岳 美,楊秀龍,許景華,孫 明,黃文心
(國(guó)網(wǎng)山東省電力公司日照供電公司,山東 日照 276826)
氣體絕緣全封閉組合電器(Gas Insulated Switchgear,GIS)設(shè)備因其占地小、環(huán)境友好的特點(diǎn)在變電站中得到廣泛應(yīng)用,但在GIS 內(nèi)部缺陷導(dǎo)致的局部放電影響設(shè)備正常運(yùn)行時(shí),停電檢修往往需要多個(gè)氣室設(shè)備配合停電,影響范圍和處理難度較大。根據(jù)調(diào)查統(tǒng)計(jì),GIS 設(shè)備局部放電中異物放電占比最高[1],主要原因?yàn)镚IS 內(nèi)存在金屬異物或其他雜質(zhì)。GIS 內(nèi)異物為設(shè)備投運(yùn)前遺留或設(shè)備運(yùn)行操作過(guò)程中產(chǎn)生,加強(qiáng)GIS 設(shè)備投運(yùn)前和運(yùn)行中的局部放電檢測(cè)對(duì)預(yù)防設(shè)備故障發(fā)生尤其重要。
超聲波局部放電檢測(cè)能夠捕捉設(shè)備內(nèi)部缺陷時(shí)產(chǎn)生的超聲波信號(hào),通過(guò)與其他聲、電、光、化學(xué)檢測(cè)技術(shù)綜合應(yīng)用[2-5]能夠有效發(fā)現(xiàn)GIS 設(shè)備內(nèi)部缺陷。超聲波局部放電檢測(cè)抗電磁干擾能力強(qiáng),檢測(cè)圖譜能夠體現(xiàn)設(shè)備自由顆粒特征,對(duì)異物顆粒導(dǎo)致的放電比較敏感,在GIS設(shè)備局部放電檢測(cè)中應(yīng)用廣泛。
針對(duì)某220 kV變電站新擴(kuò)建設(shè)備超聲波局部放電檢測(cè)情況,通過(guò)物理分析、圖譜對(duì)比判斷局部放電情況,經(jīng)解體檢查確定分析的準(zhǔn)確性,避免設(shè)備投運(yùn)后故障發(fā)生。
GIS設(shè)備內(nèi)部存在絕緣缺陷或異物顆粒時(shí),氣室內(nèi)局部場(chǎng)強(qiáng)發(fā)生畸變[6-7],嚴(yán)重時(shí)會(huì)誘發(fā)沿面閃絡(luò)或其他設(shè)備故障。局部場(chǎng)強(qiáng)畸變引起設(shè)備局部放電時(shí),放電點(diǎn)分子間劇烈碰撞并在瞬間形成超聲波脈沖,一部分脈沖信號(hào)通過(guò)SF6氣體傳到外殼,一部分通過(guò)導(dǎo)體、絕緣子等傳到外殼,通過(guò)貼緊在外殼上的壓敏傳感器接收外殼上的超聲波信號(hào),經(jīng)處理終端對(duì)超聲波信號(hào)進(jìn)行分析。
超聲波局部放電檢測(cè)儀接收設(shè)備內(nèi)部局部放電產(chǎn)生的超聲波信號(hào),檢測(cè)的信號(hào)與放電源不存在直接電氣聯(lián)系,因此抗電磁干擾能力較強(qiáng)。與電磁波相比,超聲波信號(hào)傳輸速度慢,便于放電點(diǎn)的準(zhǔn)確定位。但超聲波在介質(zhì)傳播過(guò)程中信號(hào)衰減較快,在現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)過(guò)程中,要周密選取檢測(cè)點(diǎn)和間隔距離,以免漏測(cè)放電點(diǎn);同時(shí)與檢測(cè)GIS 設(shè)備內(nèi)超聲波信號(hào)相比,外部干擾源信號(hào)更容易傳至傳感器,超聲波局部放電檢測(cè)過(guò)程中要充分排除干擾,以免外部干擾源信號(hào)過(guò)強(qiáng)時(shí)覆蓋局部放電信號(hào)。超聲波局部放電檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用基本流程如圖1所示。
圖1 檢測(cè)流程
某變電站新擴(kuò)建GIS 設(shè)備交接試驗(yàn),通過(guò)串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)合格后,對(duì)220 kV待用一212 間隔A 相設(shè)備施加160 kV、頻率98.8 Hz電壓進(jìn)行局部放電檢測(cè),檢測(cè)發(fā)現(xiàn)212-3 開(kāi)關(guān)A 相氣室超聲波信號(hào)異常,特高頻及SF6分解產(chǎn)物檢測(cè)正常,檢測(cè)過(guò)程異常信號(hào)間歇性出現(xiàn),聲音不穩(wěn)定且出現(xiàn)多次變化。對(duì)該間隔進(jìn)行3 次長(zhǎng)時(shí)間的持續(xù)檢測(cè),各次檢測(cè)信號(hào)幅值最大位置如圖2 所示,集中位于-3開(kāi)關(guān)與-D5接地開(kāi)關(guān)之間,見(jiàn)圖2中紅圈處。
圖2 檢測(cè)位置
第1 次檢測(cè)時(shí),聲音為明顯類似顆粒放電聲音,放電信號(hào)不穩(wěn)定存在明顯間歇現(xiàn)象,位置如圖2 中①所示;第2 次檢測(cè)時(shí),聲音為明顯振動(dòng)聲響,位置如圖2中②所示,位置降低;第3次檢測(cè)時(shí),再次出現(xiàn)明顯放電聲音,位置如圖2 中③所示。各次檢測(cè)信號(hào)幅值如表1所示。位置①的檢測(cè)圖譜如圖3—圖5所示,位置③檢測(cè)飛行圖譜如圖6所示。
