劉文娟, 趙毅強(qiáng), 李雪民, 趙國芬
(天津大學(xué) 電子信息工程學(xué)院,天津 300072)
近年來,隨著半導(dǎo)體技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)和網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的日趨成熟,移動(dòng)通信、互聯(lián)網(wǎng)以及各類便攜式設(shè)備無不滲透到社會(huì)的各個(gè)領(lǐng)域,由此引發(fā)的信息安全問題開始受到研究者的重視。在國防和軍事領(lǐng)域,信息疆域安全更成為了國家安全防御體系的新的著力點(diǎn)[1]。信息安全的核心在于保護(hù)信息系統(tǒng)和信息本身免受各類干擾、監(jiān)聽和破壞。針對半導(dǎo)體芯片的攻擊手段主要包括侵入式攻擊和非侵入式攻擊,而侵入式攻擊具有價(jià)格低廉、通用性強(qiáng)、攻擊效果較好的優(yōu)點(diǎn),成為當(dāng)今攻擊者非常熱衷的手段[2]。因此,在設(shè)計(jì)初期需要將抗攻擊防護(hù)機(jī)制考慮其中,設(shè)計(jì)具備監(jiān)測電路的安全芯片。
然而,侵入式攻擊往往發(fā)生在芯片掉電或者未使用的情況下,入侵者直接對芯片進(jìn)行開蓋、解剖,讀取重要信息甚至電路結(jié)構(gòu)。因此,需要在芯片封裝體內(nèi)嵌入微型電池進(jìn)行實(shí)時(shí)供電,長期監(jiān)測芯片狀態(tài)。眾所周知,電池只能在一定的溫度范圍內(nèi)正常工作,溫度過高或者過低都會(huì)影響電池輸出電壓從而導(dǎo)致芯片工作異常,引發(fā)新的安全問題。
本文設(shè)計(jì)的溫度傳感器主要應(yīng)用于安全芯片電池供電系統(tǒng)的異常溫度監(jiān)測,它能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測芯片和電池所處環(huán)境的溫度值,當(dāng)溫度超過一定閾值時(shí),安全芯片能夠及時(shí)感知并輸出報(bào)警信號。
溫度監(jiān)測傳感器的結(jié)構(gòu)圖如圖1所示,主要包括PN結(jié)溫度傳感器[3]和比較器。由于系統(tǒng)內(nèi)嵌電池選用高溫鋰亞硫酰氯電池[4,5],其工作溫度范圍為-55~125 ℃,因此,溫度監(jiān)測系統(tǒng)的溫度閾值分別為-50,120 ℃。經(jīng)過對PN結(jié)溫度傳感器的仿真和測試,確定高溫和低溫基準(zhǔn)電壓閾值。當(dāng)環(huán)境溫度低于-50 ℃或者高于120 ℃時(shí),比較器輸出相應(yīng)的預(yù)警信號,從而發(fā)現(xiàn)異常并做出響應(yīng)。
圖1 溫度監(jiān)測傳感器結(jié)構(gòu)圖
隨著標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝的快速發(fā)展,在N阱工藝中能夠兼容CMOS晶體管、雙極型晶體管以及PN結(jié),從而利用半導(dǎo)體的溫度、光電、壓電等效應(yīng),制成種類繁多的半導(dǎo)體傳感器。已知PN結(jié)的正向偏置電壓與溫度相關(guān),由PN結(jié)理想模型的電流電壓方程式即肖克萊方程式推導(dǎo)正向偏置電壓的溫度系數(shù)[6]。
已知PN結(jié)的電流電壓方程為
(1)
(2)
由于PN結(jié)結(jié)面積一定,所以,式(2)可改寫為
(3)
(4)
其中,B為一個(gè)比例系數(shù),因?yàn)镋g=Eg(0)+βT,設(shè)Eg(0)=qVg0,Eg(0)為絕對零度時(shí)的禁帶寬度,Vg0為絕對零度時(shí)導(dǎo)帶底和價(jià)帶頂?shù)碾妱莶頪6],由式(3)可推出
(5)
兩邊取對數(shù),整理后得
(6)
