吳小柯 臧玉萍 劉迎春

鄭州大學(xué)附屬兒童醫(yī)院 河南省兒童醫(yī)院 鄭州兒童醫(yī)院，河南 鄭州 450018

腦外傷屬于常見腦外科疾病，其致殘和致死風(fēng)險(xiǎn)較高，多發(fā)于交通事故和高處墜落[1-2]。兒童是腦外傷的高發(fā)人群，與成年人相比，其腦外傷病情更加嚴(yán)重，致殘率往往較成年人更高，兒童正處在智力和身體發(fā)育的關(guān)鍵時(shí)期，腦外傷會(huì)嚴(yán)重影響其預(yù)后的智力發(fā)育，給家庭和社會(huì)帶來(lái)沉重的負(fù)擔(dān)[3]。

腦電圖(electroencephalogram，EEG) 可記錄大腦自發(fā)性生物電，是目前臨床常用的用于檢查中樞神經(jīng)系統(tǒng)感染、腦腫瘤、腦癱、癲癇和重癥腦損傷的輔助檢查方法[4-9]。此檢查主要記錄大腦皮質(zhì)的神經(jīng)元活動(dòng)，而人類的思想、感情、智商等與大腦的活動(dòng)密切相關(guān)[10-14]。因此，是否能夠根據(jù)EEG的異常程度預(yù)測(cè)患兒預(yù)后智力水平將對(duì)臨床帶來(lái)極大的幫助。本研究擬通過(guò)分析50例腦外傷患兒的腦電圖和智力測(cè)評(píng)的相關(guān)性，探討根據(jù)腦外傷后EEG的異常程度預(yù)測(cè)患兒預(yù)后智力水平的可行性。

1 資料與方法

1．1一般資料抽取鄭州大學(xué)附屬兒童醫(yī)院50例2016-02—2018-07顱腦損傷的患兒，男35例，女15例。所有病例不包括其他腦部疾病患兒，傷前智力均為正常水平；致傷原因：墜落傷23例，車禍傷48例，打斗傷23例，撞擊傷17例。臨床表現(xiàn)：50例患兒中有昏迷史17例，其中昏迷8 d 1例，昏迷6 d 1例，昏迷12 h 1例，昏迷10 min 2例，昏迷<10 min 14例；47例主訴有頭痛、眩暈等癥狀。本研究遵循的程序符合河南省兒童醫(yī)院倫理委員會(huì)制定的倫理學(xué)標(biāo)準(zhǔn)，并得到該倫理委員會(huì)批準(zhǔn)。

1．2視頻腦電圖檢查50例患兒均在入院3 d內(nèi)進(jìn)行VEEG檢查，使用日本光電EEG-9000視頻腦電圖儀，按照國(guó)際10/20系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)安放頭皮電極，放置16個(gè)記錄電極，平均參考電極和耳參考電極，在患兒安靜閉目或睡眠狀態(tài)下記錄>4 h視頻腦電圖，通過(guò)VEEG觀察患兒的活動(dòng)情況并腦電波形進(jìn)行分析。以劉曉燕《小兒腦電圖圖譜》作為EEG診斷的標(biāo)準(zhǔn)，將患兒腦電圖分為4組：正常組、輕度異常組、中度異常組和重度異常組。

1．3韋氏兒童智力測(cè)驗(yàn)對(duì)兒童智力測(cè)試應(yīng)用張厚粲修訂第四版(Wechsler intelligence scale for children-Ⅳ，WISC-Ⅳ)在出院前對(duì)50例收治患兒進(jìn)行智力測(cè)評(píng)[15-16]?？偨Y(jié)了總智商(full-scale intelligence quotient，F(xiàn)IQ)和言語(yǔ)理解指數(shù)(verbal comprehension index，VCI)、知覺推理指數(shù)(perceptual reasoning index，PRI)、工作記憶指數(shù)(working memory index，WMI)、加工速度指數(shù)(processing speed index，PSI)五個(gè)分測(cè)驗(yàn)分?jǐn)?shù)，是目前臨床應(yīng)用最廣泛的智力測(cè)驗(yàn)之一，具有較高的信度[17]。

1．4統(tǒng)計(jì)學(xué)處理應(yīng)用SSPS 19.0系統(tǒng)軟件分析數(shù)據(jù)，計(jì)量資料以均數(shù)±標(biāo)準(zhǔn)差表示，采用Spearman秩相關(guān)分析腦電分級(jí)與智力的相關(guān)性，以P<0.05為差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。

2 結(jié)果

2．1影像學(xué)檢查結(jié)果50例腦外傷患兒頭顱CT示，以額葉、顳、頂、枕葉為主受損者分別為12例、8例、6例和4例，合并兩葉以上同時(shí)受損18例，其余20例正常。部分患兒頭部CT檢查結(jié)果見圖1。

2．2腦電圖異常表現(xiàn)的總結(jié)對(duì)50例腦外傷患兒進(jìn)行腦電監(jiān)測(cè)，其中13例為輕度異常，表現(xiàn)為腦電圖背景變慢或彌漫性慢波，10例為異常放電，表現(xiàn)為尖、棘慢綜合波，或不典型小尖波，且其中5例有尖棘波伴左右不對(duì)稱。另有8例患兒腦電圖結(jié)果表現(xiàn)為單純左右不對(duì)稱，不對(duì)稱圖形中一般以一側(cè)變慢為主。另有5例重型腦外傷患兒發(fā)生癲癇發(fā)作對(duì)其監(jiān)測(cè)腦電圖，均有發(fā)作期圖形。

