譚興華 陳瑞斌 楊 東 郭振華
(河南四達(dá)檢測(cè)技術(shù)有限公司, 許昌 461000)
近幾年來(lái),輸電線(xiàn)路接頭及導(dǎo)線(xiàn)斷裂事故頻繁發(fā)生,嚴(yán)重影響電力系統(tǒng)安全穩(wěn)定運(yùn)行。準(zhǔn)確、深入地分析管件和導(dǎo)線(xiàn)的失效機(jī)理,對(duì)保障電網(wǎng)安全運(yùn)行具有重要意義。當(dāng)前已有較多學(xué)者開(kāi)展了關(guān)于輸電線(xiàn)路耐張線(xiàn)夾壓接缺陷的檢測(cè)方法,孫力, 王成業(yè)[1]研究了基于脈沖激光的建筑材料缺陷無(wú)損檢測(cè)方法,該方法主要運(yùn)用模板匹配,利用三角剖分法實(shí)現(xiàn)建筑材料缺陷區(qū)域的精確勾畫(huà), 計(jì)算出精確的缺陷區(qū)域最佳閾值;唐盼等人[2]研究了帶電作業(yè)用絕緣工具超聲檢測(cè)方法,該方法主要采用超聲檢測(cè)技術(shù)對(duì)材料內(nèi)部缺陷進(jìn)行了診斷。
但由于上述方法不能對(duì)輸電線(xiàn)路的使用狀況進(jìn)行準(zhǔn)確分析,致使這些線(xiàn)路的安全隱患不斷增加。新型輸電線(xiàn)路帶電X光檢測(cè)技術(shù)不但具有直觀(guān)、有效、快速的優(yōu)點(diǎn),還具有常規(guī)X光檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn),可保證輸電線(xiàn)路在進(jìn)行X光檢測(cè)時(shí)不會(huì)發(fā)生斷電,具有周期靈活的應(yīng)用價(jià)值。根據(jù)輸電線(xiàn)路設(shè)備的具體情況,實(shí)施不同的維修計(jì)劃,檢查設(shè)備存在的安全隱患。因此將X射線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)應(yīng)用到輸電線(xiàn)路耐張線(xiàn)夾壓接缺陷檢測(cè)中,利用X光數(shù)字成像技術(shù)對(duì)輸電線(xiàn)路及其附件進(jìn)行缺陷檢測(cè),可在傳統(tǒng)檢測(cè)方法的基礎(chǔ)上,提供直觀(guān)、方便的檢測(cè)手段,對(duì)傳輸線(xiàn)路及其附件的檢測(cè)與失效原因分析提供了新的方法和參考依據(jù)。
此設(shè)計(jì)的輸電線(xiàn)路耐張線(xiàn)夾壓接缺陷帶電X射線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)方法,采用了X射線(xiàn)數(shù)字成像板代替?zhèn)鹘y(tǒng)的X光膠片。圖1為系統(tǒng)檢測(cè)的原理圖。
圖1 X 射線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)原理圖
依據(jù) X射線(xiàn)透照原理[3,4],設(shè)線(xiàn)夾的透照厚度為W,將透照厚度的關(guān)系式表達(dá)為:
W=D-φ
(1)
公式(1)中,φ代表鋁管內(nèi)徑,D代表鋁管外徑。
透過(guò)X 射線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)原理圖,可進(jìn)一步求得線(xiàn)夾壓力數(shù)值。基于射線(xiàn)機(jī)實(shí)際幾何位置,可獲得透照焦距大小。隨著缺陷深度的不斷增加,最小可探測(cè)缺陷的尺寸也會(huì)隨之增加,圖2為X射線(xiàn)技術(shù)原理,圖3為最小可探測(cè)缺陷尺寸。
圖2 X射線(xiàn)技術(shù)原理
圖3 最小可探測(cè)缺陷尺寸
由于x射線(xiàn)方法具有透射的特性,使其更加適用于輸電線(xiàn)路耐張線(xiàn)夾壓接缺陷無(wú)損檢測(cè)。
由于張力夾一旦卷曲,就會(huì)直接安裝在張力塔上,所以對(duì)地面和高空作業(yè)都需要檢測(cè)設(shè)備[5]。探測(cè)設(shè)備包括X光機(jī)、成像板和軟件成像系統(tǒng)[6]。X射線(xiàn)發(fā)射器能發(fā)射足夠能量的X射線(xiàn),以區(qū)別應(yīng)變夾內(nèi)的鋁和鋼的狀態(tài)。成像板可接受X光成像,并可儲(chǔ)存一定量的成像數(shù)據(jù),軟件成像系統(tǒng)可利用軟件信息進(jìn)行處理,利用圖像重建技術(shù)以圖形形式再現(xiàn)應(yīng)變夾內(nèi)的狀態(tài)[7]。原理如下:
在檢測(cè)前檢查人員要根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)情況,綜合分析檢查情況,準(zhǔn)備基礎(chǔ)資料(高度、材料等)。設(shè)置檢查點(diǎn)[8],將儀器置于合適的檢查位置,并確保所有連接正確,且必須置于警告線(xiàn)和檢查地點(diǎn)的防輻射標(biāo)牌上;一旦打開(kāi)所有設(shè)備的電源,檢測(cè)參數(shù)(如 X射線(xiàn)源的管電壓和管電流等)。應(yīng)該估計(jì)并根據(jù)設(shè)備提供的設(shè)備參數(shù),如生產(chǎn)板卡,配置相應(yīng)的X光機(jī)和成像機(jī);打開(kāi)X光機(jī),發(fā)射輻射[9],調(diào)整曝光功率和時(shí)間,通過(guò)軟件調(diào)整圖像,確定是否需要再測(cè)試。X射線(xiàn)技術(shù)檢測(cè)耐張線(xiàn)夾操作流程圖如圖4。
圖4 X射線(xiàn)技術(shù)檢測(cè)耐張線(xiàn)夾操作流程圖
通過(guò)上述分析可知,在耐張線(xiàn)夾檢測(cè)中X 射線(xiàn)檢測(cè)耐張線(xiàn)夾的管電壓與管電流選擇上較為重要,因此著重對(duì)其分析[10]。
管電壓指射線(xiàn)源激發(fā)X 射線(xiàn)時(shí)所需要的電壓值。在給定條件下,有如下關(guān)系:
(2)
(3)
公式(2)、(3)中,C代表常數(shù),Zi代表原子序數(shù),λ代表X射線(xiàn)的波長(zhǎng)。
基于上述計(jì)算,可選擇合適的管電壓以及管電流參數(shù)值[11]。在管電壓確定后,需要在一定范圍內(nèi)減少管電流,提高圖像的對(duì)比度與質(zhì)量。
同時(shí),由于高能量X射線(xiàn)的衍射作用,會(huì)導(dǎo)致圖像邊緣不清晰,其幾何不清晰度的原理圖如圖5所示。
圖5 幾何不清晰度的原理
影響圖像不清晰度的原因主要由幾何不清晰度造成,其表達(dá)式為:
(4)
公式(4)中,d代表射線(xiàn)源焦點(diǎn)尺寸,L1代表焦點(diǎn)至受檢工件之間的距離,L2代表受檢工件到成像板之間的距離[12]。
應(yīng)用中心差分法對(duì)方程進(jìn)行求解,在增量步的動(dòng)力學(xué)條件下計(jì)算下一個(gè)增量步的動(dòng)力學(xué)條件。在計(jì)算的初始階段,需要對(duì)動(dòng)力學(xué)方程進(jìn)行求解,則有:
(5)
上式中,a代表節(jié)點(diǎn)加速度;M代表質(zhì)量矩陣;P代表外力;I代表設(shè)定單元內(nèi)的插值。
在增量步初始階段,需要計(jì)算加速度,則有:
a|(t)=M-1×(P-I)|(t)
(6)
由于顯示算法選用質(zhì)量矩陣對(duì)加速方程進(jìn)行求解,所以整個(gè)求解過(guò)程十分簡(jiǎn)單,不需要組建聯(lián)立方程進(jìn)行求解。全部節(jié)點(diǎn)的加速度取值都完全取決于電壓節(jié)點(diǎn)質(zhì)量或者電壓節(jié)點(diǎn)上的合力,以上操作能夠有效降低計(jì)算成本。
通過(guò)上述計(jì)算對(duì)圖像成像距離等進(jìn)行調(diào)整,在初始成像時(shí)提高成像質(zhì)量。
根據(jù)LVQ 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)[13]的線(xiàn)性可分性對(duì)數(shù)字灰度圖像進(jìn)行邊緣檢測(cè),LVQ 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)是通過(guò)有監(jiān)督和無(wú)監(jiān)督的學(xué)習(xí)進(jìn)行分類(lèi)[14],網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)采用 Kohonen規(guī)則,因此具有很好的線(xiàn)性可分的性能。
運(yùn)用LVQ 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的線(xiàn)性可分性對(duì)數(shù)字灰度圖像[15]進(jìn)行邊緣檢測(cè)的原理圖如圖6所示。
圖6 邊緣檢測(cè)原理圖
其中圖像中像素點(diǎn)某個(gè)方向上邊緣的強(qiáng)度計(jì)算公式如下所示:
(7)
公式(7)中,L代表圖像灰度級(jí),θ2代表圖像各自己之間的距離,pm、pn分別代表圖像邊界點(diǎn)。
通過(guò)上述過(guò)程完成對(duì)圖像像素點(diǎn)的劃分,獲得最終的目標(biāo)邊界圖像,以此完成輸電線(xiàn)路耐張線(xiàn)夾壓接缺陷檢測(cè)。
為驗(yàn)證此次研究的輸電線(xiàn)路耐張線(xiàn)夾壓接缺陷帶電X射線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)方法的有效性,進(jìn)行實(shí)驗(yàn)對(duì)比,并將該方法與文獻(xiàn)[1]方法、文獻(xiàn)[2]方法進(jìn)行對(duì)比,對(duì)比3種檢測(cè)方法的檢測(cè)效果。實(shí)驗(yàn)?zāi)蛷埦€(xiàn)夾壓接區(qū)域及檢測(cè)位置示意圖如圖7所示。
