賀雙喜 彭森

摘 要：本文主要基于社會(huì)逐漸趨向于現(xiàn)代化發(fā)展的當(dāng)前背景下，以數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)構(gòu)架及基本操作原理為切入點(diǎn)，對(duì)數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用進(jìn)行相關(guān)論述，旨在從根本上提升數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的高效性及實(shí)效性，以期為相關(guān)工作人員提供參考。

關(guān)鍵詞：數(shù)字集成電路；測(cè)試技術(shù)；應(yīng)用

隨著社會(huì)經(jīng)濟(jì)與科技的快速發(fā)展，為數(shù)字集成電路技術(shù)實(shí)現(xiàn)自身功能性及效益性的進(jìn)一步優(yōu)化及完善奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)，同時(shí)數(shù)字集成電路技術(shù)也由過(guò)去簡(jiǎn)單的操作轉(zhuǎn)向了復(fù)雜化。不僅如此，作為保障數(shù)字集成電路系統(tǒng)正常運(yùn)行的中堅(jiān)力量，數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)也已成為相關(guān)領(lǐng)域工作人員共同研究的課題之一，并為切實(shí)降低生產(chǎn)期間所需消耗的經(jīng)費(fèi)，提升數(shù)字集成電路運(yùn)行效率及質(zhì)量起到了積極促進(jìn)的作用。

1 數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的特點(diǎn)

1.1數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的測(cè)試性

數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)主要就是指基于邏輯模糊系統(tǒng)的功能，對(duì)數(shù)字電路的實(shí)際運(yùn)行情況進(jìn)行實(shí)時(shí)的管控，從而發(fā)現(xiàn)數(shù)字電路運(yùn)行故障及異常，并以此作為重要參考依據(jù)，制定出解決及改善此類問(wèn)題的具體方案。同時(shí)在數(shù)字集成電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)的過(guò)程中，測(cè)試人員肩負(fù)著對(duì)系統(tǒng)設(shè)計(jì)進(jìn)行不斷完善與優(yōu)化的職責(zé)，并結(jié)合數(shù)字集成電路的運(yùn)行狀態(tài)與運(yùn)行邏輯性，測(cè)試數(shù)字電路，切實(shí)促進(jìn)數(shù)字電路的高效有序運(yùn)行。

1.2數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的集中性

數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)所體現(xiàn)出的集中性主要表現(xiàn)在數(shù)字電路的信號(hào)系統(tǒng)方面，具體而言，信號(hào)的良性傳輸對(duì)數(shù)字集成電路系統(tǒng)的平穩(wěn)運(yùn)行具有重要的意義，相關(guān)測(cè)試人員能夠針對(duì)此些信號(hào)所傳輸信息資源對(duì)數(shù)字集成電路進(jìn)行集中式的統(tǒng)一管理。同時(shí)數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的集中性可讓測(cè)試人員對(duì)依照信號(hào)的傳輸，對(duì)數(shù)字集成電路結(jié)構(gòu)內(nèi)部運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行嚴(yán)謹(jǐn)?shù)耐扑恪?/p>

2、數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的主要構(gòu)架

2.1數(shù)字集成電路測(cè)試計(jì)算機(jī)系統(tǒng)

隨著互聯(lián)網(wǎng)時(shí)代的到來(lái)，計(jì)算機(jī)被廣泛應(yīng)用在各領(lǐng)域的生產(chǎn)之中，而數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)也不例外。數(shù)字集成電路測(cè)試計(jì)算機(jī)系統(tǒng)主要功能是提升測(cè)試的高效性及高質(zhì)性，同時(shí)其由控制子系統(tǒng)、儲(chǔ)存子系統(tǒng)、圖片處理子系統(tǒng)、電源子系統(tǒng)等組成。不僅如此，數(shù)字集成電路測(cè)試計(jì)算機(jī)系統(tǒng)相較于其他系統(tǒng)而言，還具有較高的處理性能，并在實(shí)際測(cè)試過(guò)程中對(duì)數(shù)字集成電路進(jìn)行分析，并將分析后的各項(xiàng)信息資源儲(chǔ)存到儲(chǔ)存器之中。

