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        堿蝕液濃度對純鋁表面二次浸鋅的影響

        2016-09-02 10:04:44陳國宏王若民繆春輝鄭治祥湯文明
        功能材料 2016年5期
        關鍵詞:基材晶界電鍍

        張 健,陳國宏,王若民,繆春輝,鄭治祥,湯文明

        (1. 合肥工業(yè)大學 材料科學與工程學院,合肥 230009;2. 國網(wǎng)安徽省電力公司電力科學研究院,合肥 230601)

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        堿蝕液濃度對純鋁表面二次浸鋅的影響

        張健1,陳國宏2,王若民2,繆春輝2,鄭治祥1,湯文明1

        (1. 合肥工業(yè)大學 材料科學與工程學院,合肥 230009;2. 國網(wǎng)安徽省電力公司電力科學研究院,合肥 230601)

        二次浸Zn是Al材電鍍的前處理工藝。Al材堿蝕不當,將對浸Zn乃至后續(xù)的電鍍過程產(chǎn)生十分不利的影響。研究了在不同濃度NaOH堿蝕液中堿蝕粗化后的純Al基材及隨后二次浸Zn層的表面形貌,并考察了Al材表面電鍍Cu層的質(zhì)量。結果表明,當堿蝕液濃度20g/L,浸漬時間1min時,Al基材表面形成大而深的腐蝕坑,Al基材晶界處腐蝕尤其嚴重,浸Zn層難以將這些腐蝕坑覆蓋。而當堿蝕液濃度5g/L時,在相同的浸漬時間下,Al基材表面粗糙度適中,無大而深的腐蝕坑,浸Zn層覆蓋率高達95%以上,其表面電鍍Cu層的質(zhì)量良好。

        純鋁;堿蝕液;二次浸鋅;腐蝕機理;表面形貌

        0 引 言

        Al材有著良好的電學性能,在其表面電鍍Cu等高導電性金屬,可作為電纜導體以及變電站連接金具,達到“以鋁節(jié)銅”的效果[1-2]。但是由于Al活性高,極易氧化,在空氣中其表面始終覆蓋著1層氧化膜,導致Al材表面電導率低,電鍍性能差,且因氧化膜的隔離作用,鍍層與Al基材的結合力也低[3]。另外,由于Al材的標準電極電位較負,還原性強,易置換鍍液中的金屬離子,形成疏松置換層,與Al基材的結合強度很差,因此,Al材在電鍍前須進行表面預處理。目前,常用的Al材表面預處理工藝有表面噴砂、陽極氧化、化學鍍鎳、熱浸Zn、二次浸Zn等[4]。其中,二次浸Zn工藝因操作簡單、成本低廉、溶液分散能力以及深鍍能力好,應用尤為廣泛[5-6]。

        浸Zn層的質(zhì)量決定Al材表面后續(xù)電鍍層的質(zhì)量,與Al材表面狀態(tài)密切相關[7-9]。迄今,國內(nèi)外已對二次浸Zn工藝進行了大量研究[10-13],該工藝也已實用化。純Al在NaOH溶液中的腐蝕形式為全面腐蝕,工業(yè)上常利用這種特性,采用堿洗的方法除去其表面的氧化膜和各種油污[14]。據(jù)相關文獻[15]報道,工業(yè)上對于NaOH堿蝕液濃度并不明確規(guī)定,只提供一個成分范圍。然而,純Al材的堿蝕(粗化)程度對堿蝕濃度十分敏感,堿蝕濃度過大(成分范圍上限)將會對純Al表面產(chǎn)生過腐蝕,對浸Zn層表面形態(tài)以及質(zhì)量有明顯影響,對后續(xù)的純Al材表面電鍍十分不利。這是前期研究及工業(yè)應用尚未發(fā)現(xiàn)的問題,應給予高度重視,為此,本文以純Al基材為對象,研究其在不同濃度NaOH堿蝕液中堿蝕粗化后的表面形貌及其對隨后的二次浸Zn層形貌與電鍍Cu層質(zhì)量的影響,為制定合理的浸Zn前處理工藝提供依據(jù)。

