陳昌鑫,王宇,馬鐵華
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存儲測試儀磁場屏蔽效能仿真分析
陳昌鑫,王宇,馬鐵華
(中北大學(xué)電子測試技術(shù)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,山西 太原 030051; 中北大學(xué)儀器科學(xué)與動態(tài)測試教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,山西 太原 030051)
針對存儲測試儀的磁場屏蔽效能優(yōu)化問題,采用控制變量法和變量掃描法,利用Ansoft Maxwell有限元分析軟件對測試儀屏蔽體的形狀、材料和殼體壁厚這3個參數(shù)進(jìn)行建模仿真,然后對不同參數(shù)的仿真結(jié)果進(jìn)行對比,分析屏蔽體不同參數(shù)對屏蔽效能的影響。仿真結(jié)果表明,金屬屏蔽體屏蔽效能受屏蔽體的形狀、材料和殼體壁厚影響且影響不可忽略,通過選用磁導(dǎo)率大的圓柱體金屬屏蔽體、增加屏蔽體壁厚,可增大屏蔽體屏蔽效能,同時通過理論計(jì)算驗(yàn)證了仿真結(jié)果。
存儲測試儀;磁場屏蔽;屏蔽效能;建模仿真
我國存儲測試技術(shù)研究始于20世紀(jì)80年代,30余年來,存儲測試技術(shù)為高壓、高沖擊、強(qiáng)電磁干擾等復(fù)雜惡劣環(huán)境下動態(tài)參數(shù)的信息準(zhǔn)確、可靠獲取提供了強(qiáng)有力的技術(shù)手段[1]。存儲測試技術(shù)與遙測技術(shù)、引線測試技術(shù)并列為常用測試技術(shù),特別是微體積、微小功耗的存儲測試儀在信息傳輸困難、傳感器供電困難的狹小空間、高速運(yùn)動、干擾強(qiáng)烈等測試場合應(yīng)用,優(yōu)勢明顯[2]。存儲測試儀在復(fù)雜電磁環(huán)境中也經(jīng)常被應(yīng)用,電磁輻射引起的電磁干擾問題越來越嚴(yán)重,以磁場(尤其是低頻磁場)為表現(xiàn)形式的電磁輻射會對存儲測試儀內(nèi)部的半導(dǎo)體電子元器件以及測試信號產(chǎn)生很大的影響[3-4]。存儲測試適應(yīng)復(fù)雜環(huán)境策略在于自帶電池供電,在傳感器本地將信號調(diào)理、轉(zhuǎn)換后存儲,也即信號調(diào)理、信息轉(zhuǎn)換、信息存儲等模塊與電池密閉在金屬殼體內(nèi),測試完畢后讀取數(shù)據(jù)再現(xiàn)測試過程。目前,存儲測試儀設(shè)計(jì)多采用金屬屏蔽體接地方法來抗電磁干擾,常用作屏蔽體的金屬有鋁、銅、鋼、硅鋼、坡莫合金等[5]。但目前測試儀金屬屏蔽體工程設(shè)計(jì)以經(jīng)驗(yàn)設(shè)計(jì)為主,對實(shí)現(xiàn)屏蔽效能最優(yōu)化影響因素不完全清晰,因此,需要對測試儀屏蔽體屏蔽效能進(jìn)行研究,以建模仿真為手段,為磁場屏蔽效能優(yōu)化提供依據(jù)。相關(guān)文獻(xiàn)表明,影響測試儀屏蔽體屏蔽效能的參數(shù)有材料、形狀、金屬殼體壁厚等[6]。金屬屏蔽體的屏蔽效能與材料本身的特性密切相關(guān)[7]。針對存儲測試儀屏蔽體屏蔽效能優(yōu)化分析問題,利用有限元分析軟件Ansoft Maxwel,通過仿真建模手段,采用控制變量法和變量掃描法對金屬屏蔽體的形狀、材料、殼體壁厚等因素與屏蔽效能的關(guān)系進(jìn)行仿真分析,得出一定規(guī)律,以實(shí)現(xiàn)屏蔽效能優(yōu)化。
電磁屏蔽是指通過屏蔽體,將電磁能量限制在一定空間范圍內(nèi),從而有效衰減或者阻隔電磁波傳播[8]。
屏蔽體的屏蔽性能用屏蔽效能來度量,屏蔽效能指在加屏蔽體之前某一測點(diǎn)的場強(qiáng)0與同一測點(diǎn)加屏蔽體時的場強(qiáng)S之比,其單位是dB[9-10],屏蔽體屏蔽效能的數(shù)學(xué)表達(dá)式為:
磁場屏蔽是指將磁力線封閉在屏蔽體內(nèi),可阻擋內(nèi)部磁場向外擴(kuò)散或外界磁場干擾進(jìn)入,減少磁場輻射的干擾[11]。磁場屏蔽又分為低頻磁屏蔽和高頻磁屏蔽。一般高頻磁場頻率大于100 kHz,低頻磁場頻率低于100 kHz,低頻磁場由導(dǎo)體中流過的電流產(chǎn)生或者由鐵磁材料磁化引起[3]。存儲測試儀所處磁場環(huán)境大多為低頻磁場,而且低頻磁場也會對測試儀產(chǎn)生很大的影響。
