周 剛，代雪峰，趙以誠(chéng)

（1.中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十七研究所，沈陽(yáng)110032；2.東北大學(xué)理學(xué)院物理系，沈陽(yáng)110004）

新型可容錯(cuò)FPGA

周 剛1，代雪峰2，趙以誠(chéng)1

（1.中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十七研究所，沈陽(yáng)110032；2.東北大學(xué)理學(xué)院物理系，沈陽(yáng)110004）

SRAM型FPGA具有設(shè)計(jì)周期短、開(kāi)發(fā)成本低和可重配置等特性，在大型電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)中應(yīng)用廣泛。伴隨SRAM型FPGA在重要領(lǐng)域的深入應(yīng)用，對(duì)其可靠性提出了更高要求。在深入剖析FPGA內(nèi)部結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，對(duì)SRAM型FPGA的故障類型進(jìn)行了總結(jié)［1］。針對(duì)SRAM單元軟錯(cuò)誤造成的FPGA芯片錯(cuò)誤，提出了一種嵌入高可靠CPU和配置存儲(chǔ)器，通過(guò)重構(gòu)技術(shù)實(shí)現(xiàn)在線可修復(fù)的新型可容錯(cuò)FPGA結(jié)構(gòu)。

現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列；軟錯(cuò)誤；可重構(gòu)；可容錯(cuò)；靜態(tài)存儲(chǔ)器；刷新［2］

1 引 言

FPGA從民用到軍用，在汽車、工業(yè)控制、航天航空等多個(gè)領(lǐng)域扮演著越來(lái)越重要的角色，成為眾多系統(tǒng)的核心元件，同時(shí)FPGA的可靠性也受到了大家越來(lái)越多的關(guān)注。本文著眼于SRAM型FPGA的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，針對(duì)容易發(fā)生的SRAM單元軟錯(cuò)誤，結(jié)合可重構(gòu)FPGA技術(shù)和錯(cuò)誤監(jiān)測(cè)技術(shù)，提出了一種嵌入高可靠CPU模塊，結(jié)合可編程模塊，錯(cuò)誤監(jiān)測(cè)重構(gòu)接口和配置存儲(chǔ)器模塊的新型可容錯(cuò)FPGA結(jié)構(gòu)，并對(duì)其結(jié)構(gòu)特點(diǎn)進(jìn)行了詳細(xì)闡述。

2 SRAM單元軟錯(cuò)誤對(duì)SRAM型FPGA的影響

SRAM型FPGA電路除了觸發(fā)器、鎖存器等寄存器結(jié)構(gòu)［4］外，還擁有大量的SRAM單元，容易受到外界影響產(chǎn)生軟錯(cuò)誤，常見(jiàn)的軟錯(cuò)誤造成的影響主要有以下兩個(gè)方面：

（1）作為配置存儲(chǔ)單元的SRAM單元的電平發(fā)生變化，造成邏輯功能錯(cuò)誤或數(shù)據(jù)傳輸路徑錯(cuò)誤。SRAM型FPGA通過(guò)配置片內(nèi)配置存儲(chǔ)單元實(shí)現(xiàn)不同的功能，用戶設(shè)計(jì)好的網(wǎng)表轉(zhuǎn)化為位流文件后通過(guò)編程下載到所有配置存儲(chǔ)單元從而控制相應(yīng)的開(kāi)關(guān)實(shí)現(xiàn)。配置存儲(chǔ)單元可用于控制形成不同的電路結(jié)構(gòu)，如形成典型的查找表（LUT）［4］、D觸發(fā)器、鎖存器等電路；也可以用來(lái)配置可編程IO模塊，通過(guò)配置不同的存儲(chǔ)單元值實(shí)現(xiàn)不同的輸入/輸出方式和不同IO接口的電平標(biāo)準(zhǔn)等參數(shù)；同時(shí)配置存儲(chǔ)單元也可控制FPGA獨(dú)有的可編程布線通道上的開(kāi)關(guān)，通過(guò)配置不同的數(shù)據(jù)，控制數(shù)據(jù)通路的通斷。軟錯(cuò)誤引起的電平變化將會(huì)導(dǎo)致配置存儲(chǔ)單元的狀態(tài)發(fā)生實(shí)質(zhì)性改變，例如從＇0＇變到＇1＇或從＇1＇變到＇0＇。從而引起所控制電路的邏輯錯(cuò)誤。如圖1所示，發(fā)生在查找表中的軟錯(cuò)誤導(dǎo)致邏輯功能紊亂。由LUT形成的函數(shù)發(fā)生器輸出值由O＝A xor B xor C變成了O＝（A xor B xor C）（A＋B＋～C）。

圖1 SEU引起的一個(gè)三輸入查找表的邏輯錯(cuò)誤

（2）SRAM單元構(gòu)成的分布式RAM和內(nèi)置的塊RAM可用于存儲(chǔ)用戶的初始數(shù)據(jù)和運(yùn)算數(shù)據(jù)。發(fā)生在RAM單元上的軟錯(cuò)誤可能會(huì)改變嵌入式塊RAM中的存儲(chǔ)值，造成RAM中存儲(chǔ)的程序代碼或數(shù)據(jù)出現(xiàn)錯(cuò)誤從而引起整個(gè)系統(tǒng)故障。