        1 實 驗

        采用1060純Al為基材,其成分為0.35%Fe,0.25%Si,0.05%Cu,0.03%Mg,0.05%Zn,0.03%Mn,0.03%Ti,0.05%V,Al余量。純Al基材二次浸Zn前的處理工序包括機械研磨拋光、丙酮除油、堿蝕。其中,堿蝕在NaOH水溶液中進行,其目的是進一步清除Al試樣表面的油污與氧化膜,同時在Al基材表面通過“點蝕”作用,形成均勻分布的凹槽、微孔,提高表面粗糙度,以達到化學浸Zn所需要的“投鉚”效果。

        本文采用堿性鋅酸鹽浸Zn溶液,并添加適量的Fe、Ni、Cu等金屬鹽與多種配位劑和添加劑,浸Zn液的配制見文獻[16]。經(jīng)研磨、拋光、除油等處理后的純Al試樣在無水乙醇中超聲清洗10min,然后分別在5,10和20g/L的NaOH堿蝕溶液中浸漬1min,堿蝕過程在(60±1)℃恒溫水浴中進行。堿蝕處理后的試樣在浸Zn液浸漬1min進行一次浸Zn處理,然后用50%(體積分數(shù))HNO3溶液退鋅后,最后進行二次浸Zn處理,二次浸Zn處理時間為30~50s。浸Zn過程在室溫(25±1)℃下進行,兩道工序間隔,試樣均采用去離子水清洗。浸Zn后的試樣采用市售堿性鍍Cu液進行預鍍Cu,再在酸性鍍Cu液中加厚電鍍Cu。

        采用SU8020型場發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM)觀察堿蝕、浸Zn及電鍍Cu后試樣表面形貌,OxfordINCA型X射線電子能譜儀(EDS)進行二次浸Zn層表面微區(qū)成分測試,采用JSCcoverage工具軟件測算二次浸Zn層的覆蓋率。

        2 結果與討論

        2.1純Al堿蝕表面形貌及堿蝕機理

        由圖1可見,純Al基材在20g/LNaOH水溶液中堿蝕處理1min后,試樣表面形成大量的腐蝕“麻點”,且腐蝕程度較深,腐蝕坑數(shù)量多、尺寸及深度大,晶界腐蝕程度更大,形成長條形斷續(xù)分布的一列腐蝕坑(圖1(a)箭頭所示),Al晶界的輪廓清晰可見(圖1(a))。堿蝕濃度降低至5g/L時,相同處理時間下,試樣表面腐蝕程度較淺,腐蝕坑數(shù)量減少、尺寸及深度減小,晶界腐蝕不明顯(圖1(b))。這是因為,當Al基材浸入堿蝕溶液中時,堿蝕液中的OH-吸附在Al基材表面氧化膜上,在氧化膜的缺陷處發(fā)生局部腐蝕,形成腐蝕坑,進而由氧化膜向Al基體中擴展,暴露出的Al基體與OH-發(fā)生反應形成腐蝕“麻點”[17-19]。此外,Al晶界處由于原子排列不規(guī)則,結構較晶粒內(nèi)部疏松,存在著許多空位、位錯和層錯等缺陷,耐蝕性差,腐蝕尤為嚴重。堿蝕濃度降低時,溶液中的OH-濃度減小,與Al基體表面的化學反應程度降低,此時,試樣表面的形成的腐蝕坑數(shù)量及大小適中,晶界處腐蝕不明顯。因此,當堿蝕液濃度改變時,上述Al基材的腐蝕盡管機理并無不同,但腐蝕程度與堿蝕液的濃度正相關。也就是說,通過調(diào)整堿蝕液的濃度,可以控制Al基材表面的腐蝕程度,獲得不同形貌及表面質(zhì)量的純Al基材堿蝕樣品。

        2.2二次浸Zn層表面狀態(tài)

        由圖2(a)-(d)可見,隨著二次浸Zn時間的延長,Al基材表面浸Zn層覆蓋面積增加。當二次浸Zn時間延長至60s時,浸Zn層的覆蓋面積最大,沿Al晶界的Zn晶粒形核、長大最為明顯,但因過度堿蝕而勾絡出的純Al晶界形態(tài)并未消除(圖2(d)中箭頭所示)。

