所示。十字平移臺由2臺高精度單軸平移臺組成,分別操控十字平移臺的2個軸,改變結(jié)構(gòu)光掃描儀的拍攝位置;將待測物體固定于升降臺上,通過改變機械臂末端位姿,以調(diào)節(jié)升降臺的位置和姿態(tài),從而確保物體的待測區(qū)域位于系統(tǒng)可測量范圍內(nèi);測量過程中保證機械臂位姿不變,從而確保測量過程的穩(wěn)定性。
圖1 拼接式測量系統(tǒng)Fig.1 Splicing measurement system
對于高定位精度、高運動精度的單軸平移臺,其運動過程可視為平移,旋轉(zhuǎn)忽略不計。X軸平移臺與Y軸平移臺分別只沿著軸L1、 軸L2平移。由于結(jié)構(gòu)光掃描儀內(nèi)部結(jié)構(gòu)以及安裝過程中裝配工藝、夾具制造等問題,軸L1與 軸L2無法確保垂直;軸L1必 然與掃描儀測量坐標(biāo)系OMXMYMZM中的軸ym、ym、zm存在夾角 α1、 θ1、 β1, 軸L2必然與掃描儀測量坐標(biāo)系OMXMYMZM中的3個軸存在夾角 α2、 θ2、 β2。這6個夾角的余弦值,也就是需求解的外參,即X1=[cosα1cosθ1cosβ1]T,X2=[cosα2cosθ2cosβ2]T。系統(tǒng)坐標(biāo)系的變換如圖2所示,圖中L1、L2表示單軸平移臺的運動方向;OMXMYMZM表示測量坐標(biāo)系的初始位置;OMIXMIYMIZMI與OMIIXMIIYMIIZMII分 別表示結(jié)構(gòu)光掃描儀沿X軸平移臺和Y軸平移臺平移后 的測量坐標(biāo)系。
圖2 掃描儀測量坐標(biāo)系變換示意圖Fig.2 Scanner measurement coordinates transformation
歐式空間剛體變換可表示為p′=Rp+t,其中R為一個表示旋轉(zhuǎn)的3×3階矩陣;而t為一個表示平移的3×1階矩陣。結(jié)構(gòu)光掃描儀在十字平移臺上i處位置 (CIi,CIIi)測 得一點其中下角標(biāo)中羅馬字母I與II分別表示X軸與Y軸平移臺;數(shù)字1與字母i、j均表示拍攝位置序號(下同),則此點相對于j處位置的坐標(biāo)描述為
式中:CIij=CIi?CIj;從上文可知,掃描儀沿著十字導(dǎo)軌運動,旋轉(zhuǎn)可忽略不計,所以可認為R=E;而t是一個與運動距離和外參都有關(guān)的量。由此,可以將不同位置下的測量數(shù)據(jù)統(tǒng)一到同一坐標(biāo)系下。所以,實現(xiàn)基于機械式拼接的結(jié)構(gòu)光掃描測量方法的關(guān)鍵,就在于6個外參的求解。
本章將提出一種測量系統(tǒng)外參標(biāo)定方法。掃描儀測量坐標(biāo)系在平移過程中,每個軸的方向不會發(fā)生變化。利用這一條件,分別求解平移臺2軸的外參。對于其中一軸,通過標(biāo)定靶尺上靶球的球心距建立距離約束,結(jié)合參數(shù)自帶的幾何約束,建立具有權(quán)因子的目標(biāo)函數(shù);最后通過非線性優(yōu)化的方法求解函數(shù)極值,得到參數(shù)最優(yōu)解。以X軸外參求解過程為例,具體過程如下。
操控X軸平移臺,將掃描儀移動到不同的位置,記錄坐標(biāo)值CI1、CI2…CIn,每次拍攝靶尺上不同靶球。從深度圖還原點云信息,通過最小二乘法,提取每個位置對應(yīng)的靶球球心相對于測量坐標(biāo)系的坐標(biāo) (XI1、YI1、ZI1), (XI2、YI2、ZI2)… (XIn、YIn、ZIn)。
若位置CIi下拍攝的球心坐標(biāo)為 (XIi、YIi、ZIi),位置CIj下拍攝的球心坐標(biāo)為n), 那么i球球心坐標(biāo)PIi與j球球心坐標(biāo)PIj的距離可表示為
式中:CIij=CIi?CIj,XIij=XIi?XIj,YIij=YIi?YIj,ZIij=ZIi?ZIj。
應(yīng)與經(jīng)過三坐標(biāo)測量機檢定過的i球、j球球心距Lij相 等,由此建立距離約束,即
而另一方面,由初等幾何知識,可建立幾何約束:
式中:f1與f2分別對應(yīng)X軸與Y軸的幾何約束。將點系平移變換后的球心距和標(biāo)定參數(shù)的幾何約束公式(4)帶入距離約束公式(2)中,可得轉(zhuǎn)換后的球心距平方與三坐標(biāo)機檢定的球心距平方差值 ?Iij:
由于誤差存在,顯然 ?Iij≠0。為了求解最優(yōu)的參數(shù),通過非線性優(yōu)化方法,采用懲罰函數(shù)建立具有權(quán)因子的目標(biāo)函數(shù):
式中:k1是 懲罰因子; ωij是與距離平方正相關(guān)的權(quán)因子;X1是 表示X軸平移臺外參的矩陣;S1是表示參與計算的所有靶球球心坐標(biāo)的矩陣,分別記為:
由于靶球在靶尺上間隔均勻,掃描儀采集間隔距離大致相等,結(jié)合掃描儀的最大視野30 mm×45 mm,因此權(quán)因子可設(shè)為
為了求出X1的 最優(yōu)解,滿足E(X1,S1)=min 的條件,需要對E(X1,S1)求導(dǎo),使得導(dǎo)數(shù)為0,即
結(jié)合公式(8)與公式(4),即可求出目標(biāo)參數(shù)X1=[cosα1cosθ1cosβ1]T。采用相似的方 法,可求出Y軸的標(biāo)定參數(shù),記為X2=[cosα2cosθ2cosβ2]T。
由公式(5)、公式(6)和公式(9)可知,平移臺定位精度和球心坐標(biāo)誤差均會影響標(biāo)定參數(shù)的精度,最終影響拼接精度。而平移臺定位精度通常要比掃描儀的測量精度高一個數(shù)量級,所以對于本測量系統(tǒng)的標(biāo)定方法,擬合得到的靶球球心坐標(biāo)精度對外參精度影響較大。
算法流程圖如圖3所示。需要注意的是,進行非線性優(yōu)化計算時,選取恰當(dāng)?shù)某踔?,可以提升運算效率、提高結(jié)果精度。
圖3 算法流程圖Fig.3 Flow chart of algorithm
基于之前的理論分析,進行測量系統(tǒng)標(biāo)定試驗、單點坐標(biāo)轉(zhuǎn)換試驗和球心距驗證試驗,并對真實工件進行測量,以檢驗測量系統(tǒng)實際的精度和實用性。選用的結(jié)構(gòu)光掃描儀為LMI公司的Gocator 3506,其VDI/VDE精度為12 μm;X軸平移臺與Y軸平移臺均為PI公司的M-521平移臺。該型號平移臺行程為200 mm,雙向重復(fù)定位誤差為±0.2 μm。掃描儀與平移臺的關(guān)鍵參數(shù)如表1、表2所示。選用的標(biāo)準陶瓷球靶標(biāo)由8個半徑為5 mm級別的啞光標(biāo)準陶瓷球和長度為200 mm的碳纖維板組成。機械臂與載物臺作為輔助機構(gòu),用于固定工件位姿。測量系統(tǒng)實物圖如圖4所示。測量時保證載物臺和待測物靜止,只操控雙軸平移臺移動結(jié)構(gòu)光掃描儀。
表1 掃描儀關(guān)鍵參數(shù)Table 1 Key parameters of scanner
表2 平移臺關(guān)鍵參數(shù)Table 2 Key parameters of translation platform
圖4 測量系統(tǒng)實物圖Fig.4 Physical picture of measurement system
本試驗分別控制2個平移臺,移動掃描儀拍攝標(biāo)定靶尺上的靶球,根據(jù)第2節(jié)提出的標(biāo)定方法,最終實現(xiàn)測量系統(tǒng)外參的標(biāo)定。
首先只操控X軸平移臺平移結(jié)構(gòu)光掃描儀,逐個拍攝靶尺上的靶球,并提取靶球點云進行擬合,得到每個靶球在掃描儀測量坐標(biāo)系下的坐標(biāo),靶球的掃描效果和擬合如圖5所示;根據(jù)第2節(jié)中的標(biāo)定方法,帶入靶球坐標(biāo)和平移臺坐標(biāo)值,擬合求解X軸對應(yīng)的外參;同理求解Y軸平移臺的外參。每個軸的外參標(biāo)定試驗分別進行8組,計算得到外參的數(shù)值和標(biāo)準差如表3所示。
