鄭小平，韓瀟俊，徐勇，曾憲友，趙言濤

(威勝集團(tuán)有限公司，長(zhǎng)沙 410205)

0 引 言

電能表廣泛用于電網(wǎng)用戶(hù)的電能計(jì)量、用電監(jiān)測(cè)和電費(fèi)結(jié)算。目前接入國(guó)家電網(wǎng)、南方電網(wǎng)的智能電能表有6億多只。電能表是國(guó)家強(qiáng)制檢定產(chǎn)品，產(chǎn)品要在監(jiān)管部門(mén)的管控下通過(guò)型式鑒定批準(zhǔn)，批量生產(chǎn)的每一只電能表都要在電能表廠(chǎng)家進(jìn)行誤差調(diào)校和檢驗(yàn)合格后出廠(chǎng)，在電網(wǎng)公司處須再次全數(shù)檢驗(yàn)，合格后方可掛網(wǎng)使用。在掛網(wǎng)運(yùn)行中電能表會(huì)受到環(huán)境、人為、器件本身故障或老化等因素的影響而發(fā)生計(jì)量誤差變化，及時(shí)準(zhǔn)確發(fā)現(xiàn)計(jì)量誤差異常非常重要。目前對(duì)于電能表運(yùn)行故障監(jiān)測(cè)、運(yùn)行狀態(tài)評(píng)估和誤差影響因素分析的研究較多，文獻(xiàn)[1]綜述了電能表現(xiàn)場(chǎng)評(píng)估的技術(shù)和發(fā)展?fàn)顩r。文獻(xiàn)[2]提出了電能表裝入溫度、濕度、浪涌次數(shù)傳感器，實(shí)現(xiàn)壽命自監(jiān)測(cè)，從而構(gòu)建現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行電能表壽命預(yù)警制度。文獻(xiàn)[3-4]通過(guò)對(duì)氣候環(huán)境、電網(wǎng)負(fù)荷的聚類(lèi)分析，進(jìn)行了多應(yīng)力故障模擬仿真實(shí)驗(yàn)，建立高嚴(yán)寒、高干熱、高海拔、高鹽霧及高濕熱的智能電能表現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行環(huán)境，并通過(guò)試驗(yàn)運(yùn)行梳理積累的電能表故障和誤差數(shù)據(jù)，分析不同環(huán)境因素對(duì)電能表故障和誤差的影響。文獻(xiàn)[5-6]基于計(jì)量原理，分析了電能表誤差產(chǎn)生的原因。文獻(xiàn)[7-12]將臺(tái)區(qū)的總表和用戶(hù)表供電量數(shù)據(jù)作為研究?jī)?nèi)容，依據(jù)能量守恒規(guī)律，構(gòu)建誤差計(jì)算模型，通過(guò)優(yōu)化算法，實(shí)現(xiàn)臺(tái)區(qū)電能表運(yùn)行誤差監(jiān)測(cè)和狀態(tài)評(píng)估。文獻(xiàn)[13-15]運(yùn)用大數(shù)據(jù)分析用電量和計(jì)量誤差之間的關(guān)系，并綜合考慮電能表運(yùn)行異常因素，結(jié)合地區(qū)影響因素，對(duì)智能電能表狀態(tài)進(jìn)行動(dòng)態(tài)評(píng)估和故障預(yù)測(cè)。文獻(xiàn)[16]依據(jù)電能表準(zhǔn)確度試驗(yàn)數(shù)據(jù)，對(duì)電能表影響因素進(jìn)行定量歸類(lèi)，并引入灰色理論、模糊數(shù)學(xué)對(duì)電能表性能指標(biāo)進(jìn)行綜合評(píng)判。文獻(xiàn)[17]以電能表出廠(chǎng)檢定數(shù)據(jù)、首次檢定數(shù)據(jù)、隨機(jī)抽樣復(fù)檢數(shù)據(jù)、連續(xù)運(yùn)行八年后的復(fù)檢數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，建立大數(shù)據(jù)分析模型和風(fēng)險(xiǎn)識(shí)別程序。連續(xù)跟蹤的結(jié)果及風(fēng)控措施可支持輪換周期的延長(zhǎng)。文獻(xiàn)[18]提出基于狀態(tài)參量與計(jì)量性能退化的智能電表誤差狀態(tài)預(yù)測(cè)方法，建立溫度、濕度、負(fù)荷、檢定結(jié)果、時(shí)間累積影響的預(yù)測(cè)模型，借助BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法，實(shí)現(xiàn)電能表誤差預(yù)測(cè)。文獻(xiàn)[19]通過(guò)在計(jì)量箱安裝具備高性能邊緣計(jì)算功能的智能采集管理終端，通過(guò)采集電表數(shù)據(jù)，并導(dǎo)入計(jì)量數(shù)據(jù)分析模型，將計(jì)算數(shù)據(jù)與電能表數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，完成計(jì)量誤差在線(xiàn)分析。