        圖1純Al試樣在不同堿蝕液中浸蝕1min后的表面SEM像

        Fig1PlanarSEMimagesofthepureAlsamplesafteretchingfor1mininthedifferentNaOHsolutions

        圖2經(jīng)NaOH20g/L堿蝕純Al試樣經(jīng)不同時間二次浸Zn后的表面SEM像

        Fig2PlanarSEMimagesofthepureAlsamplesafteretchinginthe20g/LNaOHsolutionandthensecondaryzincdippingfordifferenttimes

        由圖3(a)可見,Zn晶粒首先在純Al試樣表面的堿蝕坑周圍沉積,然后向坑內(nèi)生長,同時,大的堿蝕坑底部也有Zn晶粒沉積與長大(箭頭所示),逐步與堿蝕坑邊沿的Zn晶粒生長前沿會合,形成連續(xù)的浸Zn層。此外,Zn晶粒在Al基材晶界的堿蝕坑內(nèi)形核,并沿晶界方向生長,部分連接,呈半連續(xù)狀分布;而在三叉晶界處,多個Zn晶粒形核長大,呈點狀分布。EDS分析表明,Al基材表面浸Zn層除了Zn成分外,還含有Fe、Ni、Cu成分,微量合金元素的共同沉積可起到降低Zn晶粒尺寸,提高浸Zn層化學穩(wěn)定性的作用[16]。由于這些合金元素的標準電極電位較Zn高,因此浸Zn液中的Fe、Ni、Cu離子優(yōu)先被Al置換、析出,因而在圖3(a)上的Zn層生長前沿部位(B微區(qū))僅測量出Fe、Ni、Cu的成分,而沒有Zn的成分(圖3(c))。相比之下,純Al晶界腐蝕坑處的浸Zn層含Zn量比Fe、Ni、Cu高得多,說明該處Zn形核長大的速率比平整Al基材表面快得多。這是因為,盡管先沉積的浸Zn層含有較高的Fe、Ni、Cu成分,但隨著浸Zn過程的進行,浸Zn層中的Zn含量逐漸增大,居于成分的主導(圖3(d))。在20g/LNaOH水溶液中浸蝕1min,導致Al基材表面,特別是晶界處,產(chǎn)生過腐蝕,形成較大的腐蝕坑。這些大的腐蝕坑即使經(jīng)1min二次浸Zn處理,也難以覆蓋(圖2(d)、圖3)。

        圖3 二次浸Zn 60 s后純Al試樣表面SEM像及微區(qū)EDS譜圖

        當堿蝕液濃度降低至10g/L時,Al基材表面腐蝕狀況與20g/LNaOH溶液堿蝕處理后的近似,晶界腐蝕仍明顯,只是腐蝕坑的大小與深度相對較小。二次浸Zn后浸Zn層的表面形態(tài)也近似。由圖4可見,隨著二次浸Zn時間的延長,浸Zn層的覆蓋面積增加。當二次浸Zn時間延長至50s時,純Al晶界處仍可見Zn晶粒的形核、長大(圖4(c)箭頭所示)。經(jīng)10g/LNaOH溶液堿蝕后的Al基材表面腐蝕坑小而淺,Zn晶粒更加容易在腐蝕坑的底部沉積,逐步與腐蝕坑邊沿的Zn晶粒生長前沿會合,形成連續(xù)的浸Zn層,浸Zn層的覆蓋率較高。

        由圖5可見,當堿蝕液濃度降低至5g/L時,Al基材表面腐蝕程度小,粗糙度適中。浸Zn層的覆蓋面積隨時間的延長逐漸增加,浸Zn50s時的Al基材表面Zn層覆蓋率達到95%以上,而且沒有明顯出現(xiàn)沿Al晶界Zn晶粒優(yōu)先沉積生長的現(xiàn)象(圖5(c))。當Al基材表面腐蝕坑尺寸較小,深度較淺時,腐蝕坑內(nèi)外浸Zn溶液間Zn2+交換能力強,腐蝕坑底部被消耗的Zn2+更容易得到補充,Al基材表面更容易被覆蓋,形成均勻、連續(xù)、致密的浸Zn層。堿蝕液濃度降低時,Al基材表面晶界腐蝕也不明顯,不會出現(xiàn)如圖3(a)所示的晶界浸Zn層結構。