2.2數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)

數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)主要包括測(cè)試裝置、測(cè)試夾具、電阻矩陣與直流交流測(cè)試系統(tǒng)等，其中測(cè)試裝置中的接口能夠?qū)崿F(xiàn)與被測(cè)試電路之間的聯(lián)通；測(cè)試夾則是將被測(cè)數(shù)字集成電路系統(tǒng)連接到相應(yīng)的通道之內(nèi)，但值得注意的是，在使用夾具的過(guò)程中，為保持連接信號(hào)的完整性，應(yīng)將操作期間的誤差性降到最低。不僅如此，為更好的迎合市場(chǎng)對(duì)數(shù)字集成電路運(yùn)行安全及高效性的需求，數(shù)字集成電路的測(cè)試系統(tǒng)也具備一定的靈活性與準(zhǔn)確性。

3、數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的運(yùn)行原理

3.1數(shù)字集成電路的功能測(cè)試

數(shù)字集成電路的功能測(cè)試主要就是對(duì)系統(tǒng)是否符合初期設(shè)計(jì)階段的要求及功能性進(jìn)行測(cè)試，功能測(cè)試的基本原理是對(duì)設(shè)備輸入一定的信號(hào)，并依照數(shù)字集成電路在運(yùn)行期間的實(shí)際規(guī)定，對(duì)其產(chǎn)生的頻率進(jìn)行對(duì)比分析，從而對(duì)電路運(yùn)行的平穩(wěn)性進(jìn)行最后判斷。

3.2數(shù)字集成電路的交直流測(cè)試

數(shù)字集成電路的交流測(cè)試技術(shù)主要就是對(duì)數(shù)字集成電路設(shè)備在進(jìn)行晶體管轉(zhuǎn)換的時(shí)間順序進(jìn)行判斷，從而發(fā)現(xiàn)數(shù)字集成電路在實(shí)際運(yùn)行及狀態(tài)轉(zhuǎn)換過(guò)程中出現(xiàn)的問(wèn)題，并對(duì)此階段的風(fēng)險(xiǎn)性進(jìn)行控制，從而使電路能夠在正常時(shí)間內(nèi)得到的轉(zhuǎn)換。

數(shù)字集成電路的直流測(cè)試就是對(duì)數(shù)字集成電路設(shè)備運(yùn)行期間各參數(shù)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性及穩(wěn)定性進(jìn)行相關(guān)判定，不僅如此，該項(xiàng)測(cè)試技術(shù)中還包括了數(shù)字集成電路的漏電與接觸式測(cè)試，大大提升了直流測(cè)試的穩(wěn)定性。

3.4數(shù)字集成電路的生產(chǎn)測(cè)試

在對(duì)數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)期間進(jìn)行一系列測(cè)試后，也會(huì)對(duì)其生產(chǎn)階段進(jìn)行新一輪的測(cè)試，才可進(jìn)入到后期的大批量生產(chǎn)。同時(shí)由于數(shù)字集成電路運(yùn)行期間必須要具有較高的精準(zhǔn)度，以此企業(yè)往往需要對(duì)電路裝置進(jìn)行全部測(cè)試，故相關(guān)工作人員就應(yīng)在保障該測(cè)試準(zhǔn)確性的前提下，嚴(yán)格控制測(cè)試的成本。

3.5數(shù)字集成電路的故障測(cè)試

數(shù)字集成電路的故障測(cè)試又稱之為老化測(cè)試，其主要目的就是對(duì)數(shù)字集成電路設(shè)備運(yùn)行期間的各個(gè)部件實(shí)際磨損及運(yùn)行異常情況進(jìn)行分析，同時(shí)在生產(chǎn)測(cè)試之后，數(shù)字集成電路會(huì)在個(gè)體及使用年限上存在著一定的差異性，故為有效消除此種差異性對(duì)電路實(shí)際運(yùn)行造成的不良影響，相關(guān)工作人員就可利用高壓電與延長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試方式，將不合理的數(shù)字集成電路設(shè)備剔除。