文獻(xiàn)[20]采用帶自監(jiān)測(cè)功能的計(jì)量芯片ADE9153,設(shè)計(jì)了一款電能表，并進(jìn)行了試驗(yàn)研究，文中基于單相電能表采樣電路原理，以及現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行電能表的誤差異常分析，對(duì)當(dāng)前3款計(jì)量芯片誤差自監(jiān)測(cè)技術(shù)進(jìn)行了試驗(yàn)和應(yīng)用分析研究，并對(duì)干擾下自監(jiān)測(cè)誤差的異常進(jìn)行了分析，探討了具有自監(jiān)測(cè)功能的電能計(jì)量芯片規(guī)模應(yīng)用下提高自監(jiān)測(cè)判斷準(zhǔn)確度的方法。

1 電能計(jì)量異常分析

1.1 電能計(jì)量異常原因

電能計(jì)量由采樣電路、計(jì)量芯片組成(見(jiàn)圖1)。負(fù)載電壓、電流從電能表端子接入后，經(jīng)過(guò)采樣電路變換后給到計(jì)量芯片，計(jì)量芯片將信號(hào)通過(guò)ADC轉(zhuǎn)換后的數(shù)字量進(jìn)行數(shù)字信號(hào)處理，將電壓和電流采樣值相乘后累加得到有功電能量，電壓采樣信號(hào)移相90°與電流采樣值相乘后累加得到無(wú)功電能量。

圖1 電能計(jì)量原理框圖

從上述計(jì)量原理框圖可看出，電能計(jì)量誤差與電壓采樣回路、電流采樣回路、ADC分辨率、基準(zhǔn)電壓、計(jì)量算法、校準(zhǔn)參數(shù)等有關(guān)。其中ADC轉(zhuǎn)換、基準(zhǔn)電壓和計(jì)量算法在計(jì)量芯片內(nèi)完成，芯片內(nèi)部的基準(zhǔn)電壓、ADC轉(zhuǎn)換器的穩(wěn)定性非常高，而計(jì)量算法程序和校準(zhǔn)參數(shù)在出廠(chǎng)后不再改變。在運(yùn)行中引起計(jì)量異常的主要是芯片外部采樣回路的變化。

1.2 現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行電能表計(jì)量異常的統(tǒng)計(jì)

電能表在現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行過(guò)程中，受到環(huán)境、人為、器件老化等因素的影響，計(jì)量誤差可能發(fā)生變化，如果計(jì)量誤差超出標(biāo)準(zhǔn)要求的允許范圍就定義為計(jì)量誤差異常。本文統(tǒng)計(jì)了發(fā)生計(jì)量誤差異常的運(yùn)行電能表，分析了故障原因和失效機(jī)理(見(jiàn)表1)。

表1 計(jì)量誤差異常的類(lèi)型和原因

從表1可以看出，采樣回路異常(包括分壓電阻、電流采樣電阻/電流互感器、采樣回路工藝)、電能表線(xiàn)路接入不良或短接是電能表電能誤差異常的主要原因。校準(zhǔn)參數(shù)異常和外部磁場(chǎng)影響在早期電能表上發(fā)生較多，目前通過(guò)設(shè)計(jì)改進(jìn)得到了較好的解決。

2 電能誤差自監(jiān)測(cè)技術(shù)

