曾建風(fēng),肖琨
(綿陽京東方光電科技有限公司,四川 綿陽 621000)
近年來,隨著通訊技術(shù)的不斷發(fā)展,5G 時(shí)代已經(jīng)悄然進(jìn)入人們的生活,并掀起了各行各業(yè)技術(shù)創(chuàng)新與變革的浪潮。不管是即將到來的5G 時(shí)代還是未來的6G 時(shí)代,顯示技術(shù)都是信息化時(shí)代關(guān)鍵技術(shù)的核心,也是最前沿技術(shù)。
AMOLED 作為最新的一項(xiàng)顯示技術(shù),是由柔性顯示材料制作而成的一種可變形的顯示器件,具備可彎曲、低能耗、更優(yōu)的顯示質(zhì)量、更長的使用壽命等優(yōu)勢(shì),使其應(yīng)用范圍更加的廣泛。但是,由于AMOLED 工藝復(fù)雜,在生產(chǎn)過程中受空氣潔凈度、化學(xué)氣體、液體及設(shè)備工藝參數(shù)的影響,會(huì)在面板上形成大小不均的不良點(diǎn)。通常情況下,這些不良點(diǎn)不會(huì)導(dǎo)致最終產(chǎn)品不良,但具有聚集性的點(diǎn)簇除外。故需要對(duì)AOI 檢測(cè)出的不良點(diǎn)所生成的MAP 圖進(jìn)行在線聚集性分析,找出造成良率損失的點(diǎn)位聚集區(qū),供不良分析。
目前,MAP 圖的不良點(diǎn)位聚集性分析均由人工目檢完成,但由于人員主觀性因素,檢測(cè)質(zhì)量和一致性無法保證?;谏鲜鰡栴},本文提出了一種基于機(jī)器學(xué)習(xí)與圖像處理技術(shù),對(duì)MAP 圖進(jìn)行在線智能分析方法,可迅速定位出MAP 圖中不良點(diǎn)的聚集區(qū)域,并根據(jù)區(qū)域的特征參數(shù)對(duì)聚集區(qū)域進(jìn)行分析,篩選出造成良率損失的目標(biāo)點(diǎn)簇區(qū)域,從而實(shí)現(xiàn)MAP圖全自動(dòng)在線分析。同時(shí),本文所述的方法通過一系列量化的判斷指標(biāo),降低人員主觀判斷帶來的誤判和漏判風(fēng)險(xiǎn),節(jié)約人工成本,提高檢測(cè)效率。
MAP 圖即映射圖,是指將一張面板上的不良點(diǎn)按照坐標(biāo)映射為一張數(shù)字圖像,用于可視化及后續(xù)的不良分析。在AMOLED的制造過程中,同一張面板會(huì)經(jīng)過多個(gè)AOI的檢測(cè)站點(diǎn),AOI 設(shè)備會(huì)將面板上所有不良點(diǎn)P及坐標(biāo)(x,y)上報(bào)文件系統(tǒng)。合成MAP 就是將不良坐標(biāo)點(diǎn)繪制在圖像上的過程。
首先,創(chuàng)建玻璃面板與圖像坐標(biāo)系O-XY、O-XY的二維映射關(guān)系,其表達(dá)式為:
其后,對(duì)于玻璃面板的坐標(biāo)系所有不良點(diǎn)p(x,y),經(jīng)公式(2)變化后,可得到該點(diǎn)在圖像坐標(biāo)系的坐標(biāo)p'(X,Y):
最后,將映射變換后的所有不良點(diǎn)繪制在一幅分辨率為的圖片上。其中。、分別為基板的長度和寬度,單位為mm。
圖1 不良MAP 聚集圖Fig.1 Defect map picture
