常文治,邵進(jìn),弓艷朋,杜非,許淵
(1. 中國(guó)電力科學(xué)研究院有限公司,北京 100192;2. 國(guó)家電網(wǎng)有限公司,北京 100031)
高頻電流法局部放電檢測(cè)技術(shù)基于磁場(chǎng)耦合原理,在3~30 MHz頻段通過(guò)線圈式傳感器測(cè)量局部放電信號(hào),可以有效避開現(xiàn)場(chǎng)大量存在的低頻干擾,具有抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)量靈敏度高、適合在線監(jiān)測(cè)等優(yōu)點(diǎn),目前取得了廣泛的現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用[1-9]。但是,從實(shí)際應(yīng)用情況來(lái)看,不同廠家生產(chǎn)的高頻電流法局部放電測(cè)量?jī)x器性能指標(biāo)差異明顯,隨著近年來(lái)此類儀器用量的增長(zhǎng),很多設(shè)計(jì)不合理、質(zhì)量不過(guò)關(guān)的產(chǎn)品也混入市場(chǎng),嚴(yán)重影響了現(xiàn)場(chǎng)局部放電檢測(cè)的準(zhǔn)確度及有效性。其重要原因在于,目前對(duì)高頻電流法局部放電測(cè)量?jī)x器的性能檢驗(yàn)工作開展不到位,缺乏精細(xì)化的性能檢驗(yàn)方法及配套的性能檢驗(yàn)系統(tǒng),無(wú)法有效檢出缺陷類產(chǎn)品。
對(duì)局部放電傳感器進(jìn)行準(zhǔn)確的性能檢驗(yàn),是提高局部放電測(cè)量準(zhǔn)確度的重要前提條件。從文獻(xiàn)調(diào)研情況來(lái)看,華北電力大學(xué)、韓國(guó)水原大學(xué)等研究機(jī)構(gòu)開展了基于吉赫茲?rùn)M電磁波(Gigahertz transverse electro-magnetic,GTEM)的特高頻局部放電傳感器性能檢驗(yàn)工作,采用“等效高度”指標(biāo)評(píng)價(jià)特高頻局部放電傳感器的性能指標(biāo)[10-19]。中國(guó)電力科學(xué)研究院有限公司、廣州電力試驗(yàn)研究院開發(fā)了基于GTEM小室的特高頻局部放電傳感器檢驗(yàn)系統(tǒng),重點(diǎn)檢驗(yàn)傳感器的靈敏度、線性度、幅頻響應(yīng)等關(guān)鍵指標(biāo),開展了螺旋天線、平板天線、對(duì)數(shù)天線等形式特高頻傳感器的性能檢驗(yàn)[20]。GB/T 7354—2003《局部放電測(cè)量》、IEC 60270:2000《Partial Discharge Measurements》等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)[21-22]對(duì)脈沖電流法的技術(shù)條件、測(cè)量方法、測(cè)量?jī)x器和校準(zhǔn)方法給出了具體要求,而對(duì)于高頻電流法,由于其檢測(cè)頻帶集中在3~30 MHz甚至更高頻段,遠(yuǎn)高于脈沖電流法1 MHz以下的檢測(cè)頻段,因此GB/T 7354—2003等標(biāo)準(zhǔn)不適合直接用于高頻電流法。
本文根據(jù)高頻電流局部放電檢測(cè)裝置性能檢驗(yàn)方法的要求,重點(diǎn)突破了高頻激勵(lì)信號(hào)傳輸路徑的阻抗匹配方法、程控式電荷量校準(zhǔn)脈沖及正弦信號(hào)生成方法、放電脈沖信號(hào)及干擾信號(hào)合成方法等重點(diǎn)問(wèn)題,研制了相應(yīng)的模塊式電路。在提出具體檢驗(yàn)方法及突破重點(diǎn)技術(shù)問(wèn)題的基礎(chǔ)上,研制了高頻局部放電檢測(cè)裝置程控式一體化檢驗(yàn)系統(tǒng),該系統(tǒng)具備脈沖激勵(lì)測(cè)試、正弦激勵(lì)測(cè)試、混合激勵(lì)測(cè)試3種主要功能,集成了激勵(lì)信號(hào)與被檢裝置響應(yīng)信號(hào)的自動(dòng)采集程序,嵌入了包括靈敏度參數(shù)、線性度參數(shù)、傳輸阻抗參數(shù)及頻率參數(shù)在內(nèi)的所有檢驗(yàn)參數(shù)的算法程序,能夠在計(jì)算機(jī)程序控制下自動(dòng)完成全部檢測(cè)項(xiàng)目并給出檢測(cè)結(jié)果,顯著降低測(cè)試過(guò)程中的不確定因素對(duì)測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確度的影響,同時(shí)顯著提升測(cè)試效率。
