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        相控陣雷達T/R組件多總線自動測試系統(tǒng)設計

        2022-09-29 08:13:12呂貴洲梁冠輝
        計算機測量與控制 2022年9期
        關鍵詞:自動測試分析儀組件

        呂貴洲,朱 賽,梁冠輝,安 婷

        (陸軍工程大學石家莊校區(qū),石家莊 050003)

        0 引言

        雷達裝備T/R(Transmitter and Receiver Module)組件也稱為雷達收發(fā)組件,其通過控制組件輸出信號的幅度、相位、時延信息,可為波束快速掃描與實時單、多目標跟蹤的有源相控陣雷達天線陣元提供多樣化的激勵信號,在功能實現(xiàn)日趨前移的雷達裝備研制中扮演的角色越來越重要[1]。T/R組件作為有源相控陣的核心部件,每個天線陣元均由其進行饋電,使得一部雷達系統(tǒng)中的組件集成量數(shù)以萬計[2]。如何對組件進行自動化測試是有源相控陣雷達研究院所、使用單位有效研發(fā)雷達,運用雷達必須認真考慮的因素。

        T/R組件通常具有同時多路收發(fā)通道、多種工作狀態(tài),被測指標數(shù)目眾多的特點,如果完全依賴人工手動測試、記錄、分析,工作量將十分巨大。T/R組件自動測試系統(tǒng)硬件構(gòu)建方面基于不同總線進行系統(tǒng)設計,文獻[3-4] 討論了基于GPIB總線儀器的T/R組件測試系統(tǒng)設計及檢定問題,描述了系統(tǒng)的功能和總體結(jié)構(gòu),檢定主要包括檢定參數(shù)、檢定標準的選擇、檢定標準的不確定度、檢定判據(jù)以及檢定標準的溯源等內(nèi)容。文獻[5]結(jié)合儀器控制總線的發(fā)展,論述了一種基于LXI 總線的T/R組件S 參數(shù)自動測試系統(tǒng),闡述了單次校準多次測量技術(shù)、開關矩陣設計、LXI 總線儀表通訊等關鍵技術(shù)。文獻[4]介紹了T/R組件自動測試系統(tǒng)組成和測試原理,測量精度的計算。文獻[7]從硬件組成、軟件設計方面介紹了一種T/R組件自動測試維修系統(tǒng),重點闡述了信號矩陣轉(zhuǎn)接單元、可編程雷達狀態(tài)控制器和輔助故障診斷技術(shù),概要進行了T/R組件測試系統(tǒng)的軟件研究。軟件設計方面?zhèn)戎赜赟參數(shù)的測試分析,文獻[8]圍繞T/R組件S參數(shù)測試系統(tǒng)的軟件設計,闡述了T/R組件移相和衰減全自動化測試的方法,并介紹了T/R組件移相數(shù)據(jù)處理軟件的設計。在測試校準方面注重儀器選擇和校準方法設計,文獻[9]選擇合適的儀器設備,建立了T/R組件多項參數(shù)的校準標準。文獻[10]采用基于Database的SOLT校準方法完成對S參數(shù)測試系統(tǒng)的校準,在保證校準精度的同時,有效提高了操作便捷性。測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設計方面注重批量T/R組件連接的自動處理,文獻[11]采用直角坐標機器人以及自動對插工作臺實現(xiàn)T/R組件自動對插和測試,進一步提高了自動測試系統(tǒng)的智能化程度。

