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        基于SIMPLIS軟件的功率MOSFET寄生參數(shù)仿真研究

        2021-03-23 10:40:48馮興田王世豪
        實(shí)驗(yàn)室研究與探索 2021年2期
        關(guān)鍵詞:米勒線性電容

        馮興田,王世豪,邵 康

        (中國石油大學(xué)(華東)新能源學(xué)院,山東青島 266580)

        0 引言

        功率器件MOSFET廣泛應(yīng)用于短路保護(hù)、電動(dòng)機(jī)控制、開關(guān)電路[1-4]等場(chǎng)合,不同的設(shè)計(jì)需求促生了MOSFET的多種類型和有效的設(shè)計(jì)使用方法。文獻(xiàn)[5]中通過采用新結(jié)構(gòu)、新材料、新工藝等技術(shù)來提升功率MOSFET的性能,突破了傳統(tǒng)MOSFET硅極限和SJ MOSFET硅極限關(guān)系,設(shè)計(jì)了一種高效節(jié)能的功率MOSFET。文獻(xiàn)[6]中結(jié)合SiC MOSFET的參數(shù)特性及驅(qū)動(dòng)要求,采用了一種柵極有源箝位串?dāng)_抑制方法,設(shè)計(jì)了一種高效的SiC MOSFET 驅(qū)動(dòng)電路。文獻(xiàn)[7]中則在Si基橫向雙擴(kuò)散MOSFET模型的基礎(chǔ)上,采用與溫度相關(guān)的電流源和電壓源補(bǔ)償器件漏極電流和閾值電壓的變化,設(shè)計(jì)了一種減少工作溫度影響的SiC 功率MOSFET。

        功率MOSFET在開關(guān)過程中要跨越線性工作區(qū),形成電流和電壓的交錯(cuò)區(qū),從而產(chǎn)生一定的損耗,米勒平臺(tái)就是在這個(gè)過程中形成的一段時(shí)間相對(duì)穩(wěn)定的線性區(qū)[8-9]。在MOSFET 的關(guān)斷過程中,不同的寄生參數(shù)會(huì)改變電路中米勒平臺(tái)的持續(xù)時(shí)間,導(dǎo)致關(guān)斷時(shí)間過長(zhǎng),使MOSFET構(gòu)成的高性能變換器失去零電壓開關(guān)的優(yōu)點(diǎn)[10]。

        本文基于SIMPLIS 仿真軟件和實(shí)際MOSFET 特點(diǎn),建立MOSFET 的仿真模型,進(jìn)行MOSFET 寄生參數(shù)影響的研究,獲取寄生參數(shù)影響規(guī)律。通過直觀的仿真模型、仿真數(shù)據(jù)及波形,將抽象的內(nèi)部參數(shù)關(guān)系展示給學(xué)生,便于學(xué)生理解和掌握該部分知識(shí),在激發(fā)學(xué)生學(xué)習(xí)興趣的同時(shí),加深學(xué)生對(duì)MOSFET 器件性能的理解。

        1 MOSFET寄生參數(shù)分析建模

        為兼顧仿真速度和仿真精度,本文選用SIMPLIS軟件對(duì)MOSFET的寄生參數(shù)進(jìn)行仿真分析。SIMPLIS軟件是以狀態(tài)空間法為基礎(chǔ)的仿真內(nèi)核,對(duì)非線性器件可以采用分段線性建模,將一個(gè)完整的系統(tǒng)定義為線性電路結(jié)構(gòu)的循環(huán)序列,以描述開關(guān)電源系統(tǒng)中半導(dǎo)體器件的開關(guān)特性。它可以實(shí)現(xiàn)電源電路的高速仿真,且能夠?qū)⒎抡婢扰c收斂性能有效結(jié)合[11-13]。

