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        鎖相環(huán)環(huán)路特性新型分析和優(yōu)化方法研究

        2019-10-18 07:26:16張堉萌陰亞東張利紅
        測(cè)控技術(shù) 2019年9期
        關(guān)鍵詞:模型

        張堉萌,陰亞東,張利紅

        (1.福州大學(xué) 物理與信息工程學(xué)院,福州 350108;2.福建江夏學(xué)院 電子信息科學(xué)學(xué)院,福州 350108)

        鎖相環(huán)(Phase Locked Loop,PLL)是現(xiàn)代無線電子 系統(tǒng)中的核心部件,可實(shí)現(xiàn)純凈頻率源、高頻時(shí)鐘恢復(fù)和頻率調(diào)制解調(diào)等功能,廣泛用于各種技術(shù)領(lǐng)域中[1-2]。雖然鎖相環(huán)技術(shù)誕生已久且業(yè)界研究成果很多,但由于鎖相環(huán)元部件眾多且環(huán)路特性復(fù)雜,如何優(yōu)化鎖相環(huán)環(huán)路而使其在穩(wěn)定性、鎖定時(shí)間、相位噪聲和雜散干擾等性能指標(biāo)達(dá)到最佳仍然是當(dāng)前鎖相環(huán)研究的關(guān)鍵之一。

        本文將首先對(duì)電荷泵Ⅱ型整數(shù)分頻鎖相環(huán)進(jìn)行理論推導(dǎo),將依次對(duì)穩(wěn)定性、鎖定時(shí)間和相位噪聲雜散等進(jìn)行分析,以獲得鎖相環(huán)環(huán)路的優(yōu)化方法;進(jìn)而,利用MATLAB仿真工具對(duì)分析結(jié)果加以建模仿真驗(yàn)證;最終基于鎖相環(huán)芯片ICS663和分頻器芯片ICS674完成一款鎖相環(huán)電路的設(shè)計(jì),進(jìn)而測(cè)試不同環(huán)路參數(shù)下的鎖定時(shí)間、相位噪聲和雜散抑制等性能指標(biāo)。最終的測(cè)試結(jié)果與理論分析結(jié)果相吻合,驗(yàn)證了理論分析的正確性。

        1 鎖相環(huán)環(huán)路特性的理論分析

        1.1 穩(wěn)定性優(yōu)化分析

        圖1(a)所示為電荷泵型Ⅱ階整數(shù)分頻鎖相環(huán)電路結(jié)構(gòu),其主要由鑒頻鑒相器(Phase Frequency Detector,PFD),電荷泵(Charge Pump,CP),環(huán)路濾波器(Loop Filter,LPF),壓控振蕩器(Voltage-Controlled Oscillator,VCO)和分頻器(Divider)等構(gòu)成。鎖相環(huán)以負(fù)反饋形式利用VCO輸出信號(hào)FVCO經(jīng)過分頻產(chǎn)生的信號(hào)FBAK與輸入?yún)⒖夹盘?hào)FREF之間的相位比較結(jié)果,對(duì)FVCO進(jìn)行頻率調(diào)整而使 FBAK頻率相位與FREF趨于一致從而進(jìn)入鎖定狀態(tài)。當(dāng)進(jìn)入鎖定狀態(tài)時(shí),鎖相環(huán)輸出信號(hào)FVCO頻率fVCO=NfREF,其中N為分頻器分頻系數(shù),fREF為FREF的頻率,因此fREF決定了整數(shù)分頻鎖相環(huán)的最高頻率分辨率。

        圖1 鎖相環(huán)電路結(jié)構(gòu)和傳遞函數(shù)模型

        電荷泵型Ⅱ階整數(shù)分頻鎖相環(huán)環(huán)路傳遞函數(shù)模型如圖1(b)所示。其為典型3階負(fù)反饋系統(tǒng),因而可能存在穩(wěn)定性問題。其環(huán)路開環(huán)傳遞函數(shù)表示為

        式中,ICP/2π為PFD和電荷泵傳遞系數(shù);KVCO為VCO的電壓頻率轉(zhuǎn)化系數(shù);C12=C1C2/(C1+C2)。從式(1)可以看到,PLL開環(huán)傳遞函數(shù)包含了一個(gè)零點(diǎn)ωZ=1/RC1和一個(gè)非零極點(diǎn)ωP=1/RC12。

        從穩(wěn)定性角度出發(fā),當(dāng)使 Ho(s )為1時(shí)的截止頻率ωC處于ωZ和ωP之間時(shí),環(huán)路穩(wěn)定與否關(guān)系密切。當(dāng)ωC變化時(shí)相位裕度可表示為