4 數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的具體應(yīng)用

4.1數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的實(shí)際應(yīng)用

數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用期間，工作人員應(yīng)就不同產(chǎn)品的要求選擇不同的測(cè)試系統(tǒng)。舉例而言，數(shù)字集成電路的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)具有能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)儲(chǔ)存裝置、信號(hào)接受裝置等進(jìn)行系統(tǒng)的測(cè)試，同時(shí)以基礎(chǔ)性計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng)為主，具有運(yùn)行成本低、操作簡(jiǎn)便、測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性高等優(yōu)能。在半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行的過(guò)程中，需要與數(shù)字集成電路裝置相連接，并對(duì)數(shù)字集成電路中的邏輯運(yùn)行功能及進(jìn)行快速與詳盡的測(cè)試，通過(guò)與之相配套硬件裝置，對(duì)數(shù)字集成電路進(jìn)行全面的測(cè)試。

4.2數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的發(fā)展展望

數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)是數(shù)字集成電路裝置廣泛應(yīng)用下的產(chǎn)物，該項(xiàng)測(cè)試技術(shù)所具備的自動(dòng)化與集成化性能，對(duì)互聯(lián)網(wǎng)時(shí)代下原有測(cè)試技術(shù)的改革與完善具有重要的意義，同時(shí)為充分發(fā)揮出數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的經(jīng)濟(jì)及社會(huì)效益，相關(guān)工作人員還需在原有的基礎(chǔ)上對(duì)數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)進(jìn)行不斷更新，切實(shí)提升數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的準(zhǔn)確性及高效性。

5總結(jié)

總而言之，通過(guò)對(duì)數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用進(jìn)行相關(guān)研討，我們不難發(fā)現(xiàn)，社會(huì)主義市場(chǎng)經(jīng)濟(jì)的全球化發(fā)展對(duì)數(shù)字集成電路技術(shù)提出了更高的要求，而為在原有基礎(chǔ)上創(chuàng)新數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)，使其能夠不斷迎合社會(huì)發(fā)展的潮流，現(xiàn)階段的相關(guān)工作人員就應(yīng)認(rèn)清數(shù)字集成電路市場(chǎng)的發(fā)展特征及發(fā)展規(guī)律，積極引進(jìn)先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)與理論知識(shí)，在實(shí)際工作中不斷的吸取經(jīng)驗(yàn)，總結(jié)教訓(xùn)，使數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)更加的完善。

參考文獻(xiàn)

[1]吳建淇. 數(shù)字集成電路的發(fā)展及未來(lái)[J]. 電子技術(shù)與軟件工程， 2010， 16（10）：100-101.

[2]殷樹(shù)娟. 集成電路設(shè)計(jì)專業(yè)的本科實(shí)踐教學(xué)探索[J]. 實(shí)驗(yàn)室研究與探索， 2013， 32（12）：148-151.

[3]葉蔓. 高校實(shí)驗(yàn)教學(xué)存在的問(wèn)題與改革措施[J]. 池州學(xué)院學(xué)報(bào)， 2015， 29（3）：131-132.

[4]曾繁態(tài). EDA工程概論[M ].北京：清華大學(xué)出版社，2003.

[5]潘松，黃繼業(yè). EDA技術(shù)與VHDL[M].北京：清華大學(xué)出版社，2009.

[6]顏昌銀. 嵌入式多電平逆變技術(shù)的研究[D].哈爾濱：哈爾濱工程大學(xué)，2008..

[7]潘志浪. 基于FPGA的DDS信號(hào)源的設(shè)計(jì)[D].武漢：武漢理工大學(xué)，2007..

作者簡(jiǎn)介

賀雙喜，邵陽(yáng)學(xué)院信息工程學(xué)院電子科學(xué)與技術(shù)專業(yè)學(xué)生