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提高靜電放電性能對半導體技術及汽車電子元件的影響

集成電路中最普遍出現(xiàn)的問題之一是靜電放電故障，每年造成約40%的集成電路故障。分析了單一晶體管和復雜電子模塊電路對集成電路的靜電放電影響，由于物理結(jié)構不同，因此還需要考慮下一代晶體管（金屬-氧化物半導體場效應半導體晶體管）的解決方案。

由于新一代硅技術給靜電放電能力、保護電路設計和物理機制等帶來新的挑戰(zhàn)，因此也會影響晶體管、電子電路、生產(chǎn)過程和最終產(chǎn)品的質(zhì)量（如整車質(zhì)量）。研究了靜電放電性能的魯棒性，包括放電控制、放電故障、放電測試、放電保護，以及設計方法技術的魯棒性比較。

電子元件數(shù)量的增加不僅體現(xiàn)在傳統(tǒng)的電子控制單元（ECU），而且體現(xiàn)在遠程信息處理、信息娛樂系統(tǒng)、車載娛樂方案和安全系統(tǒng)等方面。汽車包含大量的感性負荷（發(fā)電機、壓縮機、雨刮電機等）而導致瞬間靜電放電，對電子元件性能和壽命造成影響。

由于使用了更強大的靜電放電晶體管，因此可以消除或減少外部電路保護設施。隨著集成電路技術的發(fā)展，新的拓撲保護研究技術不斷出現(xiàn)。

Leonardo Navarenho de Souza Fino. SAE 2014-36-0304.

編譯：楊昆