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        微米級三維多孔高純鋁材料的制備與特性研究

        2020-12-18 06:26:20張茂貴王君湯水賈明劉芳洋蔣良興艾亮艾燕
        中南大學學報(自然科學版) 2020年11期
        關(guān)鍵詞:質(zhì)量

        張茂貴,王君,湯水,賈明,劉芳洋,蔣良興,艾亮,艾燕

        (1.中南大學冶金與環(huán)境學院,湖南長沙,410083;2.湖南艾華集團股份有限公司,湖南益陽,413000;3.全固態(tài)儲能材料與器件湖南省重點實驗室,湖南城市學院,湖南益陽,413000)

        多孔鋁是一種以純鋁或鋁合金為基體、內(nèi)部分布大量孔穴的金屬基復合功能材料,廣義地說,含有孔隙的鋁制品都可以稱為多孔鋁,也稱泡沫鋁[1]。因多孔鋁具有金屬基體和大量孔穴的雙重特質(zhì),且鋁及其合金具有密度小、比強度高、鑄造性能好、環(huán)境友好和豐度高等特點,故其作為一種集結(jié)構(gòu)和功能于一體的材料,具有輕質(zhì)、比強度高、比表面積高、阻尼高、換熱散熱強及能吸聲隔聲、能量吸收、電磁屏蔽等優(yōu)良特性,在冶金化工、航空航天、電子制造、建筑等方面具有廣闊的應用前景[2-4]。傳統(tǒng)多孔鋁的制備方法主要有熔體發(fā)泡法、滲流鑄造法、熔模鑄造法、粉末冶金法、噴濺沉積法、電沉積法和陽極氧化法等[5-9]。但面對人們所提出的諸如成本低、精細化程度等更高要求,這些傳統(tǒng)方法制備的多孔鋁材料不能滿足要求,急需采用更高性價比、更加工業(yè)化的方法來開發(fā)新型高性能多孔鋁材料。漿料涂敷-燒結(jié)法作為一種新興的制備手段,僅包含電池工業(yè)中常用的漿料制備、涂敷工藝和普通的熱處理手段,工藝簡單可控,成本低,對基體表面和設備要求低,能夠適用于不同形狀和尺寸的基體,具有廣闊的工業(yè)應用前景[10-12]。李薦等[13]將導電碳粉和有機樹脂混合,制備成漿料涂敷在鋁箔表面,再經(jīng)過熱處理制備了界面冶金結(jié)合良好、表面電阻率低至9.75×10-8Ω·m的鋁/碳復合箔。馬洪春等[14]在銅導電漿料中添加質(zhì)量分數(shù)為4.5%的銀粉,提高了漿料中銅粉的燒結(jié)活性,在燒結(jié)溫度為600 ℃時獲得了結(jié)合力強和導電性良好的導電銅膜。STUCKNER 等[15]將直徑為20~30 nm 的球形銀顆粒與溶劑、分散劑混合制備納米銀漿料并通過燒結(jié)成型,研究了燒結(jié)溫度、氣氛和時間對其顯微結(jié)構(gòu)的影響,發(fā)現(xiàn)氧氣能促進有機溶劑和分散劑的去除,形成聯(lián)通孔更大、孤立孔更少的粗糙的網(wǎng)絡結(jié)構(gòu)。LI等[16]將預處理后的銀粉加入α-松油醇、聚乙二醇、無水乙醇的混合溶劑中超聲攪拌,制備出導電性能良好、在室溫下放置6月以上也不會出現(xiàn)氧化和團聚現(xiàn)象的納米銀漿料,并在300 ℃下燒結(jié)40 min 獲得了電阻率低至3.83×10-5Ω·m 的薄膜。本文作者基于漿料涂敷-燒結(jié)法制備一種微米級三維多孔高純鋁材料,通過在微米級鋁粉末中加入溶劑、黏結(jié)劑等成分,進行長時間均勻混合,配制成分散均勻、黏度適中的糊狀漿料,將漿料均勻涂敷后加熱固化,再通過燒結(jié)固定成型,以構(gòu)成三維聯(lián)通的金屬導電網(wǎng)絡結(jié)構(gòu),增大比表面積;然后,通過研究黏結(jié)劑質(zhì)量分數(shù)對材料電化學活性表面積(AECS)以及機械性能的影響,優(yōu)化漿料中黏結(jié)劑的質(zhì)量分數(shù),從而制備出比表面積高、機械性能優(yōu)異的三維多孔高純鋁材料。

