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        考慮電離層對(duì)GEOSAR影響的改進(jìn)CS成像算法

        2019-01-17 02:46:02王卓群李亞軍李雁斌顧網(wǎng)平
        上海航天 2018年6期
        關(guān)鍵詞:斜距電離層方位

        王卓群,李亞軍,李雁斌,顧網(wǎng)平,李 芬

        (上海無(wú)線電設(shè)備研究所,上海 201109)

        0 引言

        地球同步軌道合成孔徑雷達(dá)(GEOSAR)具有重訪周期短和抗打擊能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),在軍事和民用領(lǐng)域中具有廣泛的應(yīng)用前景和發(fā)展?jié)摿1-6]。GEOSAR信號(hào)傳輸過程中,不可避免受到電離層影響。對(duì)于低軌合成孔徑雷達(dá)(low earth orbital synthetic aperture radar, LEOSAR)來(lái)說,因合成孔徑時(shí)間較短可忽略電離層對(duì)成像質(zhì)量的影響。然而,GEOSAR一般工作于L波段,由于合成孔徑時(shí)間較長(zhǎng),一般在小時(shí)量級(jí),電離層的時(shí)間變化特性將嚴(yán)重影響該雷達(dá)的成像聚焦性能。

        目前,國(guó)內(nèi)外學(xué)者在電離層對(duì)星載SAR聚焦性能影響的研究方面已取得了一定的成果[7-11],但相關(guān)研究主要集中在電離層對(duì)低軌SAR成像質(zhì)量的影響,而針對(duì)GEOSAR聚焦性能影響的研究較少。李亮等[7]建立了電離層對(duì)中高軌道SAR系統(tǒng)的信號(hào)影響模型,分析了電離層時(shí)間變化對(duì)中高軌SAR成像質(zhì)量的影響。JEHLE等[8]研究了受電離層污染的GEOSAR的回波信號(hào)模型,分析了電離層對(duì)距離及方位分辨能力的影響。然而,由于GEOSAR的軌道位置較高,合成孔徑時(shí)間較長(zhǎng),該雷達(dá)不再滿足“?!摺!钡募僭O(shè),故收發(fā)路徑中大氣層引起的斜距誤差也不相同[9]。

        因此,本文基于非“?!摺!奔僭O(shè),針對(duì)電離層影響GEOSAR成像質(zhì)量的問題,提出了改進(jìn)chirp scaling (CS)成像算法。首先,根據(jù)射線跟蹤法推導(dǎo)電離層引起的雙程斜距誤差模型,理論推導(dǎo)受電離層影響的回波信號(hào);其次,基于回波信號(hào)模型提出改進(jìn)的CS成像算法;最后,仿真驗(yàn)證算法的有效性,該算法可較好地解決電離層引起的目標(biāo)位置偏移和分辨率下降的問題,獲得聚焦的成像結(jié)果。

        1 電離層影響的回波信號(hào)模型

        GEOSAR所發(fā)射的電磁波信號(hào)經(jīng)過外部空間、電離層、平流層、對(duì)流層,最終達(dá)到地表目標(biāo),其反射信號(hào)被該雷達(dá)接收。其中,電離層中的大氣折射導(dǎo)致電磁波的非線性傳輸。因此,本節(jié)詳細(xì)分析了電離層折射所引起的斜距誤差。

        電離層不同于其他介質(zhì)的主要參數(shù)之一就是電離層中的折射指數(shù)。在電離層中忽略電子碰撞和地磁場(chǎng)的影響,對(duì)于L波段的GEOSAR,其電離層折射率可表示為

        (1)

        式中:Ne(t0+ta,h)為在時(shí)刻t0+ta時(shí)電離層中的電子密度;f為信號(hào)頻率;h為傳播路徑上任意點(diǎn)的高度。

        由于掠射角趨近于90°,則電離層折射率變化引起的斜距誤差為

        (2)

        由于eTEC具有時(shí)間變化特性,現(xiàn)假設(shè)t0時(shí)刻的積分電子含量為eTEC0,則eTEC隨慢時(shí)間ta變化為

        eTEC(t0+ta)=

        (3)

        因此,電離層引起的接收天線與地表目標(biāo)之間的斜距誤差為

        (4)

        式中:τ為雷達(dá)發(fā)射電磁波到目標(biāo)的電磁波傳輸時(shí)間。

        根據(jù)式(2)和式(4),推導(dǎo)得到電離層引起的雙程斜距誤差為

        Rall-ion(t0+ta)=Rion(t0+ta)+Rion(t0+ta+τ)=

        (5)