表3 測量系統(tǒng)外參參數(shù)Table 3 External parameters of measurement system
圖5 靶球點云擬合Fig.5 Point cloud fitting of target sphere
在非線性優(yōu)化計算前,可以根據(jù)掃描儀測量坐標(biāo)系和平移臺運動方向大致的角度設(shè)定迭代初值,可設(shè)定迭代初值X10=[0 1 0]T, 而X20=[1 0 0]T,這樣便可以提高計算效率。
對結(jié)果進行分析,發(fā)現(xiàn)外參數(shù)值的標(biāo)準差較小,說明該方法得到的結(jié)果較為穩(wěn)定。不難發(fā)現(xiàn),外參標(biāo)準差大小與平移臺運動軸方向有關(guān)。具體關(guān)聯(lián)有待進一步研究。
本試驗使用測量系統(tǒng)對尺寸為300 mm的標(biāo)準球靶尺上的球心坐標(biāo)進行測量,通過球心距測量系統(tǒng)的精度。
測量系統(tǒng)經(jīng)標(biāo)定后同時移動兩軸,測量標(biāo)準靶尺上的驗證點球心坐標(biāo);然后根據(jù)不同拍攝位置在平移臺上的坐標(biāo)值,將掃描儀測量坐標(biāo)系下的靶球球心坐標(biāo)統(tǒng)一轉(zhuǎn)換至測量系統(tǒng)坐標(biāo)系下,分別求解不同驗證點間的球心距。分別進行8組實驗,數(shù)據(jù)如表4所示。在300 mm范圍內(nèi),球心距的均方根誤差(root-mean-square error,RMSE)優(yōu)于45 μm,可證明系統(tǒng)精度較高。3.1節(jié)所用標(biāo)定靶尺和本節(jié)實驗所用的驗證靶標(biāo)如圖6所示。RMSE計算公式為
圖6 標(biāo)定靶尺與驗證靶尺Fi g.6 Calibration target scale and verification target scale
表4 部分球心距數(shù)據(jù)Table 4 Partial data of sphere-center distance mm
RMSE用來衡量觀測值同真值之間的偏差,式中x表示真實值。三坐標(biāo)機的精度遠高于結(jié)構(gòu)光掃描儀,故本試驗中選用三坐標(biāo)機檢定的靶球球心距作為靶球球心距的實際值。
本試驗利用組合式測量系統(tǒng),掃描支架的栓接安裝面,并測量各安裝面相對于基準面的高度差,以驗證系統(tǒng)的實用性。
分別測量圖7(a)工件上的4個栓接安裝面。測量范圍約為140 mm×160 mm。栓接安裝面與基底面大致平行,垂直方向高度差較小。所以可以使掃描儀測量坐標(biāo)系Z軸盡可能與待測平面垂直,然后根據(jù)相對高度閾值進行濾波,得到特征型面的點云。根據(jù)結(jié)構(gòu)光掃描儀在十字平移臺上的坐標(biāo),將不同位置下獲得的安裝面特征形貌點云進行拼接。將1號面和4號面的點云數(shù)據(jù)擬合后建立基準面,求解各個特征型面相對于基準面的高度差,如表5所示。
表5 特征型面相對于基準面的高度差Table 5 Height difference between feature surface and datum plane mm
為了利用視野較小的高精度三維結(jié)構(gòu)光掃描儀實現(xiàn)大尺寸工件的測量,本文提出了一種基于結(jié)構(gòu)光掃描儀和高精度平移臺的組合式測量方法。首先分析了測量系統(tǒng)的組成和測量原理;然后提出了基于加權(quán)非線性優(yōu)化的系統(tǒng)外參求解方法;最后通過實驗,對測量系統(tǒng)進行標(biāo)定,驗證測量系統(tǒng)在300 mm范圍內(nèi)的測量精度優(yōu)于45 μm,并且通過實際測量某型支架的安裝面形貌特征,以證明該測量系統(tǒng)的實用性。該測量方法具有精度高、設(shè)備組成簡單、標(biāo)定方法簡便等特點,能夠較好地滿足針對多栓接支架安裝面的幾何形貌測量需求。但本文對外參誤差的規(guī)律的研究尚有不足,而且應(yīng)用場景較為單一,這也是后續(xù)研究需要解決的問題。