近年來(lái)，有廠(chǎng)家推出帶自監(jiān)測(cè)功能的計(jì)量芯片，可以對(duì)電能表的電壓采樣回路、電流采樣回路阻抗變化進(jìn)行監(jiān)測(cè)，并可對(duì)計(jì)量芯片自身ADC轉(zhuǎn)換電路、基準(zhǔn)電壓變化等進(jìn)行監(jiān)測(cè)，實(shí)現(xiàn)在線(xiàn)誤差異常自診斷的功能。

在計(jì)量芯片內(nèi)部?jī)?nèi)置標(biāo)準(zhǔn)源，將用于自監(jiān)測(cè)的激勵(lì)信號(hào)發(fā)射至電表采樣回路入口(電流采樣回路為分流器或者互感器，電壓采樣回路為電阻分壓串)，激勵(lì)信號(hào)與負(fù)載信號(hào)一起經(jīng)過(guò)傳感器和外圍電路送到芯片內(nèi)的ADC，負(fù)載信號(hào)用于計(jì)算正常的電量，激勵(lì)信號(hào)經(jīng)過(guò)專(zhuān)用算法提取出來(lái)計(jì)算后與標(biāo)準(zhǔn)源信號(hào)比較，計(jì)算出自監(jiān)測(cè)誤差。形成“發(fā)射-接收-自監(jiān)”的閉環(huán)系統(tǒng)(見(jiàn)圖2)。

圖2 誤差自監(jiān)測(cè)原理框圖

芯片的自監(jiān)測(cè)基準(zhǔn)源往電流采樣電阻、電流互感器、正常分壓電阻上注入自監(jiān)測(cè)信號(hào)，自監(jiān)測(cè)信號(hào)與正常負(fù)載電流、電壓信號(hào)合并后，經(jīng)過(guò)外部抗混疊電路進(jìn)入計(jì)量芯片的ADC。注入的自監(jiān)測(cè)信號(hào)幅值通常非常小，僅為額定電流或電壓的1%，頻率比電網(wǎng)基波頻率高很多，為幾百赫茲至幾千赫茲的間諧波信號(hào)。

計(jì)量芯片提取自監(jiān)測(cè)信號(hào)，如果提取到的自監(jiān)測(cè)信號(hào)沒(méi)有發(fā)生變化，則表明電流采樣回路、電壓采樣回路(包括分流電阻/電流互感器或分壓電阻、抗混疊網(wǎng)絡(luò))沒(méi)有發(fā)生異常變化，如果提取到的自監(jiān)測(cè)信號(hào)發(fā)生變化，則表明電流回路、電壓回路存在異常。計(jì)量單元在獲取到電壓、電流回路自監(jiān)測(cè)信號(hào)變化可計(jì)算出誤差，最終將電壓、電流回路自監(jiān)測(cè)誤差合成功率自監(jiān)測(cè)誤差輸出。從原理上看，芯片的自監(jiān)測(cè)功能可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)采樣回路的變化情況，來(lái)實(shí)現(xiàn)運(yùn)行電能表的自監(jiān)測(cè)。

自監(jiān)測(cè)電能表需要對(duì)電流回路采樣器件和電壓采樣回路進(jìn)行改造，使芯片自監(jiān)測(cè)注入信號(hào)能夠輸入到計(jì)量回路并被計(jì)量芯片檢測(cè)到。其次，還需要通過(guò)軟件程序配合，讀取芯片自監(jiān)測(cè)誤差寄存器數(shù)據(jù)，來(lái)判斷誤差異常。

3 自監(jiān)測(cè)電能表的功能測(cè)試

選取三種(ABC)帶自監(jiān)測(cè)功能的芯片制作的準(zhǔn)確度為2級(jí)單相電能表。每種選擇三臺(tái)合格電能表進(jìn)行測(cè)試，選取三臺(tái)表中的最大自監(jiān)測(cè)誤差做為誤差測(cè)試結(jié)果。測(cè)試方案制定的目標(biāo)：一是測(cè)試自監(jiān)測(cè)電能表基本誤差，二是測(cè)試計(jì)量回路異常變化時(shí)自監(jiān)測(cè)誤差和電表誤差，三是進(jìn)行影響量測(cè)試，測(cè)試電表誤差和自監(jiān)測(cè)誤差。

