臧嗣鑫,李郝林
ZANG Si-xin, LI Hao-lin
(上海理工大學(xué) 機械工程學(xué)院,上海 200093)
隨著現(xiàn)代通訊業(yè)的迅速發(fā)展,大型拋物面天線已被廣泛應(yīng)用于通訊中,特別是軍事和航天事業(yè)中。工程中,天線反射面在制造和安裝時往往不能與原設(shè)計拋物面完全吻合,并且在各種外部因素如自重等作用下也會發(fā)生變形,導(dǎo)致天線表面精度大大降低。然而,天線電性能指標在很大程度上依賴于反射面表面精度,所以隨著天線工作環(huán)境越來越復(fù)雜,工作頻段愈來愈高,準確分析其反射面的表面精度就顯得非常重要。但是在眾多的科技文獻中,大部分都是關(guān)注于天線設(shè)計與其計算理論,但較少有人關(guān)注于拋物面天線檢測和輪廓度評價的研究[1,2]。
在實際中,拋物面天線的CAD模型是已知的,本文的重要工作就是在已知CAD模型的前提下,利用測得的數(shù)據(jù)準確評價拋物面天線的輪廓度。在對拋物面天線反射面進行測量時,由于零件本身形狀較大等因素的影響,使得測量坐標系與設(shè)計坐標系之間會產(chǎn)生一定的偏差,這種偏差將會對自由曲面的輪廓度的評價產(chǎn)生不利的影響,因此需要設(shè)計一種測量和數(shù)據(jù)處理方法來適應(yīng)實際生產(chǎn)中對自由曲面的高精度測量要求。面輪廓度誤差評定通常按照最小區(qū)域原則進行,但由于最小二乘法具有計算簡單、易于實現(xiàn)的優(yōu)點,而且精度也能滿足要求,所以本文提出一種基于最小二乘法[3]和遺傳算法的大型拋物面天線輪廓度誤差評定方法。
在面輪廓度評定中有兩類理論輪廓的表達式,即以標準曲面方程表達或給出理論輪廓的有限個節(jié)點坐標值。本文研究的理論輪廓是以標準曲面方程給出的。被測輪廓是用三坐標測得的測頭中心軌跡的坐標值Ei(xi, yi, zi),i=1,2,…,N表示,測頭與被測輪廓接觸點的坐標值為Qi(xi, yi, zi),i=1,2,…,N,令測頭半徑為R,那如何由測得的Qi(xi, yi, zi)評價輪廓度是本文的重要問題,具體的解決辦法將在2.4小節(jié)得到體現(xiàn)[4]。
對曲面面輪廓度誤差評價最關(guān)鍵的就是獲取點位信息的正確性、準確性。同時在采用三坐標測量機(CCM)觸發(fā)式測頭進行測量時,一般按照接觸測量的原則,這樣易于進行測頭半徑補償,而且能有效的防治測量中干涉現(xiàn)象的產(chǎn)生。在測量中,將工件穩(wěn)固的放在工作臺上,目視使其對稱軸平行于機器的Z軸(一般可達3°左右),沿著Z軸的方向依次在垂直于Z軸的平面與拋物面的截線上測數(shù)據(jù),截面面積越大,測量時測的數(shù)據(jù)點數(shù)要求越多。
從輪廓度定義知,用理論輪廓到被測輪廓點的距離來評價面輪廓度誤差。在試驗中,已知實際被測點(即測得的數(shù)據(jù))和理論輪廓的標準方程,通過計算,就可以得到被測點到理論輪廓的法向距離。
大型拋物面天線反射面輪廓度誤差的評價的核心是移動、旋轉(zhuǎn)測量點群使其與理論輪廓有很好的吻合。本文采用最小二乘法構(gòu)造目標函數(shù)來評價旋轉(zhuǎn)后被測曲面與理論曲面的吻合程度,找到最佳的移動和旋轉(zhuǎn)參數(shù),進一步求得輪廓度誤差值。
在拋物面天線安裝或檢測中,測量系統(tǒng)給出的離散點三維坐標一般是在測量坐標系下。由于測量點的三位坐標系是在測量坐標系下,因此列方程必須進行坐標變換,將被測曲面的點云移動到與理論曲面極大吻合的地方,需要解決兩個問題,一是平移矩陣,二是旋轉(zhuǎn)矩陣[5]。
則經(jīng)過旋轉(zhuǎn)后的坐標為:
因為在Z方向的旋轉(zhuǎn)不影響被測點云與理論輪廓的吻合程度,需要不計算Z方向的旋轉(zhuǎn)矩陣。所以本文的目的就是通過合適的手段來優(yōu)化Tx, Ty, Tz, Rx, Ry五個參數(shù),選擇合適目標函數(shù),達到最大的吻合程度。
采用最小二乘法對離散點進行平移和旋轉(zhuǎn)達到一種最適合的吻合程度,因為本文中需要優(yōu)化的參數(shù)有5個,遺傳算法能有效的解決多變量優(yōu)化問題,但是需要一個合適的目標函數(shù)。