對存儲測試儀屏蔽體的形狀、材料、殼體壁厚、孔隙形狀等參數(shù)進(jìn)行仿真建模,采用控制變量法和變量掃描法分析屏蔽體的形狀、材料和殼體壁厚等參數(shù)對屏蔽效能的影響。
首先建立仿真模型,采用控制變量法和變量掃描法對金屬屏蔽體的每個參數(shù)進(jìn)行仿真,參數(shù)設(shè)置如表1所示。
利用Ansoft Maxwell有限元電磁仿真軟件建立存儲測試儀屏蔽體的仿真模型,模型如圖1所示。
表1 屏蔽體參數(shù)設(shè)置表
屏蔽體參數(shù)參數(shù)變量 形狀圓柱體、立方體 材料鋁、銅、不銹鋼、鋼、硅鋼、坡莫合金 殼體壁厚/mm2,4,6,8,10
圖1 存儲測試儀仿真模型
圖1中左邊箱體為存儲測試儀,在測試儀的內(nèi)部的小立方體用來測試儀器磁場感應(yīng)情況,小立方體在測試儀的中心位置。圖1中右邊為電磁鐵,電磁鐵外部包裹的是銅線圈,線圈里邊為鐵芯,在仿真磁場時,線圈電流設(shè)置的激勵大小為2 A,匝數(shù)為9 000匝,電流方向?yàn)轫槙r針方向,電磁鐵左邊為N極,右邊為S極,電磁鐵中心磁力線方向與小立方體的正對面垂直。
通過對影響金屬屏蔽體屏蔽效能的不同參數(shù)進(jìn)行仿真分析,得出不同參數(shù)對屏蔽效能影響的情況。
3.2.1 屏蔽體材料仿真
在Ansoft Maxwell軟件中建立存儲測試儀屏蔽體的結(jié)構(gòu)模型,只改變屏蔽體的材料參數(shù),屏蔽體形狀為立方體,殼體壁厚為5 mm。屏蔽體材料分別為鋁、鋼、不銹鋼、銅、坡莫合金和硅鋼,對屏蔽體材料進(jìn)行仿真,鋼的磁場仿真云圖如圖2所示,通過公式(1)計(jì)算不同屏蔽材料的屏蔽效能,得到仿真結(jié)果如表2所示。
圖2 鋼的磁場仿真云圖
表2 屏蔽體材料仿真結(jié)果
材料名稱相對磁導(dǎo)率屏蔽效能/dB 鋁1.000 0210 銅0.999 9910 不銹鋼80020.20 鋼1 00023.71 硅鋼7 00038.99 坡莫合金50 00056.06
仿真結(jié)果表明:存儲測試儀屏蔽體的屏蔽效能與其材料有關(guān),且金屬屏蔽體相對磁導(dǎo)率越大,屏蔽效果越好。
3.2.2 屏蔽體形狀仿真
在Ansoft Maxwell軟件中建立的屏蔽體結(jié)構(gòu)模型,只改變屏蔽體的形狀,屏蔽體材料為鋼,殼體壁厚為5 mm。屏蔽體形狀是體積相等的立方體和圓柱體。對屏蔽體結(jié)構(gòu)模型進(jìn)行仿真,通過公式(1)計(jì)算不同屏蔽體形狀的屏蔽效能,得到的仿真結(jié)果如表3所示。
表3 形狀仿真結(jié)果
形狀屏蔽效能/dB 立方體23.71 圓柱體27.09
仿真結(jié)果表明:同體積的圓柱體屏蔽效能優(yōu)于立方體。
3.2.3 屏蔽體殼體壁厚仿真
用Ansoft Maxwell軟件建立屏蔽體結(jié)構(gòu)模型,只改變屏蔽體的壁厚,屏蔽體材料為鋼,形狀為立方體。屏蔽體殼體壁厚分別為2 mm、4 mm、6 mm、8 mm和10 mm。對屏蔽體結(jié)構(gòu)模型進(jìn)行仿真,通過公式(1)計(jì)算不同屏蔽體殼體壁厚的屏蔽效能,得到的仿真結(jié)果如表4所示。
表4 殼體壁厚仿真結(jié)果
殼體壁厚/mm屏蔽效能/dB 218.81 422.26 626.74 828.54 1029.72
利用Matlab軟件繪制屏蔽體殼體壁厚與屏蔽效能的擬合曲線,如圖3所示。根據(jù)圖3,可以看出屏蔽體屏蔽效能與殼體壁厚成正相關(guān)。
圖3 殼體壁厚仿真擬合曲線
基于Ansoft Maxwell軟件,對存儲測試儀電磁屏蔽效能進(jìn)行仿真,仿真結(jié)果表明:①金屬屏蔽體相對磁導(dǎo)率越高,屏蔽效能越大,屏蔽效果越好;②在體積相等的情況下,屏蔽體形狀為圓柱體的屏蔽效果比立方體好;③金屬屏蔽體的屏蔽效能與屏蔽體壁厚是正相關(guān)的。
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2095-6835(2018)18-0144-03
TP391.9
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10.15913/j.cnki.kjycx.2018.18.144
陳昌鑫(1988—),男,河南信陽人,博士,講師,主要從事動態(tài)測控與智能儀器方面的教學(xué)與科研工作。
〔編輯:嚴(yán)麗琴〕