        分析式(2)可知,在零極點(diǎn)固定的情況下,當(dāng) ωC=

        從式(3)可知,PMopt與LPF中的電容的比值有著密切關(guān)系。工程上一般取PMopt=60°能夠獲得較好的環(huán)路性能,可求得C1/C2≈13,此時(shí)環(huán)路濾波器參數(shù)為

        1.2 鎖定時(shí)間優(yōu)化分析

        鎖定時(shí)間(tlock)亦稱為穩(wěn)定時(shí)間,是反映PLL性能的重要指標(biāo)。現(xiàn)有研究成果為簡(jiǎn)化分析過程視PLL整個(gè)鎖定過程為線性變化過程,單純地通過求解PLL閉環(huán)傳遞函數(shù)的階躍響應(yīng)而得到鎖定時(shí)間[3-5]。當(dāng)鎖相環(huán)初始頻率/相位差較小時(shí),該模型能夠較為精確地描述鎖定時(shí)間,但初始頻率/相位差較大時(shí),其得到的鎖定時(shí)間與實(shí)際情況之間存在較大誤差。圖2為相同環(huán)路參數(shù)下鎖相環(huán)線性模型與考慮非線性特性的真實(shí)行為級(jí)模型兩種情況下鎖定時(shí)間對(duì)比。從圖可知,單純采用線性模型獲得的鎖定時(shí)間與實(shí)際情況存在明顯誤差。因此,有必要深入分析鎖相環(huán)環(huán)路特性,提出更精確的環(huán)路鎖定時(shí)間計(jì)算模型。

        圖2 線性模型和行為級(jí)模型的仿真鎖定時(shí)間對(duì)比

        通過研究發(fā)現(xiàn),PLL鎖定時(shí)間tlock可分為兩個(gè)階段:①當(dāng)反饋信號(hào)FBAK與參考時(shí)鐘FREF之間頻率/相差較大時(shí),PFD輸出將飽和而驅(qū)使PLL進(jìn)入非線性狀態(tài);②當(dāng)誤差小于一定范圍時(shí),PFD退出飽和狀態(tài),此時(shí)可近似認(rèn)為PLL處于線性狀態(tài)。因此,PLL鎖定時(shí)間應(yīng)分為兩部分:

        式中,ts1和ts2分別對(duì)應(yīng)非線性和線性兩個(gè)階段所持續(xù)的時(shí)間。當(dāng)PFD輸出飽和時(shí)電荷泵將對(duì)LPF中的電容進(jìn)行持續(xù)充電/放電,因此ts1可表示為

        式中,ΔV為初始狀態(tài)最終鎖定狀態(tài)下VCO控制電壓之間的差值。在最佳環(huán)路相位裕度狀態(tài)下即ωC=

        式中,ΔfPFD為非線性階段PFD輸入端的初始頻率誤差。而線性狀態(tài)下的鎖定時(shí)間可表示為[1]

        式中,?為線性階段PFD輸入端初始相位誤差。對(duì)比式(7)和式(8)可知,兩種模型下鎖定時(shí)間存在明顯差異:非線性模型中鎖定時(shí)間與ω2C成反比,而線性模型中鎖定時(shí)間只與ωC成反比。

        1.3 相位噪聲與雜散優(yōu)化分析

        相位噪聲是評(píng)價(jià)鎖相環(huán)性能優(yōu)劣的重要指標(biāo),因此考察鎖相環(huán)環(huán)路對(duì)其輸出相位噪聲的影響至關(guān)緊要[6-9]。圖3為PLL的相位噪聲模型,其噪聲來源包括了輸入?yún)⒖紩r(shí)鐘相位噪聲nREF(s)、電荷泵中電流噪聲nCP(s)、環(huán)路濾波器中電壓噪聲nLPF(s)、壓控振蕩器相位噪聲nVCO(s)和分頻器相位噪聲nDV(s)等5個(gè)部分,最終的輸出總相位噪聲為各噪聲貢獻(xiàn)之功率和。通過推導(dǎo)分析可得到PLL環(huán)路中各種噪聲對(duì)總噪聲的貢獻(xiàn)如表1所示。從中可知,除VCO相位噪聲在環(huán)路中呈現(xiàn)高通特性外,其他模塊噪聲均在環(huán)路中表現(xiàn)為低通特性??紤]到實(shí)際電路中VCO噪聲往往起主導(dǎo)作用,因此需要盡可能地提高ωC來抑制VCO噪聲從而改善PLL相位噪聲指標(biāo)。

        圖3 鎖相環(huán)噪聲模型

        表1 各噪聲貢獻(xiàn)的函數(shù)表達(dá)