從以上兩種情況的例子可以看出，SRAM單元軟錯(cuò)誤對(duì)系統(tǒng)可靠性帶來(lái)了非常不利的影響，所以亟需采取措施提高容錯(cuò)能力。目前人們主要采用可重構(gòu)FPGA技術(shù)通過(guò)動(dòng)態(tài)刷新的方式來(lái)提高系統(tǒng)容錯(cuò)能力。

3 可重構(gòu)FPGA技術(shù)

可重構(gòu)系統(tǒng)的概念早在1960年就已經(jīng)提出來(lái)，但由于沒(méi)有理想的可重構(gòu)器件等原因，這方面的研究一直沒(méi)有很大突破。1990年以來(lái)，隨著大規(guī)?？删幊唐骷﨔PGA的出現(xiàn)，研制可重構(gòu)電子系統(tǒng)的硬件條件已基本具備，實(shí)現(xiàn)電路重構(gòu)的思想逐漸引起了學(xué)術(shù)界的注意，從而引發(fā)了對(duì)可重構(gòu)系統(tǒng)的研究熱潮。自從2000年以來(lái)，基于FPGA的重構(gòu)尤其是可重構(gòu)計(jì)算在國(guó)際上得到了越來(lái)越多的關(guān)注和研究［5］。

基于FPGA的可重構(gòu)技術(shù)，就是利用FPGA可以多次重復(fù)編程配置的特點(diǎn)，通過(guò)時(shí)分復(fù)用的方式利用FPGA內(nèi)部的邏輯資源，使在時(shí)間上離散的邏輯電路功能模塊能在同一FPGA中順序?qū)崿F(xiàn)的技術(shù)［6］。

按照實(shí)現(xiàn)重構(gòu)規(guī)模和區(qū)域的不同，可重構(gòu)FPGA可以分為全局重構(gòu)和局部重構(gòu)［7］。

按照重構(gòu)的方式，系統(tǒng)重構(gòu)又可以分為靜態(tài)系統(tǒng)重構(gòu)（Static Reconfiguration）和動(dòng)態(tài)系統(tǒng)重構(gòu)（Dynamic Reconfiguration）。

靜態(tài)系統(tǒng)重構(gòu)是指目標(biāo)系統(tǒng)的邏輯功能靜態(tài)重載，是只能在運(yùn)行前配置的系統(tǒng)。FPGA功能在外部邏輯的控制下，通過(guò)對(duì)存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器中不同的目標(biāo)系統(tǒng)數(shù)據(jù)重新下載，實(shí)現(xiàn)芯片邏輯功能的改變。常規(guī)的SRAM型FPGA，只能實(shí)現(xiàn)靜態(tài)系統(tǒng)重構(gòu)。

動(dòng)態(tài)系統(tǒng)重構(gòu)是指能在運(yùn)行過(guò)程中實(shí)時(shí)配置的可重構(gòu)系統(tǒng)。動(dòng)態(tài)系統(tǒng)重構(gòu)的FPGA在外部邏輯控制下，可通過(guò)緩存邏輯對(duì)芯片邏輯進(jìn)行全局或局部的快速修改，同時(shí)控制重新配置的布局布線資源來(lái)加速實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)重構(gòu)［8］。

4 新型可容錯(cuò)FPGA芯片結(jié)構(gòu)

在可重構(gòu)FPGA技術(shù)基礎(chǔ)上提出了一種新型可容錯(cuò)FPGA芯片結(jié)構(gòu)，既可以避免動(dòng)態(tài)刷新的盲目性，減少軟硬件資源的浪費(fèi)，還可以更加有效地解決sram型FPGA特定關(guān)鍵區(qū)域的軟錯(cuò)誤造成的邏輯和系統(tǒng)失效。如圖2所示，本結(jié)構(gòu)有以下一些特點(diǎn)：

該FPGA芯片主要由一個(gè)片上嵌入高可靠CPU模塊、可編程模塊、錯(cuò)誤監(jiān)測(cè)重構(gòu)接口和配置存儲(chǔ)器模塊組成?？删幊棠K負(fù)責(zé)用戶配置電路功能的實(shí)現(xiàn)，基于SRAM的FPGA編程點(diǎn)控制，可動(dòng)態(tài)整體或局部重構(gòu)；錯(cuò)誤監(jiān)測(cè)重構(gòu)接口模塊負(fù)責(zé)錯(cuò)誤的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，具備配置數(shù)據(jù)回讀功能，并提供數(shù)據(jù)給CPU進(jìn)行運(yùn)算，在后續(xù)重構(gòu)的過(guò)程中負(fù)責(zé)具體實(shí)施；嵌入高可靠CPU模塊負(fù)責(zé)對(duì)錯(cuò)誤監(jiān)測(cè)重構(gòu)接口報(bào)告的信息進(jìn)行處理，數(shù)據(jù)比較，分析，任務(wù)分派等，指揮錯(cuò)誤監(jiān)測(cè)重構(gòu)接口實(shí)施局部重構(gòu)動(dòng)作；配置存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)不同位置的局部配置數(shù)據(jù)。