        1 實驗

        1.1 實驗原料

        本實驗原料為粒度為5 μm霧化球型鋁粉(湖南寧鄉(xiāng)唯信金屬粉體有限公司生產(chǎn))和粒度為30 μm的鋁清洗放電光箔(吳江飛樂天和電子材料有限公司生產(chǎn))。其他試劑包括聚偏氟乙烯(PVDF,武漢飛騰亞化工生產(chǎn))和分析純級N-甲基-2-吡咯烷酮(NMP,天津市科密歐化學試劑有限公司生產(chǎn))。

        1.2 實驗方法

        分別稱取1,2,3 和4 g 黏結(jié)劑PVDF 與35 g溶劑NMP 加入至50 mL 攪拌釜中,使用攪拌機于轉(zhuǎn)速為600 r/min時攪拌2 h,分別稱取64,63,62和61 g鋁粉加入攪拌釜,再次攪拌1 h后得到固質(zhì)量分數(shù)為65%,PVDF 質(zhì)量分數(shù)分別為1,2,3 和4%的漿料(當PVDF 質(zhì)量分數(shù)小于1%時,漿料不易黏附于鋁箔上;當其質(zhì)量分數(shù)大于4%時,漿料過黏,導致涂敷不穩(wěn)定)。將長×寬為20 cm×30 cm的鋁光箔放置于紅外烘干平板涂敷機的平臺上,并用平臺上的真空孔吸附平整后,利用刮刀將配好的漿料涂敷在鋁箔上,涂敷厚度控制在60 μm,在120 ℃下紅外烘干30 min,將鋁箔從附有一層膜的一面翻轉(zhuǎn)至另一光滑面。重復涂敷烘干過程,得到厚度約為120 μm 的預制膜。將預制膜放入管式高溫燒結(jié)爐,在200 ℃下預燒結(jié)120 min,按10 ℃/min 的速率升溫至618 ℃,燒結(jié)160 min。燒結(jié)結(jié)束后爐冷至室溫,得到微米級三維多孔高純鋁樣品。

        1.3 樣品表征

        采用X 射線衍射儀(X-ray diffractometer,XRD)分析所制備的三維多孔高純鋁樣品晶體結(jié)構(gòu);采用掃描電鏡(scanning electron microscope,SEM)和能譜分析(EDS)對三維多孔高純鋁樣品的微觀結(jié)構(gòu)進行表征;采用MIT 式耐折強度試驗機(GT-6014-A GOTECH),按照GB/T 457—2008“紙和紙板耐折度的測定方法”對所制備的三維多孔高純鋁樣品的折彎性能進行測試;采用YT-L 型薄膜拉力儀,按照GB/T 12914—2008“紙和紙板抗張強度的測定方法”對所制備的三維多孔高純鋁樣品的抗拉性能進行測試。

        采用電化學工作站(PARSTAT2273)測試三維多孔高純鋁樣品的AECS[17]:通過循環(huán)伏安法(CV)在電壓為0.2~0.3 V的非法拉第電位區(qū)間,掃描速率分別為20,40,60,80 和100 mV/s 條件下測量樣品(長×寬為2 cm×2 cm)的雙電層電容(Cdl)。Cdl計算式如下:

        式中:ic為雙電層充電電流;v為掃描速率。

        以掃描速率為變量繪制關(guān)于電位窗中間陽極充電電流(Ia)和陰極充電電流(Ic)之間的充電電流差(ΔI)的斜線,斜線的斜率即為Cdl的2 倍。AECS計算式為:

        式中:Cs為樣品的比電容(即在相同電解液條件下,光滑材料單位面積上的電容)。

        常用的Cs是各種金屬電極在酸性和堿性溶液中的測量值[18-19],本實驗中使用的電解液是1 mol/L的Na2SO4水溶液,其尚未作為電解液用于Cs的測量??紤]到該系統(tǒng)的測試條件,測量了鋁光箔基底在1 mol/L的Na2SO4水溶液中的Cs,以計算AECS。

        2 結(jié)果及討論

        2.1 三維多孔高純鋁材料的結(jié)構(gòu)分析

        圖1所示為不同PVDF質(zhì)量分數(shù)的三維多孔高純鋁樣品的XRD 圖譜。由圖1可見:樣品衍射峰與金屬Al 的標準PDF 卡片(JCPDS #89-2769)一一對應,沒有明顯雜峰,證明樣品為鋁且在制備過程中沒有引入雜相;2θ為38.47°,44.72°,65.09°,78.22°和82.43°時的衍射峰分別對應Al 的(111),(200),(220),(311)和(222)晶面。計算每個衍射面上的晶格常數(shù),均約為0.405 0 nm。不同PVDF 質(zhì)量分數(shù)的樣品晶格常數(shù)無明顯差異,說明晶體內(nèi)部的成分、受力狀態(tài)相似。

        圖1 不同PVDF質(zhì)量分數(shù)的多孔高純鋁樣品的XRD譜Fig.1 XRD pattern of porous high purity aluminum with different PVDF mass fractions

        2.2 三維多孔高純鋁材料的微觀形貌分析

        圖2所示為不同PVDF質(zhì)量分數(shù)的多孔高純鋁樣品的表面形貌。由圖2可見:不同質(zhì)量分數(shù)的PVDF多孔高純鋁材料表面形貌相似;鋁顆粒與周圍1個或者多個鋁顆粒之間發(fā)生冶金結(jié)合,形成燒結(jié)頸(如圖2中方框所示),燒結(jié)頸作為鋁顆粒之間的紐帶使彼此互相聯(lián)結(jié),顆粒間距離縮小,形成連續(xù)的孔隙網(wǎng)絡。細小的燒結(jié)頸和互相連通的孔隙都說明燒結(jié)過程只進行到燒結(jié)中期即燒結(jié)頸長大階段。材料處于該階段能夠保證微粒間互相導通,有效表面積較高。燒結(jié)程度相似也說明PVDF質(zhì)量分數(shù)對多孔高純鋁材料的燒結(jié)過程無明顯影響。圖3所示為不同放大倍率下多孔高純鋁材料的截面形貌。由圖3可見:鋁顆粒通過燒結(jié)頸彼此聯(lián)結(jié),并且與中間的鋁光箔燒結(jié)在一起,形成三維聯(lián)通的致密金屬導電網(wǎng)絡。

        圖4所示為PVDF 質(zhì)量分數(shù)為4%時多孔高純鋁樣品的表面形貌、EDS圖譜以及PVDF質(zhì)量分數(shù)不同時多孔高純鋁樣品的C與O摩爾分數(shù)。圖4(a)中顆粒間互相結(jié)合,采用EDS 對單個鋁顆粒表面(圖4(a)中白色框內(nèi)區(qū)域)元素種類與質(zhì)量分數(shù)進行分析,結(jié)果如圖4(b)所示,此時,顆粒表面主要是Al,還含有少量的C和O。PVDF由C,H和F元素組成,其分解溫度為390 ℃,EDS 圖像中沒有F,說明材料中的PVDF已經(jīng)在燒結(jié)過程中分解;顆粒表面存在少量C,說明PVDF并沒有分解完全,還有少量碳殘留物;顆粒表面存在少量O,說明顆粒被輕微氧化。由圖4(c)可見:隨著PVDF質(zhì)量分數(shù)從4%降低到1%,O摩爾分數(shù)無固定變化趨勢,為4.5%左右,說明PVDF 質(zhì)量分數(shù)對顆粒被氧化程度無明顯影響;C 摩爾分數(shù)從7.37%降到5.74%;PVDF 作為漿料的成分之一,當其質(zhì)量分數(shù)從4%降到1%時,預制膜中的C物質(zhì)的量比也降低,但在燒結(jié)過程結(jié)束后,C始終存在,且當PVDF質(zhì)量分數(shù)為1%時,C 摩爾分數(shù)為5.72%,減小了22%,這說明燒結(jié)過程中高溫會使PVDF分解,但對鋁顆粒表面碳殘留物的去除能力有限;當PVDF質(zhì)量分數(shù)為1%時,C仍然不能完全除去。

