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(1.國網(wǎng)浙江省電力公司電力科學(xué)研究院,杭州 310014; 2.國網(wǎng)浙江省電力公司杭州供電公司,杭州 310004)
絕緣子是承擔(dān)架空輸電線路絕緣的主要部件,中、重污區(qū)絕緣子的選型、片數(shù)選擇直接關(guān)系到輸電線路的安全穩(wěn)定運行[1-3]。盤型懸式絕緣子的防污閃性能與其自然積污特性、污閃電壓特性有關(guān)。不同傘型、材質(zhì)盤型懸式絕緣子的積污特性存在差別[4-5],同時由于傘型結(jié)構(gòu)的差異,不同絕緣子在相同污穢度下其單位爬電距離所能承受的電壓也即污閃梯度不同,通過相同環(huán)境下不同絕緣子的積污差異、在相應(yīng)積污差異基礎(chǔ)上獲得其污閃梯度的差異是正確評判絕緣子防污閃性能的有效方法[6-7]。
當(dāng)前,已有一些研究對不同傘型、材質(zhì)懸式絕緣子自然積污特性、人工污穢閃絡(luò)特性進行了研究。文獻[8]對GW-110型瓷長棒絕緣子與X-4.5懸式絕緣子積污特性進行了對比,發(fā)現(xiàn)GW-110積污鹽密值僅為X-4.5絕緣子鹽密值一半。文獻[9]通過風(fēng)洞積污試驗發(fā)現(xiàn)雙傘絕緣子積污灰密大于鐘罩型絕緣子,然而文獻[10]認為玻璃、瓷絕緣子表面積污特性無明顯差異。文獻[11]對典型傘型絕緣子污閃電壓隨鹽密、灰密的變化規(guī)律進行了試驗研究。文獻[12]對玻璃、瓷絕緣子人工污穢閃絡(luò)特性進行了研究,得到了不同型號絕緣子的污閃梯度。
可見現(xiàn)有成果主要基于實驗室或現(xiàn)場不同桿塔之間對某兩種傘型絕緣子積污特性進行對比,缺少嚴格按照同塔懸掛方式對標(biāo)準(zhǔn)型、鐘罩型、外傘型絕緣子積污特性系統(tǒng)性的研究,且不同研究對于玻璃、瓷質(zhì)絕緣子積污差異的結(jié)果并不統(tǒng)一。此外,目前尚無通過自然積污與污閃特性相結(jié)合對比不同傘型絕緣子防污閃性能的研究。
因此,筆者在浙江選取典型環(huán)境區(qū)域,不同傘型和材質(zhì)懸式盤型絕緣子進行同塔懸掛,通過鹽密、灰密測試獲得了其積污特性差異,并結(jié)合自然積污絕緣子的污閃特性對不同絕緣子的污閃梯度、耐污性能進行了比較,為輸電線路外絕緣設(shè)計、污區(qū)劃分、污穢度評估、運維措施制定等工作提供參考。
選取嘉興地區(qū)典型污源附近線路桿塔,同塔懸掛瓷雙傘XWP2-70、瓷標(biāo)準(zhǔn)型XP-70絕緣子,以研究雙傘絕緣子、標(biāo)準(zhǔn)型絕緣子積污差異。同塔懸掛玻璃鐘罩型FC70P絕緣子、玻璃標(biāo)準(zhǔn)型LXY-70絕緣子,以研究鐘罩絕緣子、標(biāo)準(zhǔn)型絕緣子積污差異。利用瓷標(biāo)準(zhǔn)型XP-70絕緣子、玻璃標(biāo)準(zhǔn)型LXY-70絕緣子研究瓷、玻璃材質(zhì)對絕緣子積污的影響。
各測點位置、環(huán)境等信息詳見表1。
表1 絕緣子污穢測點信息Table 1 Test tower information for insulator pollution measurement
典型測試絕緣子懸掛照片見圖1。
圖1 汾陽4Q24線31號測試串懸掛照片F(xiàn)ig.1 Test insulators of Fenyang 4Q24 line tower 31
