周 剛，代雪峰，趙以誠

（1.中國電子科技集團(tuán)公司第四十七研究所，沈陽110032；2.東北大學(xué)理學(xué)院物理系，沈陽110004）

新型可容錯FPGA

周 剛1，代雪峰2，趙以誠1

（1.中國電子科技集團(tuán)公司第四十七研究所，沈陽110032；2.東北大學(xué)理學(xué)院物理系，沈陽110004）

SRAM型FPGA具有設(shè)計周期短、開發(fā)成本低和可重配置等特性，在大型電子系統(tǒng)設(shè)計中應(yīng)用廣泛。伴隨SRAM型FPGA在重要領(lǐng)域的深入應(yīng)用，對其可靠性提出了更高要求。在深入剖析FPGA內(nèi)部結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，對SRAM型FPGA的故障類型進(jìn)行了總結(jié)［1］。針對SRAM單元軟錯誤造成的FPGA芯片錯誤，提出了一種嵌入高可靠CPU和配置存儲器，通過重構(gòu)技術(shù)實現(xiàn)在線可修復(fù)的新型可容錯FPGA結(jié)構(gòu)。

現(xiàn)場可編程門陣列；軟錯誤；可重構(gòu)；可容錯；靜態(tài)存儲器；刷新［2］

1 引 言

FPGA從民用到軍用，在汽車、工業(yè)控制、航天航空等多個領(lǐng)域扮演著越來越重要的角色，成為眾多系統(tǒng)的核心元件，同時FPGA的可靠性也受到了大家越來越多的關(guān)注。本文著眼于SRAM型FPGA的結(jié)構(gòu)特點，針對容易發(fā)生的SRAM單元軟錯誤，結(jié)合可重構(gòu)FPGA技術(shù)和錯誤監(jiān)測技術(shù)，提出了一種嵌入高可靠CPU模塊，結(jié)合可編程模塊，錯誤監(jiān)測重構(gòu)接口和配置存儲器模塊的新型可容錯FPGA結(jié)構(gòu)，并對其結(jié)構(gòu)特點進(jìn)行了詳細(xì)闡述。

2 SRAM單元軟錯誤對SRAM型FPGA的影響

SRAM型FPGA電路除了觸發(fā)器、鎖存器等寄存器結(jié)構(gòu)［4］外，還擁有大量的SRAM單元，容易受到外界影響產(chǎn)生軟錯誤，常見的軟錯誤造成的影響主要有以下兩個方面：

（1）作為配置存儲單元的SRAM單元的電平發(fā)生變化，造成邏輯功能錯誤或數(shù)據(jù)傳輸路徑錯誤。SRAM型FPGA通過配置片內(nèi)配置存儲單元實現(xiàn)不同的功能，用戶設(shè)計好的網(wǎng)表轉(zhuǎn)化為位流文件后通過編程下載到所有配置存儲單元從而控制相應(yīng)的開關(guān)實現(xiàn)。配置存儲單元可用于控制形成不同的電路結(jié)構(gòu)，如形成典型的查找表（LUT）［4］、D觸發(fā)器、鎖存器等電路；也可以用來配置可編程IO模塊，通過配置不同的存儲單元值實現(xiàn)不同的輸入/輸出方式和不同IO接口的電平標(biāo)準(zhǔn)等參數(shù)；同時配置存儲單元也可控制FPGA獨有的可編程布線通道上的開關(guān)，通過配置不同的數(shù)據(jù)，控制數(shù)據(jù)通路的通斷。軟錯誤引起的電平變化將會導(dǎo)致配置存儲單元的狀態(tài)發(fā)生實質(zhì)性改變，例如從＇0＇變到＇1＇或從＇1＇變到＇0＇。從而引起所控制電路的邏輯錯誤。如圖1所示，發(fā)生在查找表中的軟錯誤導(dǎo)致邏輯功能紊亂。由LUT形成的函數(shù)發(fā)生器輸出值由O＝A xor B xor C變成了O＝（A xor B xor C）（A＋B＋～C）。

圖1 SEU引起的一個三輸入查找表的邏輯錯誤

（2）SRAM單元構(gòu)成的分布式RAM和內(nèi)置的塊RAM可用于存儲用戶的初始數(shù)據(jù)和運算數(shù)據(jù)。發(fā)生在RAM單元上的軟錯誤可能會改變嵌入式塊RAM中的存儲值，造成RAM中存儲的程序代碼或數(shù)據(jù)出現(xiàn)錯誤從而引起整個系統(tǒng)故障。

從以上兩種情況的例子可以看出，SRAM單元軟錯誤對系統(tǒng)可靠性帶來了非常不利的影響，所以亟需采取措施提高容錯能力。目前人們主要采用可重構(gòu)FPGA技術(shù)通過動態(tài)刷新的方式來提高系統(tǒng)容錯能力。

3 可重構(gòu)FPGA技術(shù)