        圖2 不同PVDF質(zhì)量分數(shù)(w(PVDF))的多孔高純鋁樣品的表面SEM圖像Fig.2 Surface SEM images of porous high purity aluminum with different PVDF mass fractions

        圖3 不同放大倍率下多孔高純鋁材料的截面SEM圖像Fig.3 Cross-sectional SEM images of porous high purity aluminum in different magnifications

        2.3 三維多孔高純鋁材料的電化學活性表面積

        當三維多孔高純鋁材料應用于催化、分離及電極材料等時,其全部內(nèi)表面往往并不能等同地發(fā)揮作用,而用電化學方法測出的表面積即AECS能夠有效地反映參與反應的那部分表面積。圖5所示為不同掃描速率下不同質(zhì)量分數(shù)的PVDF多孔高純鋁樣品的CV曲線。通過測試,三維多孔高純鋁材料的電位非法拉第電位區(qū)間為0.2~0.3 V,電位窗口中值為0.25 V,設定掃描速率分別為20,40,60,80 和100 mV/s。為了計算樣品的AECS,通過CV 測量得到鋁光箔基底在1 mol/L 的Na2SO4水溶液中的Cs為3.82×10-3μF/cm2。

        圖4 PVDF質(zhì)量分數(shù)為4%時多孔高純鋁樣品的表面形貌、EDS圖譜以及PVDF質(zhì)量分數(shù)不同時多孔高純鋁樣品的C與O摩爾分數(shù)Fig.4 Surface SEM image,EDS spectrum of porous high purity aluminum,molar fraction of C and O in porous high purity aluminum samples with different PVDF mass fractions

        圖5 在0.2~0.3 V的非法拉第電位區(qū)間,不同掃描速率下不同PVDF質(zhì)量分數(shù)(w(PVDF))的多孔高純鋁樣品CV曲線Fig.5 CV curves measured in a non-Faradaic region of 0.2-0.3 V at various scan rates for porous high purity aluminum with different PVDF mass fractions

        當電壓為0.25 V 時,在不同掃描速率下,不同PVDF質(zhì)量分數(shù)的多孔高純鋁樣品充電電流差見圖6,不同質(zhì)量分數(shù)的PVDF 多孔高純鋁樣品的AECS見表1。從圖6可見:PVDF 質(zhì)量分數(shù)為1%的多孔高純鋁樣品的充電電流差曲斜斜率最大,為Cdl曲線斜率的2 倍,故此時Cdl也最大(從表1可知為1.053 μF)。由式(2)可知此時樣品的AECS最大,并且隨著PVDF 質(zhì)量分數(shù)增大,AECS曲線斜率逐漸減小,多孔高純鋁樣品的Cdl和AECS也逐漸減小,AECS從275.588 cm2降到223.939 cm2。從前面分析可知,當PVDF 質(zhì)量分數(shù)在1%~4%范圍內(nèi)時,PVDF 質(zhì)量分數(shù)對多孔高純鋁樣品的表面形貌無明顯影響,不同PVDF質(zhì)量分數(shù)的多孔高純鋁樣品燒結(jié)程度相似,這說明此時AECS減小不是因為鋁顆粒間結(jié)合程度增加使顆粒間重疊面積增加、總面積減小,而是因為在固質(zhì)量分數(shù)固定條件下,PVDF質(zhì)量分數(shù)增加意味著鋁顆粒質(zhì)量分數(shù)減少,而組成金屬導電網(wǎng)絡的鋁顆粒數(shù)量減少,導致金屬導電網(wǎng)絡致密程度降低,從而導致多孔高純鋁樣品的AECS減小。同時,由表1可見:樣品的AECS都很高(大于220 cm2),這歸因于細微鋁粉末本身的表面積較高,以及將燒結(jié)階段控制在燒結(jié)中期使燒結(jié)頸尺寸較小、孔隙互相連通,導致金屬導電網(wǎng)絡的有效表面積較高。