圖7 實(shí)驗(yàn)?zāi)蛷埦€(xiàn)夾壓接區(qū)域及檢測(cè)位置示意圖
試驗(yàn)?zāi)M平臺(tái)為: CPU2.8 GMHZ,內(nèi)存4 GB,操作系統(tǒng) windowsXP,編程采用 Java語(yǔ)言進(jìn)行試驗(yàn)?zāi)M。實(shí)驗(yàn)的耐張線(xiàn)夾壓接缺陷情況如表1所示。
表1 耐張線(xiàn)夾壓接缺陷分類(lèi)
其中耐張線(xiàn)夾壓接質(zhì)量缺陷統(tǒng)計(jì)結(jié)果如表2所示。
表2 耐張線(xiàn)夾壓接質(zhì)量缺陷統(tǒng)計(jì)結(jié)果
分別采用此次研究的方法與傳統(tǒng)的方法對(duì)上述缺陷情況進(jìn)行檢測(cè),詳細(xì)檢測(cè)結(jié)果如下所示。
采用下述公式計(jì)算檢測(cè)誤差:
(8)
公式(8)中,Q代表圖像數(shù)目,hk代表第k幅圖像,q代表識(shí)別參數(shù)。
利用上述公式衡量3種方法的檢測(cè)誤差,文獻(xiàn)[1]方法、文獻(xiàn)[2]法與此次設(shè)計(jì)的輸電線(xiàn)路耐張線(xiàn)夾壓接缺陷帶線(xiàn)X射線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)方法的檢測(cè)誤差對(duì)比結(jié)果如圖8所示。
圖8 檢測(cè)誤差對(duì)比
分析圖8可知,此次研究的無(wú)損檢測(cè)方法在6個(gè)缺陷情況的檢測(cè)上,均能夠以較高的準(zhǔn)確性完成缺陷檢測(cè),合理分析出缺陷情況。文獻(xiàn)[1]檢測(cè)方法在第3個(gè)、與第4個(gè)缺陷情況檢測(cè)上,檢測(cè)準(zhǔn)確性較高,但是在其余的缺陷情況上,檢測(cè)誤差較高。文獻(xiàn)[2]的檢測(cè)方法在6個(gè)缺陷情況檢測(cè)上,檢測(cè)誤差均較高,文獻(xiàn)[2]的無(wú)損檢測(cè)方法檢測(cè)效果較差。
分別采用此次研究的方法與傳統(tǒng)的兩種方法進(jìn)行檢測(cè),對(duì)比3種方法的檢測(cè)時(shí)間,對(duì)比結(jié)果如圖9所示。
圖9 檢測(cè)時(shí)間對(duì)比
分析圖9可知,傳統(tǒng)兩種方法的檢測(cè)時(shí)間均多于此次研究的輸電線(xiàn)路耐張線(xiàn)夾壓接缺陷帶電X射線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)方法。
由此,通過(guò)上述實(shí)驗(yàn)可以證明,此次研究的檢測(cè)方法檢測(cè)效果比傳統(tǒng)的基于脈沖激光的建筑材料缺陷無(wú)損檢測(cè)方法、帶電作業(yè)用絕緣工具超聲檢測(cè)方法的檢測(cè)效果好,不僅提高了檢測(cè)準(zhǔn)確性,還降低了檢測(cè)時(shí)間。原因是此次研究的方法采用了X射線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)方法,設(shè)計(jì)了無(wú)損檢測(cè)流程并提出了后續(xù)的圖像處理方法,從而提高了無(wú)損檢測(cè)效果。
提出輸電線(xiàn)路耐張線(xiàn)夾壓接缺陷帶電X射線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)方法,并通過(guò)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了此次研究的檢測(cè)方法的有效性。證明通過(guò)X射線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)方法在質(zhì)量檢測(cè)上檢測(cè)效果明顯,能夠有效檢測(cè)出耐張線(xiàn)夾、鋼芯實(shí)際壓接情況與鋁線(xiàn)夾壓力接緊密程度等,能夠準(zhǔn)確判斷出壓接質(zhì)量是否符合有關(guān)規(guī)定,在線(xiàn)路運(yùn)維檢修中具有重要的應(yīng)用意義。
由于受到時(shí)間的限制以及實(shí)驗(yàn)條件的限制,在實(shí)驗(yàn)部分僅做了一部分的探討,在后續(xù)研究中將擴(kuò)大實(shí)驗(yàn)范圍,以提高實(shí)驗(yàn)的準(zhǔn)確性,從而根據(jù)存在的問(wèn)題進(jìn)一步提高輸電線(xiàn)路耐張線(xiàn)夾壓接缺陷帶電X射線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)效果。