根據(jù)高頻電流局部放電傳感器的應(yīng)用特點(diǎn)及國(guó)家電網(wǎng)有限公司企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)QGDW 11304.5—2015《電力設(shè)備帶電檢測(cè)儀器技術(shù)規(guī)范 第5部分:高頻法局部放電帶電檢測(cè)儀器技術(shù)規(guī)范》對(duì)高頻法局部放電帶電檢測(cè)裝置的技術(shù)要求,本文將靈敏度、線性度、傳輸阻抗、抗干擾性能作為高頻電流局部放電傳感器的檢驗(yàn)項(xiàng)目,以此為目標(biāo)構(gòu)建計(jì)算機(jī)程控式一體化檢驗(yàn)系統(tǒng),系統(tǒng)整體架構(gòu)如圖1所示,主要包括激勵(lì)信號(hào)發(fā)生電路、標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)量接口及測(cè)控軟件等組成部分。
圖1 高頻電流法局部放電傳感器程控式一體化檢驗(yàn)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)Fig.1 Structure of program-controlled integrated inspection system for high-frequency current partial discharge sensor
控制計(jì)算機(jī)是預(yù)裝有定制化測(cè)控軟件的工業(yè)計(jì)算機(jī),能夠?qū)崿F(xiàn)控制信號(hào)的生成、上傳數(shù)據(jù)的分類保存等功能。實(shí)際檢驗(yàn)時(shí),控制計(jì)算機(jī)輸出指令至控制指令發(fā)出模塊,該模塊輸出兩路控制信號(hào),其中一路是電路選擇指令,另一路是參數(shù)設(shè)定指令,電路選擇指令輸入程控式多路開關(guān),可以實(shí)現(xiàn)4套硬件電路(脈沖信號(hào)發(fā)生電路、高頻正弦信號(hào)發(fā)生電路、混合信號(hào)合成回路、工頻降壓回路)的程控選取及切換;參數(shù)設(shè)定指令可針對(duì)每種硬件電路的輸出參數(shù)進(jìn)行自定義設(shè)置,各硬件電路均具備遠(yuǎn)程控制信號(hào)的響應(yīng)能力,能夠在參數(shù)設(shè)定指令的定義下自動(dòng)調(diào)節(jié)輸出信號(hào)的參數(shù)。上述信號(hào)發(fā)生電路通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)接口與各檢驗(yàn)項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)量回路快速連接,主要的測(cè)量回路參見第2節(jié)。測(cè)量回路的響應(yīng)信號(hào)輸入至采集系統(tǒng),采集系統(tǒng)完成數(shù)模轉(zhuǎn)換后將數(shù)據(jù)上傳至控制計(jì)算機(jī),最后使用預(yù)裝的分析軟件對(duì)上傳數(shù)據(jù)進(jìn)行匯總分析,給出各類測(cè)試項(xiàng)目的比對(duì)檢驗(yàn)結(jié)果。
