來永芳 陳 菲 孫 健 秦婉云 祁燁林
1(陸軍防化學(xué)院核防護(hù)系 北京102205)
2(南部戰(zhàn)區(qū) 昆明650000)
目前,國內(nèi)對土壤樣品γ 能譜分析多采用標(biāo)準(zhǔn)方法[1],所用探測器為圓柱形NaI(Tl)閃爍體探測器或高純鍺半導(dǎo)體探測器,將樣品盒置于探測器頂端來進(jìn)行γ能譜的測量,國外對土壤樣品γ能譜分析與國內(nèi)方法基本相同,在此不做贅述。受探測器靈敏面積、體積、樣品盒形狀和幾何位置關(guān)系等條件限制,該法測譜耗時較長;現(xiàn)地γ能譜測量確實(shí)能測量地表γ輻射水平及土壤中γ放射性核素的活度,但因氣象和地質(zhì)等條件存在較大差異,放射性物質(zhì)還可能滲透至地表不同深度,難以準(zhǔn)確測得不同深度土壤中γ放射性核素的活度。因此,核應(yīng)急、核爆條件下,收集土壤樣品、快速對其進(jìn)行γ放射性核素分析仍是準(zhǔn)確獲得土壤、水和生物等樣品中γ 放射性核素活度信息的重要技術(shù)手段。
NaI(Tl)井型γ譜儀在圓柱形閃爍探測器內(nèi)同軸位置處開出一圓柱形空腔(使探測器呈井型),相比圓柱形NaI(Tl)閃爍體探測器,井型譜儀將待測樣品置于空腔內(nèi),能大幅增加探測器靈敏區(qū)面積、提高探測效率[2-4],從而能有效縮短γ 譜測量時間。井型γ譜儀效率刻度是實(shí)現(xiàn)其對土壤樣品γ能譜分析的基本前提,本文提出MCNP 模擬計算與標(biāo)準(zhǔn)單能體源實(shí)測修正相結(jié)合的井型γ譜儀土壤樣品效率刻度方法,旨在通過單能體源實(shí)驗(yàn)刻度與模擬計算結(jié)合,得出土壤樣品的探測效率隨樣品質(zhì)量、能量變化函數(shù)關(guān)系,在實(shí)際測量時可快速得到土壤樣品探測效率,從而縮短γ 譜監(jiān)測分析時間,為核應(yīng)急輻射防護(hù)決策的制定提供及時、可靠的數(shù)據(jù)支持。
現(xiàn)常用的γ 譜儀效率刻度方法有實(shí)驗(yàn)室法、數(shù)值計算法、模擬計算法和無源刻度法等。
實(shí)驗(yàn)室法是γ 譜分析中常用的效率刻度方法。需預(yù)先制備與測量樣品的性質(zhì)(大小、包裝材料、基質(zhì)和測量核素等)基本相同的標(biāo)準(zhǔn)體源,在與樣品測量條件相同的情況下,用待刻度譜儀測量該標(biāo)準(zhǔn)體源,得到該條件下譜儀對標(biāo)準(zhǔn)體源不同能量γ 射線的全能峰探測效率值[5],實(shí)現(xiàn)譜儀效率刻度。
數(shù)值計算法的效率刻度方式主要有兩種。第一種是在完成部分實(shí)驗(yàn)室刻度基礎(chǔ)上,通過數(shù)學(xué)建模和公式擬合等,得到譜儀探測效率值;第二種則是通過建立符合實(shí)際測量條件的數(shù)學(xué)模型,基于γ 射線與物質(zhì)作用機(jī)理,對待測樣品進(jìn)行分區(qū)、得到探測效率公式[6],進(jìn)而算出γ譜儀的探測效率值。
模擬計算法基于蒙特卡羅(Monte Carlo,MC)方法,又稱隨機(jī)抽樣方法。γ譜儀效率刻度時,首先提取探測器和標(biāo)準(zhǔn)源特征參數(shù)、建立數(shù)學(xué)模型;然后根據(jù)源分布特征生成隨機(jī)數(shù),進(jìn)行抽樣;之后基于γ射線與物質(zhì)作用機(jī)理模擬計算出γ射線在探測器中的能量沉積譜,即可得到譜儀探測效率值[7]。
無源刻度法是一種基于MC模擬軟件與點(diǎn)源刻度結(jié)合的效率刻度方法。該法基于MC模擬軟件計算得到譜儀探測效率值,再通過實(shí)測值修正來保證效率刻度的準(zhǔn)確度。目前在核輻射探測領(lǐng)域,常用的MC 模擬軟件主要有EGS(Electron-Gamma Shower)、MORSE(Multigroup Oak Ridge Stochastic Experiment Code)和MCNP(Monte Carlo N-Particle Transport Code System)等,其中利用MCNP 來模擬NaI(Tl)閃爍探測器γ能譜已較成熟[8]。
比較上述4 種效率刻度方法,無源刻度法具有快速、無需標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)和適于大尺寸或不規(guī)則探測器效率刻度等優(yōu)勢,國外在NaI(Tl)井型γ譜儀無源刻度方面也開展了一些研究[9]。但需預(yù)先得到探測器材料和幾何尺寸等本征參數(shù),其次需通過測量多組γ點(diǎn)源在探測器不同位置的效率值來修正模擬計算值,才能保證效率刻度的準(zhǔn)確度要求,技術(shù)要求較高,并延長了刻度時間。
