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        光模塊I2C 通信自動化測試系統(tǒng)設(shè)計

        2024-01-15 07:32:48王安憶王洪義
        現(xiàn)代電子技術(shù) 2024年2期
        關(guān)鍵詞:指令信號系統(tǒng)

        王安憶,王 衡,王洪義,王 麟

        (青島海信寬帶多媒體技術(shù)有限公司,山東 青島 266000)

        0 引 言

        光模塊是光纖通信系統(tǒng)的核心部件之一,可以用于實現(xiàn)光纖通信和無線光通信等多種通信方式,廣泛應(yīng)用于數(shù)據(jù)中心、云計算、移動通信、軍事、醫(yī)療、航空航天等領(lǐng)域。通過將數(shù)據(jù)信號轉(zhuǎn)換為光信號傳輸,光模塊可以實現(xiàn)高速、長距離、大容量、高質(zhì)量的數(shù)據(jù)傳輸,從而滿足人們對信息通信不斷增長的需求[1]。

        I2C 通信協(xié)議是一種串行通信協(xié)議,用于連接集成電路之間的通信,也稱為二線制串行總線[2]。在光模塊中,I2C 通信具有重要作用,主機通過它實現(xiàn)對光模塊的故障監(jiān)測和診斷,了解光模塊的工作狀態(tài)和異常情況,及時采取措施進行維修或更換[3]。同時主機還可以通過I2C 通信控制光模塊的參數(shù)和設(shè)置,實現(xiàn)在線升級固件等[4]。I2C 支持多個光模塊的串行連接,可以方便地實現(xiàn)光模塊之間的串行連接和控制,簡化系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)和控制[5]。

        XFP、SFP+光模塊一般采用SFF8472 協(xié)議[6];SFP28或QSFP28 光模塊一般采用8636 協(xié)議[7];QSFP、QSFP+、QSFP-DD 一般采用CMIS 協(xié)議[8];另外還有QSFP 協(xié)議、SFP-DD 協(xié)議、SFF8077 協(xié)議[9]等適用于不同類型的光模塊。這些協(xié)議中針對I2C 通信方式都做了明確的要求。不同協(xié)議規(guī)定模塊有不同的設(shè)備地址,比如:8472 協(xié)議有兩個設(shè)備地址A0、A2;而8636 協(xié)議有一個設(shè)備地址A0。另外,不同協(xié)議還規(guī)定了不同的頁選、密碼輸入?yún)^(qū)域、用戶可寫區(qū)等。

        本文設(shè)計一套測試系統(tǒng),可兼容不同的協(xié)議,針對I2C 相關(guān)性能進行測試。通過PC 上位機控制示波器和I2C 測試工裝實現(xiàn)自動化測試。本文設(shè)計了一套I2C 指令字符編碼規(guī)則,通過解析指令將可執(zhí)行的高低信號序列下發(fā)給I2C 測試工裝,工裝通過PDMA 方式下發(fā)SCL和SDA 時序,同時上位機通過程控示波器抓取測試指令,反饋時序指標、電壓幅度等。本文測試系統(tǒng)的時間精度控制可以達到納秒級別,功能上堪比以FPGA 芯片為核心的傳統(tǒng)測試系統(tǒng),并且開發(fā)效率高、設(shè)備成本低、擴展兼容性強,適合高速發(fā)展的光模塊行業(yè)應(yīng)用。

        1 系統(tǒng)的工作原理

        光模塊的I2C 自動化測試系統(tǒng)由上位機軟件、I2C 測試工裝和示波器組成。

        上位機作用:

        1)測試指令編碼、轉(zhuǎn)碼、發(fā)送;

        2)示波器程控;

        3)測試結(jié)果處理輸出。

        測試工裝作用:

        1)測試指令發(fā)送和反饋;

        2)模塊常規(guī)讀寫指令發(fā)送和接收,涉及測試的預(yù)寫和后處理。

        示波器作用:

        1)顯示SCL/SDA 信號波形;

        2)反饋時序指標、電壓指標等參數(shù)。

        上位機采用C#編程,通過libusb 庫實現(xiàn)與測試工裝的USB 接口通信,通過Ivi.Visa 類庫實現(xiàn)與keysight 系列示波器進行USB接口通信。系統(tǒng)整體結(jié)構(gòu)圖如圖1所示。

        圖1 系統(tǒng)整體結(jié)構(gòu)圖

        2 系統(tǒng)的I2C 測試工裝設(shè)計

        測試工裝核心采用新唐M482LGCAE 型號單片機,它是最高頻率為192 MHz 的ARM Cortex-M4F 內(nèi)核,所以運行DMA 模塊時的精度可以達到納秒級別。工裝具體可分為供電系統(tǒng)、通信系統(tǒng)、測試系統(tǒng)和固件四部分。

