潘立春

摘要：城鎮(zhèn)地籍測(cè)量是城鎮(zhèn)土地管理工作的重要基礎(chǔ)，其以測(cè)量技術(shù)為手段，從控制測(cè)量到碎部測(cè)量，精確測(cè)出各類(lèi)土地的位置與大小、界線、權(quán)屬界址點(diǎn)的坐標(biāo)與宗地面積以及地籍圖，以滿(mǎn)足土地管理部門(mén)以及其它國(guó)民經(jīng)濟(jì)建設(shè)部門(mén)的需要。文中在介紹地籍測(cè)量的概念后，分析了城鎮(zhèn)地籍測(cè)量的方法，然后指出城鎮(zhèn)地籍測(cè)量的主要誤差，并著重分析城鎮(zhèn)地籍碎部測(cè)量工作內(nèi)容及精度控制方法。

關(guān)鍵詞：地籍測(cè)量;界址點(diǎn)測(cè)量;精度分析

隨著我國(guó)國(guó)土資源信息化的快速普及，城鎮(zhèn)地籍測(cè)量的精度要求越來(lái)越高。但實(shí)際測(cè)量中存在很多誤差，導(dǎo)致測(cè)量精度要求很難達(dá)到。因此，加強(qiáng)分析和研究城鎮(zhèn)地籍測(cè)量誤差來(lái)源及如何提高測(cè)量精度，就成為當(dāng)務(wù)之急。

1 地籍測(cè)量概述

地籍是指由國(guó)家監(jiān)管、以土地權(quán)屬為核心、以地塊為基礎(chǔ)的土地及其附著物的權(quán)屬、位置、數(shù)量、質(zhì)量和利用現(xiàn)狀等土地基本信息的集合，用數(shù)據(jù)、表冊(cè)和圖等形式表示。地籍測(cè)量是為獲取和表達(dá)地籍信息所進(jìn)行的測(cè)繪工作，其基本內(nèi)容是測(cè)定土地及其附著物的位置、權(quán)屬界線、類(lèi)型、面積等，包括地籍控制測(cè)量和地籍碎部測(cè)量。

2 城鎮(zhèn)地籍測(cè)量的方法

2.1 城鎮(zhèn)地籍控制測(cè)量方法

地籍控制測(cè)量具有范圍大、控制點(diǎn)密度高等特點(diǎn)。它采用的測(cè)量方法有很多，如GPS靜態(tài)定位測(cè)量方法、導(dǎo)線控制測(cè)量方法等。這些方法的主要缺陷是功效較低。為彌補(bǔ)這一缺陷，后期引進(jìn)RTK 技術(shù)測(cè)量方法，具有作業(yè)速度快、效率高等優(yōu)勢(shì)，特別在天空視野開(kāi)闊地區(qū)，其速度是其它測(cè)繪方法不能比擬的。

2.2 城鎮(zhèn)地籍碎部測(cè)量方法

城鎮(zhèn)地籍碎部測(cè)量又稱(chēng)為城鎮(zhèn)地籍要素測(cè)量，技術(shù)方法主要包括：

（1）平板儀測(cè)量法。我國(guó)在三、四十年代進(jìn)行地籍測(cè)量主要采用此法，缺點(diǎn)是不能提供精確野外實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)，只能得到有限的圖解精度，只能提供圖解地籍。

（2）經(jīng)緯儀正交測(cè)量法。又稱(chēng)直角坐標(biāo)法，它主要采用直角棱鏡測(cè)定目標(biāo)點(diǎn)到測(cè)線的垂足點(diǎn)，使用通過(guò)合格檢驗(yàn)的鋼卷尺，丈量目標(biāo)點(diǎn)到測(cè)線垂足點(diǎn)的距離（Y坐標(biāo)）和丈量控制點(diǎn)至垂足點(diǎn)之間的距離（X坐標(biāo)）。此法的缺點(diǎn)在于限定目標(biāo)點(diǎn)到測(cè)線的垂直距離最大不得超過(guò) 50m。

（3）攝影測(cè)量法。又也稱(chēng)航空攝影測(cè)量法，是按航攝像片及其測(cè)制底圖獲取目標(biāo)的位置。

（4）全站儀極坐標(biāo)測(cè)量法。是以?xún)蓚€(gè)或多個(gè)己知控制點(diǎn)定向，測(cè)量目標(biāo)點(diǎn)與控制點(diǎn)之間的方向和距離，必要時(shí)通過(guò)附加支距來(lái)測(cè)定目標(biāo)點(diǎn)的位置。全站儀極坐標(biāo)測(cè)量法將成為城鎮(zhèn)地籍測(cè)量的主要方法，所依靠的儀器主要是全站儀。

3 城鎮(zhèn)地籍測(cè)量的誤差分析

測(cè)量工作中，誤差主要分為系統(tǒng)誤差和偶然誤差。

系統(tǒng)誤差又叫做規(guī)律誤差。它是在一定的測(cè)量條件下，對(duì)同一個(gè)被測(cè)尺寸進(jìn)行多次重復(fù)測(cè)量時(shí)，誤差值的大小和符號(hào)（正值或負(fù)值）保持不變;或者在條件變化時(shí)，按一定規(guī)律變化的誤差。規(guī)律誤差一般是由于儀器的某些不完善、測(cè)量技術(shù)上受到限制或?qū)嶒?yàn)方法不夠完善沒(méi)有保證正確的實(shí)驗(yàn)條件等原因而產(chǎn)生的。主要的系統(tǒng)誤差包括下列情況：誤讀、誤算、視差、刻度誤差、磨損誤差、接觸力誤差、撓曲誤差、余弦誤差、熱變形誤差等。