該系統(tǒng)將控制、信號(hào)發(fā)生、信號(hào)測(cè)量、信號(hào)采集、信號(hào)處理等多項(xiàng)功能組件進(jìn)行一體化集成,通過(guò)一次接線能夠自動(dòng)完成全部檢驗(yàn)項(xiàng)目,避免檢驗(yàn)過(guò)程中頻繁接線引入的隨機(jī)誤差,消除檢驗(yàn)過(guò)程中人為因素對(duì)檢驗(yàn)結(jié)果的影響,顯著提升檢驗(yàn)效率。
1.2.1 脈沖信號(hào)發(fā)生電路
脈沖信號(hào)發(fā)生電路用于對(duì)被檢傳感器靈敏度、線性度及飽和度的檢驗(yàn),其原理如圖2所示。
R1為限流電阻;Vp為控制系統(tǒng)發(fā)出的方波控制信號(hào),即頻率及占空比可程控的計(jì)數(shù)脈沖信號(hào);Q1為功率半導(dǎo)體開關(guān)器件;Cs為標(biāo)準(zhǔn)電容;Ds為快速二極管;Rs為匹配電阻,Rs兩端即M1、M2間是校準(zhǔn)脈沖信號(hào)輸出端。圖2 脈沖發(fā)生電路原理Fig.2 Principle of pulse generating circuit
電路工作時(shí),當(dāng)控制信號(hào)Vp處于低電平時(shí),Q1處于關(guān)斷狀態(tài),直流電源通過(guò)限流電阻R1對(duì)Cs充電,此時(shí)Ds導(dǎo)通,為Cs提供一個(gè)快速充電通道。通過(guò)合理設(shè)計(jì)直流電源、R1、Cs的參數(shù),確保Cs在Vp一個(gè)周期的低電平時(shí)間內(nèi)能夠完成充電。Cs充電完成后,其儲(chǔ)存的電荷量
q0=C0×U0.
(1)
式中:C0為Cs的電容量;U0為直流電源的輸出電壓。
當(dāng)Vp處于高電平時(shí),Q1導(dǎo)通,此時(shí)Ds截止,Cs通過(guò)Q1、Rs回路放電,Cs中儲(chǔ)存的電荷在Rs兩端(即M1、M2之間)產(chǎn)生脈沖電壓波形。根據(jù)電學(xué)原理可知,產(chǎn)生該脈沖電壓波形的電荷量即為q0,該脈沖電壓信號(hào)即為放電量校準(zhǔn)脈沖。
該電路能夠在計(jì)算機(jī)指令控制下產(chǎn)生1 pC~100 nC的電荷量校準(zhǔn)脈沖信號(hào),信號(hào)上升時(shí)間不大于8 ns,電荷量誤差不大于5%。表1給出典型電荷量檔位下輸出脈沖的實(shí)測(cè)結(jié)果。
表1 電荷量校準(zhǔn)脈沖發(fā)生電路的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)
Tab.1 Measured data of charge calibratedpulse generating circuit
標(biāo)稱電荷量/nC脈沖上升時(shí)間/ns實(shí)測(cè)電荷量/nC誤差/%0.055.50.0484.00.507.20.4951.05.0010.05.1202.410.006.810.3303.350.009.550.7001.4100.009.9100.5000.5
1.2.2 高頻正弦信號(hào)發(fā)生電路
高頻正弦信號(hào)發(fā)生電路用于對(duì)被檢傳感器傳輸阻抗、檢測(cè)頻率的檢驗(yàn)。本文基于直接數(shù)字式頻率合成(direct digital synthesizer,DDS)技術(shù)設(shè)計(jì)了正弦信號(hào)發(fā)生電路,其流程如圖3所示。
fc為時(shí)鐘頻率;K為頻率控制字;N為相位累加器的字長(zhǎng)。圖3 基于DDS技術(shù)的正弦信號(hào)發(fā)生流程Fig.3 Flow chart of sine signal generation based on DDS
