摘 要:隨著IT產(chǎn)業(yè)和通訊技術(shù)、電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)的高速發(fā)展,生產(chǎn)設(shè)備和產(chǎn)品的電子化、數(shù)字化、自動化、智能化的程度越來越高,對與之配套的測試技術(shù)也提出了更高的要求。現(xiàn)代測試技術(shù)和信號處理技術(shù)作為自動測試系統(tǒng)的發(fā)展基礎(chǔ),為了更好的發(fā)展自動測試系統(tǒng),解決諸多企業(yè)當(dāng)前面臨的自動測試問題,有必要對現(xiàn)代測試技術(shù)和信號處理技術(shù)進(jìn)行一個(gè)全面的了解。本文通過分析其發(fā)展現(xiàn)狀,找出制約其發(fā)展的關(guān)鍵因素,從而為該技術(shù)的發(fā)展提出解決方案。本文在查閱了現(xiàn)代測試技術(shù)和信號處理技術(shù)相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上,對該技術(shù)的國內(nèi)外現(xiàn)狀進(jìn)行了分析,在此基礎(chǔ)上指出了該技術(shù)在過去的發(fā)展過程中存在的問題與不足,進(jìn)而提出了該技術(shù)的發(fā)展趨勢。
關(guān)鍵詞:測試系統(tǒng);數(shù)字化;控制系統(tǒng);自動化
一、國外研究情況
隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展,大量高新技術(shù)成果已應(yīng)用到武器裝備系統(tǒng),使武器裝備復(fù)雜程度日益提高。特別是計(jì)算機(jī)﹑傳感器和信息處理融合等技術(shù)的飛速發(fā)展,奠定了新一代自動測試系統(tǒng)的技術(shù)基礎(chǔ),成為推動其體系結(jié)構(gòu)和測試技術(shù)不斷進(jìn)步的動力[1]。
ATS的發(fā)展經(jīng)歷了從專用型向通用型發(fā)展的過程[2]。早期的自動測試系統(tǒng)是針對具體設(shè)備型號,系統(tǒng)間互不兼容,從20世紀(jì)80年代中期,美國開始研制針對多重設(shè)備的平臺和系統(tǒng),由可重復(fù)使用的公共測試資源組成ATS?;仡橝TS的研制與發(fā)展過程,可劃分為早期(20世紀(jì)50年代初期~20世紀(jì)60年代初期)、中期(60年代中期~70年代初期)、成熟期(70年代中期~80年代初期)和完善期(80年代中期~90年代中期)4個(gè)基本階段。
ATS的具體發(fā)展時(shí)期如下:
1) 以人工測試為主的時(shí)期: 在20 世紀(jì)60 年代初,對武器裝備的測試主要以人工測試為主,測試設(shè)備基本是單個(gè)的儀器﹑儀表。在20世紀(jì)60年代中期開始,武器裝備的技術(shù)進(jìn)步使傳統(tǒng)的人工測試和單個(gè)專用測試設(shè)備已經(jīng)無法適應(yīng)裝備維護(hù)和技術(shù)保障要求。
2) 以專用的半自動/自動測試設(shè)備或系統(tǒng)為主的時(shí)期: 在20世紀(jì)70 年代前后,研制出了多種由計(jì)算機(jī)控制的專用半自動/自動測試設(shè)備或系統(tǒng),并使用了專門的測試語言編寫測試軟件。這一階段存在的主要問題是: 計(jì)算機(jī)和被測試件之間、計(jì)算機(jī)與測試儀器之間以及測試儀器相互之間的接口沒有標(biāo)準(zhǔn)化,成為組建通用或?qū)S米詣訙y試系統(tǒng)的主要障礙。
3) 以標(biāo)準(zhǔn)接口的半自動/自動測試設(shè)備或系統(tǒng)為主的時(shí)期: 自20世紀(jì)70年以來,計(jì)算機(jī)技術(shù)和測試技術(shù)研究取得了較大的進(jìn)展,加速了軍用自動測試系統(tǒng)的發(fā)展。以微型計(jì)算機(jī)和獨(dú)立操作系統(tǒng)為平臺的自動測試系統(tǒng)開始獲得廣泛應(yīng)用,自動測試系統(tǒng)采用了基于標(biāo)準(zhǔn)和專用接口總線的總線結(jié)構(gòu),測試程序語言也采用了諸如BASIC﹑ATLAS等多種類型的通用程序語言,從而進(jìn)入了研制多功能﹑易組合﹑可擴(kuò)展的自動測試系統(tǒng)的成熟階段。
4) 以計(jì)算機(jī)和標(biāo)準(zhǔn)的自動測試系統(tǒng)為主的時(shí)期: 在20世紀(jì)80年代中期以后,以VXI總線為標(biāo)準(zhǔn)的低成本﹑高性能的總線模塊得到應(yīng)用和發(fā)展。自動測試系統(tǒng)充分利用計(jì)算機(jī)資源,采用特定的軟件算法,進(jìn)行信號的分析和測量,在硬件資源顯著減少的條件下,極大地提高了測試性能,使自動測試系統(tǒng)的控制器不僅能完成控制系統(tǒng)的協(xié)調(diào)工作,而且能直接參與信號的產(chǎn)生,完成被測系統(tǒng)性能參數(shù)的測量任務(wù)。同時(shí),虛擬儀器的出現(xiàn)也顛覆了測試儀器的概念,帶來測試技術(shù)的大發(fā)展。