本文提出的自動(dòng)定位MAP 圖不良聚集區(qū)域算法,需要將滿足聚集特征的區(qū)域提取出來,用于后續(xù)的圖像分析使用,為此選擇機(jī)器學(xué)習(xí)中常用的聚類算法完成。聚類是數(shù)據(jù)挖掘領(lǐng)域中常見的非監(jiān)督學(xué)習(xí)算法,其目的是將數(shù)據(jù)劃分為類內(nèi)相似度最大、類間相似度最小的族類。該算法在圖像分析、模式識(shí)別、空間數(shù)據(jù)分析、經(jīng)濟(jì)學(xué)研究、生物工程等領(lǐng)域已得到廣泛應(yīng)用。
層次聚類算法分為凝聚(自底向上)和分裂(自頂向下)方法。凝聚方法是將每個(gè)對(duì)象作為單獨(dú)的一個(gè)聚類,然后規(guī)則相近地合并相近的類,直到所有的對(duì)象合并到一個(gè)聚類中,或滿足一定的終止條件為止。
本文采用最為經(jīng)典的AGNES 層次聚類算法,采用類簇間的歐式距離作為聚類分析的度量標(biāo)準(zhǔn),最小化類間樣本距離作為聚類分析連接標(biāo)準(zhǔn),將所有點(diǎn)簇中,間距≤的點(diǎn)視作一類點(diǎn)簇。
其中, p (x,y)、p (x,y) 為任意兩個(gè)類簇中相鄰距離最近的兩個(gè)點(diǎn)。
其聚類過程如下:
(1)將MAP 圖中不良點(diǎn)視作類簇,并計(jì)算出每個(gè)類簇之間的距離;
(2)隨機(jī)找出距離最小且滿足≤的兩個(gè)點(diǎn)簇進(jìn)行合并,得到1個(gè)類簇;
(3)計(jì)算1個(gè)類簇中相鄰兩個(gè)類簇之間的距離;
(4)重復(fù)步驟(2)、(3);
(5)最終得到滿足≤條件的類簇?cái)?shù)量;
Alpha Shapes 算法是從一堆無序的點(diǎn)簇中尋找邊界,并通過算法重構(gòu)其二維的區(qū)域圖像。Alpha Shapes 在數(shù)學(xué)上有明顯的定義,其原理為將一個(gè)半徑為的圓,在一個(gè)無序的點(diǎn)簇外滾動(dòng);足夠大時(shí),圓就不會(huì)掉入點(diǎn)簇的內(nèi)部,圓滾動(dòng)的軌跡,就是點(diǎn)簇的邊界線。所以在該算法中,半徑是唯一參數(shù),其大小決定了邊界區(qū)域的精細(xì)度。當(dāng)足夠大時(shí),則提取出來的邊界線為點(diǎn)簇的凸包;當(dāng)足夠小時(shí),點(diǎn)簇的任意一個(gè)點(diǎn)都可能是邊界點(diǎn)。廖中平等提出了一種自適應(yīng)α-shapes 算法,使得滾動(dòng)圓在邊界滾動(dòng)時(shí)能夠自適應(yīng)調(diào)節(jié)半徑的值,保證邊界的精細(xì)度和完成性,其核心算法流程如下:
(1)將點(diǎn)云數(shù)據(jù)生成映射MAP 圖,得到一張分辨率為大小的圖片,像素值的大小等于該像素內(nèi)點(diǎn)的數(shù)量(2.1 節(jié)已實(shí)現(xiàn))。
(2)邊界點(diǎn)判定。對(duì)每個(gè)像素點(diǎn)進(jìn)行遍歷,若該像素的值大于0,且鄰域點(diǎn)都大于0,則該點(diǎn)為非邊界點(diǎn)。
(3)對(duì)剩余的點(diǎn)進(jìn)行Alpha Shapes 判定:
(a)遍歷剩余所有像素點(diǎn)p (x,y),運(yùn)用K 最近鄰域算法核心思想,計(jì)算其個(gè)最近鄰域點(diǎn),并計(jì)算其歐氏距離的均值,并設(shè)置為滾動(dòng)圓的半徑α,搜索所有距離該像素點(diǎn)距離小于2α的像素點(diǎn),形成新的點(diǎn)集。