污穢測試嚴格按照Q/GDW 1152.1—2014規(guī)定方法進行,對絕緣子上、下表面分別測取等值鹽密、等值灰密,進而得到灰鹽比、積污不均勻度等積污特性參數(shù)??紤]到絕緣子串積污存在端部效應(yīng),最上端絕緣子污穢度偏低、最下端絕緣子污穢度偏高,因此測試絕緣子均取自絕緣子串中間部位。測試時間為絕緣子積污最為嚴重時的3月份。測試絕緣子結(jié)構(gòu)參數(shù)見表2。
表2 污穢測試絕緣子結(jié)構(gòu)參數(shù)Table 2 Parameters of the insulator for contamination test
各測點上表面等值鹽密及等值灰密測試結(jié)果見圖2、圖3。
圖2 上表面等值鹽密測試結(jié)果Fig.2 ESDD results of the up surface of test insulators
圖3 上表面等值灰密測試結(jié)果Fig.3 NSDD results of the up surface of test insulators
由圖2、圖3可知,絕緣子上表面鹽密、灰密測試結(jié)果未體現(xiàn)出與傘型相關(guān)的規(guī)律。
各測點下表面等值鹽密及等值灰密測試結(jié)果見圖4、圖5。
圖4 下表面等值鹽密測試結(jié)果Fig.4 ESDD results of the lower surface of test insulators
圖5 下表面等值灰密測試結(jié)果Fig.5 NSDD results of the lower surface of test insulators
由圖2、圖3可知,傘型對絕緣子下表面鹽密、灰密有顯著影響,表現(xiàn)在以下方面。
1)所有測點XWP2-70雙傘絕緣子下表面鹽密均小于XP-70絕緣子,除測點2外,其他測點XWP2-70下表面灰密均小于XP-70絕緣子。
2)所有測點FC70P鐘罩型絕緣子下表面鹽密大于LXY-70絕緣子,除測點4之外,其他測點FC70P下表面灰密均大于LXY-70絕緣子。
為比較材質(zhì)對積污污穢度影響,比較圖2、圖3中XP-70、LXY-70絕緣子測試結(jié)果,顯示兩者結(jié)果相近。
XWP2-70雙傘絕緣子與XP-70標(biāo)準(zhǔn)型絕緣子下表面污穢度差別主要來源于傘群下表面結(jié)構(gòu)。XP-70傘裙下表面存在棱槽,氣流流過時容易出現(xiàn)渦流導(dǎo)致污穢顆粒在凹槽中集聚,同時降雨條件下棱槽內(nèi)污穢更難被清洗。FC70P鐘罩型絕緣子與LXY-70絕緣子相比其下表面棱槽更深,導(dǎo)致在雨水條件下的污穢保有能力更強。
絕緣子下表面污穢度的差別將導(dǎo)致整體污穢度的差異,各測點不同傘型、材質(zhì)絕緣子之間積污比平均值見表3。
由表3可知,XP-70絕緣子整體鹽密、灰密平均值分別為XWP2-70對應(yīng)數(shù)值的2.084、1.474倍,F(xiàn)C70P絕緣子整體鹽密、灰密平均值分別為LXY-70對應(yīng)數(shù)值的1.559、1.716倍。
XP-70與LXY-70絕緣子整體鹽密、灰密數(shù)值較為接近,因此對于這兩種標(biāo)準(zhǔn)型絕緣子,材質(zhì)對積污的影響可以忽略,即使用上述兩種絕緣子進行污穢度評估具備等價性。
表3 不同傘型絕緣子之間積污比Table 3 Contamintaion ratio between insulators with different sheds