        圖6為經(jīng)不同濃度NaOH溶液堿蝕處理后Al基材二次浸Zn后的表面覆蓋率與二次浸Zn時間的關系曲線。當堿蝕液濃度不變時,隨著浸Zn時間的延長,浸Zn層的覆蓋率持續(xù)增加。在30~40s的浸Zn時間段內(nèi),Zn晶粒沉積的速度較快,覆蓋率增加速度較快。而浸Zn在40~50s時間范圍內(nèi),曲線斜率較平緩,Al基材表面Zn晶粒的沉積速率降低,浸Zn層覆蓋率增速減緩。

        圖4 經(jīng)NaOH 10 g/L堿蝕的純Al試樣經(jīng)不同時間二次浸Zn后的表面SEM像

        Fig4PlanarSEMimagesofthepureAlsamplesafteretchinginthe10g/LNaOHsolutionandthensecondaryzincdippingfordifferenttimes

        圖5 經(jīng)NaOH 5 g/L堿蝕的純Al試樣經(jīng)不同時間二次浸Zn后的表面SEM像

        Fig5PlanarSEMimagesofthepureAlsamplesafteretchinginthe5g/LNaOHsolutionandthensecondaryzincdippingfordifferenttimes

        這是因為,在二次浸Zn后期,Al基材的平整表面及腐蝕坑周圍均已被Zn層覆蓋,因此主要發(fā)生腐蝕坑周圍Zn層向腐蝕坑內(nèi)部生長及腐蝕坑內(nèi)部Zn的形核長大,即腐蝕坑表面沉積Zn的過程。深的腐蝕坑內(nèi)外二次浸Zn溶液間的Zn2+交換能力弱,腐蝕坑內(nèi)浸Zn液中Zn2+濃度低,因而Zn沉積速率降低,Al基材表面覆蓋速率降低。在二次浸Zn時間相同的情況下,經(jīng)高濃度NaOH溶液堿蝕處理的Al基材表面的浸Zn層覆蓋率較低。這是因為在高濃度堿蝕溶液作用下,Al基材表面腐蝕程度大,表面腐蝕坑數(shù)量多、尺寸大且深度也大,不利于Zn層的形核長大,因而Zn層的覆蓋率降低。堿蝕液濃度為5g/L,浸Zn時間為50s時,Al基材表面二次浸Zn層的覆蓋最高,達到95%以上,而且Zn層表面也比較平整,沒有出現(xiàn)沿Al晶界Zn過度生長的現(xiàn)象。

        圖6堿蝕濃度及二次浸Zn時間對純Al試樣表面覆蓋率的影響

        Fig6EffectsofNaOHsolutionconcentrationandsecondaryzincdippingtimeoncoverageofthepureAlsamples

        2.3不同堿蝕條件下Al基材二次浸Zn層表面電鍍Cu層形貌

        為了驗證不同堿蝕Al基材表面二次浸Zn層對隨后的電鍍Cu層質(zhì)量的影響,分別將在20和5g/LNaOH溶液浸漬1min后的純Al基材,再經(jīng)過50s的二次浸Zn處理,然后快速電鍍Cu,鍍Cu層的厚度約100μm,其表面形貌如圖7所示。

        圖7不同堿蝕液浸蝕的Al試樣表面電鍍銅層的SEM像

        Fig7PlanarSEMimagesshowingmorphologiesofelectroplatingCulayersonthepureAlsamplesetchedinthedifferentNaOHsolutions