相位累加器由全加器和累加寄存器級(jí)聯(lián)組成。在時(shí)鐘頻率fc的控制下,對(duì)輸入頻率控制字K進(jìn)行累加,累加滿量時(shí)就產(chǎn)生溢出。相位累加器的輸出對(duì)應(yīng)于該時(shí)刻合成周期信號(hào)的相位,并且這個(gè)相位是周期性的,在0~2π范圍內(nèi)變化。相位累加器位數(shù)為N,最大輸出為2N-1,對(duì)應(yīng)于2π的相位,累加1次就輸出1個(gè)相應(yīng)的相位碼,地址以查表方式獲取,得到對(duì)應(yīng)相位的信號(hào)幅度值,經(jīng)過(guò)數(shù)模轉(zhuǎn)換,就可以得到一定頻率的信號(hào)輸出波形,低通濾波器對(duì)輸出的信號(hào)波形進(jìn)行平滑處理,濾除雜波和諧波。由于控制字經(jīng)過(guò)2N/K次累加,相位累加器滿量溢出,完成1個(gè)周期運(yùn)算,所以輸出頻率f0由fc和K共同決定,即f0=fcK/2N且K<2N-1,得到DDS的最小分辨率可達(dá)fc/2N。理論上通過(guò)設(shè)定DDS相位累加器的位數(shù)N、頻率控制字K和時(shí)鐘頻率fc的值,就可以產(chǎn)生任一頻率的輸出。
該電路能夠在計(jì)算機(jī)指令控制下輸出1 kHz~50 MHz的正弦電流信號(hào),額定電流100 mA,頻率調(diào)節(jié)步長(zhǎng)10 kHz,各頻點(diǎn)頻率誤差不大于0.4%。表2給出典型頻點(diǎn)下輸出信號(hào)的頻率誤差實(shí)測(cè)值。
表2 高頻正弦信號(hào)發(fā)生電路的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)
Tab.2 Measured data of high-frequency sine signal generating circuit
頻率標(biāo)稱值/MHz實(shí)測(cè)值/MHz誤差/%1 1.00 02 2.00 05 5.01 -0.210 9.99 0.120 19.97 0.250 49.96 0.1
1.2.3 混合信號(hào)合成回路
混合信號(hào)合成回路用于對(duì)被檢傳感器抗干擾度的檢驗(yàn)。該電路能夠在單一路徑上形成指定參數(shù)的脈沖及正弦信號(hào)的混合信號(hào),其中脈沖信號(hào)用于模擬一定電荷量的放電信號(hào),電荷量在1 pC~100 nC范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào);正弦信號(hào)用于模擬特定頻率的諧波干擾信號(hào),頻率在1 kHz~50 MHz范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)。圖4給出500 pC放電脈沖與10 MHz正弦信號(hào)在單一傳輸路徑上合成的混合信號(hào)波形。
圖4 500 pC放電脈沖與10 MHz正弦信號(hào)的合成信號(hào)Fig.4 Synthetic signal with 500 pC discharge pulse and 10 MHz sine signal
激勵(lì)信號(hào)通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)量接口注入被檢傳感器,該接口一方面為激勵(lì)信號(hào)提供行波傳輸路徑,另一方面在不影響信號(hào)傳輸特性的前提下將被檢傳感器接入檢驗(yàn)系統(tǒng)。為消除信號(hào)傳輸過(guò)程中雜散效應(yīng)產(chǎn)生的信號(hào)衰減、畸變,本文采用同軸匹配夾具作為標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)量接口。
同軸匹配夾具整體結(jié)構(gòu)如圖5所示,其基本結(jié)構(gòu)由支撐固定件及漸進(jìn)線結(jié)構(gòu)的導(dǎo)桿組成,支撐固定件支撐被測(cè)傳感器及導(dǎo)桿,確保信號(hào)傳輸路徑與地電位之間的空間位置保持恒定,消除雜散電容、電感等參數(shù)對(duì)傳輸信號(hào)的影響。導(dǎo)桿固定在左、右支撐板之間,兩端分別安裝同軸接線端子,其中一端連接激勵(lì)信號(hào)源,另一端經(jīng)阻抗匹配后連接至采集模塊。導(dǎo)桿上安裝有絕緣卡環(huán),用于高頻電流傳感器的安裝固定。實(shí)際測(cè)量時(shí),激勵(lì)信號(hào)從導(dǎo)桿一端以同軸方式注入,沿導(dǎo)桿向終端傳播,被測(cè)傳感器從導(dǎo)桿上耦合激勵(lì)信號(hào),通過(guò)合理設(shè)計(jì)導(dǎo)桿接口及對(duì)地距離等關(guān)鍵參數(shù)確保激勵(lì)信號(hào)在測(cè)量頻帶內(nèi)以行波方式傳播。