        此外,由于PFD和電荷泵的失配等非理想特性,當(dāng)環(huán)路鎖定時(shí)PLL實(shí)際上將處于動(dòng)態(tài)平衡狀態(tài),其電荷泵仍將進(jìn)行周期性的充放電,從而使PLL輸出中包含參考雜散(Reference Spur,RS)成分而惡化相位噪聲指標(biāo)。該雜散干擾可以看成在電荷泵輸出電流上疊加了頻率為參考時(shí)鐘頻率fREF的周期性沖擊脈沖iSPR(t)。

        RS可視為PFD/電荷泵噪聲而在環(huán)路中表現(xiàn)為低通特性。根據(jù)3階鎖相環(huán)環(huán)路特性,最終輸出中雜散的噪聲貢獻(xiàn)可表示為

        其中,ISPR(ω)為iSPR(t)的傅里葉變換頻域變換形式。為抑制雜散干擾,通常雜散頻率ωREF應(yīng)當(dāng)滿足ωREF>>ωP>ωC[7-9]。則雜散對(duì)PLL輸出的影響可表示為

        雖然式(10)指出降低ωP/ωZ可降低雜散強(qiáng)度,但通常需要保持較高的ωP/ωZ,以確保環(huán)路具有較好的相位裕度。另一方面可知,雜散強(qiáng)度與ωC/ωREF項(xiàng)的平方成反比,降低ωC/ωREF可以有效地抑制雜散干擾。

        綜合以上分析可知,鎖相環(huán)環(huán)路截止頻率ωC對(duì)鎖相環(huán)性能具有重要影響。從相位噪聲指標(biāo)出發(fā),提高ωC可有效的抑制Ⅱ型鎖相環(huán)中占主導(dǎo)的VCO噪聲,同時(shí)迅速地縮短鎖定時(shí)間;然而ωC的提高將嚴(yán)重削弱鎖相環(huán)的雜散抑制能力。綜合考慮,ωC≈(1/5~1/10)ωREF是較為合理的取值范圍。

        2 鎖相環(huán)仿真驗(yàn)證

        2.1 穩(wěn)定性的仿真驗(yàn)證

        基于MATLAB仿真平臺(tái),構(gòu)建了鎖相環(huán)開環(huán)和閉環(huán)模型,選取輸入?yún)⒖夹盘?hào)為100 kHz,分頻比為200,則最終輸出為20 MHz;同時(shí)根據(jù)芯片IC663指標(biāo)選擇了 ICP=2 μA,KVCO=2π ×200M rad/V;為使環(huán)路 ωC=2π ×2k rad·s-1,PM=60°,根據(jù)前文推導(dǎo)結(jié)果可計(jì)算濾波器參數(shù)為R=23 kΩ,C1=90 pF,C2=7 pF。將以上參數(shù)代入MATLAB鎖相環(huán)模型中計(jì)算可知,其中ωC=12.5 krad/s,PM=60°,仿真結(jié)果與計(jì)算結(jié)果一致。

        2.2 鎖定時(shí)間與雜散的仿真驗(yàn)證

        基于MATLAB構(gòu)建了鎖相環(huán)行為級(jí)電路模型,通過改變環(huán)路帶寬和輸入?yún)⒖夹盘?hào)頻率,獲得如圖4所示的PM一致而ωC和fREF不同時(shí)環(huán)路LPF輸出電壓的瞬態(tài)仿真結(jié)果。圖中(a)和(b)的ωC相同,而(a)的fREF為(b)的一半,這意味著(a)的初始頻率/相位差亦為(b)的一半,而仿真結(jié)果顯示其鎖定時(shí)間(1.8 ms)也大致為(b)的一半(4 ms)。在fREF保持不變情況下,對(duì)比(a)和(d)兩條曲線可知,ωC降低一半時(shí)鎖定時(shí)間則延長(zhǎng)至4倍。同時(shí),對(duì)比(b)和(c)兩條曲鎖定時(shí)間基本一致。這些仿真結(jié)果均與前文分析結(jié)果吻合。

        圖4 各種參數(shù)下的鎖定時(shí)間仿真結(jié)果

        圖5 為4種情況下PLL輸出信號(hào)的頻率變換,可以看到(a)情況下雜散強(qiáng)度最大達(dá)-58.2 dBc;而在散強(qiáng)度下降6 dB為-64.2 dBc;(b)和(d)由于 ωC/ωREF相同且為(a)的1/2,因而其雜散強(qiáng)度下降12 dB均為-70 dBc;從中可以發(fā)現(xiàn),仿真結(jié)果與前文推導(dǎo)一致。