2．3腦外傷后腦電圖的結(jié)果分析其中正常14例，輕度異常13例，18例中度異常，5例重度異常。腦電圖異常情況分組見表1，部分腦電圖結(jié)果見圖2。

表1 50例腦外傷后EEG結(jié)果 [n(%)]

圖2 腦外傷患兒腦電圖 A：腦外傷后不對(duì)稱放電；B：腦外傷后廣泛放電；C：腦外傷后異常放電

Figure2EEG of children with traumatic brain injury.A：Asymmetrical discharge after traumatic brain injury；B：Extensive discharge after traumatic brain injury；C：Abnormal discharge after traumatic brain injury

2．4智力檢測(cè)結(jié)果根據(jù)WISC-Ⅳ評(píng)分標(biāo)準(zhǔn)IQ>90為正常智力、80～90為低于正常、70～79為臨床水平、<70為智力低下。中度異常組與正常EEG組相比，F(xiàn)IQ、VCI、PRI、WMI和PSI評(píng)分均顯著降低(P<0.05)，重度異常組各項(xiàng)評(píng)分也均顯著降低(P<0.01)。見表2。

表2 50例腦外傷患者不同表現(xiàn)EEG的WISC-CR評(píng)分比較

注：與正常組相比，aP<0.05；與正常組相比，bP<0.01

2．5對(duì)腦電圖分級(jí)與智力評(píng)分采用Spearman秩相關(guān)分析根據(jù)W1SC-CR評(píng)分標(biāo)準(zhǔn)，50例中正常智力16例(32.0%)，低于正常22例(44.0%)，臨床正常水平8例(16.0%)，智力低下4例(8.0%)。采用Spearman秩相關(guān)分析，χ2=0.998，P<0.05，腦電圖異常分級(jí)與智力評(píng)分呈負(fù)相關(guān)，即腦電圖異常程度越高，智力水平越低。

3 討論

隨著人們出行方式和居住條件的變化，我國(guó)兒童腦外傷的發(fā)生率逐漸增多，其中以車禍和高樓墜落為首要病因[18]。腦外傷占兒童致死性外傷的70%以上，致死、致殘率高，重型顱腦損傷患兒經(jīng)治療后輕度殘疾率為30%，重度殘疾及病死率為10%，嚴(yán)重危害我國(guó)兒童的生命健康[19-20]。兒童腦損傷后易發(fā)腹痛、腦梗死和癲癇，但由于兒童腦組織有豐富的側(cè)支循環(huán)，利于損傷部位的恢復(fù)，神經(jīng)系統(tǒng)的發(fā)育貫穿整個(gè)兒童時(shí)期，神經(jīng)精神發(fā)育一直十分活躍，如早期去除引起腦損傷的誘因，對(duì)兒童顱腦損傷的預(yù)后一般較好[21]。但腦損傷對(duì)預(yù)后兒童智力的影響會(huì)給家庭和社會(huì)帶來(lái)嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)負(fù)擔(dān)，已成為醫(yī)生和家長(zhǎng)最關(guān)注的臨床問(wèn)題。因此，如何觀察和預(yù)測(cè)腦外傷患兒預(yù)后的智力水平已成為迫在眉睫的臨床需求。

ALLEN等[22]分析了137例中重度創(chuàng)傷性腦損損傷患兒的智商和記憶力，結(jié)果發(fā)現(xiàn)，智商與創(chuàng)傷性腦損傷的嚴(yán)重程度有相關(guān)性。ANDERSON等[23]對(duì)診斷為輕度、中度和重度腦損傷的患者和健康對(duì)照者進(jìn)行比較，結(jié)果顯示，在兒童早期出現(xiàn)嚴(yán)重腦損害是造成后期智力障礙的高危因素。后續(xù)的研究發(fā)現(xiàn)，重度腦損傷患兒與輕度和未受傷兒童相比，其語(yǔ)言智力和語(yǔ)言技能受影響更加嚴(yán)重，但輕度腦損傷患兒與對(duì)照組兒童相比無(wú)顯著差異[24]。這些結(jié)果表明，腦損傷嚴(yán)重程度與預(yù)后智力水平相關(guān)。腦電圖作為目前臨床常用的用于檢查顱內(nèi)器質(zhì)性病變的檢查手段，具有無(wú)創(chuàng)、便捷等特點(diǎn)，目前臨床常用于癲癇、精神性疾病等腦部位病變的診療。有報(bào)道稱，腦損傷程度的嚴(yán)重程度與EEG的異常程度密切相關(guān)[25-35]。因此，腦電圖異常程度可用于預(yù)測(cè)、指示患兒預(yù)后智力水平。

本研究通過(guò)分析50例兒童腦外傷后的EEG異常程度和智力評(píng)分的相關(guān)性發(fā)現(xiàn)，EEG異常程度越嚴(yán)重的患兒不僅其預(yù)后總智力水平較低，而且VCI、PRI、WMI、PSI等各個(gè)指數(shù)均較低，表明EEG異常程度與預(yù)后智力水平相關(guān)。Spearman秩相關(guān)分析表明腦電圖異常分級(jí)與智力評(píng)分呈負(fù)相關(guān)。

本研究對(duì)腦外傷兒童的腦電圖異常程度分析結(jié)果表明，與患兒的預(yù)后智力水平呈負(fù)相關(guān)，即腦外傷越嚴(yán)重腦電圖異常程度越高，智力水平越落后，因此可將腦電圖的異常程度作為判定腦外傷患兒預(yù)后智力水平的依據(jù)。