彭 芳，鞏 勇

（上海交通大學(xué)醫(yī)學(xué)院蘇州九龍醫(yī)院兒科，江蘇蘇州 215028）

新生兒低血糖的發(fā)生與早產(chǎn)、巨大兒、低體質(zhì)量兒、孕母糖尿病等因素有關(guān)[1]。有研究提示，在足月兒中，低血糖發(fā)生率約14%，在足月大于胎齡兒中，低血糖發(fā)生率約16%[2]。新生兒持續(xù)性低血糖可損害神經(jīng)系統(tǒng)，不利于大腦發(fā)育。有研究發(fā)現(xiàn)，對頑固性低血糖病例而言，其枕葉嚴(yán)重受累，而顳葉、大腦動(dòng)脈周圍組織損害相對較輕[3]。由于大腦組織葡萄糖供給未能使機(jī)體代謝需求得到滿足，可導(dǎo)致線粒體自由基受損，誘發(fā)大腦損傷，影響遠(yuǎn)期聽力、視覺等功能[4]。通過積極補(bǔ)充葡萄糖，能緩解低血糖癥狀，使神經(jīng)系統(tǒng)預(yù)后改善。然而，葡萄糖輸入速度的控制至關(guān)重要，若糖速控制不合理，可能引起低血糖再灌注腦損傷[5]?，F(xiàn)階段，臨床針對低血糖新生兒的糖速控制尚無統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)，本研究將其納入多因素分析中，旨在觀察低血糖新生兒腦損傷的影響因素，現(xiàn)結(jié)果報(bào)道如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料 回顧性分析上海交通大學(xué)醫(yī)學(xué)院蘇州九龍醫(yī)院2018年7月至2021年7月收治的100例低血糖新生兒的臨床資料，均給予葡萄糖治療。根據(jù)是否發(fā)生腦損傷分為腦損傷組(n=12)和非腦損傷組(n=88)。本研究方案獲上海交通大學(xué)醫(yī)學(xué)院蘇州九龍醫(yī)院醫(yī)學(xué)倫理委員會批準(zhǔn)。診斷標(biāo)準(zhǔn)：血漿葡萄糖或1次全血水平低于2.2 mmol/L，即低血糖。納入標(biāo)準(zhǔn)：①血漿葡萄糖或1次全血水平低于2.2 mmol/L，即低血糖。入組時(shí)經(jīng)24小時(shí)腦電圖(EEG)檢查、影像學(xué)檢查和臨床表現(xiàn)等排除腦損傷可能；②日齡不超過1周；③臨床資料完善。排除標(biāo)準(zhǔn)：①伴顱內(nèi)出血；②合并腦積水、顱內(nèi)結(jié)構(gòu)異常；③肺、心等臟器受損；④伴顱內(nèi)感染；⑤伴內(nèi)分泌疾??；⑥伴染色體異常；⑦伴腦外傷；⑧顱腦發(fā)育見異常；⑨伴核黃疸。

1.2 治療方法 所有新生兒均根據(jù)情況給予對癥處理，包括吸氧、補(bǔ)液、糾正水電解質(zhì)/酸堿平衡、改善微循環(huán)等?；純壕邮芷咸烟侵委?，首先取2 mL/kg 10%葡萄糖靜推，在早期葡萄糖治療達(dá)60 min后，開始進(jìn)行糖速控制，糖速為2~9 mmol/(L·h)。以5 mg/(kg·min)的劑量維持靜滴，每隔20 min測定足部血糖，根據(jù)糖速控制及血糖變化調(diào)整給藥劑量。持續(xù)給藥，直至新生兒血糖恢復(fù)正常，通常可在24 h內(nèi)糾正低血糖。

1.3 觀察指標(biāo) ①腦損傷評價(jià)：記錄患兒住院期間腦損傷發(fā)生率。通過腦電圖結(jié)果、影像學(xué)檢查和臨床表現(xiàn)明確是否存在腦損傷。②收集患兒一般資料，包括性別、胎齡、分娩方式、體質(zhì)量、新生兒窒息率、首次喂養(yǎng)時(shí)間、5 min Apgar評分、低血糖發(fā)生時(shí)間及糖速控制。

1.4 統(tǒng)計(jì)學(xué)分析 采用SPSS 26.0軟件分析數(shù)據(jù)，計(jì)量資料用（）表示，行t檢驗(yàn)；計(jì)數(shù)資料用[例（%）]表示，行χ2檢驗(yàn)。將單因素分析中存在統(tǒng)計(jì)學(xué)差異的因素納入多因素分析，經(jīng)Logistic回歸模型分析低血糖新生兒腦損傷發(fā)生的影響因素。P＜0.05為差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。