        以上成果主要論述了單一總線測試儀器構(gòu)成T/R組件自動測試系統(tǒng)的系統(tǒng)構(gòu)建、硬件組成、軟件設計、校準實現(xiàn)等問題,隨著儀器儀表技術(shù)的迅速發(fā)展,采用GPIB、LXI、CAN、USB等總線技術(shù)的儀器迅猛發(fā)展,不同生產(chǎn)廠商支持的總線類型差異較大,采用單一總線儀器構(gòu)成自動測試系統(tǒng)存在效率不高、響應不快、優(yōu)勢發(fā)揮不明顯的問題。為有效提升T/R組件測試系統(tǒng)效能,集成多種總線儀器構(gòu)成自動測試系統(tǒng)是未來的必然發(fā)展趨勢。本T/R組件自動測試系統(tǒng)集成了GPIB、LXI和USB總線儀器,基于Labwindows CVI開發(fā)應用程序,對增強T/R組件自動測試系統(tǒng)適應性,提高有源相控陣雷達保障能力具有較好的參考意義。

        1 典型T/R組件性能參數(shù)及測試儀器設備

        一般情況下,T/R組件的測試分為電性能測試,力學性能測試和環(huán)境適應性測試三部分。其中電性能測試在T/R組件的研發(fā)階段以及實驗應用階段都需要進行性能參數(shù)測試,而力學性能測試和環(huán)境適應性測試主要在T/R組件的研發(fā)定型階段進行測試。在T/R組件的測試中,一般將被測件(T/R組件)等效成一個微波二端口網(wǎng)絡,利用微波矢量網(wǎng)絡分析儀測量其微波二端口網(wǎng)絡的散射參數(shù)(S參數(shù)),再通過運算,將S參數(shù)換算成被測網(wǎng)絡所需要測量的參數(shù)。在實驗室條件下完成T/R組件主要性能指標的測試所需儀器主要有微波信號源、矢量網(wǎng)絡分析儀、功率計、示波器、噪聲系數(shù)分析儀、頻譜分析儀等。

        通常T/R組件主要電性能參數(shù)及主要測試儀器設備見表1[13]。

        表1 T/R組件主要電性能參數(shù)

        矢量網(wǎng)絡分析儀主要測試T/R組件S參數(shù)、接收增益和相位、接收輸入輸出駐波、接收幅相一致性、接收移相精度、收發(fā)隔離度等指標。頻譜分析儀主要測試T/R組件的諧波失真、頻譜特性和信號波形參數(shù)。噪聲系數(shù)分析儀主要測量接收信道的噪聲系數(shù)、放大器的噪聲系數(shù)。以上測試均為某一儀器設備的自動測試控制,相對比較單一,這里重點關注一下功率波形參數(shù)和轉(zhuǎn)換時間測試子系統(tǒng)的構(gòu)成原理。

        1.1 輸出信號功率、波形參數(shù)測試

        T/R組件功率、波形測量利用定向耦合器與脈沖功率計組成擴展量程間接測量T/R組件發(fā)射功率。將功率傳感器的視頻檢波信號接到數(shù)字示波器上,通過數(shù)字示波器的自動測試計算完成上升時間、下降時間和頂降的測試。亦可將脈沖功率計替換為頻譜分析儀完成上述參數(shù)的測量。將頻譜分析儀分辨率帶寬RBW設置為大于脈沖信號的主瓣寬度即可,在零掃寬模式下可以顯示信號脈沖包絡時域波形,從而可以確定脈沖調(diào)制信號的時間參數(shù)。

        其測試系統(tǒng)框圖如圖1所示。

        圖1 T/R組件發(fā)射功率測試系統(tǒng)框圖

        1.2 收發(fā)轉(zhuǎn)換時間測試

        T/R組件收發(fā)轉(zhuǎn)換時間定義為在相控陣雷達工作期間,T/R組件由發(fā)射狀態(tài)轉(zhuǎn)換為接收狀態(tài)所需要的時間。在高重復頻率工作方式下,能精確測量并評估T/R組件收發(fā)轉(zhuǎn)換時間具有重要的意義。