圖1 是土壤樣品體源與探測器位置示意圖,井型 探 測 器 為Nal(Tl)晶 體,外 徑152.4 mm、高152.4 mm,內(nèi)徑50.8 mm、高101.6 mm,外裹厚0.787 mm 的鋁箔。樣品盒材料為聚乙烯,壁厚2 mm、內(nèi)徑42 mm、高99.6 mm。樣品盒內(nèi)盛不同質(zhì)量土壤樣品,核素均勻分布于土壤中。標(biāo)準(zhǔn)土壤樣品 主 要 成 分 為SiO2、A12O3、Fe2O3、FeO、MgO 和CaO,放射性粒子137Cs 各向同性、均勻分布在樣品中。
本文采用MCNP4C 的F8 電子脈沖計數(shù)卡計算γ 射線點(diǎn)源在井型NaI(Tl)晶體中的能量沉積譜,圖2所示模擬計算所得137Cs點(diǎn)源γ射線能量為662 keV的γ能譜圖(取NaI(Tl)探測器對662 keV的γ射線能量分辨率為7.2%),半峰全寬(Full Width at Half Maximum,F(xiàn)WHM)約為49 keV,對圖2 所得全能峰區(qū)進(jìn)行積分,可得到全能峰探測效率約為38.8%,與未經(jīng)高斯能譜展寬的探測效率計算值(37.6%)基本吻合。
圖1 土壤樣品與井型探測器位置Fig.1 Schematic diagram of the location of soil samples and well detectors
圖2 MCNP計算所得137Cs點(diǎn)源γ能譜圖Fig.2 137Cs point source gamma spectrum calculated by MCNP
根據(jù)實(shí)驗(yàn)室效率刻度方法[1],選取不同γ射線能量值(表1 中列出),也為了更精確得到探測效率曲線峰值,在能量200 keV 附近,適當(dāng)增加能量刻度點(diǎn),以準(zhǔn)確表征效率刻度曲線變化規(guī)律。計算得到不同質(zhì)量土壤樣品、不同能量γ 射線的全能峰探測效率值,所得效率刻度曲線如圖3所示。
表1 γ射線效率刻度能量值Table 1 γ-ray efficiency scale energy value
圖3 不同質(zhì)量土壤樣品全能峰探測效率曲線Fig.3 All-energy peak detection efficiency curve of different quality of soil samples
由圖3可見,在土壤樣品質(zhì)量保持不變條件下,當(dāng)γ 射線能量小于約215 keV 時,井型γ 譜儀的探測效率隨γ射線能量的增加而增加,且隨著能量增加,增加趨勢由陡漸緩;當(dāng)能量大于約215 keV時,井型γ譜儀的探測效率則隨能量的增加而減小,且隨能量增加,減小趨勢由陡變緩、趨于平衡。射線能量相同時,γ射線探測效率隨土壤樣品質(zhì)量增加而減小,主要原因在于隨土壤樣品質(zhì)量增加,土壤樣品自吸收增加,同時隨土壤樣品質(zhì)量增加,γ射線與探測器作用的份額也隨之減少。
2.4.1 低能段刻度函數(shù)擬合
用取對數(shù)-多項(xiàng)式擬合法,得到井型γ 譜儀低能段(≤215 keV)的探測效率曲線刻度函數(shù)為:
式中:ε 為全能峰探測效率;Eγ為射線能量,MeV;l0、l1、l2、l3為與土壤樣品質(zhì)量相關(guān)的函數(shù)。對于不同質(zhì)量的土壤樣品,l0、l1、l2、l3與土壤樣品質(zhì)量的關(guān)系式分別為:
式中:m為土壤樣品質(zhì)量,g。在低能量段,函數(shù)擬合值與MCNP探測效率計算值間的最大偏差≤1.6%。
2.4.2 高能段刻度函數(shù)擬合
與低能段類似,得到高能量段(≥215 keV)井型探測器的探測效率曲線刻度函數(shù)為:
式中:Eγ為射線能量,MeV;l4、l5為與土壤樣品高度相關(guān)的函數(shù)。對不同高度的土壤樣品,式(5)中l(wèi)4、l5與土壤樣品高度的關(guān)系式為:
在高能量段,函數(shù)擬合值與MCNP 探測效率計算值間的最大偏差<±7%。
圖4 為實(shí)驗(yàn)用井型NaI 探測器,外徑152.4 mm、高152.4 mm,內(nèi)徑50.8 mm、深101.6 mm,探測器外裹鋁層厚0.787 mm。通過數(shù)字多道接PC 機(jī),用GammaVision 軟件采集能譜。實(shí)驗(yàn)測量所用點(diǎn)源為137Cs,表面25 cm 處的空氣吸收劑量率約為0.25 μGy·h-1。