其中,Vg0,k0,q,m與溫度無關(guān),當(dāng)PN結(jié)電流I保持不變時(shí),在一定溫度范圍內(nèi),可以認(rèn)為PN結(jié)正向偏置電壓VD與溫度T呈近似線性關(guān)系,如圖2所示為正向偏置電流不同時(shí),硅PN結(jié)(10 μm×10 μm)偏置電壓與溫度的關(guān)系。
圖2 硅PN結(jié)(10 μm×10 μm)正向偏置電壓與溫度的關(guān)系曲線
由圖可知,正向偏置電壓隨溫度升高而減小,當(dāng)電流減小時(shí),溫度系數(shù)的絕對值增大。例如:偏置電流I=2 μA時(shí),溫度系數(shù)為-2 mV/℃。PN結(jié)溫度傳感器正是利用其正向偏置電壓與溫度的相關(guān)性設(shè)計(jì)制作的。為了降低系統(tǒng)功耗,延長電池的工作壽命,電路需要選擇較小的偏置電流。
PN結(jié)正向偏置電壓與溫度的近似線性關(guān)系能夠滿足安全芯片的溫度監(jiān)測范圍(-50~120 ℃)。為保證電路的輸出擺幅與傳感器的靈敏度,采用PN結(jié)串聯(lián)的方式監(jiān)測溫度,電路結(jié)構(gòu)如圖3所示。
圖3 PN結(jié)溫度傳感器電路圖
考慮到PN結(jié)的溫度系數(shù)與電流相關(guān),因此,溫度傳感器通過電流基準(zhǔn)進(jìn)行偏置。采用電流鏡M1與M2,M3與M4,M5與M6,M7,M8鏡像電流,M5,M6,M8的寬長比相等,M7的寬長比是M5的2倍,由此可知電流關(guān)系
(7)
正向偏置的PN結(jié)電流與PMOS管M6的電流相等,由圖3可知, PMOS管M7的電流分別流過M9和M10,得
IM7=IM9+IM10.
(8)
又由式(7)、式(8),可得
(9)
基于Global Foundry(GF)0.18 μm 標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝庫[8~10],在Cadence軟件環(huán)境下,對設(shè)計(jì)電路進(jìn)行溫度仿真,在-50~120 ℃溫度范圍內(nèi),芯片的仿真結(jié)果顯示:PN結(jié)溫度傳感器的溫度系數(shù)為-4.56 mV/℃,當(dāng)電源電壓為3.3 V時(shí),功耗為10.04 μW。根據(jù)以上分析,采用GF 0.18 μm標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝設(shè)計(jì)上述電路并流片測試,芯片版圖照片如圖4所示。
圖4 溫度監(jiān)測傳感器芯片照片
溫度傳感器芯片通過GZ—ESPEC高低溫試驗(yàn),結(jié)果如圖5所示。
圖5 輸出電壓隨溫度變化的測試曲線
測試結(jié)果表明:在溫度范圍-50~140 ℃內(nèi),溫度傳感器的實(shí)測溫度系數(shù)為-4.47 mV/℃。在整個(gè)溫度范圍內(nèi),溫度傳感器線性度良好,溫度系數(shù)基本恒定,經(jīng)過多片多次測試,不同芯片的溫度曲線重復(fù)性良好,能夠?qū)崿F(xiàn)溫度監(jiān)測的功能。根據(jù)溫度測試試驗(yàn),確定高低溫溫度閾值電壓,經(jīng)過仿真得如圖6所示監(jiān)測信號。
圖6 監(jiān)測信號隨溫度變化的曲線
考慮到該溫度監(jiān)測傳感器主要應(yīng)用于電池供電系統(tǒng),要求芯片集成度高、可靠性強(qiáng)、功耗低等特性,因此,溫度監(jiān)測傳感器利用PN結(jié)正向偏置電壓的溫度特性設(shè)計(jì)PN結(jié)溫度傳感器,實(shí)現(xiàn)高線性度高穩(wěn)定性的溫度監(jiān)測輸出。經(jīng)過對芯片多次測試并仿真,在寬溫度范圍-50~140 ℃內(nèi),溫度系數(shù)為-4.47 mV/℃,當(dāng)電源電壓為3.3 V時(shí),功耗為10.04 μW,完全滿足安全芯片溫度監(jiān)測系統(tǒng)的工作要求。
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