        圖6 在電壓為0.25 V,不同掃描速率下,不同PVDF質(zhì)量分數(shù)(w(PVDF))的多孔高純鋁樣品充電電流差Fig.6 Charging current differences measured at 0.25 V plotted against scan rate for porous high purity aluminum with different PVDF mass fractions

        圖7 不同PVDF質(zhì)量分數(shù)(w(PVDF))的多孔高純鋁樣品的機械性能Fig.7 Mechanical properties of porous high purity aluminum with different PVDF mass fractions

        表1 不同PVDF質(zhì)量分數(shù)(w(PVDF))的多孔高純鋁樣品的Cdl和AECSTable 1 Cdl and AECS of porous high purity aluminum with different PVDF mass fraction

        2.4 三維多孔高純鋁材料的機械性能

        折彎次數(shù)和抗拉強度是表征三維多孔高純鋁材料機械性質(zhì)的基本參數(shù);折彎次數(shù)用于表征材料抵抗往復折疊的能力,取決于材料的強度、柔韌性和組分間的結(jié)合力;抗拉強度為材料在拉斷前承受的最大應力,對于三維多孔高純鋁材料,其抗拉強度也代表斷裂抗力。圖7所示為不同質(zhì)量分數(shù)的PVDF三維多孔高純鋁樣品的機械性能。從圖7可見:樣品的折彎次數(shù)和抗拉強度都較高,表明樣品具有優(yōu)異的機械性能;當PVDF質(zhì)量分數(shù)為1%時,樣品折彎次數(shù)較高(89 次),抗拉強度較大(1.51 kN/m),其原因是鋁顆粒質(zhì)量分數(shù)增大,三維網(wǎng)絡的比表面積更大,結(jié)構(gòu)更致密。但隨著PVDF質(zhì)量分數(shù)從1%增加到4%,樣品的折彎次數(shù)為88 次左右,抗拉強度為1.5 kN/m 左右,這也說明當PVDF 質(zhì)量分數(shù)為1%~4%時,PVDF 質(zhì)量分數(shù)對多孔高純鋁材料的折彎、抗拉性能影響較小。

        3 結(jié)論

        1)采用漿料涂敷-燒結(jié)法,將粒徑為5 μm 的鋁粉與溶劑NMP、黏結(jié)劑PVDF 均勻混合,控制漿料固質(zhì)量分數(shù)為65%,將獲得的漿料均勻涂敷,控制加熱固化溫度為120 ℃,預燒結(jié)溫度為200 ℃、燒結(jié)時間為120 min或燒結(jié)溫度為618 ℃、燒結(jié)時間為160 min,制備出比表面積高、機械性能優(yōu)異的微米級三維多孔高純鋁材料。

        2)PVDF質(zhì)量分數(shù)與三維多孔高純鋁材料的電化學活性比表面積呈負相關(guān),對機械性能影響較小。當PVDF 質(zhì)量分數(shù)為1%時,樣品的電化學活性表面積AECS、折彎次數(shù)和抗拉強度最高,分別達275.588 cm2,89次和1.51 kN/m。

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