, 志強(qiáng), , , ,
(1.西安熱工研究院有限公司,西安 710032; 2.中國華能集團(tuán)公司,北京 100031; 3.西安高壓電器研究院,西安 710048)
復(fù)合絕緣結(jié)構(gòu)在均勻或稍不均勻電場(chǎng)作用下,兩種不同介質(zhì)分界面附近的電場(chǎng),導(dǎo)致電場(chǎng)加強(qiáng)。這一理論實(shí)際上就是復(fù)合絕緣結(jié)構(gòu)中放電往往發(fā)生在不同介質(zhì)分界面的內(nèi)在原因。通常認(rèn)為帶有固體絕緣介質(zhì)的氣體間隙由于介質(zhì)沿面放電導(dǎo)致了整個(gè)絕緣結(jié)構(gòu)擊穿強(qiáng)度的降低。產(chǎn)生沿面放電的內(nèi)在原因是:氣體和固體絕緣的介電常數(shù)不同,在電場(chǎng)垂直分量作用下固體絕緣表面電場(chǎng)發(fā)生畸變,使沿面固體絕緣表面局部電場(chǎng)增強(qiáng),導(dǎo)致該處氣體放電。影響沿面放電的因素很多,通常有:絕緣介質(zhì)的介電常數(shù)、固體絕緣和電極的表面狀況、電極與絕緣(固、氣)間的連接方式、固體絕緣的形狀和尺寸、氣體壓力、氣體成份、氣體中的水分、污染情況以及作用電壓的類型等。文獻(xiàn)[1]對(duì)不同情況下小氣體間隙的影響進(jìn)行了試驗(yàn)研究,通過用膠粘接絕緣子與電極接觸面的方法消除小氣體間隙的影響,將有小氣體間隙影響和消除小氣體間隙影響的試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行比較。結(jié)果表明,存在小氣體間隙的情況下,沿面閃絡(luò)電壓低于純氣體絕緣間隙,氣壓越高閃絡(luò)電壓降低越明顯。電極施加電壓瞬間或沖擊電壓施加在雙層絕緣介質(zhì)上,電極間外施沖擊電壓U時(shí),雙層絕緣介質(zhì)的場(chǎng)強(qiáng)分別為E1、E2,厚度分別為d1、d2,介電常數(shù)分別為εr1和εr2,由于電壓作用時(shí)間很短,雙層電介質(zhì)按容抗分配,各層電介質(zhì)中的電場(chǎng)強(qiáng)度與外施電壓U的關(guān)系為
(1)
其中,氣體的介電常數(shù)εr1=1
對(duì)于引入固體絕緣介質(zhì)的氣體間隙,電極-氣體-固體絕緣介質(zhì)“三結(jié)合點(diǎn)”中,氣體間隙很小,d2?d1。同時(shí),氣體的介電常數(shù)εr1=1。因此,“三結(jié)合點(diǎn)”氣體間隙承受的場(chǎng)強(qiáng)為:
(2)
固體絕緣材料的介電常數(shù)通常為2.5~6.0。由此可知,“三結(jié)合點(diǎn)”處微小氣隙在工頻電壓合閘瞬間或外施沖擊電壓作用下,電場(chǎng)增大數(shù)倍,在較低電壓下就會(huì)發(fā)生電極邊緣氣隙中的局部氣體電離,降低初始放電電壓。工程上,通過對(duì)電極結(jié)構(gòu)進(jìn)行改進(jìn),優(yōu)化“三結(jié)合點(diǎn)”電場(chǎng)分布,提高沿面閃絡(luò)電壓[2-12]。圖1所示電極屏蔽結(jié)構(gòu),內(nèi)屏蔽結(jié)構(gòu)用于絕緣子長度較短的情況,相比較于外屏蔽結(jié)構(gòu)容易產(chǎn)生電極表面絕緣材料的局部放電,影響固體絕緣強(qiáng)度和機(jī)械性能,外屏蔽結(jié)構(gòu)應(yīng)用相對(duì)廣泛。
(a)內(nèi)屏蔽結(jié)構(gòu)
(b)外屏蔽結(jié)構(gòu)圖1 內(nèi)屏蔽和外屏蔽結(jié)構(gòu)Fig.1 Structure of external and internal shielding groove