可重構(gòu)系統(tǒng)的概念早在1960年就已經(jīng)提出來，但由于沒有理想的可重構(gòu)器件等原因，這方面的研究一直沒有很大突破。1990年以來，隨著大規(guī)?？删幊唐骷﨔PGA的出現(xiàn)，研制可重構(gòu)電子系統(tǒng)的硬件條件已基本具備，實現(xiàn)電路重構(gòu)的思想逐漸引起了學(xué)術(shù)界的注意，從而引發(fā)了對可重構(gòu)系統(tǒng)的研究熱潮。自從2000年以來，基于FPGA的重構(gòu)尤其是可重構(gòu)計算在國際上得到了越來越多的關(guān)注和研究［5］。

基于FPGA的可重構(gòu)技術(shù)，就是利用FPGA可以多次重復(fù)編程配置的特點，通過時分復(fù)用的方式利用FPGA內(nèi)部的邏輯資源，使在時間上離散的邏輯電路功能模塊能在同一FPGA中順序?qū)崿F(xiàn)的技術(shù)［6］。

按照實現(xiàn)重構(gòu)規(guī)模和區(qū)域的不同，可重構(gòu)FPGA可以分為全局重構(gòu)和局部重構(gòu)［7］。

按照重構(gòu)的方式，系統(tǒng)重構(gòu)又可以分為靜態(tài)系統(tǒng)重構(gòu)（Static Reconfiguration）和動態(tài)系統(tǒng)重構(gòu)（Dynamic Reconfiguration）。

靜態(tài)系統(tǒng)重構(gòu)是指目標(biāo)系統(tǒng)的邏輯功能靜態(tài)重載，是只能在運行前配置的系統(tǒng)。FPGA功能在外部邏輯的控制下，通過對存儲于存儲器中不同的目標(biāo)系統(tǒng)數(shù)據(jù)重新下載，實現(xiàn)芯片邏輯功能的改變。常規(guī)的SRAM型FPGA，只能實現(xiàn)靜態(tài)系統(tǒng)重構(gòu)。

動態(tài)系統(tǒng)重構(gòu)是指能在運行過程中實時配置的可重構(gòu)系統(tǒng)。動態(tài)系統(tǒng)重構(gòu)的FPGA在外部邏輯控制下，可通過緩存邏輯對芯片邏輯進(jìn)行全局或局部的快速修改，同時控制重新配置的布局布線資源來加速實現(xiàn)系統(tǒng)的動態(tài)重構(gòu)［8］。

4 新型可容錯FPGA芯片結(jié)構(gòu)

在可重構(gòu)FPGA技術(shù)基礎(chǔ)上提出了一種新型可容錯FPGA芯片結(jié)構(gòu)，既可以避免動態(tài)刷新的盲目性，減少軟硬件資源的浪費，還可以更加有效地解決sram型FPGA特定關(guān)鍵區(qū)域的軟錯誤造成的邏輯和系統(tǒng)失效。如圖2所示，本結(jié)構(gòu)有以下一些特點：

該FPGA芯片主要由一個片上嵌入高可靠CPU模塊、可編程模塊、錯誤監(jiān)測重構(gòu)接口和配置存儲器模塊組成。可編程模塊負(fù)責(zé)用戶配置電路功能的實現(xiàn)，基于SRAM的FPGA編程點控制，可動態(tài)整體或局部重構(gòu)；錯誤監(jiān)測重構(gòu)接口模塊負(fù)責(zé)錯誤的實時監(jiān)測，具備配置數(shù)據(jù)回讀功能，并提供數(shù)據(jù)給CPU進(jìn)行運算，在后續(xù)重構(gòu)的過程中負(fù)責(zé)具體實施；嵌入高可靠CPU模塊負(fù)責(zé)對錯誤監(jiān)測重構(gòu)接口報告的信息進(jìn)行處理，數(shù)據(jù)比較，分析，任務(wù)分派等，指揮錯誤監(jiān)測重構(gòu)接口實施局部重構(gòu)動作；配置存儲器用于存儲不同位置的局部配置數(shù)據(jù)。

新型可容錯FPGA芯片能夠?qū)崟r或定時監(jiān)測FPGA內(nèi)部邏輯，偵測到功能發(fā)生錯誤即配置數(shù)據(jù)發(fā)生改變時，即可自動通過實時重構(gòu)的手段修復(fù)錯誤。為實現(xiàn)這一目標(biāo)，采用動態(tài)可重構(gòu)的可編程結(jié)構(gòu)，同時采用監(jiān)測編程存儲點的方法檢測內(nèi)部錯誤。FPGA在配置完成后，在不中斷當(dāng)前邏輯運行的情況下，根據(jù)需要通過專用接口模塊讀回配置存儲器中的內(nèi)容，并將其與配置數(shù)據(jù)存儲器（非易失存儲器）中存儲的標(biāo)準(zhǔn)位流比較，再將讀回的數(shù)據(jù)與原始數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，如果沒有發(fā)現(xiàn)錯誤，就進(jìn)入空閑狀態(tài)，如果發(fā)現(xiàn)錯誤，根據(jù)內(nèi)部指令選擇全局重構(gòu)或局部重構(gòu)，并執(zhí)行包括局部重構(gòu)模塊的尋址，握手信號等動作，修復(fù)錯誤。

