摘 要:拋光線對(duì)于提升瓷磚的整體質(zhì)量有至關(guān)重要的作用。以拋光磨頭為研究對(duì)象,通過(guò)分析整體拋光磨頭的分裂排布,研究拋光磨頭的運(yùn)動(dòng)狀態(tài),對(duì)此實(shí)際生產(chǎn)探討瓷磚拋光生產(chǎn)線的磨削機(jī)理。得出拋光磨塊的分布特點(diǎn)以及拋光磨頭的運(yùn)動(dòng)軌跡,通過(guò)理論計(jì)算得出不同的運(yùn)輸皮帶速度、擺動(dòng)速度以及不同磚坯大小下的整體布局。對(duì)拋光線的設(shè)計(jì)、維護(hù)、整改具有很強(qiáng)的指導(dǎo)意義。
關(guān)鍵詞:拋光磨頭;磨塊;磨削;速度;周期
1 引 言
瓷質(zhì)磚拋光生產(chǎn)線中的拋光段是其重要組成部分,不但最終決定產(chǎn)品質(zhì)量,而且對(duì)產(chǎn)品單位面積電耗、水耗、磨料消耗、優(yōu)等品率、返拋率等一系列決定產(chǎn)品成本的相關(guān)因素有著重要影響,因此,對(duì)拋光工序中的磨削機(jī)理探討有著十分重要的意義。
2 磨塊排列與刀紋消除原理
瓷質(zhì)磚深加工生產(chǎn)線中,瓷質(zhì)磚在經(jīng)刮平機(jī)刮平定厚后,宏觀上看,表面已經(jīng)平整,但微觀上看,產(chǎn)品表面仍是不平整的,因?yàn)楸砻媪粝铝溯^深的刀紋,這些刀紋必須在后續(xù)工序中消除,并最終達(dá)到一個(gè)微觀平整的表面。
磨塊排列情況:
46→60→80→120→150→180→240→320→400→600→800→1000→1200→1500→(1800)→(2000)
磨塊粒度的特點(diǎn):粗磨塊,磨粒粗,切削力強(qiáng),但留下的刀紋較深;細(xì)磨塊,磨粒細(xì),切削力弱,但留下的刀紋較淺;基于此特點(diǎn),為經(jīng)濟(jì)快速消除刀紋,磨塊粒度按粗→細(xì)排布,而刀紋也是逐級(jí)消除的,如圖一所示。
使用中,磨塊必須依次排列,不能跳級(jí)(越級(jí)),更不能倒置,因?yàn)樘?hào)數(shù)越高,切削能力越弱,屬于前級(jí)該
處理好的刀紋,留待后續(xù)去處理,效率會(huì)非常低,甚至無(wú)法消除,從而留下所謂的磨影。
實(shí)際生產(chǎn)中,同一粒度級(jí)別的磨塊數(shù)量,不是一個(gè),而是很多個(gè),具體數(shù)量由哪些因素決定呢?
3 磨頭運(yùn)動(dòng)軌跡與覆蓋分析
根據(jù)現(xiàn)代建筑裝修的需要,現(xiàn)拋光磚規(guī)格主要有600mm、800mm、1000mm、1200mm、1500mm等。
如果采用磨頭固定的生產(chǎn)工藝,每種規(guī)格必須對(duì)應(yīng)一款磨頭,不但設(shè)備生產(chǎn)廠家零部件種類多,成本高,而且會(huì)造成設(shè)備使用廠管理復(fù)雜,維修成本也高,同時(shí)磨頭直徑加大,會(huì)造成磨頭振動(dòng)等技術(shù)性能下降及裝卸困難等問(wèn)題。
因此,人們發(fā)明了擺動(dòng)式拋光的方法,即工作過(guò)程中,磨頭在繞自身軸線旋轉(zhuǎn)的同時(shí),還隨大梁前后往復(fù)擺動(dòng),從而實(shí)現(xiàn)對(duì)整個(gè)磚面的磨削,如圖2所示。
3.1磨頭在磚面運(yùn)動(dòng)軌跡分析
以輸送帶運(yùn)動(dòng)方向(橫向)為X軸,以橫梁擺動(dòng)方向(縱向)為Y軸,以磨頭質(zhì)心在磚面的投影為研究對(duì)象。根據(jù)相對(duì)運(yùn)動(dòng)原理,當(dāng)磚在輸送帶作用下向左移動(dòng),則磨頭質(zhì)心向右運(yùn)動(dòng)(X軸),磨頭隨橫梁前后的擺動(dòng),則形成了磨頭質(zhì)心Y方向的運(yùn)動(dòng),磨頭質(zhì)心的運(yùn)動(dòng)則為X方向,Y方向兩個(gè)運(yùn)動(dòng)的合成。其在磚面運(yùn)動(dòng)軌跡類似于正弦曲線,如圖3。
磨頭磨塊對(duì)磚面有效覆蓋為一圓環(huán)(瞬時(shí))(圓環(huán)的徑向長(zhǎng)度T=磨塊有效長(zhǎng)度),如圖三所示。
圖4所示陰影部分為單個(gè)磨頭磨削運(yùn)動(dòng)對(duì)磚面作用的情況,空白為未覆蓋區(qū)域,要達(dá)到全面覆蓋,則需要多組。