新型可容錯(cuò)FPGA芯片能夠?qū)崟r(shí)或定時(shí)監(jiān)測(cè)FPGA內(nèi)部邏輯，偵測(cè)到功能發(fā)生錯(cuò)誤即配置數(shù)據(jù)發(fā)生改變時(shí)，即可自動(dòng)通過(guò)實(shí)時(shí)重構(gòu)的手段修復(fù)錯(cuò)誤。為實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)，采用動(dòng)態(tài)可重構(gòu)的可編程結(jié)構(gòu)，同時(shí)采用監(jiān)測(cè)編程存儲(chǔ)點(diǎn)的方法檢測(cè)內(nèi)部錯(cuò)誤。FPGA在配置完成后，在不中斷當(dāng)前邏輯運(yùn)行的情況下，根據(jù)需要通過(guò)專用接口模塊讀回配置存儲(chǔ)器中的內(nèi)容，并將其與配置數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器（非易失存儲(chǔ)器）中存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)位流比較，再將讀回的數(shù)據(jù)與原始數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，如果沒(méi)有發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤，就進(jìn)入空閑狀態(tài)，如果發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤，根據(jù)內(nèi)部指令選擇全局重構(gòu)或局部重構(gòu)，并執(zhí)行包括局部重構(gòu)模塊的尋址，握手信號(hào)等動(dòng)作，修復(fù)錯(cuò)誤。

新型可容錯(cuò)FPGA芯片由于采用嵌入高可靠CPU控制的模式，工作不依賴于PC機(jī)或外部控制器等片外資源，能夠保證在線重構(gòu)的實(shí)時(shí)性和可靠性，降低了用戶使用難度和整個(gè)系統(tǒng)的復(fù)雜性。

5 結(jié)束語(yǔ)

本文提出了一種基于動(dòng)態(tài)可重構(gòu)技術(shù)的新型可容錯(cuò)FPGA芯片結(jié)構(gòu)，使用內(nèi)嵌的高可靠CPU和配置存儲(chǔ)器可以自主對(duì)發(fā)生在FPGA配置邏輯中的軟錯(cuò)誤進(jìn)行監(jiān)測(cè)和修復(fù)。該芯片已在中芯國(guó)際0.18微米工藝上流片，封裝后經(jīng)測(cè)試驗(yàn)證達(dá)到預(yù)期設(shè)計(jì)目標(biāo)，實(shí)現(xiàn)了不依賴外接控制系統(tǒng)即可具有針對(duì)軟錯(cuò)誤的容錯(cuò)能力的單片F(xiàn)PGA系統(tǒng)。

［1］ F.L.Kastensmidt，L.Carro，R.Reis，F(xiàn)ault－Tolerance Techniques for SRAM－based FPGAs［C］.Vishwani D. Agrawal Springer，Netherlands，PP.183，Sept.2006.

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［3］ 克里茲，高級(jí)FPGA設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)、實(shí)現(xiàn)與優(yōu)化［M］.北京：機(jī)械工業(yè)出版社，2009.

Steve Kilts，ADVANCED FPGA DESIGN［C］.Beijing：Chinamachine press，2009.

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［8］ C.Bolchini，D.Quarta，and M.Santambrogio，SEU Mitigation for SRAM－Based FPGAs through Dynamic Partial Reconfiguration［C］.In Proc.ACM/IEEE Great Lake Symposium on VLSI，PP：55－60，Mar.2007.

A Novel Fault－Tolerant FPGA

Zhou Gang1，Dai Xuefeng2，Zhao Yicheng1
（1.The47th Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation，Shenyang 110032，China；2.Physics Department，Collage of Sciences，Northeast University，Shenyang 110004，China）

SRAM－based FPGAs，with the characteristics of short design period，low development cost，etc，are applied extensive to the large electronics system.Accompanywith a FPGA＇s deep application in important field，higher request is brought for its reliability.Based on analysis to FPGA inner part structure，the failure type of SRAM－based FPGAs［1］is concluded.Aiming at FPGA chip failure brought by SRAM cell soft error，a novel fault－tolerant FPGA architecture，embedding a high－reliable CPU and configuration memory，which can perform in－system self－repair through reconfiguration technology.

Field Programmable Gate Array；soft error；Reconfigurable；Fault－tolerant；；SRAM；Scrubbing［2］

10.3969/j.issn.1002－2279.2015.06.005

TN911

A

1002－2279（2015）06－0019－03

周剛（1978－），男，遼寧省法庫(kù)縣人，高級(jí)工程師，主研方向：集成電路設(shè)計(jì)，目前關(guān)注領(lǐng)域?yàn)榧呻娐房煽啃栽O(shè)計(jì)、可編程器件。

2015－03－07