        T/R組件的收發(fā)轉(zhuǎn)換時間的測試一般是在T/R組件接收通道中完成,測試系統(tǒng)框圖如圖2所示。

        圖2 T/R組件收發(fā)轉(zhuǎn)換時間測試框圖

        首先將被測組件置于接收狀態(tài),將功率計功率檢波后的視頻輸出信號送至示波器,利用示波器觀察經(jīng)檢波后的視頻輸出信號,然后將組件改為發(fā)射狀態(tài),此時仍測試接收通道,脈沖調(diào)制信號作為波控收發(fā)轉(zhuǎn)換開關轉(zhuǎn)換控制信號,輸出信號波形的上升沿或下降沿就分別為T/R組件的收、發(fā)狀態(tài)轉(zhuǎn)換時間。

        2 T/R組件多總線自動測試系統(tǒng)硬件設計

        2.1 組成及原理

        T/R組件測試系統(tǒng)由硬件資源和測試應用程序組成,其原理框圖如圖 3所示。硬件資源能最大限度地實現(xiàn)平臺的開放性、靈活性和可擴展性,允許用戶根據(jù)不同的測試對象靈活地剪裁和增加硬件資源。系統(tǒng)主要由中心計算機、測試儀器單元、發(fā)射電源系統(tǒng)、射頻矩陣控制信號產(chǎn)生單元、T/R組件工作狀態(tài)控制與收集單元、輸出射頻矩陣控制信號分配單元組成,主要組成、數(shù)量及主要測試功能見表2。系統(tǒng)信號采用集中互連模式,集中管理全系統(tǒng)測試信號。系統(tǒng)中的各種激勵源連接到信號中樞,被測件的輸入端口與信號中樞的激勵源端口相連,輸出端口與信號中樞的測試端口相連。對于發(fā)射通道及接收通道測試狀態(tài),小信號直接進行測試,大信號則在信號中樞中衰減后再到各測試儀器進行測試;將采集到的數(shù)據(jù)由測試軟件按照相應的算法計算分析,得出相應的測試數(shù)據(jù)。

        圖3 T/R組件多總線測試系統(tǒng)框圖

        表2 系統(tǒng)主要硬件組成表

        2.2 主控計算機

        主控計算機為系統(tǒng)控制與狀態(tài)收集的核心,選用工業(yè)控制計算機,支持LAN、USB、串口總線通信模式,其通過USB/GPIB轉(zhuǎn)換卡、USB、LXI總線發(fā)送控制指令,接收T/R組件狀態(tài)數(shù)據(jù)并進行數(shù)據(jù)處理。運行人機交互應用軟件,測試人員根據(jù)測試的需要組合測試通道和測試項目、儀器狀態(tài)、被測件的狀態(tài)的控制等。

        2.3 T/R組件工作狀態(tài)控制與收集單元

        T/R組件工作狀態(tài)控制由控制板實現(xiàn),其接收來自主控計算機的控制指令,并根據(jù)控制指令轉(zhuǎn)換成相應的開關控制信號,完成發(fā)射電源、接收電源和T/R組件工作通道切換;同時該裝置還可以向計算機提供開關狀態(tài),確保系統(tǒng)的安全,防止誤操作損壞系統(tǒng)或被測件。開關控制采用CPLD擴展控制端口數(shù),裝置采用串口方式實現(xiàn)與主控計算機的通訊??刂瓢逶砜驁D如圖 4所示。

        圖4 控制板原理框圖

        控制板通過AT90S8515單片機片內(nèi)UART實現(xiàn)控制板與計算機主機之間的串行485通信,完成計算機控制指令的接收和T/R組件、儀器設備狀態(tài)的收集。

        AT90S8515采用RISC結(jié)構(gòu)、內(nèi)載Flash精簡指令集,采用低功耗CMOS技術(shù)設計,支持C高級語言及匯編語言[16]。

        AT90S8515采用RS485協(xié)議與控制計算機通信,通過CPLD 1032E傳輸控制命令和狀態(tài)收集,速率控制在115 Kbps以下,采用差分平衡發(fā)送與接收,從而抑制共模干擾,同時實現(xiàn)故障保護,防止T/R組件發(fā)射、接收狀態(tài)控制誤操作。