(b)任意中任意一個(gè)點(diǎn)p (x,y),根據(jù)p、p及半徑α,可以確定兩個(gè)滾動(dòng)圓及其圓心和。若中其它所有點(diǎn)到和距離均大于α,則該點(diǎn)p為邊界點(diǎn)。
(c)若中沒有滿足條件(b)的點(diǎn),則該點(diǎn)p不是邊界點(diǎn)。
(d)重復(fù)步驟(b)、(c),直到找出所有邊界點(diǎn)。
在上文中,已得到滿足聚類條件的個(gè)類簇,每一次類簇由一系列的離散點(diǎn)組成,如圖2(a)所示。本文涉及的算法需要將離散點(diǎn)擬合成多邊形區(qū)域,并運(yùn)用圖像處理技術(shù)處理計(jì)算其區(qū)域特征進(jìn)行聚集區(qū)域篩選。對(duì)于離散點(diǎn)的區(qū)域擬合最常見的技術(shù)就是凸包擬合,如圖2(b)所示。圖中離散點(diǎn)簇所圍成的區(qū)域?yàn)榘夹危舨捎猛拱鼣M合算法得到的域明顯不是點(diǎn)簇的真實(shí)形狀。因此,本文采用自適應(yīng)Alpha Shapes 算法來尋找點(diǎn)簇的邊界點(diǎn),并將邊界點(diǎn)連接起來形成點(diǎn)簇的聚集區(qū)域,結(jié)果如圖2(c)所示。
圖2 聚集區(qū)域圖Fig.2 Concentrated region
在圖像處理領(lǐng)域中,對(duì)于圖像目標(biāo)區(qū)域的自動(dòng)提取,最常見的方法是:先對(duì)圖像進(jìn)行閾值分割,連通區(qū)域標(biāo)記,計(jì)算區(qū)域特征值,再根據(jù)目標(biāo)區(qū)域的特征,自動(dòng)定位出目標(biāo)區(qū)域。Hu于1962 年提出了基于直角坐標(biāo)的幾何矩的概念,并推導(dǎo)出一系列的具有尺度不變形、平移不變性和旋轉(zhuǎn)不變形的變量,并廣泛應(yīng)用于圖像識(shí)別、數(shù)據(jù)重建、圖像壓縮、運(yùn)動(dòng)圖像分析等領(lǐng)域。
Hu 幾何矩及中心距定義如下:
其中:m為() 階幾何矩;M為()階幾何中心矩;A 為目標(biāo)區(qū)域;(,) 為區(qū)域A的幾何中心。
本文中聚集區(qū)域的特征值包括:點(diǎn)簇區(qū)域的面積、點(diǎn)密度、質(zhì)心(O,O)、方向、長度、寬度、長寬比等特征參數(shù),并運(yùn)用這些參數(shù)對(duì)MAP 圖中不良點(diǎn)聚集區(qū)域進(jìn)行自動(dòng)篩選和定位。對(duì)于任一點(diǎn)簇區(qū)域A,上述特征值計(jì)算公式如下:
其中,表示區(qū)域A內(nèi)不良點(diǎn)的數(shù)量,、為A的最小外接矩形的長度和寬度。
本文將AOI 上報(bào)的不良點(diǎn)映射成不良MAP圖,并通過層次聚類、自適應(yīng)Alpha Shapes、區(qū)域特征提取及篩選等算法,自動(dòng)定位出不良點(diǎn)的聚集區(qū)域,詳細(xì)算法流程如圖3 所示:
圖3 算法流程圖Fig.3 Algorithm flow chart
(1)讀取AOI 上報(bào)的單張/多張玻璃基板不良點(diǎn)坐標(biāo)(x,y),建立玻璃基板坐標(biāo)系與圖像坐標(biāo)系之間的映射關(guān)系(公式(2)),將基板坐標(biāo)系中的不良點(diǎn)坐標(biāo)轉(zhuǎn)化為圖像坐標(biāo)系中坐標(biāo)(X,Y)。實(shí)驗(yàn)中選擇了生產(chǎn)過程中一個(gè)批次(28 張)的面板作為分析對(duì)象,將這個(gè)批次面板上所有不良點(diǎn)坐標(biāo)疊加到一起,所形成的不良MAP,如圖4 所示。在該MAP 圖的頂部、右側(cè)、中下部存在明顯的不良點(diǎn)聚集區(qū)域。