圖5所示為多組磨塊組合實(shí)現(xiàn)了全面覆蓋。
3.2實(shí)現(xiàn)全面覆蓋磨塊組數(shù)計(jì)算
結(jié)合圖2、圖6,設(shè)磨頭作用直徑為D,磨頭間距為A,產(chǎn)品寬度為B,以磨頭質(zhì)心運(yùn)動(dòng)軌跡為基準(zhǔn)線(為研究方便,簡(jiǎn)化了其中的圓弧部分),向兩側(cè)做距離為D/2的平行線,兩平行線之間即為磨削覆蓋區(qū)域。產(chǎn)品寬度B外邊線與上述兩平行線(包絡(luò)線)外側(cè)形成的區(qū)域?yàn)槲锤采w區(qū)域。
圖7為兩個(gè)間距為A的磨頭磨削覆蓋情況分析,從圖中可看出,兩個(gè)磨削區(qū)域其中大部分是交疊的,第二個(gè)對(duì)第一個(gè)形成的補(bǔ)充部分為平行四邊形S1,S2區(qū)域,其中沿輸送方向(X軸)邊長(zhǎng)= A(磨頭間距)。
不難看出,在磨頭間距一定的情況下,實(shí)現(xiàn)完全覆蓋需要的最小磨塊組數(shù)量N=L/A
如圖8計(jì)算可得:
L=L2+2Ectgα (1)
E=B+C-D (2)
L2=L1-2Dtgβ/2 (3)
L1=Vxt (4)
其中:
A——磨頭間距;
B——產(chǎn)品寬度;
C——磨頭對(duì)磚面的超出量;
D——磨頭作用直徑;
C1——擺幅(磨頭前后擺動(dòng)運(yùn)動(dòng)行程);
L1——磨頭擺動(dòng)邊上停留距離;
L2——磨頭擺動(dòng)邊上停留包絡(luò)線內(nèi)側(cè)距離;
L——單個(gè)磨頭運(yùn)行未覆蓋區(qū)跨度距離;
Vx——產(chǎn)品輸送速度;
Vy——槽梁擺動(dòng)速度;
t——磨頭擺動(dòng)邊上停留時(shí)間。
α=arc tg Vy/Vx, β=α/2
4 磨削覆蓋影響因素
如圖9,周期一定,邊上停留時(shí)間延長(zhǎng),未覆蓋區(qū)跨距縮短, TA =T ,tA>t? LA 即:周期不變條件下,延長(zhǎng)邊上停留時(shí)間,可減少同號(hào)數(shù)磨頭數(shù)量,或可減少邊上三角覆蓋盲區(qū) 如圖10? 周期縮短,邊上停留時(shí)間不變,未覆蓋區(qū)跨距縮短, TA 即:邊上停留時(shí)間不變條件下,周期縮短,可減少同號(hào)數(shù)磨頭數(shù)量,或可減少邊上三角覆蓋盲區(qū) 其中:T:周期,磨頭隨橫梁擺動(dòng),前后兩極限位置一個(gè)來(lái)回所需時(shí)間。等效于:磨頭隨橫梁擺動(dòng)前后兩極限位置一個(gè)來(lái)回,產(chǎn)品沿輸送方向前進(jìn)的距離。 5 結(jié) 語(yǔ) 綜上所述,可得出以下結(jié)論: (1)磨塊的排列是沿著進(jìn)磚方向依次是粗磨塊到細(xì)磨塊的排列,逐次消滅刀紋; (2)以磨頭質(zhì)心為研究對(duì)象,得出磨頭的大致軌跡趨近于正弦函數(shù)曲線,且在磨頭間距一定的情況下,實(shí)現(xiàn)完全覆蓋需要的最小磨塊組數(shù)量等于單個(gè)磨頭運(yùn)行未覆蓋區(qū)跨度距離與磨頭之間間距的比值; (3)通過(guò)延長(zhǎng)磨頭在邊上停留時(shí)間和縮短擺動(dòng)周期可以減小未覆蓋區(qū)域的跨距,繼而減小磨頭的數(shù)量,優(yōu)化結(jié)構(gòu)。 參考文獻(xiàn) [1] 李秋炎,盧少華,林國(guó)就.陶瓷拋光機(jī)磨頭專用潤(rùn)滑脂的開(kāi)發(fā)應(yīng)用[J].廣東化工,2017,44(05):53-55. [2] 徐斌,周祖兵,劉建軍.瓷片釉面磚反、正置式微水加工工藝對(duì)比研究[J].佛山陶瓷,2016,26(07):22-24+28. [3] 鄭秀亮.反置式拋光機(jī)引發(fā)陶瓷拋光行業(yè)新革命[J].環(huán)境,2015(07):50-52. [4] 戴哲敏,李德生.瓷磚行星端面磨拋光機(jī)磨拋分析[J].陶瓷學(xué)報(bào),2012,33(04):483-487. [5] 朱成就.瓷磚拋光過(guò)程建模與仿真[J].機(jī)電工程技術(shù),2015,44(10):61-65. 作者簡(jiǎn)介:許立坤(1990-),主任工程師,主要從事陶瓷磨邊機(jī)、拋光機(jī)的研究、設(shè)計(jì)、防護(hù),電子郵箱:tyroid@163.com