        2.4 輸入及輸出射頻矩陣控制單元

        輸入及輸出射頻矩陣單元由多路可程控微波開關組成,分為輸入開關網(wǎng)絡和輸出開關網(wǎng)絡。測試端開關網(wǎng)絡根據(jù)T/R組件特點和測試要求,設計了4個通道,根據(jù)信號大小可以選擇衰減通路和直通通路,既防止大功率信號損壞測試儀器,又滿足各種測試儀器的動態(tài)范圍,并可以根據(jù)不同測試項將信號轉(zhuǎn)接到不同的測試設備(包括:矢量網(wǎng)絡分析儀、噪聲分析儀、功率計等)進行測試。

        電子開關和機械開關是是實現(xiàn)微波信號通路切換的兩種方式,電子開關壽命長、重復性好,但由于采用電子控制其頻率范圍有限,可承受的微波功率不高。機械開關無源切換方式可實現(xiàn)更好的重復性,頻率適應范圍更廣。系統(tǒng)射頻通道動態(tài)構(gòu)建采用Dowkey機械開關,其具有良好的重復性、較小的駐波系數(shù)和理想的插入損耗,可靠性、可信度均較高。微波開關選型指標見表 3。

        表3 微波開關選型指標

        2.5 測試儀器單元

        測試儀器單元主要包括N1911A功率計、E5071C矢量網(wǎng)絡分析儀、N8975A噪聲系數(shù)分析儀和N33250A任意波形發(fā)生器,各測試儀器通過射頻矩陣單元對多通道T/R組件指標測試采用多模式復用的方式進行控制與應用。

        2.5.1 N1911A脈沖功率計[17]

        Keysight N1911A為單通道寬帶脈沖功率計,頻率范圍為50 MHz~18 GHz(N1921A功率傳感器)、50 MHz~40 GHz(N1922A功率傳感器),可測量平均功率、峰值功率和峰值平均功率比??蓽y量脈沖上升時間、下降時間、脈沖寬度、正脈沖轉(zhuǎn)換時間和負脈沖轉(zhuǎn)換時間等脈沖調(diào)制參數(shù)??蛇M行功率參數(shù)統(tǒng)計分析,支持30 MHz的分析帶寬和100 MHz的實時采樣,能提高脈沖調(diào)制信號完整的功率和時域參數(shù)。

        N1911A功率計最大采樣率100 MHz,最小脈沖寬度50 ns,平均功率測量精度可達±0.2 dB,最大脈沖重復頻率10 MHz,能夠滿足T/R組件發(fā)射和接收功率測量需求。

        2.5.2 E5071C網(wǎng)絡分析儀[18]

        Agilent E5071C ENA 網(wǎng)絡分析儀具有遠超同類產(chǎn)品的卓越性能和速度。E5071C 具有高達 20 GHz的寬頻率范圍,<0.004的軌跡噪聲,>123 dB的動態(tài)范圍,65 dB全頻段功率掃描(在9 kHz到5 GHz之間),IF帶寬擴展到最大500 kHz,9毫秒401點的快速測量速度和0.005 dB/℃的溫度穩(wěn)定性,能夠滿足精確測量T/R組件S參量需求。

        2.5.3 N8975A噪聲系數(shù)分析儀[19]

        安捷倫N8975A噪聲系數(shù)測試儀為安捷倫NFS系列典型噪聲測量儀表,頻率范圍10 MHz~26.5 GHz,測量帶寬100 kHz~4 MHz,不確定度±<0.15 dB,可實現(xiàn)T/R組件各通道噪聲系數(shù)的測量。

