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        自動加料單晶爐的設計與研究

        2020-05-10 04:28:26李海林
        壓電與聲光 2020年2期
        關(guān)鍵詞:晶體生長坩堝晶體

        李海林,武 歡,王 瑞

        (中國電子科技集團公司第二十六研究所,重慶 400060)

        0 引言

        晶體具有優(yōu)異的光敏特性、熱敏特性和摻雜特性,是電子工業(yè)和高技術(shù)領(lǐng)域中不可缺少的材料。人工晶體材料的制備是將組成晶體的基元(原子、分子或離子)解離后按照一定規(guī)則又重新組合的過程[1]。提拉法[2]是目前獲取人工晶體材料的主要方法之一,其原理是:熔體在接觸到籽晶時,通過降低熔體溫度來形成過冷度,從而使熔體沿籽晶結(jié)晶,并隨籽晶的逐漸上升而生長成棒狀晶體。

        由于傳統(tǒng)的晶體生長設備在晶體生長過程中不會補充原料,所以,坩堝內(nèi)的固-液界面會因熔體結(jié)晶而逐漸下降,直至熔體全部結(jié)晶完成。因此,最終晶體的大小取決于預先放置于坩堝中的原料多少,而坩堝中原料的多少取決于坩堝和生長設備的大小。如果想通過大的坩堝和設備來生長大尺寸晶體,則成本高。如何在生長過程中添加原料,使固-液界面保持不變,從而利用小坩堝生長大尺寸晶體以降低生長成本,已成為晶體生長工作者追求的重要目標。

        1 自動加料單晶爐結(jié)構(gòu)及工作原理

        自動加料單晶爐(見圖1)是在原提拉單晶爐(以中國電子科技集團公司第二十六研究所生產(chǎn)的JGD系列提拉單晶爐為參考設備)的基礎上進行改進和優(yōu)化設計,主要由晶體自動生長控制系統(tǒng)和自動加料控制系統(tǒng)組成,自動加料控制系統(tǒng)受控于晶體自動生長控制系統(tǒng)。

        圖1 自動加料單晶爐結(jié)構(gòu)示意圖

        晶體自動生長控制系統(tǒng)(見圖1)由提拉模塊、稱重模塊、旋轉(zhuǎn)模塊、加熱模塊及中央控制模塊等組成[3]。提拉模塊為晶體提供一個垂直向上的移動速度v1,使晶體不斷向上生長。稱重模塊實時測量,并向中央控制系統(tǒng)反饋晶體的質(zhì)量M(晶體開始生長前稱重傳感器清0)。旋轉(zhuǎn)模塊為晶體提供一個旋轉(zhuǎn)速度ω1,保證晶體生長的連續(xù)性。加熱模塊為原料融化和晶體生長提供所需熱量。中央控制模塊對反饋回來的數(shù)據(jù)信息進行處理,并根據(jù)處理結(jié)果對加熱功率及加料速度等參數(shù)進行控制調(diào)整。

        自動加料控制系統(tǒng)(見圖2)由稱重模塊、加料模塊和中央控制系統(tǒng)組成。稱重模塊實時測量料斗中剩余原料質(zhì)量,同時將數(shù)據(jù)反饋給中央控制模塊。中央控制模塊根據(jù)數(shù)據(jù)計算出已向坩堝中添加的原料質(zhì)量m;加料模塊通過電機旋轉(zhuǎn)將原料以速度v2從料斗底部出口推向落料口,原料通過引料管后落入坩堝。

        圖2 自動加料系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖

        晶體自動生長控制系統(tǒng)和自動加料控制系統(tǒng)均采用稱重反饋方式[4],v1作為輸入?yún)?shù),由晶體生長人員設置確定,v2(或ω2)作為自動調(diào)整參數(shù),根據(jù)反饋回來的數(shù)據(jù)信息作出相應變化。生長過程中,兩個稱重傳感器獲得質(zhì)量數(shù)據(jù),中央控制系統(tǒng)根據(jù)數(shù)據(jù)計算出晶體質(zhì)量M和添加粉料質(zhì)量m,在對其進行比較判斷后,通過控制自動加料系統(tǒng)中電機的旋轉(zhuǎn)速度ω2,調(diào)整推料速度v2,使m=M,確保自動添加的原料質(zhì)量和生長的晶體質(zhì)量一致,從而實現(xiàn)坩堝內(nèi)的固-液界面保持不變,保證晶體能一直持續(xù)生長,直到程序結(jié)束為止。

        2 晶體自動生長控制系統(tǒng)

        晶體自動生長控制系統(tǒng)的原理是將晶體的實際質(zhì)量M與理論質(zhì)量M′進行比較,并根據(jù)比較結(jié)果來控制加熱功率,調(diào)節(jié)晶體結(jié)晶速度的快慢,進而實現(xiàn)M=M′。

