0.6Sr0.4TiO3陶瓷的研究"/>
摘要 本文采用傳統(tǒng)的陶瓷工藝合成了Ba0.6Sr0.4TiO3陶瓷,研究了Bi摻雜對材料參數(shù)ε、tanδ和E的影響,并探討了相關(guān)的摻雜改性機理。結(jié)果表明:適量的Bi 能夠改善陶瓷的介電性能,同時細化陶瓷的晶粒尺寸。
關(guān)鍵詞 陶瓷,Ba0.6Sr0.4TiO3,摻雜,介電性能
1前 言
鈦酸鍶鋇(BST)系列電子陶瓷是最近幾十年發(fā)展起來的新型功能陶瓷。由于該材料具有鐵電、壓電、高介電常數(shù)和正溫度系數(shù)效應(yīng)等優(yōu)異的電學(xué)性能,成為了制造高介電陶瓷的主要原材料。而通過添加MgO、ZnO、Bi2O3等摻雜物,可以改善BST陶瓷的性能。據(jù)報道[1],摻雜一定量的Bi2O3可以使鈦酸鍶鋇燒結(jié)溫度降低100~200℃。本實驗根據(jù)有關(guān)文獻[2~4]的研究成果,通過摻雜Bi2O3,系統(tǒng)研究了Bi2O3的加入量對BST介質(zhì)陶瓷的影響。
2 實 驗
2.1 配方組成
采用傳統(tǒng)的陶瓷粉體制備工藝制得了含摻雜的BST陶瓷,不同配方Bi4Ti3O12的添加量如表1所示。
2.2 性能測試
采用YY2814數(shù)字電橋測量儀測量出樣品在室溫、1kHz頻率下的介質(zhì)損耗(tanδ)和電容值。并按照以下公式計算介電常數(shù)ε。
式中:
C——電容量,pF
d——樣品厚度,cm
D—— 樣品直徑,cm
采用CJ2672型耐壓測試儀測量陶瓷樣品的直流擊穿電壓。由于本實驗的樣品均為厚度均勻的圓片,因此,可直接按下式計算陶瓷片的直流擊穿強度。
E=V/h
式中:
V——陶瓷片的擊穿電壓
H——陶瓷片的厚度
3 結(jié)果與討論
3.1 Bi4Ti3O12摻雜對陶瓷介電性能的影響
采用分析純的Bi2O3和TiO2以Bi4Ti3O12的配比混合研磨混勻,混合料放在剛玉坩堝內(nèi)在1050℃下保溫120min,固相反應(yīng)合成鉍層化合物。合成的鈦酸鉍XRD譜圖如圖1所示,從圖中可以看出,所制得的粉體為純鈦酸鉍,無雜相生成。
從圖2、圖3可以看出:隨著Bi4Ti3O12含量的增加,陶瓷的介電常數(shù)一直下降,同時介電損耗也隨之減小。當(dāng)w(Bi4Ti3O12)=8%時,陶瓷的低溫介電損耗較之w(Bi4Ti3O12)=6%的陶瓷樣品有了大約50% 的降低。同時四個樣品的耐壓強度分別為5.5kV/mm、5.3kV/mm、4.8kV/mm和4.2kV/mm,樣品的耐壓強度隨著Bi4Ti3O12含量的增加而逐漸減弱。這是因為Bi4Ti3O12作為一種燒結(jié)助劑摻入到BST陶瓷中,通過形成液相燒結(jié)來降低燒結(jié)溫度。由于液相燒結(jié)中顆粒或者晶粒的重排、強化接觸可提高晶界遷移率,使氣孔充分排出,促進晶粒發(fā)育,提高瓷體致密度,達到降低燒結(jié)溫度的目的。但是這種液相生成物一直保留在陶瓷微觀結(jié)構(gòu)中,且其結(jié)構(gòu)松散,本征極化性不高,它的存在反而會導(dǎo)致材料介電性能的下降。
3.2 Bi4Ti3O12摻雜對陶瓷結(jié)構(gòu)和形貌的影響
從圖4可以發(fā)現(xiàn),在BST陶瓷中存在Bi4Ti3O12雜相,雜相的衍射峰強度隨Bi4Ti3O12含量的增加而增大,同時降低主晶相的衍射強度,這表明Bi4Ti3O12摻雜有細化陶瓷晶粒的作用。
Bi4Ti3O12摻雜的陶瓷SEM照片如圖5所示。從圖中可以看出,Bi4Ti3O12除了有強烈的細晶作用外,也會造成氣孔率的上升,氣孔率的上升會導(dǎo)致陶瓷耐壓強度的下降。由于摻雜的Bi4Ti3O12粉體未經(jīng)過與BST粉體預(yù)先合成,以游離態(tài)存在,加上Bi4Ti3O12的揮發(fā)點很低,因此Bi4Ti3O12在高溫下的揮發(fā)到起了反致密化作用。
4結(jié) 論
(1) 隨著Bi4Ti3O12含量的增加,介電常數(shù)和介電損耗隨之下降。同一配方隨著燒結(jié)溫度的不斷提高,介電常數(shù)有所升高,介電損耗有所下降;
(2) 隨著Bi4Ti3O12含量的增加,陶瓷的晶粒變小,氣孔率有所上升。樣品的耐壓強度隨著Bi4Ti3O12含量的增加而逐漸減弱。
參考文獻
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