3.1 自監(jiān)測(cè)電能表基本誤差

選取典型工作狀況，測(cè)試電能表自監(jiān)測(cè)誤差和電表誤差(見(jiàn)表2)。

從表2看出，在正常工作電流和功率因數(shù)情況下的三種電能表基本誤差和自監(jiān)測(cè)誤差均正常。

3.2 計(jì)量回路變化下誤差變化情況

人為改變電能表的電壓、電流采樣回路，包括對(duì)接入回路進(jìn)行短接分流、改變內(nèi)部電壓回路的分壓電阻、模擬現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)線(xiàn)接入不良，測(cè)試電能表自監(jiān)測(cè)誤差和電能計(jì)量誤差(見(jiàn)表3)。

根據(jù)上述測(cè)試結(jié)果：實(shí)驗(yàn)1是對(duì)電能表電流采樣回流輸入信號(hào)進(jìn)行改變，實(shí)驗(yàn)2是對(duì)電能表電壓采樣回流輸入信號(hào)進(jìn)行改變，兩個(gè)實(shí)驗(yàn)中采樣回路阻抗發(fā)生了變化，三種電能表的電能誤差和自監(jiān)測(cè)誤差均發(fā)生了改變；實(shí)驗(yàn)3為模擬線(xiàn)路接入電能表進(jìn)線(xiàn)端子不良的情況，試驗(yàn)表明由于接入阻抗增加導(dǎo)致端子發(fā)熱，三種電能表的自監(jiān)測(cè)誤差和電能誤差均有所變化。

3.3 誤差影響量試驗(yàn)

選取主要影響量因數(shù)，對(duì)電能表自監(jiān)測(cè)功能和電能誤差進(jìn)行測(cè)試(見(jiàn)表4)。

表2 電能表基本誤差(%)

表3 采樣回路變化下誤差(%)

測(cè)試結(jié)果表明，在大部分影響量情況下，三種電能表的自監(jiān)測(cè)誤差和電能誤差正常。但是在射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試中，電能表的自監(jiān)測(cè)誤差發(fā)生了異常。

3.4 測(cè)試結(jié)果分析

綜合上述各項(xiàng)測(cè)試數(shù)據(jù)，三種電能表自監(jiān)測(cè)誤差異常的情況(見(jiàn)表5)。

表5中序號(hào)1～序號(hào)3情況下，由于采樣回路發(fā)生變化，電表誤差變大，自監(jiān)測(cè)誤差也異常，自監(jiān)測(cè)誤差可以反映電能誤差異常情況，其中在序號(hào)1情況下，電能誤差沒(méi)有超出2%的誤差限，但是誤差已經(jīng)發(fā)生較大變化，最大已經(jīng)超過(guò)0.8%。

在序號(hào)4和序號(hào)5的情況，電能誤差和自監(jiān)測(cè)誤差存在不一致情況。

為了進(jìn)一步確認(rèn)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，重新選取一臺(tái)C類(lèi)表，再次進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，并記錄詳細(xì)數(shù)據(jù)。

3.4.1 端子溫升對(duì)自監(jiān)測(cè)精度影響

首先進(jìn)線(xiàn)虛接入電能表進(jìn)線(xiàn)端子，測(cè)試端子溫度、自監(jiān)測(cè)誤差和電表誤差。隨著運(yùn)行時(shí)間加長(zhǎng)，端子溫度升高，每5 min記錄一組數(shù)據(jù)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果(見(jiàn)表6)。

上述數(shù)據(jù)表明：溫度越高，自監(jiān)測(cè)誤差和電表誤差負(fù)偏越大，自監(jiān)測(cè)誤差與電表誤差有正相關(guān)性。電表在運(yùn)行中，由于進(jìn)線(xiàn)接入不良發(fā)生端子溫度升高導(dǎo)致計(jì)量異常、端子燒毀甚至電表燒毀的情況較多，帶自監(jiān)測(cè)功能的電能表可以從自監(jiān)測(cè)誤差的異常判斷出端子接入不良異常的情況。

3.4.2 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試

選取一臺(tái)C類(lèi)電能表重新進(jìn)行射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度兩組測(cè)試，持續(xù)1 h，每5 min更新一組數(shù)據(jù)(見(jiàn)表7)。

表4 影響量誤差(%)