2 結(jié)果

2.1 兩組患者一般資料比較 100例低血糖新生兒腦損傷共12例，88例未發(fā)生腦損傷，腦損傷發(fā)生率為12.00%。腦損傷組低血糖發(fā)生時(shí)間≥24 h及糖速控制為≤ 3 mmol/(L·h)、7~9 mmol/(L·h)的患者占比高于無腦損傷組，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義（P＜0.05），見表1。

表1 兩組患者一般資料比較

2.2 低血糖新生兒發(fā)生腦損傷影響因素的Logistic回歸分析 經(jīng)Logistic回歸模型對各變量行量化賦值，見表2。結(jié)果顯示，低血糖發(fā)生≥24 h、糖速控制為≤ 3 mmol/(L·h)及 7~9 mmol/(L·h)是低血糖新生兒發(fā)生腦損傷的危險(xiǎn)因素（P＜0.05），而糖速控制為4~6 mmol/(L·h)是預(yù)防腦損傷的保護(hù)因素（P＜0.05），見表3。

表2 低血糖新生兒腦損傷的危險(xiǎn)因素分析

表3 低血糖新生兒腦損傷的多因素Logistic回歸分析

3 討論

新生兒低血糖是新生兒期的常見疾病，大部分患兒通過補(bǔ)充葡萄糖，能取得較好治療效果，然而，部分患兒處于持續(xù)低血糖狀態(tài)，嚴(yán)重情況下可導(dǎo)致酸堿平衡紊亂，并引起神經(jīng)毒性，促使重要系統(tǒng)受到損害，以大腦損傷發(fā)生率較高[6]。有研究發(fā)現(xiàn)，腦組織通過獲取葡萄糖，才可確保其能量代謝得以維持，低血糖患兒因血糖較低，大腦無法獲得足夠的葡萄糖，可造成大腦損傷[7]。早期給予葡萄糖，能促進(jìn)低血糖改善，糾正患兒的不適癥狀，然而，糖速控制對葡萄糖治療而言至關(guān)重要。研究指出，一旦糖速控制不當(dāng)，可能導(dǎo)致腦細(xì)胞內(nèi)、外所獲得的葡萄糖濃度產(chǎn)生差異，引起腦損傷[8]。

本研究回顧性分析低血糖新生兒的臨床資料，觀察腦損傷的影響因素，結(jié)果提示，糖速控制為≤ 3 mmol/(L·h)及 7~9 mmol/(L·h)是低血糖新生兒發(fā)生腦損傷的危險(xiǎn)因素，而糖速控制為4~6 mmol/(L·h)是預(yù)防腦損傷的保護(hù)因素。原因可能在于，輸糖速度過慢時(shí)，可致腦組織無法及時(shí)攝取足夠的葡萄糖，而輸糖速度過快，則可致腦細(xì)胞外部與內(nèi)部的葡萄糖濃度發(fā)生較大差異，引起再灌注損害[9]。因此，醫(yī)師需將輸糖速度控制為4~6 mmol/(L·h)，降低腦損傷風(fēng)險(xiǎn)。此外，結(jié)果還表明低血糖發(fā)生≥24 h是患兒發(fā)生腦損傷的危險(xiǎn)因素之一，提示醫(yī)師還需了解患兒的低血糖持續(xù)時(shí)間，通常持續(xù)時(shí)間越長，預(yù)后越差。既往還有研究指出，新生兒窒息也與腦損傷發(fā)生有關(guān)[10]。但也有研究認(rèn)為，新生兒窒息程度與腦損傷發(fā)生無關(guān)，僅窒息時(shí)長與其有關(guān)[11]。在本研究中，未見新生兒窒息與腦損傷發(fā)生存在關(guān)聯(lián)，日后將增加樣本量對此予以論證。

綜上所述，低血糖新生兒經(jīng)葡萄糖治療時(shí)，輸糖速度控制為4~6 mmol/(L·h)最佳，能降低腦損傷風(fēng)險(xiǎn)，且低血糖發(fā)生≥24 h、糖速控制為 3 mmol/(L·h)及 7~9 mmol/(L·h)可導(dǎo)致腦損傷發(fā)生風(fēng)險(xiǎn)增加。