絕緣子整體鹽密、灰密一致時,上下表面污穢度的差異越大,污閃電壓越高,因此積污不均勻度是絕緣子運維、污穢度評估中的重要參數(shù)。
令絕緣子傘裙下表面鹽密與上表面鹽密的比值為鹽密不均勻度,絕緣子傘裙下表面灰密與上表面灰密的比值為灰密不均勻度,各測點鹽密、灰密不均勻度結(jié)果見圖6和圖7。
圖6 各測點鹽密不均勻度Fig.6 Ununiformed ESDD perimeters of test insulators
圖7 各測點灰密不均勻度Fig.7 Ununiformed NSDD perimeters of test insulators
由圖6、圖7可知,傘型對絕緣子積污不均勻度有一定影響,體現(xiàn)為:1)所有測點XWP2-70雙傘絕緣子鹽密不均勻度均小于XP-70絕緣子,灰密不均度差異不明顯。2)除測點3外,其他所有測點FC70P鐘罩型絕緣子鹽密不均勻度大于LXY-70絕緣子,整體上FC70P鐘罩型絕緣子鹽密不均勻度大于LXY-70絕緣子。
將各測點各型號絕緣子鹽密不均度取平均,灰密不均勻度做相同處理,結(jié)果見表4。
表4 不同傘型絕緣子積污不均勻度均值Table 4 Ununiformed contamination perimeters between insulators with different sheds
由表3可見,F(xiàn)C70P積污不均勻度大于LXY-70絕緣子,XP-70積污不均勻度大于XWP2-70絕緣子,LXY-70積污不均勻度與XP-70較為接近。
造成上、下表面積污不均勻的主要原因為絕緣子傘裙上、下表面承受雨水沖刷情況不同。外傘型絕緣子如XWP2-70其傘裙下表面沒有棱槽,在降雨天氣易受下一片傘裙濺起的雨水濕潤,造成污穢流失。而標(biāo)準(zhǔn)型絕緣子如LXY-70下表面存在較淺棱槽,鐘罩型絕緣子如FC70P下表面棱槽較深,棱槽約深,其積污越難以被清洗,因此導(dǎo)致了不同傘型絕緣子積污不均勻度的差別。
由于LXY-70積污不均勻度與XP-70較為接近,因此認為瓷、玻璃對積污不均勻度影響不顯著,可以忽略其影響,因而直接將3種傘裙積污不均勻度一起比較,可見鐘罩型絕緣子積污不均勻度最大,外傘型絕緣子積污不均勻度最小,標(biāo)準(zhǔn)型絕緣子居于中間。
絕緣子灰密、鹽密比值與其污穢度評估相關(guān),相同鹽密下,灰鹽比數(shù)值越大絕緣子越容易發(fā)生污閃。各測點灰鹽比數(shù)據(jù)見圖8。
圖8 各測點積污灰鹽比Fig.8 Ratio of NSDD and ESDD of test insulators
由圖8可知,各測點LXY-70、FC70P、XP-70 3種絕緣子灰鹽比數(shù)據(jù)較為接近,測點2、測點3處XWP2-70絕緣子灰鹽比數(shù)據(jù)大于其他型號絕緣子。將各測點絕緣子型號灰鹽比數(shù)值取均值,XWP2-70絕緣子灰鹽比均值為5.4,LXY-70、FC70P、XP-70 3種絕緣子灰鹽比分別為3.17、3.01、3.39??梢姴A?、瓷兩種材質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)絕緣子積污灰鹽比接近,對于瓷絕緣子,雙傘XWP2-70絕緣子灰鹽比比標(biāo)準(zhǔn)型XP-70絕緣子更大。
為對比不同傘型絕緣子耐污性能,在考慮各型號絕緣子積污特性差異基礎(chǔ)上,對不同污穢度下各傘型絕緣子污閃梯度進行計算,污閃梯度計算方法見式(1)。
EL=Uf/L
(1)