表1 檢測(cè)數(shù)據(jù) 單位:mV
圖3 第1次檢測(cè)超聲波幅值
圖4 第1次檢測(cè)超聲波飛行圖
圖5 第1次檢測(cè)超聲波波形
圖6 第3次檢測(cè)超聲波飛行圖
由表1和圖3可知,該氣室超聲波周期最大值明顯大于背景值,將儀器檢測(cè)頻率從50 Hz逐檔位調(diào)整至100 Hz,周期最大值無(wú)明顯變化,頻率成分1 和頻率成分2均為0,3次檢測(cè)均表現(xiàn)相同的幅值特征。
圖4 和圖6 均顯示出典型的三角駝峰狀自由顆粒放電圖譜,兩次幅值最大位置不同,說(shuō)明顆粒在腔體存在明顯移動(dòng)。從顆粒跳動(dòng)超聲波信號(hào)的幅值、飛行時(shí)間可知,兩次測(cè)得的跳動(dòng)信號(hào)幅值最大值均在10 mV 左右,根據(jù)以往相同電壓等級(jí)自由顆粒放電檢測(cè)幅值判斷,腔體內(nèi)異物顆粒撞擊殼體的動(dòng)量較大,但兩次信號(hào)飛行時(shí)間均較小,說(shuō)明顆粒受電場(chǎng)力驅(qū)動(dòng)自由移動(dòng)到高場(chǎng)強(qiáng)區(qū)域能力較小。
根據(jù)設(shè)備結(jié)構(gòu)和檢測(cè)過(guò)程繪制氣室內(nèi)部顆粒運(yùn)動(dòng)如圖7 所示,GIS 罐體內(nèi)異物顆粒當(dāng)設(shè)備未通電時(shí),其處于靜止?fàn)顟B(tài);當(dāng)設(shè)備通電后,由于靜電感應(yīng)效應(yīng),異物顆粒會(huì)帶電荷,與外殼及其他部分碰撞也會(huì)帶有電荷,當(dāng)場(chǎng)強(qiáng)逐漸增加,庫(kù)侖力等電場(chǎng)力在重力相反方向上的分量大于重力時(shí),顆粒從氣室底部浮起,隨著電場(chǎng)力的變化發(fā)生跳躍,并與殼體發(fā)生碰撞,由于該氣室下方盆式絕緣子為水平布置,由3 次檢測(cè)結(jié)果可知,異物顆粒落在絕緣盆上的概率較大,由于顆粒運(yùn)動(dòng)的隨機(jī)性,有導(dǎo)致設(shè)備沿面閃絡(luò)的可能性,因此需要對(duì)設(shè)備進(jìn)行檢查處理。
圖7 顆粒運(yùn)動(dòng)
為避免設(shè)備帶病投運(yùn),檢修人員協(xié)同廠家技術(shù)人員對(duì)220 kV 待用一212-3 開(kāi)關(guān)A 相氣室進(jìn)行開(kāi)蓋檢查,發(fā)現(xiàn)開(kāi)關(guān)氣室下部盆式絕緣子上存在一個(gè)白色樹(shù)脂環(huán)狀異物,如圖8、圖9 所示,該間隔GIS 為廠內(nèi)裝配并整間隔運(yùn)輸至變電站現(xiàn)場(chǎng),白色樹(shù)脂環(huán)狀異物非開(kāi)關(guān)氣室內(nèi)設(shè)備附件,分析該異物為設(shè)備在廠內(nèi)裝配時(shí)遺留。隨后對(duì)氣室徹底清理后,再進(jìn)行局部放電檢測(cè)復(fù)測(cè),超聲波和特高頻局部放電檢測(cè)未見(jiàn)異常。
該組合電器在駐廠監(jiān)造時(shí)已對(duì)斷路器、開(kāi)關(guān)200次磨合和清理情況進(jìn)行抽驗(yàn),并檢查裝配記錄合格。從3 次帶電檢測(cè)情況分析,此次異物由氣室上部掉落到下部盆式絕緣子上。在廠內(nèi)裝配、磨合試驗(yàn)清理后應(yīng)對(duì)設(shè)備進(jìn)行徹底檢查,檢查部位不僅是下部盆式絕緣子或殼體,應(yīng)同時(shí)使用內(nèi)窺鏡對(duì)設(shè)備進(jìn)行徹底檢查。設(shè)備廠內(nèi)預(yù)裝后應(yīng)加強(qiáng)局部放電檢測(cè),減少同類缺陷發(fā)生。
圖8 220 kV待用一212-3開(kāi)關(guān)A相氣室內(nèi)異物
圖9 異物取出
超聲波局部放電檢測(cè)可以有效發(fā)現(xiàn)GIS 設(shè)備內(nèi)部的異物放電等缺陷,對(duì)GIS 內(nèi)非金屬異物也具有一定敏感性,交接試驗(yàn)非50 Hz試驗(yàn)頻率進(jìn)行局部放電檢測(cè)時(shí)對(duì)顆粒放電類型判斷影響較小,但對(duì)其他放電類型判斷有一定影響,測(cè)試時(shí)需要結(jié)合現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)電壓頻率選擇相應(yīng)的測(cè)試頻率,對(duì)測(cè)試頻率分量、2倍測(cè)試頻率分量的相關(guān)性進(jìn)行判斷,應(yīng)注意結(jié)合設(shè)備具體結(jié)構(gòu)對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行分析,同時(shí)注意超聲波、特高頻等不同檢測(cè)方式的聯(lián)合應(yīng)用,保證測(cè)試結(jié)果的全面性,并加強(qiáng)送電后工頻運(yùn)行電壓下設(shè)備局部放電檢測(cè)。