對(duì)外屏蔽槽提升沖擊電壓作用下“三結(jié)合點(diǎn)”沿面閃絡(luò)進(jìn)行試驗(yàn)研究,試驗(yàn)采用高壓電氣設(shè)備常用的SF6氣體,固體材料為有機(jī)玻璃絕緣子,外施電壓采用標(biāo)準(zhǔn)雷電波全波沖擊電壓,對(duì)沿面閃絡(luò)電壓和放電分散性進(jìn)行比較、分析[13-16]。
試驗(yàn)裝置設(shè)計(jì):設(shè)計(jì)密封試驗(yàn)裝置,充入一定壓力的SF6氣體,氣體壓力可調(diào)節(jié)。電極采用不銹鋼材質(zhì),絕緣材料選用有機(jī)玻璃絕緣子。選取電極、絕緣子及屏蔽槽尺寸的主要目標(biāo)是:1)降低三結(jié)合點(diǎn)電場(chǎng)強(qiáng)度,達(dá)到屏蔽效果;2)避免絕緣子側(cè)面局部電場(chǎng)強(qiáng)度過高或者電場(chǎng)垂直分量過高。有機(jī)玻璃的介電常數(shù)為3.4,“三結(jié)合點(diǎn)”氣體間隙電場(chǎng)強(qiáng)度約為兩電極間電場(chǎng)強(qiáng)度的3.4倍,屏蔽槽應(yīng)確?!叭Y(jié)合點(diǎn)”中氣體間隙的電場(chǎng)強(qiáng)度低于E0/3.4(E0為平板電極間SF6氣體擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度),根據(jù)式2分析可知“μs級(jí)”沖擊電壓作用下,SF6氣體擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度約為125 kV/cm,因此采取屏蔽措施后三結(jié)合點(diǎn)的電場(chǎng)強(qiáng)度低于(125/3.4)≈37 kV/cm。選取平板電極直徑為120 mm,有機(jī)玻璃絕緣子直徑為70 mm,電極間隙距離為30 mm。試驗(yàn)裝置及帶外屏蔽槽的試驗(yàn)電極及有機(jī)玻璃絕緣子結(jié)構(gòu)如圖2所示,屏蔽槽關(guān)鍵尺寸分別選擇R=3 mm,d=1 mm和R=3 mm,d=3 mm兩種組合狀態(tài)進(jìn)行試驗(yàn)。
(a)試驗(yàn)裝置
(b)外屏蔽電極結(jié)構(gòu)圖2 試驗(yàn)裝置示意圖Fig.2 Test facility sketch
首先,利用ANSYS軟件計(jì)算有機(jī)玻璃絕緣子表面電場(chǎng)強(qiáng)度。平板電極間隙施加400 kV模擬電壓,純氣體間隙的平板電極間平均電場(chǎng)強(qiáng)度為133 kV/cm。選取外屏蔽槽結(jié)構(gòu)電極后,沿面電場(chǎng)分布比較均勻,“三結(jié)合點(diǎn)”電場(chǎng)強(qiáng)度明顯降低,當(dāng)沿面電場(chǎng)強(qiáng)度最大值為115 kV/cm時(shí),“三結(jié)合點(diǎn)”處的電場(chǎng)強(qiáng)度為48 kV/cm,沿面電場(chǎng)垂直分量很小,最大垂直分量約20 kV/cm,模擬計(jì)算的電場(chǎng)分布如圖3。滿足試驗(yàn)要求。
(a)沿面電場(chǎng)分布
(b)沿面電場(chǎng)垂直分量圖3 電極增加外屏蔽槽結(jié)構(gòu)后絕緣子電場(chǎng)分布Fig.3 Electric field distribution of the insulator of electrode with the external shielding groove
試驗(yàn)電壓及方法:試驗(yàn)采用上升沿為1 μs的負(fù)極性沖擊電壓,電壓幅值范圍(500~1 000)kV,試驗(yàn)過程中,SF6氣體壓力選取范圍為(0.1~0.6)MPa,氣壓變化間隔0.1 MPa。試驗(yàn)采用50%放電電壓試驗(yàn)程序。圖4為試驗(yàn)電壓波形和試驗(yàn)過程中絕緣子沿面放電痕跡。