        N33250A任意波形發(fā)生器用于T/R組件脈沖工作模式調(diào)制脈沖的產(chǎn)生,這里不再贅述。

        3 T/R組件多總線測試系統(tǒng)軟件設計

        3.1 測試系統(tǒng)應用軟件

        系統(tǒng)軟件設計包括功能設計、模塊設計和代碼設計,從體系上采用基于任務的系統(tǒng)規(guī)劃方式,針對T/R組件數(shù)量多、通道多、參數(shù)多的特點,將自動校準、自動測試、自動設置的思想運用到系統(tǒng)軟件設計中,基于結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)庫查詢方式對數(shù)量巨大的測試數(shù)據(jù)進行分析,從而保證T/R組件測試與分析的效率和質(zhì)量。

        軟件系統(tǒng)組成如圖5所示,主要包括資源管理、自動校準、自動測試、手動測試和數(shù)據(jù)管理五大模塊。

        圖5 測試系統(tǒng)通用軟件組成

        資源管理主要完成儀器端口地址、協(xié)議、初始化狀態(tài)等資源配置,增益、功率、反射系數(shù)、通道選擇等測試項目管理,實現(xiàn)硬件資源與軟件資源的映射。

        自動校準用于射頻矩陣單元、測試儀器單元、電源管理等全系統(tǒng)的數(shù)據(jù)校準,引導用戶進行系統(tǒng)信號通路損耗等補償數(shù)據(jù)的獲取,允許用戶對修正數(shù)據(jù)進行管理,校準數(shù)據(jù)直接存儲在特定的數(shù)據(jù)庫表單中,為后續(xù)測試數(shù)據(jù)修正提供支撐。

        自動測試模塊完成基于設定測試任務的矩陣切換、儀器設置與測量、數(shù)據(jù)記錄與分析、T/R組件故障狀態(tài)的自動控制與數(shù)據(jù)記錄,在執(zhí)行過程中提供連續(xù)運行、監(jiān)控調(diào)試、停止運行等常用功能。通過變量監(jiān)控功能,方便用戶檢查測試流程。自動測試可大大提高測試效率,對批量T/R組件的自動測試具有重要作用。

        手動測試主要用于故障T/R組件或狀態(tài)異常T/R組件分步測試,組件狀態(tài)控制用于T/R組件通道選擇、衰減量、發(fā)射/接收模式的控制,儀表狀態(tài)設置用于測試儀器單元中功率計、矢量網(wǎng)絡分析儀、噪聲系數(shù)測試儀、脈沖發(fā)生器的輸出模式、測量模式、測量參數(shù)、分析參數(shù)的手動設置,為準確定位T/R組件故障部位提供支撐。

        數(shù)據(jù)管理模塊主要包括測試結(jié)果、結(jié)果統(tǒng)計和報表生成功能。

        系統(tǒng)采用ODBC(開放數(shù)據(jù)庫互連)技術(shù)訪問數(shù)據(jù)庫,數(shù)據(jù)庫基于Access+Sql Server進行數(shù)據(jù)處理。

        系統(tǒng)軟件處理主要流程如圖6所示。軟件系統(tǒng)首先基于數(shù)據(jù)庫查詢功能實現(xiàn)用戶賬戶的登錄驗證,驗證成功后根據(jù)用戶需求可選擇查詢、輸出、系統(tǒng)校準或配置、幫助功能。測試控制的主流程包括系統(tǒng)校準、參數(shù)測試、參數(shù)計算模塊。

        圖6 測試系統(tǒng)軟件流程圖

        為保證測試精度及測試結(jié)果可信度,在系統(tǒng)校準的基礎上,系統(tǒng)采用循環(huán)結(jié)構(gòu)實現(xiàn)某一參數(shù)測量的多次測量平均,將T/R組件增益測試、接收通道噪聲系數(shù)測試、接收增益測試等歸結(jié)為參數(shù)測試,利用總線儀器實現(xiàn)參數(shù)的多次自動測量,并利用軟件程序?qū)崿F(xiàn)結(jié)果平均,最后將最終結(jié)果存入數(shù)據(jù)庫,以備后續(xù)查詢和處理。