        圖1 所示為在SIMPLIS軟件中搭建的MOSFET仿真模型。針對(duì)MOSFET 的寄生電容進(jìn)行分段線性建模,根據(jù)內(nèi)部器件的工作原理確定其轉(zhuǎn)移特性、輸出特性和圖像數(shù)據(jù)完成對(duì)MOSFET的建模。

        圖1 Simplis中搭建的MOSFET模型

        圖中:Cgs、Cgd、Cds為MOSFET寄生電容,均采用分段線性(Piecewise linear,PWL)電容建模;G1為壓控電流源;Rline為分段線性電阻;S1為壓控晶體管。PWL電容器由xy平面上的一系列點(diǎn)定義,電荷(q)在垂直軸y上,電壓(u)在水平軸x 上。按照這個(gè)定義,隨著電容器兩端的電壓變化,電荷始終是連續(xù)的。SIMPLIS軟件可以將一定電壓范圍內(nèi)的PWL 電容器的q-u 特性定義為任意段。為了兼顧仿真速度與仿真精度,將MOSFET中的寄生電容參數(shù)線性段分為10 段。

        線性電容的q-u表達(dá)式為

        非線性電容的q-u表達(dá)式為:

        本文研究的MOSFET型號(hào)為C2M0080120D,在其數(shù)據(jù)手冊(cè)中,官方給出了輸入電容(漏源極短接,用交流信號(hào)測(cè)得柵極和源極之間的電容就是輸入電容Ciss,Ciss由柵漏電容Cgd和柵源電容Cgs并聯(lián)而成)、輸出電容(柵源極短接,用交流信號(hào)測(cè)得漏極和源極之間的電容就是輸出電容Coss,Coss由漏源電容Cds和柵漏電容Cgd并聯(lián)而成)、反向傳輸電容(源極接地情況下,測(cè)得漏極和柵極之間的電容為反向傳輸電容Crss,反向傳輸電容等同于柵漏電容Cgd)的電容-電壓曲線,Cgs和Cds可以由各電容并聯(lián)關(guān)系計(jì)算得出。

        利用數(shù)據(jù)提取軟件采集數(shù)據(jù)手冊(cè)中的圖像數(shù)據(jù)和利用Matlab軟件對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,得到的Ciss、Coss、Crss數(shù)據(jù)曲線如圖2 所示。Cgs、Cds、Cgd實(shí)際參數(shù)曲線及其PWL模型參數(shù)對(duì)比曲線如圖3 所示。Cgs、Cds、Cgd實(shí)際模型及其PWL 模型的電荷-電壓對(duì)比曲線如圖4所示。

        圖2 Ciss、Coss、Crss數(shù)據(jù)曲線

        圖3 Cgs、Cds、Cgd實(shí)際參數(shù)曲線及其PWL模型參數(shù)曲線

        圖4 Cgs、Cds、Cgd實(shí)際模型及其PWL模型的Q-u曲線

        完成MOSFET寄生電容的分段線性建模之后,需要根據(jù)SIMPLIS中搭建的MOSFET模型的內(nèi)部器件的工作原理,來探究MOSFET 的轉(zhuǎn)移特性和輸出特性,從而準(zhǔn)確得到MOSFET的仿真模型。圖5 為針對(duì)圖1中壓控晶體管S1的分析,其中,圖5(a)為S1的原理示意圖,圖5(b)為S1導(dǎo)通和關(guān)斷狀態(tài)下的等效電路,圖5(c)為S1工作特性圖。

        圖5 壓控晶體管S1的原理示意圖、等效電路及工作特性圖

        MOSFET的轉(zhuǎn)移特性可以表示為:

        通過Rline可以控制gain,將MOSFET 的轉(zhuǎn)移特性進(jìn)行分段控制,當(dāng)Usat設(shè)置為0 時(shí),可變電阻區(qū)內(nèi)任意ugs下MOSFET 導(dǎo)通電阻為Rsat固定值,這一點(diǎn)與實(shí)際特性不符,但在研究MOSFET關(guān)斷特性時(shí),MOSFET導(dǎo)通電阻幾乎不影響關(guān)斷過程。所以MOSFET 在飽和區(qū)以及可變電阻區(qū)的輸出特性可以由圖1 中的G1、Rline和S1聯(lián)合表達(dá)。經(jīng)過上述方法對(duì)這種MOSFET的建模見表1。

