史進(jìn)忠,劉桂馨,李蘭芬
1.保定市第一醫(yī)院 CT室,河北 保定 071000;2.保定市法醫(yī)醫(yī)院檔案室,河北 保定 071000
東芝Asteion/VF螺旋CT環(huán)形偽影故障一例
史進(jìn)忠1,劉桂馨2,李蘭芬1
1.保定市第一醫(yī)院 CT室,河北 保定 071000;2.保定市法醫(yī)醫(yī)院檔案室,河北 保定 071000
本文介紹了東芝Asteion/VF螺旋CT環(huán)形偽影故障的分析與處理過程,總結(jié)了造成此故障的原因。
螺旋CT;環(huán)形偽影;數(shù)據(jù)傳輸;故障維修
掃描時,圖像時好時壞,間斷地呈現(xiàn)環(huán)形偽影,并顯示Error in OPCONT2 (DAS Clock count)錯誤信息;重新復(fù)位后,掃描水模,有時顯示Error in raw Data Acquisition,有時顯示Error in MUDAT(ROTSOT-3)等錯誤信息。
由于圖像時好時壞,錯誤信息不固定,考慮故障是某部分接觸問題造成的。由以上故障現(xiàn)象初步判斷問題發(fā)生在機架的數(shù)據(jù)采集部分和數(shù)據(jù)傳輸部分,其數(shù)據(jù)流程圖如圖1所示。
圖 1 數(shù)據(jù)流程圖
其原理是DAS接收X線數(shù)據(jù),將其進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號,然后傳輸?shù)絆PCONT2板,再將數(shù)字信號轉(zhuǎn)換成光信號,由光纖傳輸?shù)組UDAT的旋轉(zhuǎn)部分,在此完成機架旋轉(zhuǎn)部分和固定部分的數(shù)據(jù)交換,最后傳輸?shù)綌?shù)據(jù)處理部分完成圖像的重建。
根據(jù)數(shù)據(jù)流程圖,先測量DAS電源,-5V、+5V、24V正常,將內(nèi)部各電路板插件清除氧化層后,進(jìn)行掃描,故障現(xiàn)象沒有任何改善,用DCA功能對數(shù)據(jù)采集部分進(jìn)行通道檢測,測量值均在正常范圍,未發(fā)現(xiàn)有損壞的通道,因此分析故障應(yīng)該發(fā)生在數(shù)據(jù)傳輸部分。打開OPCONT2的外殼,將內(nèi)部接線及光纖拔插,再次進(jìn)行掃描,故障依然存在。MUDAT部分是依靠光傳輸數(shù)據(jù)的,只進(jìn)行光的發(fā)射和接收,沒有數(shù)據(jù)的處理和轉(zhuǎn)換,不會造成環(huán)形偽影。在轉(zhuǎn)動旋轉(zhuǎn)部分擦拭ROT和SOT過程中,偶然發(fā)現(xiàn)滑環(huán)部分有火花產(chǎn)生,仔細(xì)觀察,發(fā)現(xiàn)連接滑環(huán)的一根電源電纜與旋轉(zhuǎn)部分的凸出處有時摩擦,導(dǎo)致電纜磨損。對此根電纜進(jìn)行絕緣處理,調(diào)整位置后,進(jìn)入掃描程序,圖像恢復(fù)正常。
此故障為軟性故障,很難準(zhǔn)確判斷故障所在?;h(huán)處出現(xiàn)火花放電,導(dǎo)致電壓不穩(wěn),對DAS部分接收的采集數(shù)據(jù)造成破壞。同時放電產(chǎn)生的電磁輻射也會對傳輸?shù)絆PCONT2的數(shù)字信號產(chǎn)生較強的干擾,改變了原始的數(shù)據(jù)信號性質(zhì)。電壓不穩(wěn),也會導(dǎo)致機架旋轉(zhuǎn)部分ROT發(fā)射的光數(shù)據(jù)改變,SOT接收到錯誤的數(shù)據(jù),重建部分對已損壞的數(shù)據(jù)進(jìn)行重建,產(chǎn)生環(huán)形偽影。
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Analysis and Troubleshooting about the Circle Artifact of Toshiba Asteion/VF Spiral CT
SHI Jin-zhong1, LIU Gui-xin2, LI Lan-fen1
1.CT Room,Baoding No.1 Hospital,Baoding Hebei 071000,China;2. Muniment Room, Baoding Forensic Hospital,Baoding Hebei 071000, China
TH774
B
10.3969/j.issn.1674-1633.2010.04.035
2009-02-24
作者郵箱:shi-70913@163.com