偶然誤差又叫隨機(jī)誤差。它指的是測(cè)量中由于偶然的或不確定的因素所造成的每一次測(cè)量值的無(wú)規(guī)則變化（漲落）。生偶然誤差的原因很多，例如觀測(cè)時(shí)目標(biāo)物對(duì)得不準(zhǔn)，讀數(shù)不準(zhǔn)確，周?chē)h(huán)境的偶然變化或電源電壓的波動(dòng)等因素的影響，難以確定某個(gè)因素產(chǎn)生的具體影響的大小。

4 城鎮(zhèn)地籍碎部測(cè)量及其精度控制分析

4.1 城鎮(zhèn)地籍碎部測(cè)量工作內(nèi)容

城鎮(zhèn)地籍碎部測(cè)量主要包括界址點(diǎn)測(cè)定、地籍圖測(cè)繪和面積量算等內(nèi)容。界址點(diǎn)是地籍圖中最重要的要素，因?yàn)閮蓚€(gè)相鄰界址點(diǎn)組成一個(gè)界址線，三個(gè)或三個(gè)以上界址線組成一個(gè)宗地，所以它的精度的優(yōu)劣直接影響地籍圖測(cè)繪和面積量算的精度。地籍圖測(cè)繪中主要包括制作地籍圖和宗地圖，前者是專(zhuān)題圖，反映地籍要素以及與地籍有密切關(guān)系的地物，并在圖面載荷允許條件下適當(dāng)反映其它內(nèi)容;后者是土地證的附圖，內(nèi)容主要包括地籍要素、地物要素和數(shù)學(xué)要素等。在城鎮(zhèn)地籍測(cè)量中，一般面積量算以宗地為單位，利用測(cè)量的界址點(diǎn)計(jì)算面積。地塊面積的量算方法主要包括直接計(jì)算面積法和圖上量算面積法，顯然由于圖紙存在變形，在面積量算中帶來(lái)一定誤差，故在現(xiàn)實(shí)中使用前者方法較多。

4.2 城鎮(zhèn)地籍碎部測(cè)量精度控制

城鎮(zhèn)地籍碎部測(cè)量中，界址點(diǎn)的測(cè)定因使用的方法等復(fù)雜原因，容易出現(xiàn)系統(tǒng)誤差和偶然誤差，從而影響精度。精度的優(yōu)劣直接影響地籍圖測(cè)繪和面積量算的精度，其測(cè)量精度理應(yīng)得到控制。目前在界址點(diǎn)測(cè)定中，用的最多的方法是解析法，即利用實(shí)測(cè)元素按公式解析計(jì)算出它們的坐標(biāo)。解析法測(cè)定界址點(diǎn)的主要方法是全站儀極坐標(biāo)法。

全站儀極坐標(biāo)法的原理是在測(cè)站點(diǎn)上安置儀器，觀測(cè)己知方向至界址點(diǎn)方向間的水平角，并量取測(cè)站點(diǎn)至界址點(diǎn)的距離，通過(guò)計(jì)算求得界址點(diǎn)的坐標(biāo)。這種方法由于比較靈活，在一個(gè)測(cè)站上常可同時(shí)測(cè)量多個(gè)界址點(diǎn)。通過(guò)極坐標(biāo)方法進(jìn)行平面界址點(diǎn)坐標(biāo)測(cè)量是將全站儀安置在測(cè)站點(diǎn)，選擇儀器上的二維坐標(biāo)測(cè)量模式，輸入測(cè)站點(diǎn)的二維坐標(biāo)（Xcz，Ycz）、定向點(diǎn)的二維坐標(biāo)（Xdx，Ydx），瞄準(zhǔn)定向點(diǎn)進(jìn)行后視定向并檢查，然后照準(zhǔn)目標(biāo)點(diǎn)（界址點(diǎn)）上的棱鏡，按坐標(biāo)測(cè)量鍵，儀器就利用自帶程序計(jì)算并顯示界址點(diǎn)的二維坐標(biāo)值（Xj，Yj）。這樣可以大大增加界址點(diǎn)的測(cè)定精度。

結(jié)束語(yǔ)

城鎮(zhèn)地籍測(cè)量是一項(xiàng)關(guān)系國(guó)土資源科學(xué)利用的重要工作，現(xiàn)階段所用測(cè)量方法與技術(shù)類(lèi)型較多，各有差異，但都會(huì)出現(xiàn)一定程度的測(cè)量誤差。特別是對(duì)于城鎮(zhèn)地籍碎部測(cè)量的界址點(diǎn)測(cè)量工作，其測(cè)量精度會(huì)受到很多誤差源的干擾，從而影響到地籍碎部測(cè)量質(zhì)量。因此，利用好全站儀極坐標(biāo)測(cè)量法等方法與技術(shù)，加強(qiáng)城鎮(zhèn)地籍碎部測(cè)量的界址點(diǎn)測(cè)量精度的控制，是提升整體測(cè)量工作效率與質(zhì)量的有效保障。

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