圖4 井型NaI(Tl)探測器Fig.4 Well type NaI(Tl)detector
圖5 為137Cs 實(shí)測譜與MCNP 模擬譜對比,除低能量段,因康普頓坪與活度測量基本無關(guān)而未作高斯展寬、以及電子學(xué)系統(tǒng)噪聲影響使模擬譜與實(shí)測譜出現(xiàn)偏差外,實(shí)測譜全能峰與模擬譜全能峰區(qū)吻合良好。模擬譜中康普頓坪比實(shí)驗(yàn)譜低,峰康比也更高。相比圓柱形探測器,井型探測器將待測樣品置于空腔內(nèi),使得發(fā)生康普頓散射的光子不易逃逸出探測器,繼續(xù)與NaI晶體發(fā)生相互作用,從而提高探測效率、增加了全能峰計數(shù)。
圖5 137Cs實(shí)測譜與模擬譜Fig.5 Measured spectrum and simulated spectrum of 137Cs
實(shí)驗(yàn)采用標(biāo)準(zhǔn)土壤樣品如圖6 所示,標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)見表2。用精密天平稱量100.05 g標(biāo)準(zhǔn)土壤樣品,放入樣品盒內(nèi)、壓實(shí),置于井型NaI 探測器中央凹槽內(nèi),探測器接數(shù)字多道(DJBASE),Gamma Vision軟件采集數(shù)據(jù)。天平型號為德安特ES500,最大稱重500 g,分度值0.001 g。樣品盒為圓柱狀,材質(zhì)為聚乙烯,壁厚0.8 mm,內(nèi)徑47.6 mm,高100.6 mm(如圖7所示)。
圖6 標(biāo)準(zhǔn)土壤樣品Fig.6 Standard soil sample
表2 土壤樣品校準(zhǔn)數(shù)據(jù)Table 2 Calibration data of soil samples
已知土壤樣品活度為96.2 Bq,測量時間為3 042 s。圖8為所測能譜經(jīng)扣除本底和平滑后的能譜圖。
將實(shí)測譜全能峰區(qū)進(jìn)行高斯擬合。
所得擬合函數(shù)f(x)為:
圖7 樣品盒Fig.7 Sample box
圖8 土壤樣品實(shí)測譜處理后譜圖Fig.8 Spectrum of soil sample after processing of measured spectrum
式中:x為多道的道址計數(shù),對全能峰區(qū)計數(shù)進(jìn)行積分,得出全能峰凈面積N為110 027。
由已知土壤樣品活度,可算得全能峰效率為:
式中:A為土壤樣品活度;N為全能峰凈面積;T為活度測量時間;P 為核素發(fā)出特定能量γ 射線的幾率;K為核素活度的衰變修正因子。
將數(shù)據(jù)代入式(10)得到,NaI(Tl)井型γ 譜儀對土壤樣品源的全能峰效率為37.598%。
如前MCNP 效率模擬計算方法,計算得到NaI(Tl)井型γ 譜儀對土壤樣品中γ 射線(能量為662 keV)的全能峰探測效率為37.543%(與實(shí)驗(yàn)結(jié)果相差約0.055%),表明通過MCNP計算所得井型γ譜儀對土壤樣品的探測效率與實(shí)測結(jié)果基本吻合,驗(yàn)證了利用MCNP 得到全能峰探測效率刻度值對NaI(Tl)井型γ 譜儀進(jìn)行效率刻度的方法基本可行。在實(shí)際應(yīng)用中,因探測器通常存在一定死層,單能量點(diǎn)體源實(shí)測值往往會小于理論計算值,因此有必要利用實(shí)測值對理論值修正,以保證樣品測量結(jié)果滿足譜儀監(jiān)測的準(zhǔn)確度要求。
本文利用MCNP計算γ射線探測效率值結(jié)合土壤樣品單能量點(diǎn)體源實(shí)測修正,實(shí)現(xiàn)井型γ 譜儀探測效率刻度的方法,不僅能大幅縮短單能量點(diǎn)體源的實(shí)測時間,將MCNP 效率計算與單能量點(diǎn)體源實(shí)測修正相結(jié)合,也能避免實(shí)驗(yàn)刻度法與無源刻度法需多種標(biāo)準(zhǔn)體源、點(diǎn)源及多點(diǎn)實(shí)測修正耗時長的問題。將該刻度方法應(yīng)用于核與輻射突發(fā)事件中早期環(huán)境樣品放射性檢測,為核應(yīng)急防護(hù)決策的制定提供關(guān)鍵性的數(shù)據(jù)支持。下一步我們將進(jìn)一步驗(yàn)證此方法可靠性,以及將此方法用于生物等環(huán)境樣品的效率刻度。