二、國內(nèi)研究情況
自進(jìn)入21世紀(jì)以來,在測試程序方面,自動測試系統(tǒng)逐漸具有了模塊化和標(biāo)準(zhǔn)化的特點(diǎn),并且能夠快速的完成測試數(shù)據(jù)的高精度傳輸。而在測試設(shè)備方面,自動測試系統(tǒng)也具有了體積小和智能化的特征。就目前來看,一般的自動測試系統(tǒng)包含了操作系統(tǒng)、軟件控制平臺、測試語言、儀器硬件、驅(qū)動軟件、系統(tǒng)環(huán)境和附加功能等內(nèi)容,而其外部總線則由MIX-VXI和PCI-PXI等多種混合總線所構(gòu)成。而在國際上,自動測試系統(tǒng)引用的規(guī)范主要是來自于美國軍隊(duì)的美軍標(biāo)、IEEE標(biāo)準(zhǔn)和ARINC報(bào)告,并且主要使用TPS開發(fā)技術(shù)來進(jìn)行系統(tǒng)程序的開發(fā)的[3]。因此,從總體上來看,自動測試系統(tǒng)逐漸擁有了更多的優(yōu)勢,并取得了廣泛的應(yīng)用,所以有著不斷發(fā)展的趨勢。雖然自動測試系統(tǒng)取得了一定的發(fā)展,但是從國內(nèi)自動測試系統(tǒng)的發(fā)展現(xiàn)狀來看,自動測試系統(tǒng)在應(yīng)用方面仍然存在著一定的問題,進(jìn)而阻礙了其取得進(jìn)一步的發(fā)展[4]。
三、目前存在的問題及擬解決方法
目前國內(nèi)自動測試系統(tǒng)發(fā)展面臨的問題主要集中在以下幾個(gè)方面:
1) 自動測試系統(tǒng)的數(shù)量多,型號多,品種雜,體積龐大,功能單一,機(jī)動性差,缺少通用性和繼承性。大多數(shù)的自動測試系統(tǒng)操作復(fù)雜,對操作人員能力要求較高,涉及的技術(shù)人員多,尤其是系統(tǒng)缺少友好的人機(jī)操作界面,可視化、交互性程度比較低。同時(shí),自動測試系統(tǒng)的可靠性和可維修性指標(biāo)偏低,維修費(fèi)用過高。
2) 自動測試系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)尚未形成完整的統(tǒng)一體系。武器裝備生產(chǎn)、使用和維護(hù)中使用了大量的非標(biāo)準(zhǔn)專用測試設(shè)備,費(fèi)用高,使用和管理極為不便。測試設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)化問題急待解決和加強(qiáng)。
3) 對測試系統(tǒng)的測試程序集(TPS)的開發(fā)和研制相對于機(jī)載設(shè)備的開發(fā)研制重視不夠,投入不足,尤其是在TPS的移植和互操作方面還很欠缺。另外國內(nèi)在測試軟件和語言方面,沒有較系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn),目前大多數(shù)是參考或引用國外標(biāo)準(zhǔn)或國外民航的標(biāo)準(zhǔn)。
4) 對自動測試系統(tǒng)的相關(guān)技術(shù)的研究工作,無論是行業(yè)或政府組織,都不夠重視。國外自動測試
系統(tǒng)相關(guān)技術(shù)的研究和應(yīng)用,前期都是行業(yè)協(xié)會或行業(yè)組織的行為,政府組織合理引導(dǎo),推動相關(guān)技術(shù)的研究和應(yīng)用。而國內(nèi)研究相關(guān)技術(shù)或規(guī)范的行業(yè)較少,目前僅僅是學(xué)習(xí)和引進(jìn)國外的技術(shù)。
5) 對自動測試系統(tǒng)的作戰(zhàn)效用認(rèn)識不足,雖然近年有改善,但是沒有提升到美軍所認(rèn)識的戰(zhàn)略高度層面。
參考文獻(xiàn):
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[3]于勁松,李行善.美國軍用自動測試系統(tǒng)的發(fā)展趨勢[J].電子技術(shù),2007,35:108-122.
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作者簡介:
陳鵬(1990—),男,四川南充,西華大學(xué)碩士研究生,機(jī)械工程學(xué)院機(jī)械工程專業(yè),研究方向:機(jī)械設(shè)計(jì)及理論。