        以多組參數(shù)測試結(jié)果為依據(jù)一定的數(shù)據(jù)處理規(guī)則,獲取參數(shù)計算中的發(fā)射帶內(nèi)起伏、接收帶內(nèi)起伏等指標參數(shù),在軟件設計過程中注重數(shù)據(jù)處理過程的圖像化、形象化處理。

        相控陣雷達T/R組件參數(shù)測試中進行自動測試具體包括以下步驟。

        步驟1:儀器校準。

        該步驟主要用于測試裝置中測試儀器單元、連接電纜和微波控制組件等方面信號傳輸路徑上信號的功率衰減、相位延遲修正,保證測試T/R組件測試結(jié)果的準確性。

        步驟2:輸入射頻信號構(gòu)建。

        判斷測試源功率是否滿足T/R組件輸入激勵要求,如滿足則將源激勵通過開關切換,否則回到測試源功率設定模塊,將符合T/R組件測試要求的射頻信號輸出到射頻矩陣單元并連接到T/R組件的發(fā)射激勵端口。

        步驟3:輸出通道與儀器控制。

        T/R組件多路輸出信號接入輸出到射頻矩陣控制信號分配單元,通過開關組合切換將多路轉(zhuǎn)接為1路,根據(jù)不同測試項選擇測試儀器,如功率計、矢量網(wǎng)絡分析儀等,程序自動生成測試控制指令和測試控制參數(shù),完成相應的測試項目,輸出測試數(shù)據(jù)。

        步驟4:測試數(shù)據(jù)分析。

        應用程序根據(jù)測試儀器的測試數(shù)據(jù)生成測試數(shù)據(jù)庫,首先根據(jù)測試數(shù)據(jù)完成T/R組件狀態(tài)判斷,針對數(shù)據(jù)庫提供結(jié)果查詢和報表生成功能,為T/R組件的管理提供數(shù)據(jù)和手段支撐。

        3.2 測試儀器單元遠程控制

        3.2.1 N1911A功率計遠程控制

        N1911A在測試系統(tǒng)中實現(xiàn)T/R組件輸入或輸出微波功率測量,在具體的控制過程中主要涉及控制命令寫入和功率測試數(shù)據(jù)的讀取。N1911A支持GPIB、LAN和USB遠程接口模式。

        通過遠程接口設置GPIB地址的指令為:SYSTem:COMMunicate:GPIB:ADDRess,查詢GPIB地址的指令為SYSTem:COMMunicate: GPIB: ADDRess? query.自動配置LAN的命令為SYSTem:COMMunicate:LAN:DHCP[:STATe],也可獨立配置IP地址,子網(wǎng)掩碼,缺省網(wǎng)關和主從設置[17]。當選擇USB接口進行遠程控制時,不需要進行前面板配置或遠程配置。

        系統(tǒng)N1911A遠程控制采用GPIB模式,采用VISA讀和VISA寫指令實現(xiàn)功率計狀態(tài)及數(shù)據(jù)的讀取和寫入操作?;静僮靼▍?shù)初始化(*CLS)、波形顯示縱軸范圍設置、功率偏移設置、頻帶寬度設置和觸發(fā)設置等。具體指令可查閱官網(wǎng)編程手冊。

        3.2.2 安捷倫E5071C矢量網(wǎng)絡分析儀遠程控制

        E5071C支持GPIB、LAN、USB遠程控制,GPIB接口允許由外部計算機對Agilent E5071C進行控制。計算機向E5071C發(fā)送命令和指令,并接收E5071C經(jīng)GPIB發(fā)送的數(shù)據(jù)。LAN(局域網(wǎng))遠程控制系統(tǒng)提供兩種方法,即利用SICL-LAN服務器E5071C進行控制和利用遠程登錄服務器對E5071C進行控制。USB(通用串行總線)遠程控制模式通過USB控制設備,這相當于通過GPIB控制設備。通過符合USBTMC-USB488和USB 2.0標準的接口建立連接。