圖5 同軸匹配夾具結(jié)構(gòu)Fig.5 Schematic diagram of coaxial matching fixture
圖6為使用安捷倫E5061B網(wǎng)絡(luò)分析儀對(duì)同軸匹配夾具在10 Hz~500 MHz頻率范圍內(nèi)幅頻特性曲線的測(cè)量結(jié)果。其中,幅值為傳感器輸出電壓值與輸入電壓值之比的分貝值。
圖6 同軸匹配夾具的幅頻特性曲線Fig.6 Amplitude frequency characteristic curve of coaxial matching fixture
從圖6可以看出,同軸夾具幅頻特性曲線的3 dB截止頻率為405 MHz,在100 MHz內(nèi)增益平坦度為±0.015 dB。標(biāo)準(zhǔn)要求高頻電流局部放電傳感器性能檢驗(yàn)的頻率上限為50 MHz,因此同軸匹配夾具的頻域特性能夠滿足高頻電流傳感器性能檢驗(yàn)的要求。
基于程控式一體化檢驗(yàn)系統(tǒng),對(duì)某種信號(hào)的高頻電流局部放電傳感器的全部性能參數(shù)進(jìn)行檢驗(yàn)。根據(jù)激勵(lì)信號(hào)的不同,程控式一體化檢驗(yàn)系統(tǒng)共有3種測(cè)量模式:脈沖激勵(lì)測(cè)試、正弦激勵(lì)測(cè)試及混合信號(hào)激勵(lì)測(cè)試,每種測(cè)量模式能夠完成對(duì)被檢傳感器特定性能參數(shù)的檢驗(yàn)。
2.1.1 測(cè)試方法
脈沖激勵(lì)測(cè)試系統(tǒng)回路如圖7所示。
Up為脈沖激勵(lì)信號(hào);HFCT為高頻電流互感器,high frequency current transformer的縮寫。圖7 脈沖激勵(lì)測(cè)試系統(tǒng)回路Fig.7 Circuit of impulse excitation test system
圖7中,將被測(cè)高頻電流傳感器卡裝在同軸匹配夾具上,脈沖激勵(lì)信號(hào)從夾具一端注入,夾具另一端連接50 Ω同軸匹配阻抗。被測(cè)傳感器響應(yīng)信號(hào)輸入至采集模塊CH0通道進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣,采集模塊輸入阻抗配置為50 Ω,單通道采樣頻率500 MHz,帶寬100 MHz。
系統(tǒng)具備單脈沖激勵(lì)測(cè)試及連續(xù)脈沖激勵(lì)測(cè)試功能。對(duì)于單脈沖激勵(lì)測(cè)試,根據(jù)計(jì)算機(jī)指令要求向測(cè)量回路連續(xù)注入單一電荷量脈沖;對(duì)于連續(xù)脈沖激勵(lì)測(cè)試,根據(jù)計(jì)算機(jī)指令定義的電荷量區(qū)間,以一定步長(zhǎng)連續(xù)遞進(jìn)式向測(cè)量回路注入?yún)^(qū)間內(nèi)各放電量脈沖。
脈沖激勵(lì)測(cè)試能夠?qū)Ρ粰z傳感器的靈敏度及線性度進(jìn)行檢驗(yàn),本文以最小可測(cè)放電量作為被檢傳感器靈敏度的評(píng)價(jià)指標(biāo),以平均線性度誤差和最大線性度誤差作為被檢傳感器線性度的評(píng)價(jià)指標(biāo)。
2.1.2 評(píng)價(jià)指標(biāo)的計(jì)算方法
2.1.2.1 最小可測(cè)放電量
在單脈沖測(cè)試模式下,系統(tǒng)實(shí)時(shí)獲取被測(cè)傳感器對(duì)特定電荷量脈沖的響應(yīng)波形,為提高波形分析準(zhǔn)確度、消除隨機(jī)干擾對(duì)響應(yīng)信號(hào)的影響,分析軟件對(duì)同一電荷量脈沖的響應(yīng)波形進(jìn)行多次累加均值處理,對(duì)均值處理后的波形提取其峰值及背景噪聲值,計(jì)算波形信噪比,即
SNR=VS/VN.