圖4 不良點(diǎn)聚集區(qū)域提取Fig.4 Defect concentrated region extraction
(2)采用不良點(diǎn)間的歐式距離作為聚類分析的先決條件,將所有點(diǎn)簇中間距≤的點(diǎn)視作一類點(diǎn)簇。具體采用機(jī)器學(xué)習(xí)領(lǐng)域的層次聚類的算法實(shí)現(xiàn),并運(yùn)用Single linkage(最小化類間樣本距離)作為聚類分析連接標(biāo)準(zhǔn),得到最終的分類結(jié)果{,,,…,C},C?且≥1。
其中為點(diǎn)簇中不良點(diǎn)的最小數(shù)量,且≥1,分類及篩選結(jié)果如圖4(a)所示。
(4)若步驟(3)篩選結(jié)果?,則說明該MAP 圖不存在不良點(diǎn)聚集問題。相反,則進(jìn)一步進(jìn)行分析。
(6)采用圖像處理領(lǐng)域的插值擬合技術(shù),根據(jù)任意點(diǎn)簇C的輪廓點(diǎn)C擬合出該點(diǎn)簇的最小包圍圖形區(qū)域A,由此可得到點(diǎn)簇相對(duì)應(yīng)的圖像區(qū)域集合{,,…,},如圖5(a)所示。
圖5 目標(biāo)區(qū)域篩選Fig.5 Objective region filtering
表1 區(qū)域特征Tab.1 Region features
(8)根據(jù)步驟(7)計(jì)算出的區(qū)域特征向量,刪除集合中不滿足條件F∈[α,β]的區(qū)域。如:通過區(qū)域中心點(diǎn)坐標(biāo)(O,O),可刪除集合和,因?yàn)椴AЩ逋鈬鷧^(qū)域并不會(huì)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量產(chǎn)生影響;通過面積特征,可刪除和區(qū)域,小面積的聚集性對(duì)產(chǎn)品最終的質(zhì)量影響很小;最終選出造成良率損失的不良點(diǎn)聚集區(qū)域集合{,,},如圖5(b)所示。
本文方法不僅限于AMOLED 行業(yè),同樣適用于其它面板顯示及半導(dǎo)體行業(yè)應(yīng)用。該類領(lǐng)域內(nèi),需要對(duì)AOI 檢測(cè)出的不良點(diǎn)所生成的MAP 圖進(jìn)行在線聚集性分析,并找出造成良率損失的點(diǎn)位聚集區(qū)供后續(xù)的不良分析。本文方法創(chuàng)新性地結(jié)合機(jī)器學(xué)習(xí)領(lǐng)域的層次聚類、alpha shapes、圖像處理領(lǐng)域的blob 分析等算法,并借鑒圖像處理領(lǐng)域缺陷定位的思路,完成了對(duì)MAP 圖在線智能分析。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,本方法可迅速定位MAP 圖中不良點(diǎn)的聚集區(qū)域,可替代當(dāng)前人工在線目檢方式,通過一系列量化的判斷指標(biāo),降低人工主觀判斷帶來的誤判和漏判風(fēng)險(xiǎn),節(jié)約成本并提高檢測(cè)效率。