        E5071C遠程控制過程主要包括:選擇工作通道/跡線、配置測量條件、配置顯示設置,執(zhí)行功率校準、接收機校準,觸發(fā)系統(tǒng)、啟動一個測量過程、等待測量結(jié)束,設置數(shù)據(jù)傳送格式、內(nèi)部數(shù)據(jù)處理、檢索測量結(jié)果、標注測量跡線等。

        3.2.3 N8975A噪聲系數(shù)測試儀遠程控制

        N8975A在后面板上有兩個GPIB連接器。一個連接器用作與使用遠程指令集的計算機通訊,另一個連接器-LO GPIB 由NFA 用于控制外接本振。NFA的作用相當于 LO GPIB上的控制器。本設計采用主GPIB模式,其支持SCPI編程語言。控制過程主要包括:GPIB地址設置、預設噪聲系數(shù)分析儀、校準命令CALibration: AUTO[:STATe] OFF|ON|0|1實現(xiàn)自對齊和自診斷、顯示(DISPlay)子系統(tǒng)控制測量結(jié)果的選擇和展現(xiàn)方式等。

        4 系統(tǒng)誤差分析與修正

        4.1 測試結(jié)果分析

        基于設計的“相控陣雷達T/R組件多總線自動測試系統(tǒng)”對某型炮位偵察校射雷達4通道S波段T/R組件的發(fā)射通道脈沖輸出功率、接收幅度、接收相位、發(fā)射相位等指標進行了測試,測試結(jié)果與產(chǎn)品規(guī)范數(shù)值對比表見表 4。從測量結(jié)果看,系統(tǒng)各測試功能對T/R組件性能指標測試具有較好的適應性。

        表4 部分指標測試精度對比表

        4.2 發(fā)射功率測試不確定度

        功率測試不確定度受到環(huán)境溫度、匹配狀態(tài)等因素的影響。從發(fā)射功率通道測試流程看,主要不確定度包括輸入信號功率的不穩(wěn)定、校準器引入的不穩(wěn)定度、功率探頭特定頻率上功率曲線不穩(wěn)定度等。

        為最大限度的降低功率測試不穩(wěn)定度,基于構(gòu)建初始損耗數(shù)據(jù)庫的方式提前記錄偏差用于后期測量的數(shù)據(jù)修正,從而得到待測參數(shù)的真實值。表 4功率測量誤差結(jié)果表明,系統(tǒng)功率測量精度能夠滿足T/R組件測試需要。

        4.3 接收相位測試的不確定度

        相位作為T/R組件關重參數(shù),其不確定度主要來源于測量儀器的不確定度、系統(tǒng)通道時延引起的相位不確定和隨著系統(tǒng)工作溫度升高通道相移量不確定偏移。

        系統(tǒng)在降低接收相位測試不確定度方面,主要采用基于不同溫度的參數(shù)誤差補償策略,將不同溫度不同頻點的通道固有相移存儲于特定數(shù)據(jù)表格中,在實際測試時根據(jù)環(huán)境選擇特定修正量,從而最大限度地保證相位測量穩(wěn)定度。表 4相位不一致性測量誤差結(jié)果表明,系統(tǒng)相位不一致性測量精度能夠滿足T/R組件測試需要。

        5 結(jié)束語

        T/R組件測試系統(tǒng)設計是有源相控陣雷達設計與應用中需考慮的重要問題之一。通用測試儀器結(jié)合專用測試控制單元的模式是構(gòu)建自動測試系統(tǒng)的有效手段,射頻矩陣控制單元設計提高了系統(tǒng)的兼容性和可擴展性,為今后構(gòu)建T/R組件全指標的測試系統(tǒng)預留了足夠的硬件接口。實踐表明,該測試系統(tǒng)精度高、穩(wěn)定性好、可靠性高,能夠滿足多通道T/R組件多參數(shù)自動測試要求。該測試系統(tǒng)的設計方案方法對其他電子裝備自動測試系統(tǒng)構(gòu)建具有較好的參考價值。

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