表5 自監(jiān)測(cè)誤差異常項(xiàng)目匯總

表6 不同端子溫度電表誤差和自監(jiān)測(cè)誤差(%)

表7 射頻電磁場(chǎng)輻射下誤差

在10 V/m實(shí)驗(yàn)中，自監(jiān)測(cè)誤差會(huì)存在部分點(diǎn)受到干擾而發(fā)生突變，在30 V/m實(shí)驗(yàn)中，自監(jiān)測(cè)誤差變化非常大，顯然自監(jiān)測(cè)功能受到電磁干擾發(fā)生了異常。

芯片自監(jiān)測(cè)發(fā)出的自監(jiān)測(cè)標(biāo)準(zhǔn)方波信號(hào)非常小。C類(lèi)方案中電流為17.75 mA、電壓為2.2 V，頻率為1 232 Hz，如果有干擾信號(hào)，尤其是同頻點(diǎn)干擾，會(huì)造成自監(jiān)測(cè)誤差較大異常。如何處理干擾是成功應(yīng)用的關(guān)鍵。這里提出可以采用提取自監(jiān)測(cè)誤差的相鄰變差數(shù)據(jù)，濾掉變差大的數(shù)據(jù)，并且滑動(dòng)提取一段時(shí)間的平均值做為自監(jiān)測(cè)誤差的結(jié)果，以提高通過(guò)自監(jiān)測(cè)誤差進(jìn)行誤差異常判斷的準(zhǔn)確性。

4 現(xiàn)場(chǎng)掛網(wǎng)自監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)及分析

4.1 掛網(wǎng)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)

2020年9月，基于某自監(jiān)測(cè)方案的單相電能表900臺(tái)開(kāi)始實(shí)際掛網(wǎng)。半年運(yùn)行情況表明，表計(jì)總體運(yùn)行正常，自監(jiān)測(cè)誤差基本正常。其中發(fā)生10臺(tái)自監(jiān)測(cè)誤差異常情況，現(xiàn)選取其中兩臺(tái)表提取一天的自監(jiān)測(cè)誤差采集數(shù)據(jù)(見(jiàn)表8)。

表8 現(xiàn)場(chǎng)掛網(wǎng)電能表自監(jiān)測(cè)誤差

4.2 模擬實(shí)驗(yàn)試驗(yàn)

為了分析現(xiàn)場(chǎng)問(wèn)題，根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)用戶(hù)用電情況，在實(shí)驗(yàn)室搭建了模擬環(huán)境(見(jiàn)圖3)，包括阻性負(fù)載：電爐子(800 W)、感性負(fù)載：電機(jī)(1 100 W)、 電容性負(fù)載 (2 000 W)，線(xiàn)路中還接入了開(kāi)關(guān)。

4.3 模擬實(shí)驗(yàn)結(jié)果及其分析

將兩塊具有自監(jiān)測(cè)功能的電能表接入圖3所示的實(shí)驗(yàn)環(huán)境運(yùn)行24小時(shí)，表9為每1 h自監(jiān)測(cè)誤差記錄數(shù)據(jù)。

圖3 模擬接線(xiàn)示意圖

從表9中看出，兩塊表自監(jiān)測(cè)誤差均存在比較大的跳動(dòng)，跳動(dòng)可達(dá)24.69%，與現(xiàn)場(chǎng)掛網(wǎng)有類(lèi)似表現(xiàn)。

表9 實(shí)驗(yàn)環(huán)境下自監(jiān)測(cè)誤差

為了分析自監(jiān)測(cè)誤差跳動(dòng)的原因，對(duì)實(shí)驗(yàn)電路負(fù)荷電流進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣，并進(jìn)行頻譜分析(見(jiàn)圖4)。

圖4 實(shí)驗(yàn)電路電流信號(hào)頻譜分析

由圖4可知，動(dòng)態(tài)負(fù)載實(shí)時(shí)波形頻譜豐富，除 50 Hz 基波外，還有大量諧波和間諧波，在1 232 Hz 間諧波含有率達(dá) 0.026 3%，負(fù)載電流為18.22 A時(shí)，間諧波含量達(dá) 4.79 mA，理論上電流回路自監(jiān)測(cè)誤差為 27.36%。