圖4 試驗(yàn)電壓波形和絕緣子沿面放電痕跡Fig.4 Test voltagewaveform and insulator surface dischage channels
絕緣子沿面閃絡(luò)電壓與純氣體間隙閃絡(luò)電壓比較:引入絕緣子后平板電極間的放電類型主要為絕緣子的沿面閃絡(luò),閃絡(luò)電壓與純氣體間隙擊穿電壓相比明顯降低,如圖5所示。
圖5 絕緣子沿面閃絡(luò)擊穿電壓與純氣體 間隙擊穿電壓的比較Fig.5 Compare with the pure air and insulator surface of discharge voltage
兩種情況下的放電電壓均隨氣壓增大線性上升,引入絕緣子后放電電壓相比氣體間隙的放電電壓下降很多,而且氣壓越高放電電壓降低越明顯。原因是:“三結(jié)合點(diǎn)”處小氣體間隙場(chǎng)強(qiáng)為電極間平均場(chǎng)強(qiáng)的3.4倍,相比在較低電壓下氣體開始電離,放電產(chǎn)生的大量初始帶電離子,更容易引發(fā)絕緣子沿面閃絡(luò)。隨氣壓增高,沿面閃絡(luò)電壓與純氣體間隙放電電壓相比降低程度不斷增大,原因是:微觀層面,電極與絕緣子接觸表面凹凸不平,氣體間隙被分成若干小的“氣體單元”,隨氣壓增大“小氣體單元”的氣壓增大程度不同,導(dǎo)致“三結(jié)合點(diǎn)”處的“氣體單元”發(fā)生電離放電的電壓隨氣壓變化相對(duì)并不明顯,因此與純氣體間隙相比,隨氣壓增高,發(fā)生沿面閃絡(luò)的電壓降低程度不斷增大,而且電極與絕緣子接觸部位表面光滑程度以及兩者間的接觸狀況,直接影響微觀氣隙中氣體壓力隨外界氣壓變化的情況。另一方面,當(dāng)作用于SF6氣體與固體絕緣介質(zhì)分界面的法向分量不為零時(shí),界面就有可能積聚表面電荷,由于“三結(jié)合點(diǎn)”處氣隙間的電場(chǎng)方向垂直于絕緣子端面,此處產(chǎn)生的帶電離子“復(fù)合”相對(duì)困難,很難完全消失,積聚于此處的帶電離子也是導(dǎo)致沿面閃絡(luò)電壓降低的原因之一。
屏蔽槽對(duì)沿面閃絡(luò)放電電壓的影響:在電極上采用外屏蔽措施后,沿面閃絡(luò)概率降低,兩種屏蔽槽結(jié)構(gòu)的電極,其間絕緣子沿面閃絡(luò)電壓與無屏蔽槽結(jié)構(gòu)的平板電極間絕緣子沿面閃絡(luò)電壓提高較多。說明:屏蔽槽形成的等電位區(qū)域,大大降低“三結(jié)合”氣體間隙處電場(chǎng)強(qiáng)度,較好的解決了該區(qū)域氣體在低電壓下電離的問題。降低沿面閃絡(luò)電壓概率,提升沿面閃絡(luò)電壓。沿面閃絡(luò)電壓曲線如圖6。
1-無屏蔽槽;2-外屏蔽槽R=3 mm,d=3 mm; 3-外屏蔽槽R=3 mm,d=1 mm圖6 電極上有無外屏蔽槽情況下間隙放電電壓比較Fig.6 Compare with the discharge voltage of the electrode with shielding groove and without
純SF6氣體間隙和帶有圓柱形有機(jī)玻璃絕緣子的組合絕緣間隙的放電電壓隨氣壓增加線性上升,但組合絕緣間隙的放電電壓比純氣體間隙的放電電壓下降很多,而且氣壓越高放電電壓降低越明顯。在電極上增加外屏蔽槽后,間隙放電電壓提高了很多,采用R=3 mm,d=3 mm尺寸的外屏蔽槽結(jié)構(gòu),放電點(diǎn)沿電極圓周均勻分布,沒有發(fā)生絕緣子表面的沿面閃絡(luò)。采用R=3 mm,d=1 mm尺寸的外屏蔽槽結(jié)構(gòu),沿面閃絡(luò)發(fā)生概率低至約20%,絕緣子的沿面閃絡(luò)電壓與純氣體間隙的擊穿電壓沒有明顯降低。