新型可容錯FPGA芯片由于采用嵌入高可靠CPU控制的模式，工作不依賴于PC機(jī)或外部控制器等片外資源，能夠保證在線重構(gòu)的實時性和可靠性，降低了用戶使用難度和整個系統(tǒng)的復(fù)雜性。

5 結(jié)束語

本文提出了一種基于動態(tài)可重構(gòu)技術(shù)的新型可容錯FPGA芯片結(jié)構(gòu)，使用內(nèi)嵌的高可靠CPU和配置存儲器可以自主對發(fā)生在FPGA配置邏輯中的軟錯誤進(jìn)行監(jiān)測和修復(fù)。該芯片已在中芯國際0.18微米工藝上流片，封裝后經(jīng)測試驗證達(dá)到預(yù)期設(shè)計目標(biāo)，實現(xiàn)了不依賴外接控制系統(tǒng)即可具有針對軟錯誤的容錯能力的單片F(xiàn)PGA系統(tǒng)。

［1］ F.L.Kastensmidt，L.Carro，R.Reis，F(xiàn)ault－Tolerance Techniques for SRAM－based FPGAs［C］.Vishwani D. Agrawal Springer，Netherlands，PP.183，Sept.2006.

［2］ Yang G.C.，Reliability of semiconductor RAMs with soft－error scrubing techniques［J］.IEEE Proceeding Computers and Digital Techniques，1995，142（5）：337－344.

［3］ 克里茲，高級FPGA設(shè)計結(jié)構(gòu)、實現(xiàn)與優(yōu)化［M］.北京：機(jī)械工業(yè)出版社，2009.

Steve Kilts，ADVANCED FPGA DESIGN［C］.Beijing：Chinamachine press，2009.

［4］ E.Syam Sundar Reddy，Vikram Chandrasekhar，M.Sashikanth V.Cluster－based Detection of SEU－caused Errors in LUTs of SRAM－based FPGAs［J］.ASPDAC，ACM Press，pp：1200－1203.

［5］ Wigley G.B.，Keamey D.A，Research Issues in Operating Systems for Reconfigurable Computing［C］.The International Conference ON Engineering Reconfigurable Systems and Architecture，LasVegas，USA.PP.232－240，July.2002.

［6］ 朱明程，黃強(qiáng)，F(xiàn)PGA動態(tài)可重構(gòu)邏輯設(shè)計初探［C］.半導(dǎo)體技術(shù)，2000，25（4）：18－21.

Zhu Ming－cheng，Huang Qiang，The Initial Study on Dynamically Re－configurable Logic System Based on FPGA［J］.Semiconductor Technology，2000，25（4）：18－21.

［7］ C.Bolchini，A.Miele，M.D.Santambrogio，TMR and Partial Dynamic Reconfiguration tomitigate SEU faults in FPGAs［J］.Proc.of 22th IEEE Int.Symp.on Defect and Fault Tolerance in VLSISystems，pp：87－95，Sept.2007.

［8］ C.Bolchini，D.Quarta，and M.Santambrogio，SEU Mitigation for SRAM－Based FPGAs through Dynamic Partial Reconfiguration［C］.In Proc.ACM/IEEE Great Lake Symposium on VLSI，PP：55－60，Mar.2007.

A Novel Fault－Tolerant FPGA

Zhou Gang1，Dai Xuefeng2，Zhao Yicheng1
（1.The47th Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation，Shenyang 110032，China；2.Physics Department，Collage of Sciences，Northeast University，Shenyang 110004，China）

SRAM－based FPGAs，with the characteristics of short design period，low development cost，etc，are applied extensive to the large electronics system.Accompanywith a FPGA＇s deep application in important field，higher request is brought for its reliability.Based on analysis to FPGA inner part structure，the failure type of SRAM－based FPGAs［1］is concluded.Aiming at FPGA chip failure brought by SRAM cell soft error，a novel fault－tolerant FPGA architecture，embedding a high－reliable CPU and configuration memory，which can perform in－system self－repair through reconfiguration technology.

Field Programmable Gate Array；soft error；Reconfigurable；Fault－tolerant；；SRAM；Scrubbing［2］

10.3969/j.issn.1002－2279.2015.06.005

TN911

A

1002－2279（2015）06－0019－03

周剛（1978－），男，遼寧省法庫縣人，高級工程師，主研方向：集成電路設(shè)計，目前關(guān)注領(lǐng)域為集成電路可靠性設(shè)計、可編程器件。

2015－03－07