4.4 解決方案初探

針對(duì)跳變的自監(jiān)測(cè)誤差，可進(jìn)行分類(lèi)、濾波，滑動(dòng)平均處理，去除無(wú)效數(shù)據(jù)，增加數(shù)據(jù)可靠性判斷。本文提出一種處理方法：

(1)將單次相鄰自監(jiān)測(cè)誤差跳變超過(guò)5%以上的數(shù)據(jù)進(jìn)行濾除；

(2)所有數(shù)據(jù)進(jìn)行前后三數(shù)據(jù)滑動(dòng)平均濾波處理；

(3)取24 h平均值作為一個(gè)統(tǒng)計(jì)周期。

最終處理后的數(shù)據(jù)(見(jiàn)表10)。

表10 處理后的自監(jiān)測(cè)誤差

經(jīng)過(guò)數(shù)據(jù)處理后，24 h的平均自監(jiān)測(cè)誤差結(jié)果基本處于正常范圍。

通過(guò)實(shí)驗(yàn)室模擬現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行看出，電網(wǎng)負(fù)荷回路電流在注入信號(hào)頻率點(diǎn)的變化引起了自監(jiān)測(cè)誤差的跳變。實(shí)驗(yàn)?zāi)M環(huán)境較為嚴(yán)苛，開(kāi)關(guān)頻繁動(dòng)作，現(xiàn)場(chǎng)際掛網(wǎng)下大多數(shù)情況負(fù)荷相對(duì)穩(wěn)定。增加自監(jiān)測(cè)誤差的采樣頻率、采取更好的數(shù)據(jù)濾波算法應(yīng)有更好的效果。

5 結(jié)束語(yǔ)

電能表在掛網(wǎng)運(yùn)行中會(huì)受到環(huán)境、人為、器件本身故障或老化等因素的影響而發(fā)生計(jì)量誤差變化，而變化超出允許范圍就可以定義為誤差異常。通過(guò)統(tǒng)計(jì)分析表明，電能表計(jì)量誤差異常的主要原因是計(jì)量回路發(fā)生異常，包括采樣回路器件參數(shù)改變、電路工藝參數(shù)發(fā)生變化、電能表端子人為短接、電能表進(jìn)線(xiàn)接入不良引起發(fā)熱等。及時(shí)準(zhǔn)確發(fā)現(xiàn)誤差異常非常重要。文中簡(jiǎn)述了采用帶自監(jiān)測(cè)功能的計(jì)量芯片實(shí)現(xiàn)單相電能表的方法，并對(duì)電能表進(jìn)行了全面試驗(yàn)測(cè)試和分析，同時(shí)分析了現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行的電能表的自監(jiān)測(cè)誤差異常情況并搭建模擬試驗(yàn)環(huán)境進(jìn)行分析。得出結(jié)論：

(1)誤差自監(jiān)測(cè)功能對(duì)計(jì)量準(zhǔn)確度沒(méi)有影響；

(2)誤差自監(jiān)測(cè)功能的實(shí)現(xiàn)是通過(guò)對(duì)采樣回路主動(dòng)注入標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)，并通過(guò)計(jì)算發(fā)收信號(hào)變化量給出自監(jiān)測(cè)誤差。自監(jiān)測(cè)誤差的變化可以反映電能表采樣回路的變化；

(3)由于自監(jiān)測(cè)測(cè)試信號(hào)很小，易受電磁干擾影響而偶發(fā)隨機(jī)跳變；

(4)在實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行中，負(fù)荷電流在注入頻率點(diǎn)的變化會(huì)引起自監(jiān)測(cè)誤差的跳變；可通過(guò)數(shù)據(jù)濾波處理以提高判斷準(zhǔn)確性。

后續(xù)可通過(guò)規(guī)模使用自監(jiān)測(cè)功能，結(jié)合電能表的電壓、電流測(cè)量數(shù)據(jù)，加大自監(jiān)測(cè)誤差采樣頻次，結(jié)合大數(shù)據(jù)分析，改進(jìn)和優(yōu)化數(shù)據(jù)處理方法。同時(shí)，還可以改進(jìn)和優(yōu)化芯片自監(jiān)測(cè)方案，提高電能表計(jì)量異常自診斷的準(zhǔn)確性。