        20g/LNaOH溶液浸漬1min后的純Al基材表面大而深的腐蝕坑經(jīng)過二次浸Zn處理并不能完全被填充,在浸Zn層表面電鍍厚Cu層仍然不能將這些腐蝕坑覆蓋,特別是在沿Al晶界處留下一列孔洞,鍍層質(zhì)量差(圖7(a))。而采用5g/LNaOH溶液浸漬1min的純Al基材表面腐蝕程度輕,腐蝕坑少,深度較低,二次浸Zn覆蓋率可達到95%以上,在相同的電鍍Cu工藝下,鍍Cu層致密,無孔洞,質(zhì)量良好(圖7(b))。

        3 結 論

        (1)NaOH溶液中純Al試樣的堿蝕遵循麻點腐蝕機理,當溶液濃度從5g/L增加至20g/L時,純Al試樣表面腐蝕坑數(shù)量增多、尺寸及深度更大;尤其在Al晶界處的腐蝕更為嚴重,呈現(xiàn)過腐蝕狀態(tài)。

        (2)堿蝕處理后的純Al試樣表面腐蝕坑狀況對浸Zn層的質(zhì)量有著重要的影響。當堿蝕液濃度為20g/L,過腐蝕形成的腐蝕坑大而深,浸Zn層不能將其覆蓋,導致二次浸Zn覆蓋率低;當堿蝕 濃度為5g/L時,Al基材表面腐蝕程度小,粗糙度適中,二次浸Zn50s后,二次浸Zn覆蓋率達到95%以上,且表面平整。

        (3)Al基材表面電鍍Cu層的質(zhì)量取決于二次浸Zn層的覆蓋率及表面質(zhì)量,根本上取決于Al試樣堿蝕表面狀態(tài)。20g/LNaOH溶液堿蝕的純Al基材表面Cu電鍍層不致密,沿Al晶界處殘留一列孔洞;而采用5g/LNaOH溶液堿蝕的純Al基材表面Cu電鍍層致密,無孔洞,質(zhì)量好。

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        Effectofalkalietchingsolutionconcentrationonsecondaryzincdippingonpurealuminumsurface

        ZHANGJian1,CHENGuohong2,WANGRuoming2,MIAOChunhui2,ZHENGZhixiang1,TANGWenming1

        (1.SchoolofMaterialsScienceandEngineering,HefeiUniversityofTechnology,Hefei230009,China;2.AnhuiInstituteofElectricPowerScience,StateGrid,Hefei230601,China)

        Twicezincdippingisthepretreatmentprocessforelectroplatingthepurealuminumandalloys.IfalkalierosionofAlisnotsuitable,ithasanegativeeffectonthezincking,evensubsequentelectroplatingprocessoftheAlsubstrate.AfteretchingintheNaOHaqueoussolutionswithdifferentconcentrationsandsecondaryzincdipping,surfacemorphologiesofthepureAlsubstratesandtheZnlayerwereobserved.Andthus,thequalityoftheCuplatinglayerontheAlsubstrateisalsoevaluated.TheresultsshowthatbiganddeepcorrosionholesareformedontheAlsubstratesurface,especiallyattheAlboundaries,whenetchinginthe20g/LNaOHaqueoussolutionfor1min.TheseholescannotbefilledbytheZndepositedparticlesinthesecondaryzincdippingprocess.However,astheconcentrationoftheNaOHsolutiondecreasedto5g/L,theholesonAlsubstratesurfacearesmallerandmoreshallowthantheformer,whentheAlsubstratedippinginthesolutionforthesametime.Roughnessoftheetchedsurfaceismodest,whichisbeneficialtothesecondaryzincdippingoftheAlsubstrate.TheZnlayerhasacoverageratiomorethan95%,andtheelectroplatingCulayeronitisveryfine.

        purealuminum;alkalicorrosionsolution;secondaryzincdipping;corrosionmechanism;surfacemorphology

        1001-9731(2016)05-05201-06

        國家電網(wǎng)科技攻關資助項目(2012QTXM0751)

        2015-04-10

        2015-07-10 通訊作者:湯文明,E-mail:wmtang69@126.com

        張健(1991-),男,合肥人,在讀碩士,師承鄭治祥、湯文明教授,從事金屬功能材料研究。

        TQ153.1

        A

        10.3969/j.issn.1001-9731.2016.05.038

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