(2)
其中:SNR為信噪比;VS為信號(hào)峰值;VN為背景噪聲信號(hào)的均方根值。
若被測(cè)傳感器對(duì)某電荷量脈沖響應(yīng)波形的信噪比不大于2,則此電荷量視為被測(cè)傳感器的最小可測(cè)放電量。
2.1.2.2 平均線性度誤差及最大線性度誤差
在連續(xù)脈沖激勵(lì)測(cè)試模式下,軟件獲取被測(cè)傳感器響應(yīng)波形并計(jì)算各放電量下的校準(zhǔn)系數(shù),即
ki=Qi/Si.
(3)
式中:ki為第i個(gè)放電量下的校準(zhǔn)系數(shù);Qi為放電量數(shù)值;Si為Qi放電量脈沖激勵(lì)下被測(cè)傳感器響應(yīng)波形的積分面積。其中,Qi為軟件設(shè)定值,Si為實(shí)測(cè)波形積分后的數(shù)值。
測(cè)試完成后,軟件生成各電荷量脈沖激勵(lì)下被測(cè)傳感器的校準(zhǔn)系數(shù)k與實(shí)測(cè)電荷量Q的二維曲線,即k-Q譜圖,根據(jù)該譜圖計(jì)算被測(cè)傳感器的平均線性度誤差與最大線性度誤差,平均線性度誤差
(4)
式中:kRMS為k-Q曲線均方根值;NT為測(cè)試區(qū)間內(nèi)放電量測(cè)點(diǎn)數(shù)。
最大線性度誤差
(5)
式中kmax為放電量測(cè)試區(qū)間內(nèi)傳感器校準(zhǔn)系數(shù)最大值。
2.1.3 實(shí)測(cè)分析
2.1.3.1 最小可測(cè)放電量
對(duì)被檢傳感器所在的測(cè)量回路注入50 pC電荷量的校準(zhǔn)脈沖信號(hào),傳感器響應(yīng)波形如圖8所示,軟件自動(dòng)計(jì)算出該波形信噪比為220,則50 pC不是被測(cè)傳感器的最小可測(cè)放電量。
圖8 50 pC電荷量校準(zhǔn)脈沖信號(hào)的響應(yīng)波形Fig.8 Response waveform of charge calibrated pulse signal with 50 pC
向測(cè)量回路注入5 pC電荷量的校準(zhǔn)脈沖信號(hào),傳感器響應(yīng)波形如圖9所示。從圖9可以看出脈沖響應(yīng)信號(hào)基本淹沒(méi)在背景噪聲中,軟件計(jì)算出波形信噪比約為1.9,以5 pC作為被測(cè)傳感器的最小可測(cè)放電量。
圖9 5 pC電荷量校準(zhǔn)脈沖信號(hào)的響應(yīng)波形Fig.9 Response waveform of charge calibrated pulse signal with 5 pC
2.1.3.2 平均線性度誤差及最大線性度誤差
測(cè)量傳感器在50~1 000 pC放電量區(qū)間范圍內(nèi)的平均線性度誤差及最大線性度誤差,系統(tǒng)測(cè)量到的k-Q曲線如圖10所示。
圖10 注入50~1 000 pC電荷量校準(zhǔn)脈沖時(shí)被測(cè)傳感器的k-Q曲線Fig.10 k-Q curve of the measured sensor with charge of 50 ~1 000 pC
根據(jù)圖10的測(cè)量結(jié)果,計(jì)算得到被測(cè)傳感器的平均線性度誤差為1.6%,最大線性度誤差為6.1%。
2.2.1 測(cè)試方法
正弦激勵(lì)測(cè)試系統(tǒng)回路如圖11所示。
US為正弦激勵(lì)測(cè)試源;R0為取樣電阻;CH1、CH2為采樣通道。圖11 正弦激勵(lì)測(cè)試系統(tǒng)回路Fig.11 Circuit of sine excitation test system