        2.1 供電系統(tǒng)

        工裝板直接采用USB 接口的5 V 供電(VBUS),通過正向低壓降穩(wěn)壓器(AMS1117-3.3 芯片)獲得穩(wěn)定的3.3 V 電壓(VCC),為M482LGCAE 單片機供電及復(fù)位,并且將VCC 經(jīng)過分壓后接入MCU,進行ADC 轉(zhuǎn)換,實現(xiàn)電壓監(jiān)控。測試工裝供電系統(tǒng)如圖2 所示。

        圖2 測試工裝供電系統(tǒng)

        2.2 通信系統(tǒng)

        PC 通過USB 接口與測試工裝相連。USB(通用串行總線)是一個外部總線標準,用于規(guī)范計算機與外部設(shè)備的連接和通信,USB 接口支持設(shè)備的即插即用和熱插拔功能,有4 個pin 腳[10],分別為VCC、GND、Data+、Data-。

        如圖3 所示,USB 接口的D+通過上拉電阻連接到VCC,數(shù)據(jù)通過串聯(lián)電阻直接連接MCU 的USB_D+和USB_D-引腳。M482LGCAE 單片機具有HSUSBD 模塊(High Speed USB 2.0 Device Controller),可以實現(xiàn)高速(480 Mb/s)數(shù)據(jù)傳輸。

        圖3 測試工裝通信系統(tǒng)

        2.3 執(zhí)行系統(tǒng)

        新唐M482LGCAE 具有QSPI 控制器,支持兩位傳輸模式以執(zhí)行全雙工兩位數(shù)據(jù)傳輸,還支持四輸入/輸出傳輸模式[11],且控制器支持PDMA(Peripherial Direct Memory Access)功能以訪問數(shù)據(jù)緩沖區(qū)。PDMA(外圍直接存儲器訪問)是一種高速數(shù)據(jù)傳輸技術(shù),允許外圍設(shè)備直接訪問系統(tǒng)內(nèi)存,從而實現(xiàn)高效率的數(shù)據(jù)傳輸。傳統(tǒng)的DMA 技術(shù)要求CPU 控制器介入數(shù)據(jù)傳輸?shù)拿總€階段[12];而PDMA 則是完全由外圍設(shè)備控制傳輸?shù)倪^程,因此能夠避免CPU 的負載,提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)男屎退俣萚13]。QSPI 時序說明如圖4 所示。

        圖4 QSPI 時序說明

        針對I2C 的雙線測試要求,設(shè)計將QSPI 作為主機,它的單個模塊MISO 和MOSI 引腳通過反向器相連接,作為SCL 信號,同理通過另一個模塊作為SDA 信號,即可獲得一個雙線同步收發(fā)一體的測試時鐘信號。

        由于對于單片機的MOSI 是推挽輸出,而對于I2C 信號,要求開漏輸出,總線支持多個從機[3,14],當(dāng)主機發(fā)送應(yīng)答信號,對應(yīng)從機可以拉低反饋,故中間連接一個開漏輸出的反向器(SN74LVC2G06)。單片機固件收到測試信號后先取反,再發(fā)送,通過漏極輸出反向器接收到測試數(shù)據(jù),實現(xiàn)了開漏模式。由于開漏模式必須接上拉電阻才能輸出高電平,設(shè)計通過MOS 管控制不同上拉電阻接入I2C 信號,實現(xiàn)不同電阻值下信號質(zhì)量測試。

        信號通過PDMA 方式發(fā)送,不需要軟件參與,QSPI的每一位對應(yīng)硬件測試指令的時間精度,所以最精確可以實現(xiàn)10 ns 的精度,同時上位機可以通過設(shè)置擴大MOSI 發(fā)送每一個bit 的時間,實現(xiàn)精度控制。固件采用32 bit 發(fā)送模式,由于發(fā)送buf 長度有限,單次發(fā)送數(shù)據(jù)量有限,可以通過修改分頻比實現(xiàn)數(shù)據(jù)量擴充。測試工裝執(zhí)行系統(tǒng)如圖5 所示。

        圖5 測試工裝執(zhí)行系統(tǒng)

        3 系統(tǒng)的PC 軟件設(shè)計

        3.1 邏輯編碼原理

        解析I2C 通信信號邏輯,提取特征模型,將I2C 指令分解為11 個部分,如表1 所示。

        表1 邏輯編碼

        由此,所有測試指令均可通過以下分解信號編碼得到,這就是本系統(tǒng)的邏輯編碼原理。

        以SFF8472 協(xié)議為例,讀設(shè)備地址A2 下的80 地址寄存器,指令可以編碼為:

        寫設(shè)備地址A2 下的7F 地址寄存器可以編碼為:

        3.2 時域編碼原理

        通過邏輯編碼后,下一步需要將邏輯指令轉(zhuǎn)化為01 數(shù)據(jù)發(fā)送給測試工裝,這就涉及時域編碼,通過以下指標控制I2C 信號時域波形。速率和步進作為已知參數(shù)。步進固定為10 ns 是由2.3 節(jié)單片機QSPI 模塊的bit精度決定。

        針對一般的I2C 測試系統(tǒng),設(shè)置比例系數(shù)如下:

        以Step 為單位,在時域按位編碼測試指令,SDA 為通道1,SCL 為通道2,將數(shù)據(jù)以64 bit 一幀的方式編碼。SDA為通道1,長度為32 bit;SCL為通道2,長度為32 bit,分別編碼,結(jié)構(gòu)如圖6 所示。

        圖6 幀數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)

        數(shù)字化后通過USB 發(fā)送給測試工裝,再讀取返回值,通過反向編碼獲取到應(yīng)答位、數(shù)據(jù)位值。由此完成時域編碼,如表2 所示。

        3.3 信號抓取

        上位機完成信號發(fā)送后,通過程控示波器實現(xiàn)信號的獲取和具體指標的反饋。通過SCPI 指令集的Set 控制指令定位捕捉窗口,通過Query 查詢指令返回時序參數(shù)[15]。上位機通過指令解析獲取當(dāng)前測試指令總時長,再通過具體參數(shù)bit 位置定位到待測點。同時示波器的測量設(shè)置還可以測試信號過沖幅度、信號質(zhì)量等。

        4 測試系統(tǒng)

        測試系統(tǒng)設(shè)置了6 個模塊,分別針對標準時序、亂序、九時鐘、特殊時序、重復(fù)時序、過沖進行了系統(tǒng)全面測試。

        由于測試涉及寄存器讀寫,故針對不同光模塊協(xié)議的用戶可寫區(qū),設(shè)置了不同的待測區(qū)域,例如:SFF8472協(xié)議的A2 設(shè)備地址00 頁、8636 協(xié)議的A0 設(shè)備地址02 頁,CMIS 協(xié)議的A0 設(shè)備地址03 頁等。預(yù)寫數(shù)據(jù)后配置示波器trigger 采樣時間,發(fā)送測試指令,通過測試應(yīng)答位確認從機反饋,通過數(shù)據(jù)回讀確認是否誤改,通過示波器返回波形數(shù)據(jù)判斷時間指標是否合格。

        標準時序:測試I2C 協(xié)議下的讀寫邏輯和時序指標。

        亂序:測試主機時序混亂、欠缺情況下從機的反饋。

        九時鐘:測試主機阻塞后,發(fā)送9 個時鐘信號,從機是否能解鎖。

        特殊時序:測試主機I2C 信號邊沿重合或者超極限情況下從機是否能正常反饋。

        重復(fù)時序:長時間壓力測試,主機持續(xù)發(fā)送讀寫指令,測試從機抗壓能力。

        過沖測試:測試I2C 信號的電性能,測試主機下沖幅度、從機應(yīng)答信號電平等。

        測試系統(tǒng)PC 軟件測試結(jié)果如圖7 所示。

        圖7 測試系統(tǒng)軟件測試結(jié)果

        表3展示了標準時序下的部分測試結(jié)果,系統(tǒng)可以在10 min內(nèi)完成6個模塊的測試,極大提高了產(chǎn)品測試效率。

        表3 測試結(jié)果

        4 結(jié) 論

        本文提出一種基于光模塊I2C 的自動化測試系統(tǒng),利用MCU 的DMA 和QSPI 模塊實現(xiàn)了按bit 發(fā)送測試指令;并根據(jù)I2C 時序設(shè)計了一套自由編碼方式,可以實現(xiàn)多種測試環(huán)境搭建。系統(tǒng)可以實現(xiàn)100 kHz~1 MHz 的I2C 特性測試,也可以兼容SFF8472、SFF8636、CMIS 等多種光模塊協(xié)議,測試時序精度可達到10 ns,可以涵蓋所有I2C 測試需求,在光模塊相關(guān)產(chǎn)業(yè)有著良好的應(yīng)用前景和價值。I2C 測試工裝與示波器等通過USB 連接,未來可以將系統(tǒng)集成化,進一步提升測試系統(tǒng)完整性。

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