        在放肩階段,晶體的理論質(zhì)量為

        M′=ρ1·V1

        (1)

        式中:ρ1為晶體密度;V1為放肩階段晶體體積。

        若將其近似為圓錐體[5],則有:

        (2)

        若程序設置等徑半徑為R,則有:

        (3)

        由式(1)~(3)可得放肩階段晶體的理論質(zhì)量為

        (4)

        (5)

        在等徑階段,晶體的理論質(zhì)量為

        M′=ρ1·V2

        (6)

        式中V2為等徑階段晶體總體積,可視為一個圓錐體和圓柱體組成,即

        (7)

        式中T為系統(tǒng)設置的生長結(jié)束時間。

        結(jié)合式(6) 、(7)可得等徑階段晶體的理論質(zhì)量為

        (8)

        根據(jù)稱重傳感器1返回的數(shù)據(jù)得到晶體的M。當M>M′時,說明晶體結(jié)晶速度較快,需要適當加大加熱功率P,以減小溫場梯度,降低結(jié)晶速度;當M

        圖3 晶體自動生長控制流程圖

        3 自動加料控制系統(tǒng)

        在自動加料控制系統(tǒng)中,以補充的原料理論質(zhì)量m′作為參考量,補充的原料實際質(zhì)量m作為調(diào)整變量,通過系統(tǒng)控制最終實現(xiàn)m=m′。m的變化通過自動調(diào)整理論加料速度v2(或電機理論轉(zhuǎn)速ω2)來實現(xiàn),所以,m是一個關(guān)于v2(或ω2)和時間t的函數(shù)。

        在晶體放肩階段,補充原料的m′為

        (9)

        式中:t0為晶體放肩階段任一時刻;ρ2為原料密度;S為腔室有效截面積(除去螺旋推桿外的截面積(見圖2))。

        根據(jù)質(zhì)量守恒定律有:

        m′=M′

        (10)

        由式(4)、(9)及(10)可得:

        (11)

        (12)

        (13)

        在晶體等徑階段,補充的原料理論總質(zhì)量為

        (14)

        由式(8)、(10)及(14)可得:

        (15)

        (16)

        結(jié)合式(12)、(16),則理論加料速度為

        (17)

        又有:

        v2=ω2k

        (18)

        式中:ω2為電機的理論轉(zhuǎn)速;k為螺旋推桿導程。

        由式(17)、(18)得電機的理論轉(zhuǎn)速為

        (19)

        根據(jù)(19)可知,在晶體放肩階段,自動加料系統(tǒng)中,ω2是t的二階函數(shù)。在晶體等徑階段,ω2只是一個常數(shù),其曲線示意圖如圖4所示。

        圖4 電機理論轉(zhuǎn)速ω2曲線示意圖

        在實際生長過程中,補充原料為粉狀物,由于在不同部位其密實程度存在一定差異,所以,ρ2也并非固定不變,這導致補充原料的m與m′有一定偏差。在晶體生長控制系統(tǒng)下,M=M′,結(jié)合式(10)可得m′=M′=M。因此,要想實現(xiàn)m=M,保證坩堝內(nèi)固-液界面不變,則必須滿足m=m′。而m=m′的實現(xiàn),需要中央控制系統(tǒng)對加料系統(tǒng)的ω2進行比例、積分和微分(PID)閉環(huán)控制。其控制流程圖如圖5所示。

        圖5 自動加料系統(tǒng)控制流程圖

        在系統(tǒng)PID控制下,加料系統(tǒng)中電機的實際轉(zhuǎn)速會隨著理論轉(zhuǎn)速來回波動,尤其是兩個階段的前期較明顯,隨后波動幅度逐漸減小。在等徑階段后期,實際轉(zhuǎn)速較平穩(wěn),無明顯波動。電機在系統(tǒng)控制下的轉(zhuǎn)速示意圖如圖6所示。

        圖6 電機轉(zhuǎn)速示意圖

        4 結(jié)束語

        本文根據(jù)補充粉料質(zhì)量與生長晶體質(zhì)量相等這一原則,以晶體質(zhì)量為參考,通過自動加料系統(tǒng)對加料速度進行控制,確保坩堝內(nèi)固-液界面保持不變,進而實現(xiàn)小坩堝生長大尺寸晶體的目標,提高了設備利用率,節(jié)約了能源,降低了生長成本。但在實際生產(chǎn)中,當晶體長度尺寸達到一定值后,晶體上端可能會因離溫場距離較遠,溫度下降過快而開裂。若要防止晶體開裂,唯有加大溫場高度,但如何對其進行分段控制,形成合理的溫場梯度,從而避免晶體在生長及降溫過程中開裂,還需要進一步研究。

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