圖11中,將被測(cè)高頻電流傳感器卡裝在同軸匹配夾具上,正弦激勵(lì)信號(hào)從夾具一端注入、另一端輸出,連接至采集模塊的CH2采樣通道,被測(cè)傳感器響應(yīng)信號(hào)連接至采集模塊的CH1采樣通道,為便于論述,將CH1通道輸入信號(hào)定義為響應(yīng)信號(hào),將CH2通道輸入信號(hào)定義為原始信號(hào)。采集模塊輸入阻抗配置為50 Ω,單通道采樣頻率500 MHz,帶寬100 MHz。計(jì)算機(jī)對(duì)獲取到的原始信號(hào)及響應(yīng)信號(hào)進(jìn)行分析,得到被測(cè)傳感器的指標(biāo)參數(shù)。
系統(tǒng)具備掃頻測(cè)量功能,根據(jù)計(jì)算機(jī)指令定義的頻率區(qū)間,以一定步長(zhǎng)連續(xù)遞進(jìn)式向被測(cè)傳感器注入?yún)^(qū)間內(nèi)各頻率信號(hào),例如:計(jì)算機(jī)下達(dá)1~30 MHz掃頻指令,系統(tǒng)向被測(cè)傳感器依次注入1 MHz、(1+X) MHz、(1+2X) MHz、(1+3X) MHz、…、30 MHz,其中X為掃頻步長(zhǎng),最大掃頻區(qū)間為10 kHz~50 MHz,掃頻起始頻率、截止頻率、步長(zhǎng)等參數(shù)均可根據(jù)需要設(shè)置。掃頻過(guò)程中,系統(tǒng)實(shí)時(shí)獲取各頻點(diǎn)的原始信號(hào)及響應(yīng)信號(hào)并進(jìn)行分析處理。
正弦激勵(lì)測(cè)試能夠?qū)Ρ粰z傳感器的傳輸阻抗進(jìn)行檢驗(yàn)。本文以傳輸阻抗曲線的平均值、最大值及最小值作為被檢傳感器傳輸阻抗特性的評(píng)價(jià)指標(biāo)。
2.2.2 評(píng)價(jià)指標(biāo)的計(jì)算方法
傳輸阻抗
Z(f)=R0(V2(f)/V1(f)).
(6)
式中:R0為采集模塊的輸入阻抗,阻值為(50±0.2%) Ω;V2(f)為響應(yīng)信號(hào)峰峰值;V1(f)為原始激勵(lì)信號(hào)峰峰值。在測(cè)量頻率范圍內(nèi)對(duì)Z(f)曲線進(jìn)行運(yùn)算即可求取其算術(shù)平均值、最大值、最小值。
2.2.3 實(shí)測(cè)分析
對(duì)被測(cè)傳感器進(jìn)行1~50 MHz頻率范圍內(nèi)的掃頻測(cè)試,計(jì)算該頻率范圍內(nèi)傳感器傳輸阻抗隨頻率的變化曲線如圖12所示。
圖12 正弦激勵(lì)下被測(cè)傳感器的傳輸阻抗曲線Fig.12 Curve of transmission impedance of the measured sensor with sine excitation
圖12中傳輸阻抗曲線的平均值為24.4 Ω,最大值為27.9 Ω,最小值為6.2 Ω。
2.3.1 測(cè)試方法
混合激勵(lì)測(cè)試系統(tǒng)回路如圖13所示。
圖13 混合激勵(lì)測(cè)試系統(tǒng)回路Fig.13 Circuit of mixed excitation test system