        圖5 各種參數(shù)下雜散強(qiáng)度仿真結(jié)果

        2.3 相位噪聲仿真驗(yàn)證

        相位噪聲仿真驗(yàn)證中,通過IC663芯片手冊(cè)獲取了VCO的噪聲數(shù)據(jù)[10],同時(shí)其他噪聲采用熱噪聲模擬其他噪聲源。圖6所示為不同環(huán)路下相位噪聲仿真結(jié)果。其中圖6(a)為其他參數(shù)不變,ωC變化時(shí)PLL相位噪聲仿真擬合曲線。由于VCO噪聲的主導(dǎo)作用,ωC越小,PLL帶內(nèi)相位噪聲越明顯;另一方面PLL帶外噪聲卻基本保持不變;這與前文中鎖相環(huán)噪聲分析基本一致。通過仿真發(fā)現(xiàn),ωC不變時(shí)不同分頻比N(圖6(b))或不同電荷泵電流ICP(圖6(c))的鎖相環(huán)相位噪聲特性基本保持不變。綜上可知,在VCO噪聲其主導(dǎo)作用下,PLL輸出相噪特性基本只取決于ωC。

        圖6 環(huán)路參數(shù)變化對(duì)鎖相環(huán)相位噪聲影響的仿真結(jié)果

        3 電路設(shè)計(jì)與測(cè)試驗(yàn)證

        基于鎖相環(huán)ICS663芯片和分頻器芯片ICS674設(shè)計(jì)了PLL電路并制作了PCB板,其實(shí)物如圖7所示。其中鎖相環(huán)的分頻系數(shù)、環(huán)路濾波器參數(shù)均通過板上開關(guān)切換進(jìn)行更改。

        圖7 鎖相環(huán)電路PCB實(shí)物照片

        由于實(shí)際電路中,輸出參考信號(hào)的高次諧波很容易耦合至PLL輸出中,從而影響雜散的測(cè)試。為了減少這種諧波干擾,測(cè)試中設(shè)置分頻系數(shù)為3(IC674分頻系數(shù)必須不小于3),以使PLL輸出頻率盡量接近參考頻率,而此時(shí)參考頻率設(shè)置為fREF=1 MHz。然后分別測(cè)試了 ωC為2π×5k rad/s和 ωC=2π ×10k rad/s兩種情況下的雜散強(qiáng)度,如圖8所示。由圖可知,ωC=2π×5k rad/s時(shí)雜散強(qiáng)度為-40.46 dB而ωC=2π×10k rad/s時(shí)雜散強(qiáng)度升高為-27.72 dB,升高約為12.7 dB,測(cè)試結(jié)果與式(10)預(yù)測(cè)基本相符。

        圖8 不同ωC時(shí)雜散測(cè)試結(jié)果

        利用Agilent MSO3024示波器測(cè)試了以上兩種ωC下的鎖相環(huán)啟動(dòng)過程中LPF輸出電壓變化情況,其測(cè)試結(jié)果如圖9所示,從圖中可以看到鎖定時(shí)間由736 μs延長(zhǎng)延長(zhǎng)了約4倍至2.76 ms,證明了鎖定時(shí)間與ωC成反比。

        最終利用Agilent N9020A信號(hào)分析儀完成了PLL相位噪聲的測(cè)試。圖10(a)為不同ωC下相位噪聲測(cè)試結(jié)果,從圖中可以看出ωC越高則帶內(nèi)噪聲越低,而帶外噪聲基本一致。由于無法改變ICS663芯片內(nèi)部參數(shù),因而本論文選擇通過改變ICS674分頻系數(shù)來測(cè)試ωC相同而分頻系數(shù)N不同時(shí)的相位噪聲特性,其結(jié)果如圖10(b)所示??梢钥吹剑?dāng)N在50/100/200之間發(fā)生變化時(shí),PLL輸出相位噪聲輸出結(jié)果基本保持不變,以上結(jié)果均與分析及仿真結(jié)果吻合。

        4 結(jié)束語

        首先對(duì)Ⅱ型電流泵整數(shù)分頻鎖相環(huán)環(huán)路特性進(jìn)行了分析推導(dǎo),推導(dǎo)結(jié)果顯示合理選擇環(huán)路濾波器電容比值可使相位裕度實(shí)現(xiàn)最優(yōu)化,鎖定時(shí)間與環(huán)路截止頻率ωC平方成反比,雜散強(qiáng)度與(ωC/ωREF)2成正比等重要結(jié)論。進(jìn)而開展了基于Matlab的鎖相環(huán)環(huán)路仿真驗(yàn)證和基于鎖相環(huán)芯片ICS663的鎖相環(huán)電路設(shè)計(jì)與測(cè)試工作,仿真結(jié)果與實(shí)際電路測(cè)試結(jié)果均與本文鎖相環(huán)理論分析結(jié)果相符。

        圖9 不同ωC下鎖定時(shí)間測(cè)試結(jié)果

        圖10 相位噪聲測(cè)試結(jié)果

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