陳 森,郭敏勇,張師平,吳 平
(北京科技大學(xué),北京 100083)
楊氏雙縫干涉實驗本質(zhì)上是一個理想實驗,它有一個理想化條件,要求縫無限細,細到兩縫只能發(fā)出一個子波,然后在屏上形成干涉,通常利用光的波動性推導(dǎo)楊氏雙縫干涉條件時采用這一理想化條件,但在現(xiàn)有文獻中[1-3],利用波函數(shù)方法推導(dǎo)的過程中均放棄了這個條件,都包含了光的衍射項。為了將光的波動性與量子性在楊氏雙縫干涉實驗中有較好的對應(yīng),本文提出一種在該理想條件下利用波函數(shù)對楊氏雙縫干涉實驗的簡便推導(dǎo)方法。
首先建立在理想條件下光子通過單縫的波函數(shù),見圖1。設(shè)具有一定能量E及動量→p的一束光子,沿y軸正方向射向單縫。
圖1 單縫示意圖
由于單縫無限細,所以光子在y=0處的初始狀態(tài)可用狄拉克函數(shù)
來描述。
設(shè)φ(→r,t)為光子從單縫至觀察屏空間的波函數(shù),在此空間光子為自由粒子,即可用自由粒子的波函數(shù)來描述[4-5]。
光子經(jīng)過單縫至屏空間后,在屏上x處出現(xiàn)光子的波函數(shù)為 φ(x,t),則:+∞
由(1)、(2)、(3)式得:
圖2給出了楊氏雙縫干涉實驗的示意圖。
圖2 楊氏雙縫干涉示意圖
由(4)式可分別得到光子通過S1和S2在屏上P處出現(xiàn)的波函數(shù)為:
光子經(jīng)雙縫后在P處的波函數(shù)為:
則,光子出現(xiàn)在P處的概率為:
考慮到d<<D,可得到:
由(8)、(9)式可得:
時,光子出現(xiàn)在P處的概率最大??紤]到波長與動量的關(guān)系:
由(11)、(12)式可以得到:
由于d<<D,則:
在充分考慮縫無限細的條件下,利用波函數(shù)對楊氏雙縫干涉條件進行了推導(dǎo),與利用光的波動性推導(dǎo)的結(jié)果一致,光的量子性與波動性形成了很好的對應(yīng)。由于沒有放棄理想的條件,過程和結(jié)果上都更加強調(diào)了光的干涉性,與原有的推導(dǎo)方法相比物理圖像更加清晰,更突出了楊氏雙縫干涉的特點。
在一般量子力學(xué)教材中,往往利用電子衍射引入波粒二象性。如果采用上述例子,由于理論基礎(chǔ)簡明,推導(dǎo)過程簡潔,可以幫助學(xué)生建立一個直觀的物理圖像,通過對照,可以更容易地理解物質(zhì)的波粒二象性以及波函數(shù)與統(tǒng)計解釋的概念。
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