式中:EL為污閃梯度,Uf為污閃電壓,L為絕緣子爬電距離。各傘型爬電距離數(shù)據(jù)見表1,污閃電壓Uf曲線采用文獻[13]試驗結(jié)果,見式(2)。
(2)
式(2)為利用自然積污絕緣子進行污閃試驗得到的結(jié)果,充分考慮了鹽密、灰密、積污不均勻度的影響。式(2)中沒有XP-70絕緣子的污閃電壓曲線,但根據(jù)文獻[12]可知,普通型瓷、玻璃絕緣子在相同鹽、灰密下污閃梯度幾乎一致,根據(jù)本文第2節(jié)自然積污結(jié)果,XP-70、LXY-70絕緣子相同環(huán)境下自然積污特性一致,因此可認為XP-70、LXY-70絕緣子自然積污狀態(tài)下污閃梯度一致,本文不再對XP-70絕緣子污閃梯度進行計算。
根據(jù)第2節(jié)自然積污結(jié)果,利用式(2)對各絕緣子污閃電壓進行計算,計算所需參數(shù)見表5。
表5 各傘型絕緣子污閃電壓計算參數(shù)Table 5 Calculation perimeters of pollution flashover voltage for insulators with different sheds
根據(jù)2.1節(jié)分析結(jié)果,XWP2-70絕緣子整體鹽密平均為LXY-70的0.5倍,F(xiàn)C70P整體鹽密平均為LXY-70的1.56倍,因此計算時,以LXY-70絕緣子選定鹽密為基礎(chǔ),XWP2-70、FC70P計算鹽密在LXY-70鹽密基礎(chǔ)上乘以相應(yīng)倍數(shù)。計算時LXY-70鹽密設(shè)置范圍為0.01 mg/cm2至0.3 mg/cm2。各絕緣子灰密通過灰鹽比得到,灰鹽比數(shù)值采用2.3節(jié)結(jié)果。積污不均勻度采用2.2節(jié)鹽密不均勻度結(jié)果。
利用各傘型絕緣子計算所得Uf、爬電距離對絕緣子污閃梯度進行計算,結(jié)果見圖9。
圖9 典型傘型絕緣子污閃梯度Fig.9 Pollution flashover voltage gradient of insulators with typical sheds
由圖9可知,等值鹽密0.05 mg/cm2至0.25 mg/cm2范圍內(nèi),3種絕緣子污閃梯度由高至低依次為XWP2-70、LXY-70、FC70P。可見對于浙江面積最大的C、D級污區(qū),耐污能力表現(xiàn)最好的是XWP2-70,即雙傘型絕緣子。
利用浙江地區(qū)典型污穢附近桿塔,同塔懸掛典型傘型懸式盤型絕緣子進行自然積污試驗,并利用積污試驗結(jié)果結(jié)合絕緣子自然積污污閃特性對典型傘型耐污能力進行了比較,得到以下主要結(jié)論。
1)傘型對絕緣子積污鹽密、灰密值有顯著影響,標(biāo)準(zhǔn)型絕緣子XP-70積污鹽密、灰密約為雙傘型XWP2-70相應(yīng)值的2.1、1.5倍,鐘罩型FC70P積污鹽密、灰密約為標(biāo)準(zhǔn)型LXY-70相應(yīng)值的1.6、1.7倍。
2)傘型對絕緣子積污不均勻度有顯著影響,雙傘型XWP2-70絕緣子積污不均勻度均小于標(biāo)準(zhǔn)型XP-70絕緣子,鐘罩型FC70P絕緣子鹽密不均勻度大于標(biāo)準(zhǔn)型LXY-70絕緣子。
3)瓷、玻璃兩種材質(zhì)差異,對標(biāo)準(zhǔn)型絕緣子積污鹽密、灰密值及積污不均勻度影響不明顯。
4)C、D級污區(qū),相同積污環(huán)境下雙傘型XWP2-70絕緣子耐污能力強于普通型LXY-70絕緣子、鐘罩型FC70P絕緣子。