        表1 各寄生電容的分段參數(shù)

        2 仿真設(shè)計(jì)與分析

        為分析不同電路條件下MOSFET 的關(guān)斷過程,搭建以C2M0080120D 型號(hào)MOSFET 為開關(guān)器件的半橋LLC諧振變換器[14-15]仿真模型,如圖6 所示。

        在5、20 Ω兩種不同驅(qū)動(dòng)電阻條件下,MOSFET的仿真關(guān)斷過程(電路電流為8.8 A)如圖7 所示。從仿真波形可見,MOSFET開關(guān)管在5 Ω驅(qū)動(dòng)電阻下,觸發(fā)脈沖關(guān)斷時(shí),ugs迅速下降,并不存在明顯的米勒平臺(tái),設(shè)定MOSFET工作在飽和區(qū)的時(shí)間為米勒平臺(tái)時(shí)間,此時(shí)米勒平臺(tái)的持續(xù)時(shí)間為10.37 ns,當(dāng)米勒平臺(tái)結(jié)束時(shí),開關(guān)管漏源極并未充至電源電壓。當(dāng)驅(qū)動(dòng)電阻為20 Ω時(shí),米勒平臺(tái)的持續(xù)時(shí)間為44.48 ns,當(dāng)米勒平臺(tái)結(jié)束時(shí),開關(guān)管漏源極已經(jīng)完全充至電源電壓。

        圖6 電路仿真模型

        圖7 不同驅(qū)動(dòng)電阻下的仿真關(guān)斷過程

        圖8 不同工作電流條件下的關(guān)斷波形

        在5 Ω 驅(qū)動(dòng)電阻不變情況下,MOSFET 在不同工作電流下的關(guān)斷波形如圖8 所示。電路工作電流8.8A時(shí),雖然MOSFET 的總體關(guān)斷時(shí)間較短,但米勒平臺(tái)的持續(xù)時(shí)間為10.37 ns;而當(dāng)工作電流減小至1.8 A時(shí),總體關(guān)斷時(shí)間增長(zhǎng),但米勒平臺(tái)的持續(xù)時(shí)間減小至6.67 ns。

        根據(jù)仿真結(jié)果分析可知:驅(qū)動(dòng)電阻越小,同等條件下米勒平臺(tái)持續(xù)時(shí)間越短,這是由于同等Cgd放電電流idg條件下,小驅(qū)動(dòng)電阻產(chǎn)生的反饋電壓越小;這種反饋?zhàn)饔迷叫?,米勒平臺(tái)的電壓值以及持續(xù)時(shí)間就越小。電路中的工作電流越小,在整個(gè)關(guān)斷時(shí)間內(nèi),給寄生電容放電的電流越小,同樣會(huì)降低米勒平臺(tái)的幅值以及關(guān)斷時(shí)間;當(dāng)工作電流小到一定值時(shí),米勒平臺(tái)幾乎不存在。

        3 結(jié)語

        本文基于SIMPLIS軟件對(duì)功率器件MOSFET的寄生參數(shù)進(jìn)行仿真,分析并驗(yàn)證了MOSFET 仿真參數(shù)關(guān)斷時(shí)間的影響規(guī)律。通過建模分析以及一系列的仿真訓(xùn)練,能夠加深學(xué)生對(duì)電力電子器件的理解,強(qiáng)化“電力電子技術(shù)”課程的教學(xué)研究,提高學(xué)生采用SIMPLIS、Matlab軟件進(jìn)行仿真分析的能力,有助于激發(fā)學(xué)生的學(xué)習(xí)科研興趣。

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