圖13中,將激勵(lì)傳感器與被測(cè)高頻電流傳感器卡裝在同軸匹配夾具上,脈沖激勵(lì)信號(hào)以行波方式注入測(cè)試回路,正弦激勵(lì)信號(hào)以磁場(chǎng)耦合方式注入測(cè)試回路,在導(dǎo)桿連接的單一信號(hào)傳輸路徑上形成脈沖與正弦激勵(lì)信號(hào)的混合信號(hào)作為被測(cè)傳感器的激勵(lì)信號(hào)。被測(cè)傳感器響應(yīng)信號(hào)連接至采集模塊的采樣通道,采集模塊輸入阻抗配置為50 Ω,單通道采樣頻率500 MHz,帶寬100 MHz。計(jì)算機(jī)對(duì)獲取到的響應(yīng)信號(hào)進(jìn)行分析,得到被測(cè)傳感器的指標(biāo)參數(shù)。
混合激勵(lì)測(cè)試能夠?qū)Ρ粰z傳感器的抗干擾性能進(jìn)行檢驗(yàn),本文以被檢傳感器響應(yīng)信號(hào)的信噪比作為抗干擾性能的評(píng)價(jià)指標(biāo)。
2.3.2 實(shí)測(cè)分析
對(duì)被測(cè)傳感器注入50 pC脈沖及1 MHz正弦信號(hào)的混合信號(hào),傳感器響應(yīng)波形如圖14所示,其脈沖信號(hào)峰值40 mV,正弦信號(hào)峰值1.9 mV,信噪比為22。
圖14 50 pC脈沖及1 MHz正弦信號(hào)的混合信號(hào)響應(yīng)波形Fig.14 Response waveforms of synthetic signals by 50 pC pulse and 1 MHz sine signal
對(duì)被測(cè)傳感器注入50 pC脈沖及2 MHz正弦信號(hào)的混合信號(hào),傳感器響應(yīng)波形如圖15所示,其脈沖信號(hào)峰值40 mV,正弦信號(hào)峰值9.1 mV,信噪比為4。
圖15 50 pC脈沖及2 MHz正弦信號(hào)的混合信號(hào)響應(yīng)波形Fig.15 Response waveforms of synthetic signals by 50 pC pulse and 2 MHz sine signal
對(duì)被測(cè)傳感器注入50 pC脈沖及5 MHz正弦信號(hào)的混合信號(hào),傳感器響應(yīng)波形如圖16所示,其脈沖信號(hào)峰值50 mV,正弦信號(hào)峰值35 mV,信噪比為1.4。從圖16可以直觀看出脈沖信號(hào)淹沒(méi)在正弦干擾信號(hào)中。
圖16 50 pC脈沖及5 MHz正弦混合信號(hào)的響應(yīng)波形Fig.16 Response waveforms of synthetic signals by 50 pC pulse and 5 MHz sine signal
上述分析計(jì)算可見,被檢傳感器對(duì)頻率低于5 MHz的正弦干擾信號(hào)具有較好的抑制作用,對(duì)頻率在5 MHz及以上的正弦干擾信號(hào)抑制能力較差。
本文設(shè)計(jì)了高頻電流局部放電傳感器程控式一體化檢驗(yàn)系統(tǒng),系統(tǒng)具備脈沖激勵(lì)測(cè)試、正弦激勵(lì)測(cè)試及混合激勵(lì)測(cè)試3種測(cè)試功能。
a)脈沖激勵(lì)測(cè)試回路能夠產(chǎn)生1 pC~100 nC的超寬范圍電荷量校準(zhǔn)脈沖的激勵(lì)信號(hào),最大電荷量誤差不大于5%。
b)正弦激勵(lì)測(cè)試回路能夠產(chǎn)生10 kHz~50 MHz的正弦激勵(lì)信號(hào),信號(hào)的峰-峰電流值不小于100 mA,頻率調(diào)節(jié)分辨率50 kHz,頻率誤差不大于0.4%。
c)混合激勵(lì)測(cè)試回路能夠產(chǎn)生1 pC~100 nC范圍內(nèi)任意電荷量校準(zhǔn)脈沖信號(hào)與10 kHz~50 MHz范圍內(nèi)任意頻率正弦信號(hào)的混合激勵(lì)信號(hào)。