通常使用的目標函數(shù)有4個:以軸向偏差最小量為目標函數(shù)、以徑向偏差最小量為目標函數(shù)、以法向偏差最小量為目標函數(shù)和以焦距最小量為目標函數(shù)。本文中在測量時使用的就是觸發(fā)式測頭進行測量,測的是法向的數(shù)據(jù),所以選擇以法向偏差測量最小量為目標函數(shù),這樣利于數(shù)據(jù)處理和半徑補償[6]。
本文以理論輪廓的標準曲面方程建立坐標系,對測得點的坐標值向標準曲面方程坐標系進行適當?shù)钠D(zhuǎn),利用數(shù)學(xué)知識求得偏轉(zhuǎn)后的點到理論曲面的方向距離εi,再以法向偏差最小為目標函數(shù),利用遺傳算法優(yōu)化5個未知參數(shù),達到最佳的吻合程度。本文中利用RMS均方根值δn最小為目標函數(shù)[2]:
利用遺傳算法,迭代結(jié)束后得到的RMS均方根值δn就作為評價拋物面曲面輪廓度的值。
利用遺傳算法優(yōu)化Tx, Ty, Tz, Rx, Ry5個參數(shù),由于參數(shù)較多,常常會導(dǎo)致不能收斂或者收斂速度很慢,所以需要選擇合適方法來減少優(yōu)化參數(shù)的數(shù)量。
在測量時,選取Z軸較高的位置,選取兩個間隔較大的交線(Z為某一數(shù)值時的XY平面與拋物面的交線),在測量這個交線的數(shù)據(jù)時,需要均勻的測量足夠多的點,保證測量出來的坐標值能精確的反應(yīng)這個交截面的型心。通過計算出來的兩個型心的連線計算出與標準坐標系的夾角作為,這樣就可以簡少優(yōu)化的參數(shù)。
從2.2小節(jié)中的內(nèi)容可以知道,本文以RMS均方根值δn最小為目標函數(shù),且就以RMS均方根值δn作為評價拋物面曲面輪廓度的具體數(shù)值。分析圖1可以知道,測頭的圓心與被測點的連線就是被測點的表面法矢,他們之間的距離就是一個測頭半徑。實際試驗采集到的數(shù)據(jù)是測頭中心的坐標,經(jīng)過2.3節(jié)獲得的偏轉(zhuǎn)參數(shù)偏轉(zhuǎn)之后,就能消除被測輪廓的Z軸與實際輪廓的Z軸不平行,只需要通過遺傳算法優(yōu)化得到X、Y、Z方向的平移參數(shù),就可以使測頭中心軌跡輪廓、被測點輪廓和實際輪廓保持兩兩間距相等的關(guān)系[7]。
在計算目標函數(shù)時,本文采用的是計算法向距離。由于已經(jīng)消除X、Y方向偏轉(zhuǎn)參數(shù)的影響,在計算目標函數(shù)時,假設(shè)偏轉(zhuǎn)和偏移的點在拋物面曲面內(nèi)部的為正,外部的為負值,然后在這個數(shù)值的基礎(chǔ)上減去一個測頭半徑值,以這個數(shù)值來計算均方根值進而優(yōu)化平移參數(shù)和評價拋物面輪廓度。這樣就可以有效的消除測頭半徑的影響,達到測頭半徑補償?shù)男Ч?/p>
圖1 測頭半徑補償
為了驗證算法的正確性,仿真時以x2+y2=z為標準拋物面方程,任取曲面上的20個點,先進行平移和旋轉(zhuǎn),再在這些點的X,Y,Z某一個坐標值上隨機加一個微小變動值,從而得到另外一組數(shù)據(jù),通過本文提出的方法來驗證計算的結(jié)果是否能達到很好的精度。雖然本例中使用的是很小的一個拋物面,但是只要能在小拋物面上達到良好的效果,可以驗證方法的正確性,就能說明此算法能很好的用到大型拋物面曲面輪廓度的評價上。
試驗中選取20個點的坐標作為分析對象,測頭的半徑補償暫不作考慮,測得的數(shù)據(jù)如表1所示。
通過matlab編寫運算程序,計算得到的輪廓度誤差結(jié)果是0.03,精度已經(jīng)基本符合要求,能很好的實現(xiàn)評價輪廓度誤差的目的。
本文采用遺傳算法和最小二乘法相結(jié)合的方法對大型天線拋物面反射面的輪廓度誤差進行評價,以測點到標準曲面的均方根值作為具體評價標準,可以消除測量基準與標準拋物面曲面基準不一致導(dǎo)致的誤差,得到很好的評價結(jié)果。由于優(yōu)化的參數(shù)較多,計算時間較長而且精度也有可能受到影響,本文中采用一定的處理預(yù)先求到兩個參數(shù),減少優(yōu)化的變量數(shù)目,大大的節(jié)約計算時間,也能提高計算結(jié)果的精度。最后仿真的結(jié)果驗證了算法的準確性,提高了可行性。
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