        在距離頻率-方位時(shí)間域,GEOSAR回波信號(hào)可表示為

        Sion(fr,ta)=

        (6)

        式中:ρr(·),ρa(bǔ)(·)分別為雷達(dá)線性調(diào)頻信號(hào)的距離窗函數(shù)和方位窗函數(shù);γ為雷達(dá)線性調(diào)頻信號(hào)的調(diào)頻率;C為波速;fc,fr分別為距離和方位頻率;R(t0+ta)為理想情況下的斜距模型。

        考慮到距離頻率fr遠(yuǎn)小于載波頻率fc,可忽略fr對(duì)方位脈沖響應(yīng)的影響,則電離層污染的回波信號(hào)可進(jìn)一步表示為

        Sion(fr,ta)=AiS(fr,ta)Hir(fr)Hia(ta)

        (7)

        式中:

        Ai=exp(-j2πq0)。

        式(7)中:S(fr,ta)為GEOSAR的理想回波信號(hào)距離頻率-方位時(shí)間域表達(dá)式;Hir(fr)和Hia(ta)分別為電離層對(duì)距離向和方位向脈沖響應(yīng)函數(shù)的影響;Ai為電離層對(duì)回波信號(hào)幅度的影響。下面詳細(xì)分析Hir(fr)和Hia(ta)對(duì)點(diǎn)目標(biāo)聚焦性能的影響。

        式(7)中(fc+fr)-1的泰勒級(jí)數(shù)展開式

        Hir(fr)=

        (8)

        (9)

        2 改進(jìn)CS成像算法

        GEOSAR的CS成像算法流程如圖1所示,通過一系列成像處理步驟,最終獲得清晰的點(diǎn)目標(biāo)成像。

        2.1 電離層影響處理步驟

        步驟1:根據(jù)式(7)中電離層污染的GEOSAR回波信號(hào)Sion(fr,ta),首先通過相位補(bǔ)償消除電離層對(duì)距離向成像聚焦性能的影響,用雙頻時(shí)延差分估計(jì)法得到eTEC平均值,并用距離頻率-方位時(shí)間域乘以Hir(fr)的共軛相位補(bǔ)償函數(shù)conj(Hir(fr)),即

        (10)

        (11)

        S′(fr,ta)=Sion2(fr,ta)·

        (12)

        基于上述步驟,處理后的信號(hào)中包含了理想回波信號(hào)S(fr,ta)和一小部分電離層影響殘留信號(hào)Hi2(fr,ta),有

        Sion2(fr,ta)=S(fr,ta)Hi2(fr,ta)

        (13)

        通過方位向傅里葉變換,應(yīng)用級(jí)數(shù)反演算法獲得二維頻譜,有

        S(fr,fa)=ρr(fr)ρa(bǔ)(fa)exp(-j2πBa(fa))·

        (14)

        式中:Ba(fa)為方位調(diào)頻相位;B1(fa),B2(fa),B3(fa)為距離與方位之間的耦合函數(shù)。

        2.2 彎曲軌跡處理部分

        步驟1:高階相位補(bǔ)償。由式(14)可知,GEOSAR的點(diǎn)目標(biāo)二維頻譜表達(dá)式存在高階距離及方位耦合項(xiàng)[12],這使得該雷達(dá)回波信號(hào)不同于參考CS的信號(hào)形式,因此,首先去除該高階耦合項(xiàng),即在二維頻域乘以其高階相位補(bǔ)償函數(shù),該補(bǔ)償函數(shù)為

        (15)

        步驟2:CS相位函數(shù)處理。通過距離向逆傅里葉變換,獲得回波信號(hào)的距離時(shí)間-方位頻率域表達(dá)式。由于回波信號(hào)的多普勒調(diào)頻率為K(fa)=1/(2B2(fa)),為構(gòu)造CS相位函數(shù),該信號(hào)可重新描述為

        S1(tr,fa)=ρr(tr)ρa(bǔ)(fa)·

        exp(jπK(fa)(tr-B1(fa))2)·

        exp(-j2πBa(fa))Hi2(tr,fa)

        (16)

        對(duì)比CS信號(hào)形式,計(jì)算獲得的CS因子,有

        d(fa)=(CB1(fa)-2Rsc)/2Rsc

        (17)

        CS二次相位函數(shù)為

        H2(tr,fa)=exp[jπK(fa)d(fa)·

        (tr-B1(fa))2]

        (18)

        因此,CS處理后的回波信號(hào)為

        S2(tr,fa)=

        ρr(tr)ρa(bǔ)(fa)exp(-j2πBa(fa))Hi2(fr,fa)·

        exp[jπK(fa)(1+d(fa))(tr-B1(fa))2]

        (19)

        步驟3:距離壓縮處理與距離徙動(dòng)校正。對(duì)式(18)的信號(hào)S2(tr,fa)進(jìn)行距離壓縮處理,即在二維頻域乘以距離壓縮函數(shù),該函數(shù)為

        (20)

        通過距離徙動(dòng)校正將圖像距離向聚焦于點(diǎn)目標(biāo)斜距Rsm,其校正函數(shù)為

        (21)

        步驟4:方位壓縮處理。在距離時(shí)間-方位頻率域乘以方位壓縮函數(shù),該函數(shù)為

        (22)

        2.3 PGA算法處理

        基于上述成像處理流程,回波信號(hào)仍存在殘余電離層相位誤差。引入傳統(tǒng)的PGA技術(shù)[9],使處理后成像結(jié)果聚焦于真實(shí)目標(biāo)位置。

        3 仿真分析

        本節(jié)基于國(guó)際全球定位系統(tǒng)服務(wù)(IGS)提供的全球電離層網(wǎng)格數(shù)據(jù),仿真分析電離層對(duì)L波段GEOSAR聚焦性能的影響,并驗(yàn)證改進(jìn)CS成像算法的有效性。GEOSAR參數(shù)見表1。

        表1 GEOSAR參數(shù)Tab.1 GEOSAR parameters

        根據(jù)IGS提供的2014年11月1日全球電離層網(wǎng)格圖,以北京地區(qū)為例觀測(cè)eTEC的日變化趨勢(shì),如圖2所示。距離偏移量為4.7 m,距離相位誤差為0.03 rad,方位偏移量為2.1 m,相位誤差隨相干積累時(shí)間的長(zhǎng)度有關(guān),在1 000 s的相干積累時(shí)間內(nèi)的方位相位誤差為4.7 rad。

        圖2 北京某地區(qū)eTEC日變化趨勢(shì)(2014年11月1日)Fig.2 Daily variant tendency of eTECin Beijing (November 1st, 2014)

        研究當(dāng)相干積累時(shí)間為1 000 s時(shí),電離層對(duì)成像聚焦性能的影響及改進(jìn)CS算法的成像效果,如圖3所示。距離及方位分辨率理論值分別為6 m和3.15 m。由于受電離層影響,距離向偏離場(chǎng)景中心位移量為4.72 m,方位向偏離場(chǎng)景中心位移量為2.11 m。其成像質(zhì)量如下:在距離向ΔIRW=6 m,ΔPSLR=-13.25 dB,ΔISLR=-10.14 dB;在方位向ΔIRW=5.89 m,ΔPSLR=-0.51 dB,ΔISLR=-2.92 dB。

        用基于GEOSAR的改進(jìn)CS成像算法,圖像成像將聚焦于場(chǎng)景中心,其成像質(zhì)量如下:在距離向ΔIRW=6 m,ΔPSLR=-13.25 dB,ΔISLR=-10.14 dB;在方位向ΔIRW=3.17 m,ΔPSLR=-13.14 dB,ΔISLR=-10.92 dB。對(duì)比二維分辨率理論值可知,用本文提出的改進(jìn)CS成像算法可有效消除電離層對(duì)GEOSAR聚焦性能的影響,獲得高精度成像結(jié)果。

        圖3 電離層影響及其抑制處理后的成像結(jié)果Fig.3 Ionospheric effects and imaging results obtained by eliminating ionospheric influences

        4 結(jié)論

        本文針對(duì)電離層引起的成像散焦問題,提出了基于GEOSAR的改進(jìn)CS成像算法。在非“停—走—?!奔僭O(shè)下,考慮到電離層大氣折射率引起的斜距誤差,以及時(shí)延引起的雙程傳播路徑不同,推導(dǎo)了電離層影響的斜距誤差及回波信號(hào)模型,并基于此,提出了改進(jìn)CS成像算法,主要包括電離層影響處理、彎曲軌跡處理及PGA自聚焦三部分。仿真結(jié)果表明:電離層導(dǎo)致了距離向偏移和方位模糊問題,改進(jìn)CS算法則可有效處理該問題,獲得清晰的成像結(jié)果。

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